等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用

1、 本科學(xué)生畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）題目(中 文):等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用(英 文):The research and application of equal inclination interference and equal thickness interference 姓 名學(xué) 號(hào)院 （系）專業(yè)、年級(jí)指導(dǎo)教師 湖南科技學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）誠(chéng)信聲明本人鄭重聲明：所呈交的本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)），是本人在指導(dǎo)老師的指導(dǎo)下，獨(dú)立進(jìn)行研究工作所取得的成果，成果不存在知識(shí)產(chǎn)權(quán)爭(zhēng)議，除文中已經(jīng)注明引用的內(nèi)容外，本論文不含任何其他個(gè)人或集體已經(jīng)發(fā)表或撰寫(xiě)過(guò)的作品成果。對(duì)本文的研究做出重要貢獻(xiàn)的個(gè)人和集體均

2、已在文中以明確方式標(biāo)明。本人完全意識(shí)到本聲明的法律結(jié)果由本人承擔(dān)。 本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）作者簽名： 年 月 日 畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）任務(wù)書(shū)課題名稱：等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用學(xué)生姓名：系 別：專 業(yè)：指導(dǎo)教師：2 湖南科技學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）任務(wù)書(shū)1、 主題詞、關(guān)鍵詞：等傾干涉、等厚干涉 、應(yīng)用2、畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）內(nèi)容要求：1）論文應(yīng)嚴(yán)格遵循撰寫(xiě)規(guī)范； 2）論文摘要和關(guān)鍵詞應(yīng)反映論文內(nèi)容； 3）論文應(yīng)層次分明，數(shù)據(jù)可靠，文字簡(jiǎn)練，說(shuō)理透徹，推理嚴(yán)整，立論正確。 4）內(nèi)容有創(chuàng)新性，有自己獨(dú)特的觀點(diǎn)和看法。3、文獻(xiàn)查閱指引：1姚啟鈞.光學(xué)教程M .北京:高等教育出版社,2002,3:33-38.2

3、趙凱華,鐘錫華.光學(xué)M .北京:北京大學(xué)出版社,1984:146-1493薛立范.等厚干涉與等傾干涉之比較J.科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào),2010,13(1):225. 4何熙起.牛頓環(huán)與等傾干涉條紋比較J.海南師范學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)，2006,04(2):332-334.5鄧曉穎,劉鐘燕.用單色光等傾干涉測(cè)平板透明體厚度和折射率J.紡織高校基礎(chǔ)科學(xué)學(xué)報(bào),2004,03,17(3):277-279. 6王巍然,王耀輝.利用等厚干涉測(cè)量HeNe激光的波長(zhǎng)J.大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)，1997，03,10(3):34-35.7左則文.等厚干涉法測(cè)量薄膜厚度的兩種方法J.安徽師范大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2012,01,3

4、5(1):32-34.8張瑛,盧杰,楊楓.用等厚干涉測(cè)液體的折射率J.大學(xué)物理，2005,02，24(2):44-45. 9周菊林,李奇云,徐旭玲.邁克爾孫干涉圖樣分析及調(diào)節(jié)技巧J.湖南理工學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2009,03,20(2):63-66. 10刁訓(xùn)剛,趙瑩,蔡向華,王惠棣.邁克耳遜干涉儀實(shí)驗(yàn)中的等傾與等厚干涉J. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn),2003,03,16(3):33-35. 11馬成,徐磊.改進(jìn)的邁克爾遜干涉儀測(cè)量薄膜厚度J.光學(xué)儀器，2012,01，34(1):85-90.4、畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）進(jìn)度安排：（1）、2012年11月30日指導(dǎo)教師給學(xué)生下達(dá)任務(wù)書(shū)，2012年12月26日前

5、完成開(kāi)題。開(kāi)題時(shí)間：2012年12月22日-26；（2）、第8期第7周（2013.4.7-4.13）中期檢查，指導(dǎo)教師填寫(xiě)好中期檢查表；（3）、第9周拿出初稿；（4）、第11周，正式答辯前，學(xué)生根據(jù)自身完成的情況提出答辯申請(qǐng)，并填寫(xiě)“學(xué)生答辯申請(qǐng)及資格審查表”；（5）、第11周（2013年5月8日）學(xué)生畢業(yè)論文(設(shè)計(jì))定稿，準(zhǔn)備答辯；（6）、答辯時(shí)間：2013年5月18日 教研室意見(jiàn)： 負(fù)責(zé)人簽名： 注：本任務(wù)書(shū)一式三份，由指導(dǎo)教師填寫(xiě)，經(jīng)教研室審批后一份下達(dá)給學(xué)生，一份交指導(dǎo)教師，一份留系里存檔。湖南科技學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）開(kāi)題報(bào)告書(shū)論文（設(shè)計(jì)）題目等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用作 者 姓

6、名宗靖鴻所屬系、專業(yè)、年級(jí) 電子工程系、物理學(xué)、2009級(jí)指導(dǎo)教師姓名、職稱朱湘萍 高級(jí)實(shí)驗(yàn)師預(yù)計(jì)字?jǐn)?shù)14000開(kāi)題日期2012.12.22 選題的根據(jù)：1）說(shuō)明本選題的理論、實(shí)際意義2）綜述國(guó)內(nèi)外有關(guān)本選題的研究動(dòng)態(tài)和自己的見(jiàn)解1.選題意義：由于科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，干涉測(cè)量技術(shù)已經(jīng)得到相當(dāng)廣泛的應(yīng)用。因?yàn)楫?dāng)代干涉測(cè)量技術(shù)本身具有靈敏度高、量程大、可以適應(yīng)惡劣環(huán)境等特點(diǎn)，因而在現(xiàn)代工業(yè)中應(yīng)用非常廣泛。目前已經(jīng)有幾個(gè)著名廠家的成熟的干涉儀產(chǎn)品，覆蓋了相當(dāng)大的應(yīng)用范圍。但是干涉儀畢竟不是一個(gè)簡(jiǎn)單的工具，沒(méi)有一定的理論基礎(chǔ)難以正確使用，何況還有許多新的應(yīng)用領(lǐng)域有待研究，需要更加深入的理論知識(shí)。等傾、等厚

