液晶面板不良現(xiàn)象DefectCode的命名及現(xiàn)象簡介參考文檔

1、AUO Proprietary & Confidential,AUO Proprietary & Confidential,F/D Defect Code,教材,作者,Alice zhu,生效日期,2006.10.20,AUO Proprietary & Confidential,目,錄,一,點(diǎn)類,DA,二,BL,類,DB,三,Cell,類,DC,四,組裝類,DM,五,POL,類,DP,六,Function,類,TM&FS,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.Cell,段,導(dǎo)電,性,Particle,造成,電,荷的,Leakag

2、e,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1.50,公分,明顯,可,見,的,紅色,綠色,藍(lán)色小光點(diǎn),2,如下,圖,所示,3,完整一,顆,Sub pixel,發(fā)亮則稱為亮點(diǎn),DA11,亮點(diǎn),Bright Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,金屬殘留,Cell,段導(dǎo)電性突起物,2.Cell,段導(dǎo)電性突起物,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1.50,公分可見的紅色、綠色或藍(lán)色忽亮忽暗的小光點(diǎn),2,其閃爍的速度不定有的快有的慢,3

3、,通常為完整一顆的,Sub pixel,DA111,閃爍亮點(diǎn),Flash Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1. Array,金屬殘留,2.Cell,段導(dǎo)電性突起物,3.Cell,段導(dǎo)電性突起物,Repair Fail,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1,因?yàn)橛|碰產(chǎn)品表面而出現(xiàn)的,50,公分可見的紅色、綠,色或藍(lán)色小光點(diǎn),2,出現(xiàn)後有可能變成亮點(diǎn)也可能變成閃爍亮點(diǎn),3,通常為完整的一顆,Sub pixel,DA112,壓力點(diǎn),Press Point,AUO Proprietary & Co

4、nfidential,成因,1.PI,刮傷,2. ITO,破洞,3.Cell,製程中的污染,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1. 50,公分輕微可見的紅色、綠色或藍(lán)色微小光點(diǎn),2,沒有固定形狀且常數(shù)顆或成群出現(xiàn),3,通常為,1/3,顆的,Sub pixel,DA113,碎亮點(diǎn),Small BP,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.ITO,殘留,2.AS,殘留,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1. 50,公分可見的混色小光點(diǎn),2,任何兩相鄰亮

5、點(diǎn)的四角或四邊有連接情形者皆稱之,DA12,二連亮點(diǎn),BP-Pair,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.O/L Shift,3. Cell,製程中導(dǎo)電性,Particle,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1. 50,公分可見的混色或偏白色的光點(diǎn),2,任何三顆相鄰亮點(diǎn)者皆稱之,DA13,聚集亮點(diǎn),Point-Cluster,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.Cell,段導(dǎo)電性,Particle,造成電荷

6、的,Leakage,檢測畫面,L0,階,黑畫面,現(xiàn)象敘述裸視可見,50,公分正視不可見,放大鏡看占滿整個,subpixel,DA114,微亮點(diǎn),small bright dot,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.Cell,段導(dǎo)電性,Particle,造成電荷的,Leakage,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1. 50,公分可見的綠色的光點(diǎn),DA16,綠點(diǎn),Green Bright Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.I

7、TO,殘留,2.AS,殘留,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1.50,公分可見的垂直長條型綠色的光點(diǎn),DA161,垂直二連綠亮點(diǎn),V-Pair Green Bright Dot,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2,刮傷,3.Cell,段導(dǎo)電性,Particle,檢測畫面,L0,階畫面,L116,階畫面,現(xiàn)象敘述,50,公分可見的兩顆靠近的亮點(diǎn),DA17,靠近亮點(diǎn),BP-Near,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性

8、不良,2. AS,殘留,3.ITO,殘留,4.Cell,製程中導(dǎo)電性,Particle,5,刮傷,檢測畫面,1. L0,L48,L92,L116,L255,RGB,現(xiàn)象敘述,1 .50,公分明顯可見的紅色、綠色或藍(lán)色小光,點(diǎn)和暗點(diǎn),總數(shù)合計(jì)超過規(guī)格,DA181,亮暗點(diǎn)總數(shù),Point-Count,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,2.ITO,殘留,3.AS,殘留,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,L255,RGB,現(xiàn)象敘述,1,同一畫面中同時存在亮點(diǎn)與暗點(diǎn)並有兩點(diǎn)間距離不,合規(guī)格時,D

