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文檔簡介
1、二級試題G001渦流檢測的最基本根源是基于物體的:A 導(dǎo)磁體 B傳光性 C導(dǎo)電性 D傳聲性G002從原理上講,下列材料中可采用渦流檢測的是:玻璃 B陶瓷 C水晶 D石墨G003從原理上講,下列材料中不能采用渦流檢測的是:玻璃鋼B不銹鋼 C工具鋼 D軸承鋼G004渦流檢測技術(shù)主要適應(yīng)于導(dǎo)電材料的:中心探傷 B內(nèi)部探傷 C表面及近表面探傷 D整體探傷G005對金屬圓棒材,渦流探傷較難探出的是:表面裂紋B近表面夾雜C棒材中心小縮孔D以上都是G006為了區(qū)分各種因素對渦流的影響,在渦流探傷儀中應(yīng)特別重視:信號放大B信號處理C信號顯示D信號報警G007渦流技術(shù)能適應(yīng)導(dǎo)電材料探傷的溫度是:常溫(-10+4
2、0) 高溫(+8001200)中溫(+100800) 以上均可G008對截面材料為三角形、六角形、正方形等導(dǎo)電異形體,渦流探傷:全不能采用 全能采用某一種能采用 有兩種能采用G00 9再通有交變電流的線圈中放入導(dǎo)電試件時,則在試件中就會有渦流:感應(yīng)出 反射出 擴(kuò)散出 激發(fā)出G010在渦流探傷中,試件中感生出的渦流方向是:增加激勵磁場的變化 阻礙激勵磁場變化與激勵磁場變化無關(guān) 與激勵場強(qiáng)絕對值有關(guān)G011金屬線材在進(jìn)行渦流探傷時,一般采用的探頭型式是:混合式 穿過式 旋轉(zhuǎn)式 掃描式G012用渦流點(diǎn)探頭進(jìn)行渦流探傷,能適應(yīng)于:金屬細(xì)絲 鋼絲繩 方坯內(nèi)部 板材表面G013已裝于冷凝器中的銅管如采用渦
3、流探傷,應(yīng)選用的探頭型式是:扇形 穿過式 點(diǎn)式 內(nèi)插式G014鋼、銅、鋁三種金屬的導(dǎo)電率應(yīng)符合如下關(guān)系:鋼>銅>鋁 鋁>銅>鋼銅>鋁>鋼 鋼>鋁>銅G015鋼、銅、鋁三種金屬的電阻率應(yīng)符合如下關(guān)系:鋼>鋁>銅 銅>鋁>鋼鋁>鋼>銅 鋼>銅>鋁G016材料的電阻率和導(dǎo)電率的關(guān)系是:成正比 成反比 無關(guān)系 相等G017在渦流探傷時,既有渦流磁場存在,也存在磁疇形成的自發(fā)磁場的材料是:有色金屬 稀有金屬 鐵磁金屬 貴金屬G018鐵磁材料的磁導(dǎo)率µ可用下述公式計(jì)算:µ=HB µ
4、=B/H µ=H/B µ=H+BG019鋼材中的磁導(dǎo)率µ的數(shù)值是:恒定值 1 一個隨磁場強(qiáng)度變化的變量 0G020紫銅的相對磁導(dǎo)率r是:0 無窮大 約為1 無窮小G021在渦流探傷時,試件中的渦流將:集中于試件中心 在試件中均勻分布主要集中于試件表面 以上全不對G022在相同激勵頻率之下,鋁、銅、銀三種金屬的滲透深度應(yīng)符合:鋁>銅>銀 銅>鋁>銀銀>銅>鋁 鋁>銀>銅G023在相同激勵頻率之下,同一鋼試件,磁飽和前后的滲透深度應(yīng)符合:前>后 前=后 前<后 前=2后G024對同一導(dǎo)電試件,若激勵頻率提高到
5、原來的九倍,即f2=9f1。則滲透深度應(yīng)符合:2=1/91 2=1/31 2=91 2=31G025 距離表面的距離為標(biāo)準(zhǔn)滲透深度的點(diǎn)處的渦流密度約降至表面渦流密度的:63% 50% 37% 10%G026某鋼試件,在未進(jìn)行磁飽和時,滲透深度為1mm ,若進(jìn)行磁飽和后,導(dǎo)磁率降至原來的1%,則此時的滲透深度為:0.01mm 0.1mm 1mm 10mmG027為了探出所需深度中的缺陷,在渦流探傷中可選用的條件是:試件電導(dǎo)率 激勵頻率 試件導(dǎo)磁率 試件尺寸G028特征頻率是:試件的固有屬性 外加激勵頻率的函數(shù)與所用探頭型式有關(guān) 與所用功率放大器有關(guān)G029相同材質(zhì)的兩根導(dǎo)電棒,直徑大的那根棒材的
6、特征頻率:高 低 相同于直徑小的 與直徑無關(guān)G030相同規(guī)格的紫銅管和黃銅管相比較,則特征頻率fg符合的關(guān)系為:fg紫銅fg黃銅 fg黃銅>fg紫銅 fg黃銅=fg紫銅 無法相比較G031在渦流探傷中,最佳激勵頻率區(qū)域是:某一定頻率 特征頻率某一頻率范圍 某一點(diǎn)頻率G032要從檢測線圈中取出渦流磁場變化的信息,可選?。盒盘柗群筒ㄐ吻把?信號幅度和信號相位信號幅度和線圈電阻溫度系數(shù) 信號幅度和線圈自感系數(shù)G033探頭由于離開試件距離變化而引起缺陷信號幅度變化的效應(yīng),稱為:末端效應(yīng) 提離效應(yīng) 靈敏度效應(yīng) 速度效應(yīng)G034穿過式線圈的填充系數(shù)近似的是指試件與線圈的:直徑之比 長度之比 截面積