7、干涉原理是研究干涉技術(shù)的重要知識(shí)點(diǎn)之一，掌握等傾、等厚干涉原理及應(yīng)用對(duì)進(jìn)一步研究干涉測(cè)量技術(shù)有著重大的現(xiàn)實(shí)意義。2.研究動(dòng)態(tài)：在國(guó)內(nèi)外的相關(guān)研究中，雖然關(guān)于等傾干涉和等傾干涉都有相關(guān)的探討，但是能將兩者的異同點(diǎn)系統(tǒng)化地加以比較的并不多見(jiàn)。而且國(guó)內(nèi)的文獻(xiàn)中較少有將等傾干涉和等厚干涉基本原理與相關(guān)應(yīng)用結(jié)合進(jìn)行系統(tǒng)研究。3.研究?jī)?nèi)容：本文將結(jié)合在光學(xué)學(xué)習(xí)過(guò)程中的心得體會(huì)，依據(jù)波動(dòng)光學(xué)的相關(guān)知識(shí)點(diǎn)，結(jié)合前人的探討結(jié)果，從以下方面討論了光的等傾干涉與等厚干涉：等傾、等厚干涉基本原理、公式推導(dǎo)、計(jì)算方法、條紋特點(diǎn)等，并系統(tǒng)總結(jié)兩者之間的異同點(diǎn)及研究了邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)中的等傾、等厚干涉特點(diǎn)，從而較深入的探討

8、了等傾、等厚干涉的本質(zhì)。在此基礎(chǔ)上希望能對(duì)大家更好地運(yùn)用光學(xué)知識(shí)有所幫助。主要內(nèi)容：1、 等傾、等厚干涉概述1. 等傾干涉基本原理及公式推導(dǎo)2. 等厚干涉基本原理及公式推導(dǎo)3. 等傾干涉與等厚干涉的比較2、 等傾、等厚干涉的應(yīng)用1. 用單色光等傾干涉測(cè)透明平板厚度和折射率2. 用等厚干涉測(cè)波長(zhǎng)3. 用等厚干涉測(cè)薄膜厚度4. 用等厚干涉測(cè)液體折射率3、 邁克爾遜干涉1.邁克爾遜干涉儀的調(diào)節(jié)及圖樣的分析2.邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)中實(shí)現(xiàn)等傾、等厚干涉的條件3.改進(jìn)的邁克爾遜干涉儀測(cè)量薄膜厚度研究方法：本文通過(guò)參考文獻(xiàn)的引用進(jìn)行理論分析，運(yùn)用比較法、推導(dǎo)法、歸納總結(jié)等方法進(jìn)行論證，從而得出相關(guān)結(jié)論。完成期限

9、和采取的主要措施：完成期限：1） 2013年1月10日2013年1月30日 根據(jù)任務(wù)書(shū)查閱資料，寫(xiě)好開(kāi)題報(bào)告； 2） 2013年2月1日-2013年3月30日 完成畢業(yè)論文初稿； 3） 2013年4月1日-2013年5月8日 完成論文修改并定稿。主要措施： 1） 在圖書(shū)館查閱、借閱各種相關(guān)書(shū)籍學(xué)術(shù)期刊。 2） 通過(guò)指導(dǎo)老師指引，查閱相關(guān)文獻(xiàn)。 3） 網(wǎng)上搜索相關(guān)資料，與老師討論相關(guān)問(wèn)題。 4） 閱覽室查閱相關(guān)資料。 5） 實(shí)驗(yàn)室做邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)，得出相關(guān)數(shù)據(jù)。 6） 仔細(xì)研究并綜合各種相關(guān)信息，展開(kāi)論述。主要參考資料：1姚啟鈞.光學(xué)教程M .北京:高等教育出版社,2002,3:33-38.2

10、趙凱華,鐘錫華.光學(xué)M .北京:北京大學(xué)出版社,1984:146-149 3薛立范.等厚干涉與等傾干涉之比較J.科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào),2010,13(1):225. 4何熙起.牛頓環(huán)與等傾干涉條紋比較J.海南師范學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)，2006,04(2):332-334.5鄧曉穎,劉鐘燕.用單色光等傾干涉測(cè)平板透明體厚度和折射率J.紡織高?；A(chǔ)科學(xué)學(xué)報(bào),2004,03,17(3):277-279. 6王巍然,王耀輝.利用等厚干涉測(cè)量HeNe激光的波長(zhǎng)J.大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)，1997，03,10(3):34-35.7左則文.等厚干涉法測(cè)量薄膜厚度的兩種方法J.安徽師范大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2012,01,

11、35(1):32-34.8張瑛,盧杰,楊楓.用等厚干涉測(cè)液體的折射率J.大學(xué)物理，2005,02，24(2):44-45. 9周菊林,李奇云,徐旭玲.邁克爾孫干涉圖樣分析及調(diào)節(jié)技巧J.湖南理工學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2009,03,20(2):63-66. 10刁訓(xùn)剛,趙瑩,蔡向華,王惠棣.邁克耳遜干涉儀實(shí)驗(yàn)中的等傾與等厚干涉J. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn),2003,03,16(3):33-35. 11馬成,徐磊.改進(jìn)的邁克爾遜干涉儀測(cè)量薄膜厚度J.光學(xué)儀器，2012,01，34(1):85-90.指導(dǎo)教師意見(jiàn)：指導(dǎo)教師簽名： 教研室意見(jiàn)： 簽 名： 年 月 日開(kāi) 題 報(bào) 告 會(huì) 紀(jì) 要時(shí)間2012年12

