可靠性試驗培訓(xùn)PPT

可靠性試驗培訓(xùn),可靠性發(fā)展及重要性,2,可靠性和質(zhì)量不可分離，其前身是伴隨著兵器的發(fā)展而誕生和發(fā)展的。,從公元前26世紀(jì)冷兵器時代開始經(jīng)過4000年發(fā)展，成熟期在二戰(zhàn)時期。,德國使用火箭和美國使用原子彈為標(biāo)志。美國當(dāng)時的航空無線電設(shè)備有60%不能正常工作，電子設(shè)備在規(guī)定的使用期限內(nèi)共有30%的時間能有效工作。,二戰(zhàn)期間，因可靠性引起的飛機(jī)損失慘重，損失飛機(jī)2100架，是被擊落的1.5倍。,可靠性的發(fā)展背景,28-Apr-20,可靠性發(fā)展及重要性,可靠性的發(fā)展,可靠性開始興起：1940s1950s二戰(zhàn)的需求，推出了許多新的產(chǎn)品，包括電子開關(guān)，真空管便攜式收音機(jī)，雷達(dá)和電子雷管，也帶來了產(chǎn)品可靠性的問題?？煽啃愿拍顏碜缘聡?1945年德國科學(xué)家把它帶到美國?？煽啃匝杆侔l(fā)展：1960s1980s隨著美國航空及航天工業(yè)，汽車工業(yè)和計算機(jī)產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，推動可靠性的迅速發(fā)展。可靠性進(jìn)入成熟期并國際化：1990s2000s推廣和應(yīng)用高加速壽命試驗（HALT）、高加速應(yīng)力試驗（HAST）10minutesoak;3cycles/hror-4085,airtoair;10minutesoak;3cycles/hr，2000cycleTHT：30/60RH，4000HHT&H：55/85RH，4000H判定標(biāo)準(zhǔn)：Whisker45um(TCT）Whisker40um(THT/HT&H）,41,28-Apr-20,可靠性試驗項目,跌落試驗（板級）Droptest（boardlevel）,42,28-Apr-20,可靠性試驗項目,跌落試驗（板級）Droptest（boardlevel）,RepresentativeTestBoard,DropTestBoardDescription,Bulksoldercracknearcomponentside,IMCcrackatPCBbumppad,CrackatcoppertraceatPCBside,43,28-Apr-20,可靠性試驗認(rèn)證資質(zhì),CNAS認(rèn)可中國合格評定國家認(rèn)可委員會認(rèn)可的實驗室/檢查機(jī)構(gòu),公正科學(xué)服務(wù)改進(jìn),44,28-Apr-20,可靠性失效案例,某產(chǎn)品TCT200后，RDSON偏大分析：導(dǎo)電膠分層,某產(chǎn)品TCT500后分析：點斷,45,28-Apr-20,可靠性失效案例,樣品PCT96后一顆PIN2開路失效分析：球脫,樣品UHAST96后1顆OS失效分析：球脫,46,28-Apr-20,可靠性失效案例,樣品HTST后失效分析：點斷,47,28-Apr-20,可靠性失效案例,樣品MSL后基島有紅區(qū)異常分析：分層,取一顆樣品切割，3K顯微鏡下觀