7、之比 圓周長之比G035當(dāng)試件直徑為10mm,穿過式線圈平均直徑為12mm,則填充系數(shù)為:5/6 25/36 6/5 36/25G036穿過式線圈的填充系數(shù)的范圍為:01 051 12 110G037穿過式線圈探傷時若填充系數(shù)增大,則渦流探傷靈敏度:按線性減小 不變 增大 按指數(shù)規(guī)律減小G038渦流探傷中的填充系數(shù)是:試件的固有屬性 穿過式線圈的固有屬性與試件和穿過式線圈均有關(guān)系的一個性能 以上全對G039當(dāng)渦流探傷靈敏度最高,渦流流動方向與缺陷主平面一般是:平行 垂直 不接觸 傾斜G040影響渦流探傷的主要試件參數(shù)是試件的:電導(dǎo)率 磁導(dǎo)率 幾何形狀 以上均是G041如渦流探傷的激勵頻率降低,
8、而場強(qiáng)不變,則金屬棒材中心的渦流密度會:增加 減小 急劇增大 恒等于0G042如渦流探傷的激勵頻率增加,而場強(qiáng)不變,則試件表面的渦流密度會增加 減小 不變 等于0G043薄壁管特征頻率fg的計(jì)算公式是:fg=5066/rdi² fg=5066/rd0²fg=5066/r(d0²-di²) fg=5066/rdiwG044如果在穿過式線圈的激勵繞組中通以直流電流,則在線圈中的靜止試件中不能感應(yīng)出渦流 可感應(yīng)出少量渦流可感應(yīng)出大量電流 可感應(yīng)出直流電流G045如圖(45)所示波形,有:V1滯后V290º V1領(lǐng)先V290º V1滯后V24
9、5º V1領(lǐng)先V245º圖(45) 圖(52)G046在鋼管渦流探傷中,噪聲顯著增加的原因可能是:電源保險絲斷開 激勵繞組斷路放大器放大倍數(shù)漂移 直流磁飽和電流降低G047采用頻率比f/fg這個概念作出阻抗圖就可適應(yīng)于:各種激勵電壓 各種激勵電流各種激勵信號波形 各種激勵頻率G048下列材料在用旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭進(jìn)行渦流探傷時,其中一定要采用磁飽和裝置的是:軸承鋼 不銹鋼 鋁材 全部可以不要G049下列材料在用穿過式線圈在用進(jìn)行渦流探傷時,其中一定要采用磁飽和裝置的是:鎳銅合金 鋁黃銅 鉛黃銅 紫銅G050渦流探傷的相似率,指的各種試件探傷結(jié)果相似時,必定有相同的:試件形狀 頻率比
10、f/fg 信號相位 間距G051穿過式線圈測量繞組上的感應(yīng)電壓與之有關(guān)的是:測量繞組阻抗 測量繞組線徑激勵磁場強(qiáng)度 激勵繞組形狀G052在下圖(52)中磁滯回線中,Br點(diǎn)稱為:矯頑力 初始磁感應(yīng) 剩磁 磁通量53在下述電導(dǎo)率變化阻抗圖(53)的軌跡上有A、B、C三點(diǎn),則:A>B>C C>B>A B>C>A A=B=C圖(53)G054在用穿過式線圈進(jìn)行渦流探傷時,耦合系數(shù)的改變會引起線圈阻抗如圖(54)所示的變化,有:1>2>3 3>2>1 2>1>3 1>3>2 圖(54) 圖(55)G055在圖示(55)的
11、阻抗圖軌跡上,表示缺陷引起的阻抗變化方向是:AB BC BD BEG056所謂線圈的歸一化阻抗是指線圈的電抗和電阻(不包括線圈本身電阻)比上:線圈的電壓 線圈的電流 線圈的導(dǎo)納 空心線圈的電抗G057線圈的電抗的表達(dá)式是:L 2L 2fL A和CG058在作歸一化阻抗圖時,將線圈阻抗值除以L0,這樣處理后,使歸一化阻抗圖可適應(yīng)于各種不同的( )的線圈阻抗:匝數(shù) 激勵頻率 線圈電感 以上三項(xiàng)全是G059渦流檢測線圈必須具備的功能是:激勵渦流和放大信號 檢測并放大信號激勵渦流和檢測信號 檢測并處理信號G060激勵繞組的功能是:發(fā)現(xiàn)試件中渦流變化 在試件中激勵出渦流發(fā)現(xiàn)試件中的分子磁矩 激勵出試件磁
12、疇G061測量繞組主要用來檢測試件中變化的:激勵磁場 渦流磁場 磁疇磁場 以上三者都是G062對方形截面的導(dǎo)電試件,選用渦流探傷時可采用:穿過式探頭 旋轉(zhuǎn)式探頭 混合式探頭 以上三者都可以G063常用的自比差動式穿過式線圈屬于:軸向激勵軸向測量 軸向激勵法向測量法向激勵軸向測量 法向激勵法向測量G064有兩只直徑不同的自比差動式穿過式探頭,若已知兩個差動測量繞組的匝數(shù)誤差相等,當(dāng)兩者的激勵繞組產(chǎn)生相同的磁場強(qiáng)度,則探頭的零電勢是:直徑大的大 直徑小的大二者零電勢相等 零電勢是一恒定值G065對檢測探頭來講,干擾信號是相對的,例如:對探傷來講,材質(zhì)變化、尺寸變化是干擾源對材質(zhì)分選講,缺陷情況、尺
13、寸變化是干擾源對尺寸測量講,缺陷情況、材質(zhì)變化是干擾源以上三句全對G066對穿過式探頭來講,間距效應(yīng)一般:不存在 也存在只在動態(tài)時存在 只在靜態(tài)時存在G067自比差動內(nèi)插式探頭的骨架中,二個測量繞組的尺寸(位置、寬度、深度等)對探頭零電勢大?。河绊懞艽?影響很小根本沒有影響 只在特殊情況下有影響G068檢測探頭的研究方式,主要是通過:A大型電子計(jì)算機(jī)的精密運(yùn)算 B求解麥克斯韋方程組C矢量阻抗圖的圖示分析 D理論估算和大量的實(shí)驗(yàn)G069具有兩個差動連接的測量繞組的探頭屬于:A磁差式 B分壓式 C電差式 D分液式G070橋路原理:A只適應(yīng)于點(diǎn)探頭 B只適應(yīng)于穿過式探頭C只適應(yīng)于扇形探頭 D以上三種