12、月22日地點(diǎn)三教106與會(huì)人員姓 名職務(wù)（職稱）姓 名職務(wù)（職稱）姓 名職務(wù)（職稱）熊文元教 授劉旭輝講師謝一民副教授李愛(ài)華講師付 喜副教授 朱湘萍高級(jí)實(shí)驗(yàn)師會(huì)議記錄摘要：1、選題的目的是什么？等傾、等厚干涉原理是研究干涉技術(shù)的重要知識(shí)點(diǎn)之一，掌握等傾、等厚干涉原理及應(yīng)用對(duì)進(jìn)一步研究和運(yùn)用干涉測(cè)量技術(shù)有著重大的現(xiàn)實(shí)意義。2、本課題國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀如何？在國(guó)內(nèi)外的相關(guān)研究中，雖然關(guān)于等傾干涉和等傾干涉都有相關(guān)的探討，但較少有將等傾、等厚干涉基本原理與相關(guān)應(yīng)用結(jié)合進(jìn)行系統(tǒng)研究。2、 如何搜索相關(guān)資料的？主要是通過(guò)在圖書(shū)館及中國(guó)學(xué)術(shù)期刊網(wǎng)搜索并下載相關(guān)的參考文獻(xiàn)及資料。會(huì)議主持人：記 錄 人： 年 月

13、 日 指導(dǎo)小組意見(jiàn)負(fù)責(zé)人簽名： 年 月 日系部 意 見(jiàn) 負(fù)責(zé)人簽名： 年 月 日湖南科技學(xué)院畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）中期檢查表畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）題 目等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用學(xué)生姓名宗靖鴻學(xué) 號(hào)1系 別電子工程系專 業(yè)物理學(xué)指導(dǎo)教師朱湘萍檢查日期2013.4.7指導(dǎo)教師檢查情況記載及修改意見(jiàn)：已經(jīng)完成的工作：1、論文主體內(nèi)容已基本完成，論文整體結(jié)構(gòu)基本合理、論據(jù)基本充分、論文內(nèi)容中前后段落連貫通順。2、準(zhǔn)備了較充分的相關(guān)參考資料，對(duì)參考文獻(xiàn)進(jìn)行了部分更新和整理。3、論文格式基本按照湖南科技學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì)論文基本規(guī)范來(lái)執(zhí)行。下一步的工作：1、繼續(xù)完成論文的寫(xiě)作工作。論文內(nèi)容要多推敲，刪除多余的或者是重復(fù)的

14、段落及句子，做到言簡(jiǎn)意賅，重點(diǎn)突出；論文內(nèi)容中有很多小錯(cuò)誤，需要進(jìn)一步細(xì)讀后發(fā)現(xiàn)并及時(shí)加以改正。2、繼續(xù)更新相關(guān)參考文獻(xiàn)，通過(guò)閱讀新文獻(xiàn)發(fā)現(xiàn)新的研究?jī)?nèi)容及創(chuàng)新點(diǎn)，充實(shí)論文研究的內(nèi)容。3、論文一定要按照基本規(guī)范來(lái)進(jìn)行寫(xiě)作，并按要求對(duì)部分格式小錯(cuò)誤進(jìn)行及時(shí)修改。 簽名： 簽名： 注：此表用于指導(dǎo)教師在學(xué)生畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）初稿完成后對(duì)學(xué)生執(zhí)行任務(wù)書(shū)情況進(jìn)行中期檢查時(shí)用，由指導(dǎo)教師填寫(xiě)。湖南科技學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）指導(dǎo)過(guò)程記錄表畢業(yè)論文(設(shè)計(jì))題目等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用學(xué)生姓名宗靖鴻學(xué)號(hào)1專業(yè)班級(jí)物理學(xué)0901班指導(dǎo)教師朱湘萍職稱高級(jí)實(shí)驗(yàn)師系（教研室）電子工程系指導(dǎo)過(guò)程記錄指導(dǎo)內(nèi)容記錄(一)指導(dǎo)如

15、何從圖書(shū)館網(wǎng)站鏈接進(jìn)入中國(guó)期刊網(wǎng)，如何檢索中國(guó)期刊網(wǎng)全文數(shù)據(jù)庫(kù)，如何從中國(guó)期刊網(wǎng)上下載、整理及閱讀相關(guān)參考文獻(xiàn)。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年 月 日指導(dǎo)內(nèi)容記錄(二)指出論文編排過(guò)程中的不合理現(xiàn)象，如文獻(xiàn)的格式及引用、內(nèi)容順序、中英文等；要求對(duì)多余的、重復(fù)的內(nèi)容進(jìn)行刪除或精簡(jiǎn)，語(yǔ)段前后不連貫的地方多加修改。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年 月 日指導(dǎo)內(nèi)容記錄（三)老師比較滿意，同時(shí)告誡我對(duì)于別人的成果可以在理解的基礎(chǔ)上引用并標(biāo)明出處，在寫(xiě)論文時(shí)要有自己特有的見(jiàn)解，在寫(xiě)論文同時(shí)要真正的有所收獲。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年 月 日指導(dǎo)

16、內(nèi)容記錄(四) 指導(dǎo)了Word 2003的操作技巧。如文檔編排、多級(jí)標(biāo)題等。 發(fā)現(xiàn)并對(duì)論文的細(xì)節(jié)錯(cuò)誤進(jìn)行了修改，如中英文標(biāo)點(diǎn)符號(hào)、字體字號(hào)等，論文格式應(yīng)保證與論文模板中的一致。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年 月 日指導(dǎo)過(guò)程記錄指導(dǎo)內(nèi)容記錄(五) 畢業(yè)論文中期檢查。老師肯定了我前期的工作，并就論文中涉及到的內(nèi)容給與指導(dǎo)。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年 月 日指導(dǎo)內(nèi)容記錄(六)檢查論文初稿時(shí)，老師對(duì)論文的重要部分進(jìn)行指導(dǎo)，文獻(xiàn)中作者名、資料名稱，頁(yè)碼等進(jìn)行解釋輔導(dǎo)，并指出論文寫(xiě)作要按照畢業(yè)論文撰寫(xiě)規(guī)范來(lái)撰寫(xiě)。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年