9、A182,亮暗點(diǎn)間距,DP-BP near,AUO Proprietary & Confidential,成因,Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,RGB,L255,階畫面,現(xiàn)象敘述,1. 50,公分明顯可見的黑色小點(diǎn),2.Sub pixel,未正常發(fā)亮,DA21,暗點(diǎn),Dark Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,W/R/G/B ,L255,階畫面,現(xiàn)象敘述,1.50,公分明顯可見的黑色小點(diǎn),2.Sub pixel,未正常發(fā)亮,DA22,

10、二連暗點(diǎn),DP-Pair,AUO Proprietary & Confidential,成因,Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,W/R/G/B,L255,階畫面,現(xiàn)象敘述,1. 50,公分明顯可見三顆或以上相連接的黑色小點(diǎn),2.Sub pixel,未正常發(fā)亮,DA23,聚集暗點(diǎn),Cluster Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,刮傷,2.Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,R/G/B ,L255,階畫面,現(xiàn)象敘述,50,公分明顯可見兩顆靠近的小暗點(diǎn),DA231,靠近暗

11、點(diǎn),DP-Near,AUO Proprietary & Confidential,成因：光罩曝光部分重疊,檢測畫面,G92,階,畫面,現(xiàn)象敘述,1.50,公分明顯可見塊狀、條狀或十字形顏色較深的區(qū),塊,2,常發(fā)生位置如下,DA31,面繼,Mura (Shot Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片尺吋過大,2,背光板,Frame,設(shè)計(jì)不良尺吋過小或製程出問題造成,Frame,尺吋過小,3,背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片經(jīng),Agine,後熱漲冷縮造成,檢測畫面,L255,畫面,現(xiàn)象敘述,40,度側(cè)視明顯可見波浪狀痕跡,DB33 P

12、 Mura(P Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板膜片設(shè)計(jì)不良,2,背光板內(nèi)的膜片在燈管兩側(cè)週邊補(bǔ)償印刷太過,檢測畫面,L0,畫面,現(xiàn)象敘述畫面四角出現(xiàn)偏亮白色的色塊但輪廓不明顯,DB34,角,Mura(Horn Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板膜片設(shè)計(jì)不良,2,背光板內(nèi)的膜片在燈管側(cè)週邊補(bǔ)償印刷太過,檢測畫面,L255,畫面,現(xiàn)象敘述,在產(chǎn)品燈管側(cè)可見一條或一段顏色較暗的色帶,DB4,暗線,Dark Line,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背

13、光板原材不良本身即有背光板髒污,2,背光板經(jīng)組裝或重工時組裝不慎造成,檢測畫面,L255,畫面,現(xiàn)象敘述,1.50,公分側(cè)視,或由上往下看,即可見明顯的一條亮度比,全白的背景更亮更白的白色線或點(diǎn)，直徑約為,1-3mm,不等,2,以正視會變淡或看不見,DB51,背光板刮傷,Prism,損傷,B/L scratch/ Prism sheet damage,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板原材不良本身即有背光板髒污,2,背光板經(jīng)組裝或重工時組裝不慎造成,檢測畫面,L255,畫面,現(xiàn)象敘述,1.50,公分可見大小大於背光板異物且形狀與色差均較背,光板異物模

14、糊小霧狀物體,2,以,15,倍放大鏡,15X Lupe,無法看出明顯異物者,DB52,背光板髒污,B/L dirty,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人員操作失誤,2,原材不良,檢測畫面,L255(63,畫面,現(xiàn)象敘述,產(chǎn)品因燈管損壞而造成該區(qū)域顏色偏暗,DB6 Lamp,暗,BLU,暗,lamp dark,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,泛指一般末定義的背光板原材不良,DB7,背光源材料不良,BackLight Material Damage,AUO Proprietary & Confidential,成因,1

15、,背光板原材不良本身燈源線材有斷裂情況,2,測試人員操作不良燈源線材有斷裂情況,DB8,燈管,shutdown (Lamp shutdown,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人員在組裝時造成的,particle,2. B/L,來料時就有的,particle,3.cell,表面的,particle,檢測畫面,1. L255 L1/5gomi,現(xiàn)象敘述,1,用放大鏡看,particle,在,RGB,的下面,并且會隨視,線,的動而動,DB11,下,gomi(B/L Particle,AUO Proprietary & Confidential,成因,背光板內(nèi)的