14、都適應(yīng)G071絕對式線圈:A只能用于手動探頭 B只能用于旋轉(zhuǎn)探頭C只能用于穿過式探頭 D以上三種都適應(yīng)G072扇形線圈主要用于:A內(nèi)孔探傷 B零件探傷 C絲材探傷 D焊縫探傷G073細(xì)金屬絲材渦流探傷,一般使用的探頭型式為:A穿過式 B內(nèi)插式 C旋轉(zhuǎn)式 D混合式G074穿過式探頭較難用于探測的是:A 20棒材表面起皮 B1絲材夾雜B C10X20矩形管材泄露 D1000X2000板材表面凹坑G075在制訂棒材表面快速(>100米/分)渦流探傷方案時,應(yīng)優(yōu)先選用的探頭型式是:A點(diǎn)探頭 B穿過式 C內(nèi)插式 D扇形G076點(diǎn)探頭的分辨率比穿過式探頭:A高 B低 C相同 D不能相比G077若被檢
15、管材從10mm調(diào)換為20mm時,只需調(diào)換一下位置,而不需要另換探頭的是:A旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭 B穿過式探頭 C內(nèi)插式探頭 D扇形探頭G078點(diǎn)探頭與被檢管材之間的相對運(yùn)動方式,可以是:A點(diǎn)探頭旋轉(zhuǎn)、被檢管直線前進(jìn) B點(diǎn)探頭不動、被檢管即旋轉(zhuǎn)有前進(jìn)C將點(diǎn)探頭沿管圓周排成一圈,被檢管直線前進(jìn) D以上各條都行G079渦流探傷中所說的靈敏度應(yīng)是指:A信號幅度與噪聲幅度之比 B信號相位與噪聲相位之比C信號頻率與噪聲頻率之比 D信號寬度與噪聲寬度之比G080在檢驗(yàn)渦流探傷設(shè)備時,所謂的漏檢率與錯檢率,在通常情況下,是指檢驗(yàn):A自然傷 B缺陷的絕對深度 C標(biāo)準(zhǔn)傷 D缺陷的絕對體積G081描述檢測線圈能區(qū)分開兩個最近
16、缺陷距離的術(shù)語是:A分辨力 B準(zhǔn)確度 C靈敏度 D線性度G082有效磁導(dǎo)率eff是指:A 試件的真實(shí)磁導(dǎo)率B真空磁導(dǎo)率C一個假設(shè)的隨試件各點(diǎn)性能變化的磁導(dǎo)率C 標(biāo)準(zhǔn)試件的相對磁導(dǎo)率G083自比差動式線圈中,兩個測量繞組的接法是:第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“尾”B第二個繞組的“頭”接第一個繞組的“尾”C第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“頭”D 以上三種均可以G084穿過式探頭中測量繞組上的感應(yīng)電流的大小:A 與測量繞組直徑無關(guān) B與測量繞組直徑成正比C與測量繞組直徑平方成正比D與測量繞組直徑立方成正比G085在試件和穿過式探頭之間的環(huán)行空間中,若用有效磁導(dǎo)率的概念,則eff應(yīng)看成:A等于1
17、 B等于0 C等于負(fù)數(shù)D等于0G086穿過式探頭的測量繞組匝數(shù)增加一倍,其上的感應(yīng)電壓為原有感應(yīng)電壓的:A4倍B2倍C相等D1/2倍87制作穿過式線圈骨架,通??刹捎玫牟牧鲜牵篈軸承鋼B橡皮C膠木或尼龍D鎳銅合金G088穿過式線圈骨架,在強(qiáng)度許可的范圍內(nèi),測量繞組離骨架內(nèi)徑的距離:A越小越好B越大越好C任意值都一樣D最佳值為1mmG089通常對內(nèi)差式探頭來講,激勵繞組繞于測量繞組的:A外部B部分內(nèi)部分外 C內(nèi)部D以上都不行G090橋路原理是指當(dāng)橋路平衡時:相對二橋臂阻抗之和相等 B相對二橋臂阻抗之差相等C相對二橋臂阻抗之積相等 D相對二橋臂阻抗之商相等G091若橋式探頭的各參數(shù)固定不動,其探到
18、缺陷時,引起橋路有輸出的原因是:橋臂系數(shù)K B橋路臂比AC橋路電源E D探頭繞組阻抗相對變化Z3G092為了提高探頭靈敏度,點(diǎn)探頭繞組是繞于:A矽鋼片上 B鐵*氧磁心上 C塑料上 D不銹鋼上G093自比差動式穿過式線圈最難檢出:A 棒材表面的凹坑 B線材上的起皮C管材上均勻深度的長裂紋 D絲材上的夾雜G094為了探出管材上深度均勻的長傷,旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭中,兩個差動連接的繞于磁心上的繞組,其排列方向應(yīng):A沿管材軸向B沿管材圓周方向C這兩種都可以D這兩種都不可以G095點(diǎn)探頭離試件表面距離變大時,探傷靈敏度:A下降B提高C不變D忽高忽低G096檢測探頭探到試件上的缺陷時,會使測量繞組發(fā)生變化的:A只有