17、 月 日 指導(dǎo)內(nèi)容記錄(七) 再次檢查論文，指導(dǎo)我引用別人的圖畫(huà)和公式要標(biāo)明出處，否則會(huì)構(gòu)成侵權(quán)。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年 月 日指導(dǎo)內(nèi)容記錄(八) 定稿前檢查，老師從前置部分到主題部分都作了很詳細(xì)的檢查。指出封面、各種表，字體和字號(hào)、英文摘要，參考文獻(xiàn)，論文頁(yè)面設(shè)置等存在的問(wèn)題。保證論文排版整潔、美觀，并對(duì)論文答辯PPT的制作提出意見(jiàn)和建議。 學(xué) 生 簽 名： 年 月 日 指導(dǎo)教師簽名： 年 月 日答辯小組組長(zhǎng)意 見(jiàn)組長(zhǎng)(簽名)： 年 月 日 注：本表與畢業(yè)論文一起裝訂存檔。湖南科技學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）評(píng)審表論文題目等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用作者姓名宗靖鴻所屬系

18、、專業(yè)、年級(jí)電子工程系 物理學(xué)專業(yè) 2009年級(jí)指導(dǎo)教師姓名、職稱朱湘萍 高級(jí)實(shí)驗(yàn)師字 數(shù)14000定稿日期2013.5.8中文摘要本文通過(guò)參考文獻(xiàn)的引用進(jìn)行理論分析，比較系統(tǒng)地闡述了等傾、等厚干涉的基本原理、條紋特點(diǎn)及其相關(guān)性質(zhì)，并通過(guò)比較總結(jié)了二者的異同。然后在前人相關(guān)研究的基礎(chǔ)上，對(duì)等傾、等厚干涉的相關(guān)應(yīng)用進(jìn)行了較詳細(xì)的介紹，總結(jié)了利用等傾干涉測(cè)透明平板厚度和折射率及用等厚干涉測(cè)波長(zhǎng)、測(cè)薄膜厚度、測(cè)液體折射率的原理及方法。最后，介紹了邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)中的等傾、等厚干涉，通過(guò)對(duì)干涉圖樣的分析，歸納總結(jié)了邁克爾遜干涉儀的調(diào)節(jié)技巧及實(shí)現(xiàn)等傾、等厚干涉的條件。從而對(duì)等傾、等厚干涉進(jìn)行了系統(tǒng)的研究

19、并得出相關(guān)結(jié)論。關(guān)鍵詞等傾干涉 等厚干涉 邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn) 應(yīng)用英文摘要 Reference quoted in this article, through theoretical analysis, systematically expounds the basic principle of equal inclination interference and equal thickness interference, stripes characteristics and its related properties, and summarized the similarities and

20、 differences between them by comparing. Then on the basis of the predecessors studies, equal inclination interference and equal thickness interference of related application was introduced in detail, summarizes the principle and method of using equal inclination interference measuring transparent pl

21、ate thickness and the refractive index and equal thickness interference test in measuring wavelength, measuring film thickness and measuring liquid refractive index . Finally, the article introduces equal inclination interference and equal thickness interference in the experiment of Michelson interf

22、erometers, through the analysis of the interference pattern, summarized the method of adjusting Michelson interferometer and the conditions of realizing equal inclination interference and equal thickness interference. Thus Comprehensively analyzed equal inclination interference and equal thickness i

23、nterference and Come to the related conclusion.關(guān)鍵詞(3-5個(gè))Equal inclination interference Equal thickness interference Michelson interference experiment Application指導(dǎo)教師評(píng)定成績(jī)?cè)u(píng)審基元評(píng)審要素評(píng)審內(nèi)涵滿分指導(dǎo)教師實(shí)評(píng)分選題質(zhì)量25%目的明確符合要求選題符合專業(yè)培養(yǎng)目標(biāo)，體現(xiàn)學(xué)科、專業(yè)特點(diǎn)和教學(xué)計(jì)劃的基本要求，達(dá)到畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）綜合訓(xùn)練的目的。10理論意義或?qū)嶋H價(jià)值符合本學(xué)科的理論發(fā)展，有一定的學(xué)術(shù)意義；對(duì)經(jīng)濟(jì)建設(shè)和社會(huì)發(fā)展的應(yīng)用性研

24、究中的某個(gè)理論或方法問(wèn)題進(jìn)行研究，具有一定的實(shí)際價(jià)值。10選題恰當(dāng)題目規(guī)模適當(dāng)，難易度適中；有一定的科學(xué)性。5能力水平40%查閱文獻(xiàn)資料能力能獨(dú)立查閱相關(guān)文獻(xiàn)資料，歸納總結(jié)本論文所涉及的有關(guān)研究狀況及成果。10綜合運(yùn)用知識(shí)能力能運(yùn)用所學(xué)專業(yè)知識(shí)闡述問(wèn)題；能對(duì)查閱的資料進(jìn)行整理和運(yùn)用；能對(duì)其科學(xué)論點(diǎn)進(jìn)行論證。10研究方案的設(shè)計(jì)能力整體思路清晰；研究方案合理可行。5研究方法和手段的運(yùn)用能力能運(yùn)用本學(xué)科常規(guī)研究方法及相關(guān)研究手段（如計(jì)算機(jī)、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備等）進(jìn)行實(shí)驗(yàn)、實(shí)踐并加工處理、總結(jié)信息。10外文應(yīng)用能力能閱讀、翻譯一定量的本專業(yè)外文資料、外文摘要和外文參考書(shū)目（特殊專業(yè)除外）體現(xiàn)一定的外語(yǔ)水平。

