P-list和G-list.doc

P-list和G-list硬盤的數(shù)據(jù)密度很大，在生產(chǎn)過程中不可避免地會(huì)產(chǎn)生缺陷，同時(shí)在使用過程中，那些不穩(wěn)定的扇區(qū)也會(huì)逐漸老化而產(chǎn)生數(shù)據(jù)讀寫錯(cuò)誤，這些缺陷和不穩(wěn)定扇區(qū)會(huì)嚴(yán) 重威脅硬盤數(shù)據(jù)的安全，為此，硬盤設(shè)計(jì)了兩個(gè)壞道表來處理這些有缺陷的扇區(qū)，他們就是P-list和G-list.，它們用于記錄硬盤的缺陷扇區(qū)的情況， 使硬盤工作時(shí)不會(huì)在缺陷扇區(qū)里讀寫數(shù)據(jù)，防止數(shù)據(jù)損壞。 壞道的產(chǎn)生可以分為兩種情況：一是生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)，二是使用過程的產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)，硬盤設(shè)計(jì)兩個(gè)壞道表就是用于分別識(shí)別和處理硬盤的兩種不同的壞道的。P-list P-list我們一般稱為工廠壞道表，嚴(yán)格來說應(yīng)該稱為永久壞道表或原始?jí)牡辣?，它是用于記錄工廠生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的壞道的，壞道加入P-list不會(huì)影響硬盤的讀寫性能。G-list G-list稱為增長(zhǎng)壞道表，用于記錄硬盤使用過程中由于磁介質(zhì)性能變?nèi)醵鸬膲牡溃纳葏^(qū)重定向到好扇區(qū)，壞道加入G-list對(duì)該扇區(qū)的讀寫速度是有影響的。 下面我們就談?wù)動(dòng)脖P對(duì)P-list和G-list的兩種不同的處理方式。 下圖是硬盤的扇區(qū)分配情況，硬盤的全部扇區(qū)可以劃分為三個(gè)方面，固件區(qū)、工作區(qū)和保留扇區(qū)；其中固件區(qū)和保留扇區(qū)普通用戶是沒辦法操作的，硬盤的實(shí)際扇區(qū) 數(shù)比我們看到的硬盤標(biāo)簽上標(biāo)定的要大，其中一部份用于存儲(chǔ)硬盤的固件，一部分是用戶存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的區(qū)域（工作區(qū)），也就是硬盤標(biāo)定容量的扇區(qū)，剩下的就是保留 區(qū)，實(shí)際上硬盤上并不會(huì)物理劃出一個(gè)保留區(qū)域，只是在工廠生產(chǎn)時(shí)標(biāo)定了全部的有效扇區(qū)，而硬盤的容量是小于其實(shí)際扇區(qū)總數(shù)的，在固件里定義了硬盤的容量， 超過硬盤容量的那些扇區(qū)我們就姑且把它稱為保留扇區(qū)。 上圖中藍(lán)色為固件區(qū)，白色為工作區(qū)，綠色為保留扇區(qū)，紅色為壞扇區(qū)，圖示表示的是壞扇區(qū)還沒有加入P-list和G-list的情況。大家可以看到，工作 區(qū)的LBA是從固件區(qū)后的LBA0一直連續(xù)標(biāo)定到硬盤的最大工作扇區(qū)LBAmax，LBAmax以后的扇區(qū)就是保留扇區(qū)。 下圖是壞扇區(qū)被加入P-list的情況： 從圖中可以看出，壞道被加入P-list后，硬盤不會(huì)再讀寫該扇區(qū)，而是在將原讀寫該扇區(qū)的操作順延到度寫壞扇區(qū)的下一個(gè)扇區(qū)，該扇區(qū)以后的所有扇區(qū)的 LBA值都發(fā)生了改變，原來保留扇區(qū)的一個(gè)扇區(qū)成為了硬盤的LBAmax，所以壞道被加入P-list后，硬盤需要進(jìn)行一次廠家低格。 下圖是壞道加入G-list的情況： 從圖中可以看出，壞道加入G-list后，當(dāng)硬盤需要讀壞道所在的扇區(qū)時(shí)，會(huì)被重定位到保留扇區(qū)中的一個(gè)扇區(qū)，硬盤工作區(qū)的其它扇區(qū)不會(huì)受影響，由于保留 扇區(qū)在硬盤的內(nèi)道，讀寫速度慢，同時(shí)由于該扇區(qū)會(huì)導(dǎo)致硬盤的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)從物理上來說不連續(xù)了，當(dāng)磁頭讀取該扇區(qū)的數(shù)據(jù)