16、導(dǎo)光板或其他膜片上有殘膠或透明異物,檢測畫面,L255(63,畫面,現(xiàn)象敘述,1.50,公分正視即可見明顯的一顆亮度比全白的背景更亮,更白的白色點(diǎn)，直徑約為,1-10mm,不等,2,以上視或其他角度會變淡或看不見,DB12,背光板白點(diǎn),B/L white spot,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Bezel,變形或間隙過大,2,遮光膠帶貼付對位不準(zhǔn),3,玻璃漏光,檢測畫面,L0,畫面,或漢字框畫面,現(xiàn)象敘述漏光係指鐵框與玻璃間所出現(xiàn)的條狀白色、黃色、褐,色或藍(lán)色亮線，長度不一定，有時呈數(shù)段出現(xiàn),DB21,漏光,Light leakage,B/L,漏光,鐵

17、框漏光,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Bezel,變形或間隙過大,2,遮光膠帶貼付對位不準(zhǔn),3,玻璃漏光,檢測畫面漢字字框畫面,現(xiàn)象敘述畫面週圍的有色細(xì)線斷掉或?qū)挾雀淖?DB22,漢字字框缺陷,waku,AUO Proprietary & Confidential,成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片組裝不良或尺寸不合,檢測畫面,L255,畫面,現(xiàn)象敘述畫面任一邊出現(xiàn)顯示區(qū)與,BM,區(qū)間的亮白色細(xì)線，仔細(xì),看通常呈一邊較細(xì)一邊較粗的現(xiàn)象,DB23,背光板內(nèi)層偏移,Black-Light Sheet Shift,AUO Proprietary & Confi

18、dential,成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片定位片尺吋不對或組裝偏移,檢測畫面,GB128,畫面,現(xiàn)象敘述通常出現(xiàn)在畫面兩側(cè),或單側(cè),的,2/3,高度左右,依產(chǎn)品別,位置可能有所差異,有的呈亮白色有的呈暗黑色,形,狀為小長方形但輪廓呈暈開現(xiàn)象,DB31,耳朵,Mura (Ear Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片燈管側(cè)補(bǔ)償印刷過度,2,背光板設(shè)計(jì)不良，燈管過亮,檢測畫面,L0,畫面,L255,階,現(xiàn)象敘述在產(chǎn)品燈管側(cè)可見一條或一段顏色較亮的色帶,DB32,亮度,Mura (Kido Mura,AUO Propriet

19、ary & Confidential,成因：液晶氣泡可分為真空泡和空氣泡，一般來說真空泡形成,原因?yàn)?laser repair,所造成，可經(jīng)由,autoclave,後消除,而空氣泡比較無法經(jīng)由,autoclave,消除，其成因?yàn)?1,液晶脫泡不完全,2,進(jìn),VPA,預(yù)抽,Q Time,過長,3. Panel,液晶封口不良,檢測畫面任何畫面,現(xiàn)象敘述,50,公分可見黑色或彩色水草狀或線狀痕跡，輕觸其週邊,有陷入的現(xiàn)像,DC10,液晶氣泡,LC Bubble,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L0,畫面,現(xiàn)象敘述側(cè)視可見類似星雲(yún)狀的亮帶，顏色與形狀皆不一

20、定,DC11,小星星,sandy,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L48,L92,L116,畫面,現(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約,2mm,的白色小圓點(diǎn)，正視即可見,其亮度、形狀與背光板白點(diǎn)有明顯的差異,DC12,白點(diǎn),white spot,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L48,L92,L116,現(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約,2mm,的白色小圓點(diǎn)，正視即可見,DC13,點(diǎn)黑,black spot,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L0,畫面,現(xiàn)象敘述通常成團(tuán)出現(xiàn),50,

21、公分看起來像很多碎亮點(diǎn)集中在一,起，以,15,倍放大鏡檢驗(yàn)可看別,Sub pixel,的某些部份顏,色變淡，刮傷，無顏色，破洞,皆稱之,DC14 CF,缺陷,CF defect,AUO Proprietary & Confidential,成因,BM,不夠黑，原材問題,檢測畫面漢字字框,現(xiàn)象敘述,BM,區(qū)原本黑色變成咖啡色或褐色,DC141,BM,區(qū),CF,缺陷,BM CF Defect,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人員操作失誤,2,原材不良,檢測畫面,L0,畫面,現(xiàn)象敘述現(xiàn)象類似,Sandy,但其顏色為亮白色圓型，以,15X,放大,鏡檢,視可看出極