25、5論文質(zhì)量35%文題相符較好地完成論文選題的目的要求。5寫(xiě)作水平論點(diǎn)鮮明；論據(jù)充分；條理清晰；語(yǔ)言流暢。15寫(xiě)作規(guī)范符合學(xué)術(shù)論文的基本要求。用語(yǔ)、格式、圖表、數(shù)據(jù)、量和單位、各種資料引用規(guī)范化、符合標(biāo)準(zhǔn)。10論文篇幅10000字左右。5實(shí)評(píng)總分 成績(jī)等級(jí) 指導(dǎo)教師評(píng)審意見(jiàn)： 指導(dǎo)教師簽名： 評(píng)閱教師評(píng)定成績(jī)?cè)u(píng)審基元評(píng)審要素評(píng)審內(nèi)涵滿分評(píng)閱教師實(shí)評(píng)分選題質(zhì)量25%目的明確符合要求選題符合專業(yè)培養(yǎng)目標(biāo)，體現(xiàn)學(xué)科、專業(yè)特點(diǎn)和教學(xué)計(jì)劃的基本要求，達(dá)到畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）綜合訓(xùn)練的目的。10理論意義或?qū)嶋H價(jià)值符合本學(xué)科的理論發(fā)展，有一定的學(xué)術(shù)意義；對(duì)經(jīng)濟(jì)建設(shè)和社會(huì)發(fā)展的應(yīng)用性研究中的某個(gè)理論或方法問(wèn)題進(jìn)行研

26、究，具有一定的實(shí)際價(jià)值。10選題恰當(dāng)題目規(guī)模適當(dāng)，難易度適中；有一定的科學(xué)性。5能力水平40%查閱文獻(xiàn)資料能力能獨(dú)立查閱相關(guān)文獻(xiàn)資料，歸納總結(jié)本論文所涉及的有關(guān)研究狀況及成果。10綜合運(yùn)用知識(shí)能力能運(yùn)用所學(xué)專業(yè)知識(shí)闡述問(wèn)題；能對(duì)查閱的資料進(jìn)行整理和運(yùn)用；能對(duì)其科學(xué)論點(diǎn)進(jìn)行論證。10研究方案的設(shè)計(jì)能力整體思路清晰；研究方案合理可行。5研究方法和手段的運(yùn)用能力能運(yùn)用本學(xué)科常規(guī)研究方法及相關(guān)研究手段（如計(jì)算機(jī)、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備等）進(jìn)行實(shí)驗(yàn)、實(shí)踐并加工處理、總結(jié)信息。10外文應(yīng)用能力能閱讀、翻譯一定量的本專業(yè)外文資料、外文摘要和外文參考書(shū)目（特殊專業(yè)除外）體現(xiàn)一定的外語(yǔ)水平。5論文質(zhì)量35%文題相符較好地

27、完成論文選題的目的要求。5寫(xiě)作水平論點(diǎn)鮮明；論據(jù)充分；條理清晰；語(yǔ)言流暢。15寫(xiě)作規(guī)范符合學(xué)術(shù)論文的基本要求。用語(yǔ)、格式、圖表、數(shù)據(jù)、量和單位、各種資料引用規(guī)范化、符合標(biāo)準(zhǔn)。10論文篇幅10000字左右。5實(shí)評(píng)總分 成績(jī)等級(jí) 評(píng)閱教師評(píng)審意見(jiàn)： 評(píng)閱教師簽名： 說(shuō)明：評(píng)定成績(jī)分為優(yōu)秀、良好、中等、及格、不及格五個(gè)等級(jí)，實(shí)評(píng)總分90100分記為優(yōu)秀，8089分記為良好，7079分記為中等，6069分記為及格，60分以下記為不及格。湖南科技學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）答辯記錄表論文題目等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用作者姓名宗靖鴻所屬系、專業(yè)、年級(jí)電子工程系、物理學(xué)專業(yè)、2009級(jí)指導(dǎo)教師姓名、職稱朱湘萍、

28、高級(jí)實(shí)驗(yàn)師答 辯 會(huì) 紀(jì) 要時(shí)間2013年5月18日地點(diǎn)三教106答辯小組成員姓 名職務(wù)（職稱）姓 名職務(wù)（職稱）姓 名職務(wù)（職稱）熊文元教 授劉旭輝講師謝一民副教授李愛(ài)華講師付 喜副教授 朱湘萍高級(jí)實(shí)驗(yàn)師答辯中提出的主要問(wèn)題及回答的簡(jiǎn)要情況記錄：1、等傾、等厚干涉有什么異同？相同點(diǎn)是等傾、等厚干涉都屬于薄膜干涉；不同點(diǎn)是形成原理、公式推導(dǎo)及條紋特點(diǎn)有所不同。3、 等傾、等厚干涉都有哪些應(yīng)用？利用等傾干涉可測(cè)透明平板厚度和折射率，運(yùn)用等厚干涉可測(cè)波長(zhǎng)、測(cè)薄膜厚度、測(cè)液體折射率及檢測(cè)工件表面平整度等。4、 該論文運(yùn)用了哪些研究方法？本文通過(guò)參考文獻(xiàn)的引用進(jìn)行理論分析，運(yùn)用了比較法、推導(dǎo)法、歸納總