19、電阻B只有電抗C同時有電阻和電抗D先電阻后電抗G097用自比差動式探頭對管材進(jìn)行探傷時,能抑制干擾信號是:A 應(yīng)力緩慢變化B直徑緩慢變化C電導(dǎo)率緩慢變化 D以上三點(diǎn)全是G098線圈阻抗的單位是:A亨利 B歐姆 C法拉 D庫侖G099渦流探傷儀中的零電勢補(bǔ)償器是用來:抵消檢測線圈中的零電勢 B減弱檢測線圈的提離效應(yīng)C增加探傷的分辨率 D減小儀器中直流放大器的零點(diǎn)漂移G100渦流探傷儀中給探頭提供激勵電流的單元是:移相器和相敏檢波器B振盈器和功率放大器C高、低通濾波器D示波器和報警器G 101為了從緩慢的尺寸變化信號中分析出短促的缺陷信號,可采用:A低通濾波器B旁路濾波器C高通濾波器D電源濾波器G
20、 102相敏檢波器為了起到阻抗分析的作用,除要加入缺陷信號之外,還要加入:A 經(jīng)移相的激勵信號B不經(jīng)移相的激勵信號C任意相位的正弦信號D以上三種都可以G 103幅度鑒別器可用來提高缺陷信號的:A幅度B周期C信噪比D帶負(fù)載能力G 104在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)阻抗分析法的主要單元是:A標(biāo)記器B放大器C相敏檢波器D記錄器G105在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)調(diào)制分析法的主要單元是:A掃描電路B報警電路C選通電路D濾波電路G106調(diào)制分析法用來分析的是:A 各種因素引起信號的相位不同B各種因素引起信號的幅度不同C各種因素引起信號的頻率不同D各種因素引起信號的調(diào)制頻率不同G107在用穿過式探頭探傷中,沿軸向的長傷的調(diào)制
21、頻率比短缺陷的調(diào)制頻率:A低B相等C高D以上三種均不對G108在用旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭對棒材進(jìn)行探傷中,容易漏檢的傷是:A軸向深度均勻的長傷B凹坑C深度均勻的環(huán)狀傷 D起皮G109相敏檢波器主要只能抑制掉:A 一個干擾噪聲B二個干擾噪聲C三個干擾噪聲D多個干擾噪聲G110幅度鑒別器可用來抑制的噪聲是:A任意幅度的B幅度大于缺陷信號的C幅度小于缺陷信號的D幅度等于缺陷信號的G111從原理上看,用于鋼管和用于有色管的渦流探傷儀的結(jié)構(gòu)和性能(除磁飽和以外):A根本不同B基本相同C有一點(diǎn)相同D大部分不同G112直徑小于0.1mm的金屬細(xì)絲渦流探傷所用的激勵頻率約是:A幾十兆周B幾百千周C幾千周D幾百周G113金
22、屬板材采用渦流探傷時,應(yīng)選擇:快速掃描的點(diǎn)探頭和多通道探傷儀器B穿過式探頭和多通道探傷儀器C內(nèi)插式探頭和單通道探傷儀器D混合式探頭和多通道探傷儀器G114在對厚壁管進(jìn)行渦流探傷時, 為了將內(nèi)外壁缺陷信號分開,可利用信號的:A幅度B相位C頻率D波形G115用信號的相位角不同來鑒別試件中各種參數(shù)的技術(shù)稱為:A相關(guān)技術(shù)B相移技術(shù)C相位迭加技術(shù)D相位分析技術(shù)G116渦流探傷中,探頭橋路平衡欠佳會引起:A產(chǎn)生靈敏度降低 B產(chǎn)生異狀的哨叫C產(chǎn)生間隙振盈 D產(chǎn)生周期性噪聲G117“自動平衡”是渦流探傷儀中的一個部件,它可以自動的:消除缺陷信號 B補(bǔ)償儀器溫度漂移C抵消探頭零電勢 D減小激勵信號相位變化G11
23、8填寫下列渦流探傷儀方框圖:A振蕩器、報警器、示波器B振蕩器、移相器、相敏檢波器C振蕩器、記錄器、放大器D振蕩器、補(bǔ)償器、標(biāo)記器G119用渦流法測量非金屬涂層厚度的機(jī)理是:A末端效應(yīng)B速度效應(yīng)C渦流熱效應(yīng)D提離效應(yīng)G120用渦流技術(shù),可以自動分選的是:A不銹鋼和低碳鋼 B銅和膠木 C鋁和鎳 D以上三類均可以G121渦流涂層厚度測量儀可用來測量:A 導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層 B導(dǎo)磁基體上的非磁性涂層C鋁合金上的氧化膜 D以上三種均可以G122判斷被檢產(chǎn)品是否合格的標(biāo)準(zhǔn)稱為:A性能標(biāo)準(zhǔn) B調(diào)試標(biāo)準(zhǔn) C驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) D自然標(biāo)準(zhǔn)G123管材上的鉆孔標(biāo)準(zhǔn)傷最能模擬:A泄露 B凹坑C短而嚴(yán)重的起皮D以上三種均可