22、細(xì)微的亮點(diǎn)聚集在一起,DC16 Spacer,破裂,Spacer broken,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人員操作失誤,2,原材不良,檢測畫面,L48,L92,L116,現(xiàn)象敘述,50,公分正視可見約呈,45,度向左或向右斜的條紋狀,Mura,通常為白色條紋間有規(guī)律的間隔,DC21,配向,Rubbing mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,CF,膜厚不均,檢測畫面,L0,畫面,現(xiàn)象敘述,40,度由上往下看可見位在產(chǎn)品中間以下部份一大片看似,雲(yún)狀的,Mura,其成因類似,Gap Mura,但觸碰其週周圍,沒有

23、波動,DC215,雲(yún)狀,Mura(Cloudy Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.PI,塗佈膜厚不均,2. PI,膜內(nèi)有水痕、異物或汙染,檢測畫面,L48,L92,L116,現(xiàn)象敘述無特定形狀、位置、大小，通常為灰白或灰黑色，整,個,Mura,色差很平均不會在輪廓處擴(kuò)散霧開，故其形狀,較明顯,DC216,PI Mura(PI Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,製作過程中所點(diǎn)的銀膠過大或過高，造成,Cell Gap,間隙,改變,2.Cell,製作過程中所塗佈的框膠過大或過高，造成,Cell,

24、Gap,間隙,改變,上述兩個原因皆會造成週邊,Mura,檢測畫面,L0,階畫面,現(xiàn)象敘述,1,會在,Panel,四周邊形成，按升降階可見其亮度,2,特徵,在全白畫面會泛黃,DC23,週邊,Mura (Around Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.CF,彩色濾光片,製作過程中某一個顏色曝光或成型時,有間題，造成該顏色畫面出現(xiàn)黑點(diǎn)或深色色塊,2 .CF,彩色濾光片,製作過程中成型時膜厚不均,上述兩個原因皆會造成色,Mura,檢測畫面,R,G,B,L92,階畫面,現(xiàn)象敘述,1,在,R,G,B,其中一色出現(xiàn)的小白圓點(diǎn),2,該,Mura,只出現(xiàn)在,R,G

25、,B,L,92,階畫面其中一個或兩個,畫面者稱之,DC24,色,Mura (Color Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,製作過程中,PI,膜塗佈不均，造成,GB128,畫面出現(xiàn),垂直,狀色塊,2 .Rubbing,製程中成型時膜厚不均,上述兩個原因皆會造成垂直狀,Mura,檢測畫面,L48,L92,L116,階,現(xiàn)象敘述升降階確認(rèn)成立一,直線白色的,Mura,DC26,垂直狀,Mura (V-Line Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1Polarizort,材料製作過程中因補(bǔ)償膜本身有條紋

26、狀細(xì),紋,有時出現(xiàn)白色有時出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊,檢測畫面,1. L0,階,2. L92,階,3.L48,階,現(xiàn)象敘述一般都為斜形狀，比一般其他,Mura,更立體,DC261,筋狀,mura (TFT PF linear mura,AUO Proprietary & Confidential,成因：尚未有明確成因,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,L255,RGB,階畫面,現(xiàn)象敘述像有顏色細(xì)細(xì)麵線形狀，在水藍(lán),GB128,畫面確認(rèn)，會,逐漸消失淡掉,DC27,縱筋,mura (Multiple V-Line Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1

27、.Cell,製作過程中,PI,膜塗佈不均，造成,GB128,畫面出現(xiàn),水平狀色塊,2 .Rubbing,製程中成型時膜厚不均,上述兩個原因皆會造成水平狀,Mura,檢測畫面,L48,L92,L116,階畫面,現(xiàn)象敘述像暈開的,Mura,橫條狀,DC28,水平狀,mura (H-Line Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上,CF,玻璃與下,TFT,玻璃因外力施壓，造成上下兩片,玻璃間的對位有偏移的現(xiàn)象,2.CF,在,Sub-pixel,間的,BM,寬度預(yù)留寬度不足，外力施壓後,無法遮住玻璃偏移造成的,TFT,金屬線路外露，以,50,公分,40,度

