《光耦檢驗(yàn)作業(yè)指引》.doc

此文檔收集于網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系網(wǎng)站刪除半導(dǎo)體光耦檢驗(yàn)作業(yè)指引起草者：賀俊杰日期：2009年09月11日核對(duì)者：日期：2009年 月 日批準(zhǔn)者：日期：2009年 月 日此文檔僅供學(xué)習(xí)與交流REVISE RECORD 文件修訂記錄REV版本ECO 更改通知REVISE DETALL修 訂 簡 述DATE日 期PREPART 制 定CHECK審 核APPROVE批 準(zhǔn)A/0/首次發(fā)行09-9-11賀俊杰一、目的： 規(guī)范半導(dǎo)體光耦檢驗(yàn)過程和檢驗(yàn)方法的一致性和準(zhǔn)確性。二、職責(zé)：1、技術(shù)員負(fù)責(zé)該標(biāo)準(zhǔn)的執(zhí)行，并認(rèn)真做好相關(guān)記錄。所有的實(shí)驗(yàn)，在沒有特殊規(guī)定的情況下，一律按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。2、零件承認(rèn)工程師負(fù)責(zé)監(jiān)督技術(shù)員的執(zhí)行情況和相關(guān)報(bào)告的審核，并負(fù)責(zé)所屬樣件作業(yè)指引的制定。3、部門負(fù)責(zé)人負(fù)責(zé)本標(biāo)準(zhǔn)的審批。三、半導(dǎo)體光耦檢測(cè)項(xiàng)目：1、外觀檢驗(yàn)項(xiàng)目：1.1、表面標(biāo)識(shí)正確，清晰易辯、無模糊，內(nèi)容符合文件要求。1.2、本體無裂痕、邊角破損、刮花或凹陷等不良現(xiàn)象。1.3、引腳無氧化發(fā)黑、無斷裂、銹蝕、批鋒、壓痕、變形、污漬等不良現(xiàn)象。1.4、尺寸參數(shù)與樣品規(guī)格書規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)相符。2、性能檢驗(yàn)項(xiàng)目：2.1、輸入端反向電壓測(cè)試VR： a)測(cè)試條件：1、環(huán)境溫度Ta=25；2、測(cè)試電流IR與部品規(guī)格書上的測(cè)試電流相同 b)測(cè)試設(shè)備：半導(dǎo)體管特性圖示儀XJ4810 c)測(cè)試方法： 把圖示儀的正電極接光耦輸入端負(fù)極（即二極管的負(fù)極）,負(fù)電極接光耦輸入端正極（即二極管的正極），接上后，再調(diào)節(jié)Y軸電流按鈕和X軸電壓按鈕到指定的電壓電流；最后慢慢地把調(diào)制峰值電壓按鈕從0%往上調(diào)高，當(dāng)LCD面板的坐標(biāo)圖顯示被擊穿圖形時(shí)，其讀數(shù)為光耦輸入端的反向電壓測(cè)試VR。 d)測(cè)試結(jié)果判斷：100%抽檢品的擊穿電壓值一定在規(guī)格書的范圍值內(nèi)，否則NG。2.2、輸入端反向漏電流測(cè)試：a)測(cè)試條件：1、環(huán)境溫度Ta=25；2、測(cè)試電壓與部品規(guī)格書上的測(cè)試電壓相同b)測(cè)試設(shè)備： 1、可調(diào)直流電源； 2、電流表（最高精度為0.001uA）把測(cè)試設(shè)備和被光耦如圖1線路連接起來，然后將可調(diào)直流電源輸出電壓VOUT調(diào)到指定的測(cè)試電壓VR時(shí)，電流表所測(cè)的讀數(shù)即為光耦的輸入端反向漏電流測(cè)試IR值。 d)測(cè)試結(jié)果判斷：100%抽檢品的漏電流IR值一定在規(guī)格書范圍值內(nèi)，否則NG。2.3、輸出端反向電壓測(cè)試VCE： a)測(cè)試條件：1、環(huán)境溫度Ta=25；2、測(cè)試電流IC與部品規(guī)格書上的測(cè)試電流相同。 b)測(cè)試設(shè)備：半導(dǎo)體管特性圖示儀XJ4810 c)測(cè)試方法： 把圖示儀的正電極接光耦輸出端三極管的C極,負(fù)電極接光耦輸出端三極管的E極，接上后，再調(diào)節(jié)Y軸電流按鈕和X軸電壓按鈕到指定的電壓電流；最后慢慢地把調(diào)制峰值電壓按鈕從0%往上調(diào)高，當(dāng)LCD面板的坐標(biāo)圖顯示被擊穿圖形時(shí)，其讀數(shù)為光耦輸出端三極管的反向電壓測(cè)試VCE。 