24、以G124縱向刻痕標(biāo)準(zhǔn)傷最能模擬:A橫向斷裂B針孔C疏松D自然的縱向裂紋G125渦流探傷中采用的人工標(biāo)準(zhǔn)傷是:自然缺陷深度的度量標(biāo)準(zhǔn) 作為調(diào)整儀器用的標(biāo)準(zhǔn)當(dāng)量自然缺陷體積的度量標(biāo)準(zhǔn) 自然缺陷截面積的度量標(biāo)準(zhǔn)G126做標(biāo)準(zhǔn)傷的試件必須與被檢試件:A 具有相同的自然缺陷B具有相同的長度C具有相同的合金成分、形狀、規(guī)格及熱處理情況D具有相同的質(zhì)量G127漏檢率和誤檢率是用來討論探傷設(shè)備性能指標(biāo)中的:E 靈敏度 B速度 C分辨率 D可靠性FG128作為標(biāo)定儀器的基準(zhǔn)或在評定檢測結(jié)果時作比較用的試樣為:A零平衡器 B。移相器C參考標(biāo)準(zhǔn)試樣 D。高通濾波器G 129有用信號的響應(yīng)或振幅與檢驗(yàn)無用的響應(yīng)或信
25、號的振幅之比稱為:A泊松比B。信噪比 C電導(dǎo)率磁導(dǎo)率比D。電抗電阻比G130下列哪一向不是渦流儀器的基本部件?A放大器B。線圈 C液體耦合劑D。檢波器G131用差動式線圈比較標(biāo)準(zhǔn)試樣與被檢工件時,儀器應(yīng)用下列哪一項(xiàng)調(diào)節(jié)平衡?A一個線圈中的標(biāo)準(zhǔn)試樣B一個線圈中的參考標(biāo)準(zhǔn)試樣和另一個線圈中的合格工件C 一個線圈中的參考標(biāo)準(zhǔn)試樣和另一個線圈中的不合格工件D一個線圈中工件G132下列哪一種情況下,渦流檢測線圈的阻抗會增加?A檢測頻率增加B。線圈感抗減少C線圈電感減少D。線圈電阻減少G133下列哪一項(xiàng)制品通??捎么┻^式線圈檢測?A棒、管和線材B。需整體檢查的板件C薄板和金屬化箔D。上述三項(xiàng)G134用穿過
26、式線圈檢查直的管子時,下列哪一項(xiàng)填充系數(shù)將認(rèn)為是最好的?A0.95(95%) B。1.75(175%) C。0.50(50%)D。0.25(25%)G135當(dāng)一鐵磁性材料的工件放在渦流檢測線圈中時,線圈的阻抗將被工件中哪一項(xiàng)參數(shù)所改變?A電導(dǎo)率 B。尺寸 C。磁導(dǎo)率D。上述三項(xiàng)G136渦流是在導(dǎo)電物體中感生的環(huán)流電流,它由下列哪項(xiàng)產(chǎn)生?A射線B。交變磁場 C。壓電力D。上述的任一個G137材料電導(dǎo)率隨下列哪項(xiàng)的變化而變化?A試樣的合金成分B。試樣的熱處理C試樣的溫度D。上述的三項(xiàng)G138裝有彈簧的渦流探頭式線圈主要目的是要:A減少提離的變化 B。減少探頭的磨損C減少操作人員的疲勞 D。消除邊緣
27、效應(yīng)G139提離效應(yīng)可用來:A測量磁導(dǎo)率的變化B。測量電導(dǎo)率的變化C測量不導(dǎo)電復(fù)層的厚度D。確定合適的檢驗(yàn)頻率G140當(dāng)檢查均勻截面的工件時,工件頭部和尾部趨進(jìn)檢測線圈時就會產(chǎn)生渦流信號。這個現(xiàn)象稱為:A提離效應(yīng) B。邊緣效應(yīng) C。填充系數(shù)D。相位鑒別G141下列哪個檢驗(yàn)頻率產(chǎn)生最大透入深度的渦流?A100HZ B。10KHZ C。D。10MHZG142檢驗(yàn)線圈阻抗的增加將:A引起流過檢驗(yàn)線圈的電流的增加B引起流過檢驗(yàn)線圈的電流的減少C對流過檢驗(yàn)線圈的電流無影響D使加到線圈的電壓降低G143下列哪項(xiàng)會影響穿過式線圈的阻抗?A線圈中試樣的電導(dǎo)率 B線圈中試樣的磁導(dǎo)率C填充系數(shù) D上述的三項(xiàng)G14
28、4雙繞組檢測線圈結(jié)構(gòu)中,一個繞組成為初級繞組,另一個稱為:A絕對式繞組 B。次級繞組C相位繞組D。上述的都不是G145渦流檢測線圈中次級繞組的主要作用是:A在試樣中感應(yīng)出渦流 B。檢出渦流的變化C在試樣中感應(yīng)出渦流和檢出渦流的變化 D。提供直流磁飽和G146下列哪種渦流檢測線圈是將試樣的一部分作參考標(biāo)準(zhǔn)與試樣的另一部分進(jìn)行比較?A單個絕對式線圈D。雙個絕對式線圈C直流磁飽和線圈D。差動式線圈G147橢圓法顯示所用的讀出器件是?A電表B。紙帶記錄儀 C。陰極射線管D。上面的任一種G148下列哪項(xiàng)對渦流檢測是不合適的?A要高速檢測 B。要正確測量電導(dǎo)率C對小缺陷要有很高的靈敏度D。要透入到試樣厘米
29、處G149用哪種線圈可同時檢查試樣整個圓周?A穿過式線圈B。探頭式線圈C。次級繞組D。上述三種都不是G150用渦流法分選不同的非鐵磁性合金通常是可能的,但:A每一合金的磁導(dǎo)率應(yīng)有唯一范圍B每一合金的電導(dǎo)率應(yīng)有唯一范圍C每一合金感生的渦流方向應(yīng)不同 D每一合金磁矩應(yīng)是不同的G151下列哪種制品用內(nèi)插式線圈來檢驗(yàn)最合適?A薄板B。棒材C螺栓孔D。涂層厚度G152為了在試樣中產(chǎn)生渦流,試樣必須:A導(dǎo)體D。絕緣體C導(dǎo)體或者絕緣體D。鐵磁性材料G153在導(dǎo)體中流動的交流電流將會建立:A一個環(huán)繞導(dǎo)體周圍的交變電場B一個正切于導(dǎo)體的周期性變化的電壓C一個環(huán)繞導(dǎo)體周圍的交變磁場D上述三項(xiàng)都不是G154下列哪項(xiàng)