28、側(cè)視時會有一整片或藍(lán)或綠亮亮的現(xiàn)象,檢測畫面,L0,階畫面,現(xiàn)象敘述在,L0,階畫面用滾輪拉出的色差,DC29,可動式,mura (Move able mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,畫面檢驗(yàn)完畢關(guān)掉電源後畫面出現(xiàn)水平線狀或其他,形狀的殘留影像，通常為,IC,與,Cell,搭配有問題,DC32,關(guān)機(jī)殘像,After Image,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變小,檢測畫面,1. L0 /L48 /L92 /L116 /L255 /RGB,階調(diào)中以最明顯的,pattern,判

29、定,現(xiàn)象敘述,1,在,defect,的附近用手輕壓,此,defect,會動,DC33,黑,GAP Mura(Cell,Black Gap Mura(Cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良所造成，玻璃間隙變大,檢測畫面,GB128,畫面,現(xiàn)象敘述白色的,Gap Mura,DC331,白,Gap Mura(Cell) White Gap Mura(Cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變大，此外力通常,是,JI,段自動化機(jī)臺的治具不平或不清潔造成,2,偏光板重工時

30、因?yàn)樗浩獍鍣C(jī)臺調(diào)校不良或製程參數(shù),失準(zhǔn)，導(dǎo)致偏光板撕離時用力過度造成,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,階畫面,現(xiàn)象敘述手壓,Panel,形成漩渦狀，現(xiàn)象特別明顯,DC34,GAP Mura(Module,AUO Proprietary & Confidential,成因：原因不明,檢測畫面,L48,L92,L116,階畫面,現(xiàn)象敘述,PI,變厚或變薄所形成不規(guī)則形狀，無特定之名稱,DC35 Mura,Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,Cell,漏光可能形成之原因?yàn)?1. Pixel,線路刮傷,2. ITO,破洞,3,微小之,particl

31、e,掉落在線路上，造成,short,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,階,現(xiàn)象敘述在升降階時於面板四周有亮亮之情形,DC356,Cell,漏光,Cell light leakage,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良,2,玻璃清洗機(jī)臺的刮刀卡到玻璃屑,3,裂片機(jī)臺上有玻璃屑,檢測畫面,1,點(diǎn)亮檯燈,現(xiàn)象敘述,1.Cell,刮傷處目視可見,DC359 Cell,刮傷,Cell Scratch,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,注入口封膠污染,2,注入口封膠厚度不均造成玻璃間隙改變,檢測畫面,GB

32、128,階畫面,現(xiàn)象敘述在面板右側(cè)注入口位置，升降階可見其色差，或由上,往下看，用,Lupe,確認(rèn),Subpixel,一點(diǎn)一點(diǎn)的像,CF,Defect,DC36,注入口不良,Inj white mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L92,階,現(xiàn)象敘述針對,B152EW01,和,B141XN04-2/25,這兩種,Model ,Panel,每秒搖三下,會看見不規(guī)則形狀的水波紋,DC37 Cell,波紋狀,Cell Ripple,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L48,L92,L116,畫面,現(xiàn)象敘述

33、不規(guī)則狀大小、不定區(qū)域，類似,MURA,看似霧狀物,DC5,黑霧,Black Fog,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.CF,玻璃與,TFT,玻璃組裝時對位不良造成,檢測畫面,L0,畫面,升降階畫面,現(xiàn)象敘述,50,公分正視,Cell,組裝不良處可見一亮帶，以,15X,放大鏡,檢驗(yàn)可看到,Sub Pixel,側(cè)邊有漏光現(xiàn)象,DC91 Cell,組裝偏移,Cell assy shift,AUO Proprietary & Confidential,成因：遮光黑色膠布貼付不良,檢測畫面,漢字框畫面,現(xiàn)象敘述黑色膠布已露出偏光板,BM,面上,DM1,黑色膠布露出

34、,Excess Black tape,AUO Proprietary & Confidential,成因,1Polarizort,材料製作過程中因補(bǔ)償膜本身有條紋狀細(xì),紋,有時出現(xiàn)白色有時出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊,檢測畫面,L0,畫面,升降階畫面,現(xiàn)象敘述,不規(guī)則狀，不固定區(qū)域，俗稱,IP Mura,DM2,燒付,Imprint,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,玻璃經(jīng),COG,製程高溫高壓處理造成應(yīng)力集中與變形,檢測畫面,GB128,畫面,L92,畫面、升降階畫面,現(xiàn)象敘述,COG,製程的產(chǎn)品容易在,COG,相關(guān)位置出現(xiàn),DM11 COG Mura COG