d)測(cè)試結(jié)果判斷： 1、100%抽檢品的擊穿電壓值一定在規(guī)格書的范圍值內(nèi)，否則NG； 2、擊穿電壓VR值的CPK值大于1.0，否則NG。2.4、輸出端反向漏電流測(cè)試： a)測(cè)試條件：1、環(huán)境溫度Ta=25；2、測(cè)試電壓與部品規(guī)格書上的測(cè)試電壓相同。 b)測(cè)試設(shè)備： 1、可調(diào)直流電源； 2、電流表（最高精度為0.001uA）把測(cè)試設(shè)備和被光耦如圖2線路連接起來，然后將可調(diào)直流電源輸出電壓VOUT調(diào)到指定的測(cè)試電壓VCE時(shí)，電流表所測(cè)的讀數(shù)即為光耦的輸出端反向漏電流測(cè)試ICE值。 d)測(cè)試結(jié)果判斷：100%抽檢品的漏電流ICE值一定在規(guī)格書范圍值內(nèi)，否則NG。2.5、電流傳輸比CTR測(cè)試： a)測(cè)試條件：環(huán)境溫度Ta=25； b)測(cè)試設(shè)備： 1、可調(diào)直流電源； 2、電流表（最高精度為0.001uA）； 3、限流電阻圖3：光耦電流傳輸比測(cè)試方法 把測(cè)試設(shè)備和被光耦如圖3線路連接起來，然后將可調(diào)直流電源A2調(diào)到一定的輸出電壓，再把V1輸出電壓慢慢提升，當(dāng)看到A1、A2表電流慢慢上升時(shí)，用公式：A2/1A就等于光耦的電流傳輸比值。 d)測(cè)試結(jié)果判斷：100%抽檢品的電流傳輸比值一定在規(guī)格書范圍值內(nèi)，否則NG。2.6、輸入與輸出端耐壓測(cè)試： a)測(cè)試條件：環(huán)境溫度Ta=25；4000VDC/1mA/60S。 b)測(cè)試設(shè)備：高壓儀 c)測(cè)試方法： 把高壓儀的兩端引線分別夾到光耦輸入輸出端，然后跟據(jù)測(cè)試條件4000VDC/1mA/60S來給光耦測(cè)試耐壓，具體操作請(qǐng)參照高壓儀的操作說明書。 d)測(cè)試結(jié)果判斷：100%抽檢品必須通過，否則NG。2.7、輸入與輸出端絕緣電阻測(cè)試： a)測(cè)試條件：環(huán)境溫度Ta=25；500VDC/60S。 b)測(cè)試設(shè)備：絕緣電阻儀 c)測(cè)試方法： 把絕緣電阻儀的兩端引線分別夾到光耦輸入輸出端，然后跟據(jù)測(cè)試條件500VDC/60S來給光耦測(cè)試絕緣電阻，具體操作請(qǐng)參照絕緣電阻儀的操作說明書。 d)測(cè)試結(jié)果判斷：100%抽檢品的絕緣電阻必須大于1011，否則NG。3、可焊性檢測(cè)：光耦引腳端應(yīng)易于粘錫（錫爐溫度為2605 吃錫時(shí)間為2-3S），引出端長度2/3的可焊面積應(yīng)大于95%，浸錫后錫面應(yīng)光亮、均勻。4、機(jī)械性檢測(cè)：a)引腳拉力強(qiáng)度：將光耦本體進(jìn)行固定，在其引腳與本之間施加一個(gè)2Kg拉力，施加時(shí)間為101S，實(shí)驗(yàn)后引腳不可斷裂，本體不可有拉傷現(xiàn)象，其電氣性能要符合規(guī)格書要求；否則為不合格。b)引腳彎折強(qiáng)度：將光耦本體進(jìn)行固定，在管腳上進(jìn)行來回90彎折，彎折次數(shù)為10次，實(shí)驗(yàn)后其引針不可斷裂，其電氣性能要符合規(guī)格書要求；否則為不合格。5、標(biāo)示耐擦性檢測(cè)：用干凈棉布沾上酒精在樣品上來回擦拭五遍，觀察樣品表面字跡不可出現(xiàn)變色、模糊不清或無法辨認(rèn)等異常。四、注意事項(xiàng)：1、首次采購的原材料均應(yīng)通過新品認(rèn)定試驗(yàn)。2、新品認(rèn)定試驗(yàn)由公司研發(fā)部門或由用戶指定或委托的質(zhì)量檢驗(yàn)單位負(fù)責(zé)進(jìn)行。3、進(jìn)行新品認(rèn)定試驗(yàn)的樣品數(shù)量不少于20PCS。4、試驗(yàn)中出現(xiàn)異常，或某些項(xiàng)目通不過，應(yīng)停止