30、會影響在交流線圈附近交變磁場特性?A線圈的參數(shù) B加到線圈上交流電流的大小C加到線圈上交流電流的頻率 D上述三項(xiàng)都是G155當(dāng)使用有初級和次級繞組的穿過式線圈時,激勵用的交流電流是加到:A 次級繞組上B。初級繞組上C初級繞組或者次級繞組上,取決于儀器結(jié)構(gòu)D初級繞組和次級繞組上G156下列哪種讀出裝置不能表示渦流儀器的信息?A校準(zhǔn)過和未校準(zhǔn)過的電表B。石芯試紙C陰極射線管D。紙帶記錄儀G157下列的哪項(xiàng)不是改善信噪比的方法?A改善檢測頻率以降低噪聲 B增加檢驗(yàn)儀器的放大倍數(shù)C改善填充系數(shù) D在儀器中增加濾波器G158當(dāng)管子中感應(yīng)出了渦流,由缺陷所引起的信號振幅取決于:A缺陷深度 B。缺陷寬度C缺
31、陷長度 D。上述三項(xiàng)都是G159一個線圈的磁場可看作是圍繞線圈磁力線的分布。單位面積磁力線的數(shù)值定義為:A磁場強(qiáng)度B。磁通密度 C。磁耦合D。磁滯密度G160渦流檢測能用來:A測量涂層厚度 B。測量包殼厚度C測量薄板厚度D。上述三項(xiàng)都是G161下列的哪一特征是鐵磁性材料所沒有的?A高磁導(dǎo)率 B。沒有磁滯回線C在磁滯回線上有明顯飽和值 D相當(dāng)大的剩磁G162下列哪一種方法不能用在渦流檢測中?A脈沖反射法B。阻抗分析法C。相位分析法D。調(diào)制分析法G163對渦流探傷來說,鐵磁性材料達(dá)到飽和是指當(dāng)磁化電流再增加時,信噪比將:A開始增加B。開始降低C。沒有明顯變化D。突然下降到零G164用來說明儀器輸出
32、為零達(dá)到平衡的術(shù)語是:A高頻標(biāo)準(zhǔn)化B。積分 C。零平衡D。微分G165磁通密度的單位是:A馬克斯威爾B。高斯 C。歐姆D。姆歐G166時效硬化的鋁合金和鈦合金當(dāng)硬度變化時一般還伴隨著有下列哪項(xiàng)變化?A剩磁B。磁導(dǎo)率 C。磁致伸縮D。電導(dǎo)率G167對比試樣中的孔、槽用來提供能精確的重復(fù)顯現(xiàn)的信號振幅,這種孔、槽的名稱是:A天然缺陷B。人工缺陷 C。橢圓D。上述三項(xiàng)都不是G168有一種渦流線圈它既不能對試樣兩個部分進(jìn)行比較又不能對試樣的一個部分與標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行比較,這種線圈稱為:A絕對式線圈 B。自比差動式線圈C他比差動式線圈D。上述三項(xiàng)都是G169下列哪項(xiàng)通??捎脺u流法檢測?A電導(dǎo)率的測量或電導(dǎo)率
33、和磁導(dǎo)率的測量B薄金屬片、包殼或涂層厚度的測量C表面和近表面下缺陷的測量D上述三項(xiàng)都是G170下列哪項(xiàng)不是使用標(biāo)準(zhǔn)試樣的主要目的?A確定渦流儀器是否符合檢驗(yàn)的要求B確定是否引起報廢C設(shè)定儀器旋鈕位置以保證最高的試樣傳送速度D確定儀器靈敏度是否隨著時間產(chǎn)生漂移G171一種頻率為60赫的渦流比較儀可測量下列哪種差異所引起的變化?A尺寸或形狀B。尺寸牌號或化學(xué)成分B材料加工方式D。上述三項(xiàng)都是G172用自比穿過式線圈檢測一根從頭到尾有均勻?qū)挾群蜕疃鹊拈L槽的管子將會產(chǎn)生:A大小不等的信號 B。一個持續(xù)不斷的信號C沒有信號 D。過大的信號G173在渦流探傷中,如欲得到在非鐵磁性材料管子表面任意位置上的已
34、知缺陷的最佳靈敏度,應(yīng)該:A適當(dāng)選擇頻率 B。使管子在線圈的中心C適當(dāng)調(diào)節(jié)相位 D。上述三項(xiàng)都是G174旋轉(zhuǎn)探頭式渦流探傷儀對下列哪項(xiàng)是很有用的?A測量鐵磁性材料的工件厚度B六角型材的探傷C檢出和正確定位表面和表面下的缺陷D測量同母線排的電導(dǎo)率G175下列哪種不屬于無損檢測方法?A超聲方法B。腐蝕方法 C。渦流方法D。射線照相方法G176在穿過式線圈的渦流探傷儀中,標(biāo)定用的標(biāo)準(zhǔn)試樣是用來:A保證儀器的重復(fù)性和可靠性B精確標(biāo)定缺陷深度C降低震動的敏感性D測量檢驗(yàn)頻率G177在穿過式線圈的渦流探傷儀中,要將標(biāo)定用標(biāo)準(zhǔn)試樣上的缺陷以不同位置(如缺陷向上、向左、向右)幾次通過線圈,其目的是:A校核相位