35、Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,Cell,原材不良上偏光板有異物,通常指未經(jīng)過,模組,段偏光板重,工者,檢測畫面,L0,階,黑畫面,現(xiàn)象敘述,Panel,內(nèi)上偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L63,階檢查黑色異物,DP111,上偏光板異物,cell)Top PF Particle(cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,Cell,原材不良下偏光板有異物,通常指未經(jīng)過模組,段偏,光板重工者,檢測畫面,L0L63,階,黑畫面,現(xiàn)象敘述,Panel,內(nèi)下偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物

36、,L0,檢查,亮的異物,L63,階檢查黑色異物,DP112,下偏光板異物,cell) Top PF Particle(cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上偏光板有異物,通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者,檢測畫面,L0L63,階,黑畫面,現(xiàn)象敘述,Panel,內(nèi)上偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L63,階檢查黑色異物,DP121,上偏光板異物,module) Top PF,Particle(module,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,下偏光板有異物,通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者,檢測

37、畫面,L0L48,階,黑畫面,現(xiàn)象敘述,Panel,內(nèi)下偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L48,階檢查黑色異物,DP122,下偏光板異物,module) Bottom PF,Particle(module,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,下偏光板有異物,通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者,檢測畫面,L0L48,階,黑畫面,現(xiàn)象敘述,Panel,內(nèi)下偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L48,階檢查黑色異物,DP122,下偏光板異物,module) Bottom PF,Particle(module,AUO P

38、roprietary & Confidential,成因,1,上偏光板原材刮傷,2,人員取放動作不當(dāng),3,硬式保護(hù)膜硬度太高,檢測畫面,L0,階,現(xiàn)象敘述,偏光板上有熔解的痕跡，而顏色為黑色，而燒傷區(qū)域,大部份在,Panel,的四周,BM,區(qū)域,DP21,上偏光板刮傷,Top PF Scratch,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,偏光板原材不良,負(fù)翹太嚴(yán)重,2.Pol,貼付機(jī)臺,roller gap,未調(diào)整好,DP31,偏光板氣泡,PF Bubble,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,偏光板原材不良,沾附,parti

39、cle,2,機(jī)臺內(nèi)部,particle,污染,檢測畫面,L255,階,L92,階,現(xiàn)象敘述,偏光板內(nèi)有污點(diǎn)或髒污，類似,Mura,或,Gomi,DP4,偏光板髒污,Top PF Dirt,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良,2,軟式保護(hù)膜上有投影筆筆跡轉(zhuǎn)印到偏光板,檢測畫面,L255,階,現(xiàn)象敘述,在白畫面容易看出有投影筆痕跡，位置在偏光板內(nèi)部,DP41,偏光板投影筆筆跡,Polarizer Handwriting,Dirty,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,偏光板原材不良,2.Robot,上有,p

40、article,3.set table,上有,particle,4.clean roller,上有,particle,檢測畫面,1,點(diǎn)亮檯燈,現(xiàn)象敘述,1,傷痕目視可見,DP6,上偏光板壓傷,Top PF Dent,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良,2.JI,機(jī)臺治具不清潔有硬異物殘留導(dǎo)軟壓傷偏光板,檢測畫面,L0,階,L92,階,現(xiàn)象敘述大的類似,Black Gap Mura,有黑色和白色,小的有時,很像異物,DP61,下偏光板壓傷,Bottom PF Dent,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,

41、偏光板原材不良,2,化學(xué)藥品污染,檢測畫面,L92,畫面,升降階畫面,現(xiàn)象敘述,偏光板層內(nèi)類似,Mura,在,L0,階會比較明顯看出偏光,板腐蝕,DP7,偏光板腐蝕,Chemical pollution,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,1. B/L,點(diǎn)亮,2,所有檢測畫面,現(xiàn)象敘述,1,垂直區(qū)塊性缺陷,亮區(qū)塊、暗區(qū)塊、區(qū)塊顏色與周圍,不同,皆屬之,2,多重垂直性區(qū)塊皆屬之,TM3,垂直區(qū)塊缺陷,V-Block Defect,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,1. B/L,點(diǎn)亮,2,所有檢測畫面,現(xiàn)象敘述,1,水平區(qū)塊性缺陷,亮區(qū)塊、暗區(qū)塊、區(qū)塊顏