29、結(jié)等方法進(jìn)行論證，從而得出相關(guān)結(jié)論。議主持人：記 錄 人：年 月 日答辯小組意見(jiàn)評(píng)語(yǔ)：評(píng)定等級(jí)： 負(fù)責(zé)人（簽名）： 年 月 日系學(xué)位委員會(huì)意見(jiàn)評(píng)語(yǔ)：論文（設(shè)計(jì)）最終評(píng)定等級(jí)：負(fù)責(zé)人（簽名）： 系部（公章） 年 月 日校學(xué)位委員會(huì)意見(jiàn)評(píng)語(yǔ)：評(píng)定等級(jí)： 負(fù)責(zé)人（簽名）： 年 月 日 目錄緒論11 等傾、等厚干涉概述21.1 等傾干涉基本原理及公式推導(dǎo)21.1.1 基本原理21.1.2 公式推導(dǎo)21.2 等厚干涉基本原理及公式推導(dǎo)31.2.1 基本原理31.2.2 公式推導(dǎo)41.3 等傾干涉與等厚干涉的比較51.3.1 等傾干涉和等厚干涉是薄膜干涉的兩種典型形式51.3.2 牛頓環(huán)等厚干涉原理與等傾

30、干涉原理的異同51.3.3 等傾干涉與牛頓環(huán)等厚條紋之比較62 等傾、等厚干涉的應(yīng)用82.1 用單色光等傾干涉測(cè)透明平板厚度和折射率82.1.1 設(shè)計(jì)原理82.1.2 測(cè)量方法及要點(diǎn)92.2 用等厚干涉測(cè)波長(zhǎng)102.2.1 基本原理102.2.2 測(cè)量裝置102.2.3 誤差分析102.3 用等厚干涉測(cè)薄膜厚度112.3.1 空氣劈尖112.3.2 透明薄膜劈尖122.3.3 結(jié)果分析122.3.4 結(jié)論132.4 用等厚干涉測(cè)液體折射率132.4.1 基本原理132.4.2 測(cè)量方法142.4.3 總結(jié)153 邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)163.1 邁克爾遜干涉儀的調(diào)節(jié)及干涉圖樣的分析163.1.1 邁

31、克爾遜干涉儀的基本原理163.1.2 邁克爾遜干涉儀的調(diào)節(jié)163.1.3 干涉圖樣分析163.2 邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)中實(shí)現(xiàn)等傾、等厚干涉的條件183.2.1 實(shí)現(xiàn)等傾干涉的條件183.2.2 實(shí)現(xiàn)等厚干涉的條件183.3 改進(jìn)的邁克爾遜干涉儀測(cè)量薄膜厚度193.3.1 測(cè)量方法193.3.2 實(shí)驗(yàn)裝置與優(yōu)缺點(diǎn)分析20結(jié)論22參考文獻(xiàn)24致謝26等傾、等厚干涉的研究及應(yīng)用摘 要本文通過(guò)參考文獻(xiàn)的引用進(jìn)行理論分析，比較系統(tǒng)地闡述了等傾、等厚干涉的基本原理、條紋特點(diǎn)及其相關(guān)性質(zhì)，并通過(guò)比較總結(jié)了二者的異同。然后在前人相關(guān)研究的基礎(chǔ)上，對(duì)等傾、等厚干涉的相關(guān)應(yīng)用進(jìn)行了較詳細(xì)的介紹，總結(jié)了利用等傾干涉測(cè)透

32、明平板厚度和折射率及用等厚干涉測(cè)波長(zhǎng)、測(cè)薄膜厚度、測(cè)液體折射率的原理及方法。最后，介紹了邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)中的等傾、等厚干涉，通過(guò)對(duì)干涉圖樣的分析，歸納總結(jié)了邁克爾遜干涉儀的調(diào)節(jié)技巧及實(shí)現(xiàn)等傾、等厚干涉的條件。從而對(duì)等傾、等厚干涉進(jìn)行了系統(tǒng)的分析并得出相關(guān)結(jié)論?！娟P(guān)鍵字】：等傾干涉 等厚干涉 邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn) 應(yīng)用The research and application of equal inclination interference and equal thickness interferenceAbstractReference quoted in this article, throug

33、h theoretical analysis, systematically expounds the basic principle of equal inclination interference and equal thickness interference, stripes characteristics and its related properties, and summarized the similarities and differences between them by comparing. Then on the basis of the predecessors

34、 studies, equal inclination interference and equal thickness interference of related application was introduced in detail, summarizes the principle and method of using equal inclination interference measuring transparent plate thickness and the refractive index and equal thickness interference test

35、in measuring wavelength, measuring film thickness and measuring liquid refractive index . Finally, the article introduces equal inclination interference and equal thickness interference in the experiment of Michelson interferometers , through the analysis of the interference pattern, summarized the

36、method of adjusting Michelson interferometer and the conditions of realizing equal inclination interference and equal thickness interference. Thus Comprehensively analyzed equal inclination interference and equal thickness interference and Come to the related conclusion.【key words】: equal inclinatio

37、n interference equal thickness interference Application Michelson interference experiment緒論 大學(xué)物理是本科院校一門重要的公共基礎(chǔ)課程，等傾干涉和等厚干涉往往又是波動(dòng)光學(xué)中最重要的知識(shí)點(diǎn)。雖然它們都反映出光的波動(dòng)性本質(zhì)，但是彼此又有明顯的區(qū)別。在基礎(chǔ)物理的學(xué)習(xí)過(guò)程中存在著一個(gè)不容忽視的問(wèn)題：對(duì)光的等傾干涉與等厚干涉的認(rèn)識(shí)，一開(kāi)始感覺(jué)清楚，但隨著知識(shí)點(diǎn)的增加和學(xué)習(xí)的深入，相關(guān)概念反倒模糊起來(lái)，導(dǎo)致有些同學(xué)學(xué)習(xí)困難、理不清頭緒。因此有必要加強(qiáng)對(duì)等傾、等厚干涉實(shí)質(zhì)的認(rèn)識(shí)。另外由于科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，干涉測(cè)量技術(shù)已經(jīng)