35、靈敏度 B。保證試樣與線圈的對中C選擇調(diào)制頻率的旋鈕位置D。選擇合適的檢驗(yàn)速度G178在穿過式線圈的渦流探傷儀中,檢驗(yàn)頻率由下列哪項(xiàng)控制?A示波器B。靈敏度旋鈕位置C振蕩器D。調(diào)制頻率旋鈕位置G179非鐵磁性材料中合金成分的變化一般會影響材料的:A磁導(dǎo)率B。電導(dǎo)率C。直徑D。頻率G180用線圈在試樣中產(chǎn)生渦流的方法,可用下列哪項(xiàng)很好的比擬?A變壓器B。電容器 C。蓄電池D。發(fā)電機(jī)G181用來描述試樣與探頭線圈之間距離變化引起電磁耦合變化所產(chǎn)生的影響的術(shù)語是A填充系數(shù) B。邊緣效應(yīng) C。端頭效應(yīng) D。提離效應(yīng)G182用來描述在非常高的頻率下渦流僅限于導(dǎo)體極薄外層流動的現(xiàn)象術(shù)語是?A趨膚效應(yīng) B。
36、高頻濾波 C。低頻濾波 D。邊緣效應(yīng)G183將直徑是1/2寸的棒材插入一個直徑1寸的線圈,其填充系數(shù)為?A0.5 B。0.75 C。1 D。0.25G184用來定義儀器實(shí)際輸出與校準(zhǔn)直線確定的輸出差別的術(shù)語是?A相位移 B。非線性 C。提離 D。趨膚效應(yīng)G185下面哪一種裝置可用來抑制不需要的高頻諧波A低通濾波器 B。振蕩器 C。相位鑒別器 D。高通濾波器G186由二次繞組和一次繞組組成試驗(yàn)線圈中,二次繞組線圈兩端的電壓是什么的函數(shù)?A材料磁導(dǎo)率 B。實(shí)驗(yàn)頻率 C。物體幾何形狀 D。以上都是G187材料周圍的磁場強(qiáng)度H增大然后降低到零時,描述零件內(nèi)磁感應(yīng)強(qiáng)度B的術(shù)語是:A矯頑力 B。剩磁 C。
37、飽和值 D。磁滯損耗G188用來定義使材料剩磁減小所需要的磁場H值的術(shù)語是:A矯頑力 B。磁化力 C。反電動勢 D。剩磁G189影響渦流試驗(yàn)的試樣的三個主要參數(shù)是A電導(dǎo)率、頻率和材料幾何形狀B密度、電導(dǎo)率和頻率C電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率和材料的幾何形狀D熱導(dǎo)率,電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率G190用試驗(yàn)信號產(chǎn)生的相位角不同來鑒別零件中變量的技術(shù)叫做/A相位失真 B。相移 C。相位補(bǔ)償 D。相位分析G191如果一種材料的特征頻率(fg)為125HZ給出f/fg比為10時所需要得試驗(yàn)頻率為:A1.25HZ B。12.5HZ C。1.25KHZ D。12.5 KHZG192用來定義正弦信號的輸出不隨輸入線性變化的術(shù)語是A失
38、真 B。線性 C。相移 D。動態(tài)范圍G193在試驗(yàn)頻率一定的情況下,下面哪一種材料中渦流的透入深度最大?A鋁(35%IACS電導(dǎo)率) B。黃銅(15%IACS電導(dǎo)率)C銅(95%IACS電導(dǎo)率) D。鉛(7%IACS電導(dǎo)率)G194如果試驗(yàn)頻率增大而場強(qiáng)不變則表面渦流密度:A減小 B。增大 C。不變 D。以上都有可能G195電導(dǎo)率變化一定時,填充系數(shù)減小,傳感線圈阻抗的變化量將?A減小 B。增大 C。不變 D。以上都有可能G196用自比較差動線圈對管材進(jìn)行檢驗(yàn)時,下面哪一種比較容易檢查?A直徑的逐漸變化 B。電導(dǎo)率的逐漸變化 C。溫度變化 D。短缺陷G197為了消除試驗(yàn)線圈匝數(shù)的影響,阻抗圖的
39、電感值應(yīng)A不考慮 B。歸一化 C。修正到1 D。以上都不是G198材料中的磁通密度通常用什么表示?A符號 B。符號 C。字母 B D。字母HG199在激勵線圈周圍使用磁屏蔽一般會使A磁場范圍擴(kuò)大但渦流透入減小B磁場范圍渦流透入增大C磁場范圍減小但渦流透入增大D磁場范圍渦流透入減小G200用來定義交流信號中時間的關(guān)系術(shù)語A大小 B。相位 C。阻抗 D。電抗G201. 為什么進(jìn)行渦流檢驗(yàn)時要特別注意信號出號處理?G202. 什么叫檢測線圈的邊界效應(yīng)?G203. 簡述電檢測線圈的用途和工作原理。G204. 常用渦流檢驗(yàn)線圈分哪幾類?其應(yīng)用范圍有什么不同?G205. 用于材料分選的渦流導(dǎo)電儀為什么要選
40、用不同的工作頻率?G206. 渦流導(dǎo)電儀能用于探傷嗎?為什么?G207. 利用渦流法測量謹(jǐn)慎導(dǎo)體表面絕緣膜曾厚度時,如何工作頻率?G208. 利用渦流法測量金屬薄板厚度時,如何選擇工作頻率?G209. 為什么對鋼管進(jìn)行渦流探傷時要使用磁飽和裝置?G210. 用于飛機(jī)現(xiàn)場檢測的探頭線圈渦流儀,需要擬制提離效應(yīng)嗎?為什么?G211. 渦流導(dǎo)電儀能用來測量金屬基體表面絕緣膜層厚度嗎?為什么?G212. 渦流探傷用對比試件上的人工缺陷的用途是什么?G213. 渦流導(dǎo)電儀能用于膜層厚度測量嗎?為什么?G214. 為什么渦流探傷只適用于檢測材料表面及近表面缺陷?G215. 渦流探傷時工作頻率的選擇原則?G