38、得到相當(dāng)廣泛的應(yīng)用。因?yàn)楫?dāng)代干涉測(cè)量技術(shù)本身具有靈敏度高、量程大、可以適應(yīng)惡劣環(huán)境等特點(diǎn)，因而在現(xiàn)代工業(yè)中應(yīng)用非常廣泛。目前已經(jīng)有幾個(gè)著名廠家的成熟的干涉儀產(chǎn)品，覆蓋了相當(dāng)大的應(yīng)用范圍。但是干涉儀畢竟不是一個(gè)簡(jiǎn)單的工具，沒(méi)有一定的理論基礎(chǔ)難以正確使用，何況還有許多新的應(yīng)用領(lǐng)域有待研究，需要更加深入的理論知識(shí)。等傾、等厚干涉原理是研究干涉技術(shù)的重要知識(shí)點(diǎn)之一，掌握等傾、等厚干涉原理及應(yīng)用對(duì)進(jìn)一步研究干涉測(cè)量技術(shù)有著重大的意義。在國(guó)內(nèi)外的相關(guān)研究中，雖然關(guān)于等傾干涉和等傾干涉都有相關(guān)的探討，但是能將兩者的異同點(diǎn)系統(tǒng)化地加以比較的并不多見(jiàn)。而且國(guó)內(nèi)的文獻(xiàn)中較少有將等傾干涉和等厚干涉基本原理與相關(guān)應(yīng)用

39、結(jié)合進(jìn)行系統(tǒng)研究。其中文獻(xiàn)1、2雖然比較詳細(xì)的研究了等傾、等厚干涉基本原理及條紋特點(diǎn)，但很少涉及到等傾、等厚干涉的相關(guān)應(yīng)用。文獻(xiàn)3 、4將等傾干涉與等厚干涉進(jìn)行系統(tǒng)的比較，分析并總結(jié)了二者的異同點(diǎn)，有利于我們對(duì)等傾干涉和等厚干涉的實(shí)質(zhì)有更深刻的理解。文獻(xiàn)5-8都是關(guān)于等傾干涉和等厚干涉相關(guān)應(yīng)用的研究，它們?cè)跍y(cè)量波長(zhǎng)、折射率及薄膜厚度等問(wèn)題上提出了切實(shí)可行的方法，具有深刻的現(xiàn)實(shí)意義。文獻(xiàn)9、10對(duì)邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)做了深入的研究，分析了干涉圖樣的特點(diǎn)及形成條件，總結(jié)了邁克爾遜干涉儀的調(diào)節(jié)技巧和實(shí)現(xiàn)等傾、等厚干涉的條件；但沒(méi)有對(duì)其相關(guān)應(yīng)用做具體研究。而文獻(xiàn)11則剛好彌補(bǔ)了文獻(xiàn)9、10的不足，根據(jù)相關(guān)

40、理論提出了用改進(jìn)的邁克爾遜干涉儀測(cè)量薄膜厚度的新方法；但此裝置有一定缺陷，還有待改善。 本文將結(jié)合在光學(xué)學(xué)習(xí)過(guò)程中的心得體會(huì)，依據(jù)波動(dòng)光學(xué)的相關(guān)知識(shí)點(diǎn)，結(jié)合前人的探討結(jié)果，通過(guò)參考文獻(xiàn)的引用進(jìn)行理論分析，歸納總結(jié)等方法進(jìn)行論證，從以下幾個(gè)方面探討了光的等傾干涉與等厚干涉相關(guān)理論及應(yīng)用：等傾、等厚干涉基本原理、公式推導(dǎo)、計(jì)算方法、條紋特點(diǎn)及簡(jiǎn)單應(yīng)用等，并系統(tǒng)總結(jié)兩者之間的異同點(diǎn)及研究了邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)中的等傾、等厚干涉條紋特點(diǎn)及實(shí)現(xiàn)條件，從而較深入的探討了等傾、等厚干涉的本質(zhì)，并對(duì)其應(yīng)用做了相關(guān)研究。在此基礎(chǔ)上希望能對(duì)大家更好的學(xué)習(xí)和運(yùn)用相關(guān)知識(shí)有所幫助。1 等傾、等厚干涉概述1.1 等傾干涉基

41、本原理及公式推導(dǎo)1.1.1 基本原理 等傾干涉是由薄膜產(chǎn)生的干涉，但這時(shí)的薄膜為上下兩表面互相平行的平面薄膜。薄膜可以是透明固體、液體或由兩塊玻璃所夾的氣體薄層。入射光經(jīng)薄膜上表面反射后得第一束光，折射光經(jīng)薄膜下表面反射，又經(jīng)上表面折射后得第二束光，這兩束光在薄膜的同側(cè)，由同一入射光振動(dòng)分出，是相干光，也屬于分振幅干涉。由反射、折射定律可知入射光在平行薄膜上下表面反射后所得到的兩條相干光線是相互平行的，故只有入射角相同的入射光線，才具有相同的光程差，經(jīng)過(guò)會(huì)聚透鏡后才能會(huì)聚到一點(diǎn)，形成干涉條紋，即在每條干涉條紋上，入射光線的傾角都相等，因此，這種干涉稱為等傾干涉。對(duì)兩表面互相平行的平面薄膜，干涉

42、條紋定域在無(wú)窮遠(yuǎn)，通常借助于會(huì)聚透鏡將其匯聚在像方焦平面內(nèi)進(jìn)行觀察。等傾干涉條紋也是一系列明暗相間、間距逐漸減小的同心圓環(huán)。但其中心有可能是一暗圓斑，也有可能是一亮圓斑，這由中心處膜的厚度決定。 因?yàn)楣馐窃诰鶆蚪橘|(zhì)中傳播的，所以計(jì)算光程差時(shí)，只需考慮表示每束平行光傳播方向的一條直線。設(shè)有厚度為e的均勻透明薄膜，其折射率為n2，薄膜 上方介質(zhì)的折射率為n1，下方介質(zhì)的折射率為n3，如圖1-1所示?，F(xiàn)在從單色擴(kuò)展光源S上的一個(gè)點(diǎn)發(fā)出一條光線以入射角射i入射到薄膜的上表層，在A點(diǎn)分解為兩條，其中一條反射，成為光線1；另一條以折射角廠進(jìn)入薄膜，并在膜的下表層C點(diǎn)反射，然后折射而出，形成光線2。兩條光線

43、出自于同一束光，并經(jīng)過(guò)了不同的光程。由于薄膜很薄，引起的光程差不是很大，因此這兩束光出自于同一波列，所以是相干光。兩束光在空間相干疊加，通過(guò)透鏡L會(huì)聚在焦平面上，會(huì)聚點(diǎn)是明是暗取決于光程差。擴(kuò)展光源S上不同的點(diǎn)發(fā)出的光線，經(jīng)薄膜反射后都會(huì)在焦平面上形成干涉點(diǎn)。這些干涉點(diǎn)的組合就形成了于涉條紋1。1.1.2 公式推導(dǎo) 光線1和光線2的光程差產(chǎn)生于從入射點(diǎn)A到波面BD之間，從圖示的光路圖可知，兩者之間的光程差為 =n2(AC+CB)n1AD (1)又根據(jù)幾何關(guān)系可知 AC=CB= (2) AD=AB=2e (3) 圖1-1等傾干根據(jù)折射定律 (4)易推出 (5) 考慮到只要薄膜處在同一介質(zhì)中，廣在

44、薄膜上、下表面反射時(shí)物理性質(zhì)必然相反，因此兩束反射光在相遇時(shí)必然有額外光程差 ，于是上式可修改為 (6) 所以，條紋是明還是暗取決于以下條件： 明紋 暗紋 由此可見(jiàn)，在擴(kuò)展光源的情況下，由于入射角相同的光經(jīng)薄膜兩表面反射形成的反射光反射在相遇點(diǎn)的光程差相同，也就是說(shuō)只要是入射角相同的光就會(huì)形成同一級(jí)條紋，故這些傾角不同的光束經(jīng)薄膜反射所形成的干涉圖樣是一些明暗相間的同心圓環(huán)。這種干涉成為等傾干涉。1.2 等厚干涉基本原理及公式推導(dǎo)1.2.1 基本原理等厚干涉是擴(kuò)展光源照在非平行薄膜上產(chǎn)生的干涉現(xiàn)象。指的是相同的傾角薄膜上厚度相同的各點(diǎn)對(duì)應(yīng)著同樣的光程差位在同一級(jí)條紋上，只有厚度不同的薄膜才有可

45、能形成一組等厚條紋，條紋的形狀反映了等厚的軌跡。由于等厚干涉定域在薄膜表面附近，在觀察時(shí)總是或者用凸透鏡把薄膜表面成像于屏幕上或者把眼睛聚焦于薄膜表面進(jìn)行觀察。因此我們著眼于討論薄膜表面上一點(diǎn)P點(diǎn)的情況。如圖1-2所示S1點(diǎn)發(fā)出的一條光線經(jīng)上表面折射下表面反射再在P點(diǎn)折射 (光線1)，另一條光線在P點(diǎn)反射(光線2)，P點(diǎn)的干涉狀況決定于這兩條光線在 P點(diǎn)相遇時(shí)的光程差，通過(guò)相關(guān)資料可得出P點(diǎn)得相長(zhǎng)、相消干涉條件。由于等厚干涉是擴(kuò)展光干涉，因此從光源上另一點(diǎn)S2發(fā)出的兩條光也能在P點(diǎn)相遇，但一般情況光源離薄膜較遠(yuǎn)，或者由于觀察儀器的孔徑較小，只有在S1點(diǎn)附近的點(diǎn)發(fā)出的光才能在P點(diǎn)相交并為觀察儀器

46、觀察到，這些光線的入射角近似相等，P點(diǎn)的干涉只與P點(diǎn)薄膜厚度有關(guān)2。 圖1-2.等厚干涉 1.2.2 公式推導(dǎo) 波面的不同部分作為發(fā)射次波的光源，次波分成兩部分，作為不同的光程，重新疊加并發(fā)生干涉。 如圖1-3所示，次波分成兩部分，一部分直接反射從A 點(diǎn)經(jīng)過(guò)透鏡到達(dá)S ，另一部分透射到B點(diǎn)，再反射到 C點(diǎn)經(jīng)過(guò)透鏡待到達(dá)S。 圖1-3.等厚干涉光程差兩部分光的光程差為 ： （1）因薄膜很薄，兩平面的夾角很小，AB 和BC近似的相等 又根據(jù)折射定律：利用幾何關(guān)系易得光程差： （2） 在實(shí)驗(yàn)中采用的是正入射的方式，即入射光和反射光處處都于薄膜垂直，此時(shí) ， 因此 （3） 所以，明暗條紋的條件是： 明紋 暗紋對(duì)于空氣薄膜 ，對(duì)于牛頓環(huán)，與第 K 級(jí)條紋對(duì)應(yīng)的兩束相干光的光程差： 對(duì)于劈尖的光程差是：1.3 等傾干涉與等厚干涉的比較在光學(xué)教學(xué)中關(guān)于等傾干涉和等厚干涉學(xué)生理解起來(lái)往往比較困難，有時(shí)顯得似是而非，容易望文生義，從字面上認(rèn)為等厚干涉是指薄膜厚度是等厚的干涉這一錯(cuò)誤結(jié)論。從而把等傾干涉和等厚干涉混淆起來(lái)。本節(jié)總結(jié)出了等傾干涉和等厚干涉的異同點(diǎn)，對(duì)牛頓環(huán)等