41、216. 有根銅棒,其直徑D0=1cm,=50.6米/歐.毫米2,當(dāng)放入f=100Hz和1000Hz的線圈中,有效 eff=?G217. 有一試樣銅棒,直徑為1cm,電導(dǎo)率=50.6米/歐.毫米2, re=1,設(shè)探頭次級線圈為1匝,H0=1奧斯特,求:1) 極限頻率fg;2) 如果工作頻率f選在f/ fg=10,試算出eff實(shí)=?,eff虛=?,Eses虛=?, Eses實(shí)=?,并計(jì)算由于某種缺陷的存在,使降低一倍時,這時的eff實(shí)=?,eff虛=?,Eses虛=?, Eses實(shí)=?的值.3) 若f/ fg=100,重復(fù)上述計(jì)算.G218. 有一半徑為1.5mm的銅棒,當(dāng)實(shí)驗(yàn)頻率為2000Hz
42、時,其有效磁導(dǎo)率eff=?G219. 為了驗(yàn)證用2.5MC的實(shí)驗(yàn)頻率對直徑為100m鎢合金進(jìn)行渦流檢測的結(jié)果,用400Hz的實(shí)驗(yàn)頻率對銅棒模擬實(shí)驗(yàn),問銅棒直徑應(yīng)為多少()G220. 用1000Hz的實(shí)驗(yàn)頻率對一根直徑為1cm的銅棒進(jìn)行渦流檢測的結(jié)果與用5000Hz的實(shí)驗(yàn)頻率對一根直徑為0.1cm的鐵棒進(jìn)行的渦流檢測的結(jié)果相似,試問鐵棒的相對磁導(dǎo)率約為多少()G221. 有一銅棒試件,直徑d=1cm,電導(dǎo)率=50.6M/.mm2,r=1,當(dāng)通過一個匝數(shù)為10,產(chǎn)生的空載磁場強(qiáng)度為H0=1的線圈時,求 1) =1 f=1000Hz時,E虛=?, E實(shí)=?, E=?=0.8 f=1000Hz時, E
43、虛=?, E實(shí)=?, E=?G222. 用穿過式線圈檢測一不銹鋼薄壁管,=2m/mm2,r=1, di=2.5cm,=0.1cm,當(dāng)f=20KC時, =0.8求: eff實(shí)=?,eff虛=?,E/ E0=?G223. 有一鋁薄板厚度為0.3 +0.05mm,問用導(dǎo)電儀FQR-7501能否測量?G224. 有一白銅(=14 10-8.m)圓棒,半徑為1cm,f=1500Hz,通過諾模圖,求eff=?試題題解1.C 2.D 3.A 4.C 5.C 6. B 7.D 8.B 9.A 10.B11.B 12.D 13.D 14.C 15.A 16.B 17.C 18.B 19.C 20.C21.C 2
44、2.A 23.C 24.B 25.C 26.D 27.B 28.A 29.B 30.B31.C 32.A 33.B 34.C 35.B 36.A 37.C 38.C 39.B 40.D41.D 42.A 43.D 44.A 45.B 46.D 47.D 48.D 49.A 50.B51.C 52.C 53.B 54.B 55.B 56.D 57.D 58.D 59.C 60.B61.D 62.D 63.A 64.A 65.D 66.B 67.A 68.D 69.C 70.D71.D 72.D 73.A 74.D 75.B 76.A 77.A 78.D 79.A 80.C81.A 82.C 83
45、.C 84.C 85.A 86.B 87.C 88.A 89.C 90.C91.D 92.B 93.C 94.B 95.A 96.C 97.D 98.B 99.A 100.B101.C 102.A 103.C 104.C 105.D 106.D 107.A 108.C 109.A 110.C111.B 112.A 113.A 114.B 115.B 116.A 117.C 118.B 119.D 120.D121.D 122.C 123.D 124.D 125.B 126.C 127.D 128.C 129.B 130.C131.B 132.A 133.A 134.A 135.D 136.B
46、137.D 138.A 139.C 140.B141.A 142.B 143.D 144.B 145.B 146.D 147.C 148.D 149.A 150.B151.C 152.A 153.C 154.D 155.B 156.B 157.B 158.D 159.B 160.D161.B 162.A 163.C 164.C 165.B 166.D 167.B 168.A 169.D 170.C171.D 172.C 173.D 174.C 175.B 176.A 177.B 178.C 179.B 180.A181.D 182.A 183.D 184.B 185.A 186.D 187.B 188.A 189.C 190.D191.C 192.A 193.D 194.B 195.C 196.D 197.B 198.C 199.D 200.B201. 在渦流檢驗(yàn)時,因?yàn)闇u流及其反作用磁場對代表導(dǎo)電材料的物理及工藝性能等多種參數(shù)都有反應(yīng),因而僅檢出被檢零件中渦
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