材料分析測(cè)試方法-黃新民-課程教案

1、優(yōu)秀教案歡迎下載課程教案根據(jù)大綱要求材料分析測(cè)試方法課程學(xué)時(shí)64，分配如下：1、課時(shí)學(xué)時(shí)分配講課52 學(xué)時(shí)緒論 2第一章 X 射線(xiàn)的性質(zhì)4第二章 X 射線(xiàn)衍射 6第三章 多晶體分析方法4第四章 X 射線(xiàn)衍射應(yīng)用6第五章 透射電子顯微鏡4第六章 電子衍射 6第七章 晶體薄膜衍射成像分析6第八章第九章第十章掃描電子顯微鏡與電子探針光譜分析簡(jiǎn)介4其它顯微分析方法簡(jiǎn)介462. 實(shí)驗(yàn)學(xué)時(shí)： 12 學(xué)時(shí)1.德拜相機(jī)與德拜相，立方晶系粉末相指標(biāo)化。2 學(xué)時(shí)2.衍射儀結(jié)構(gòu)與實(shí)驗(yàn)23. 物相分析 24. 透射電子顯微鏡結(jié)構(gòu)與工作原理25. 選區(qū)電子衍射及明、暗場(chǎng)成像26. 掃描電子顯微鏡及電子探針2第一次課教學(xué)

2、內(nèi)容：緒論（ 50 分鐘）介紹材料分析測(cè)試技術(shù)在材料科學(xué)研究中的作用和應(yīng)用，介紹材料分析測(cè)試方法的發(fā)展歷史，讓同學(xué)在了解了開(kāi)設(shè)本門(mén)課程的意義后， 激發(fā)同學(xué)們對(duì)材料分析方法的喜愛(ài)， 對(duì)這們科學(xué)的向往。第一章X 射線(xiàn)的性質(zhì)X 射線(xiàn)在電磁波譜中的波段，（ 5 分鐘）X 射線(xiàn)的本質(zhì)；（ 10 分鐘）X 射線(xiàn)產(chǎn)生條件及X 射線(xiàn)管；（ 35 分鐘）簡(jiǎn)要介紹 X 射線(xiàn)誕生和發(fā)展歷史。講解電磁波譜及X 射線(xiàn)的波長(zhǎng)范圍。介紹X 射線(xiàn)的性質(zhì)和本質(zhì)。 詳細(xì)講解X 射線(xiàn)產(chǎn)生條件及X 射線(xiàn)管的構(gòu)造。 本節(jié)重點(diǎn)是X 射線(xiàn)產(chǎn)生條件及X 射線(xiàn)管部分的內(nèi)容，難點(diǎn)是從物理本質(zhì)上認(rèn)識(shí)X 射線(xiàn)的產(chǎn)生機(jī)制。第二次課教學(xué)內(nèi)容：X 射線(xiàn)譜

3、，連續(xù)譜（20 分鐘），特征譜產(chǎn)生機(jī)理（30 分鐘）；X 射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用（5 分鐘），相干散射（ 5 分鐘），非相干散射（的吸收（ 15 分鐘），吸收系數(shù)（ 5 分鐘），吸收限（ 10 分鐘），10 分鐘）， X射線(xiàn)X 射線(xiàn)譜連續(xù)譜和特征譜產(chǎn)生機(jī)理是本節(jié)重點(diǎn)講解的內(nèi)容。要講清楚 X 射線(xiàn)連續(xù)譜，特征譜的物理本質(zhì)， 產(chǎn)生機(jī)理， 作用和特征譜的命名方法等。 X 射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用是另一個(gè)優(yōu)秀教案歡迎下載重點(diǎn)，X 射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用產(chǎn)生散射和吸收是現(xiàn)象，其內(nèi)在的物理過(guò)程和本質(zhì)必須講透徹。難點(diǎn)是電子、X 射線(xiàn)與物質(zhì)的原子及原子核外的電子相互作用的物理過(guò)程和本質(zhì)。第三次課教學(xué)內(nèi)容：X 射線(xiàn)衰減

4、規(guī)律及其在實(shí)際中的應(yīng)用（15 分鐘），選靶與濾波片（25 分鐘）。X 射線(xiàn)的防護(hù)（ 10 分鐘）。第二章 X 射線(xiàn)衍射方向晶體幾何學(xué)（ 25分鐘），布拉格方程與討論（ 25 分鐘）；本節(jié)課程著重講解X 射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用后的強(qiáng)度衰減，這是X 射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用的宏觀表現(xiàn)，是X 射線(xiàn)透射學(xué)基礎(chǔ)。講清楚線(xiàn)吸收系數(shù)和質(zhì)量吸收系數(shù)的區(qū)別和作用；X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用產(chǎn)生真吸收的本質(zhì)可以幫助我們進(jìn)行選靶與濾波片的選擇，這也是 X射線(xiàn)光譜學(xué)的基礎(chǔ)。晶體幾何學(xué)在前面課程已經(jīng)講過(guò)，這里是復(fù)習(xí)。 布拉格方程與討論是重點(diǎn)講授內(nèi)容。分析比較散射和衍射的異同，討論布拉格方程。本節(jié)的難點(diǎn)是應(yīng)用強(qiáng)度衰減公式解決實(shí)際問(wèn)

5、題和對(duì)布拉格方程的理解。第四次課教學(xué)內(nèi)容：* 倒易點(diǎn)陣（ 10 分鐘），定義與性質(zhì)（30 分鐘），衍射矢量方程（10 分鐘）；* 愛(ài)瓦爾德圖解（ 25 分鐘）；三種衍射方法（ 10 分鐘）。第三章 X 射線(xiàn)衍射強(qiáng)度一個(gè)電子的衍射強(qiáng)度（ 15 分鐘），本節(jié)課程重點(diǎn)講解倒易點(diǎn)陣的概念、定義與性質(zhì)， 這是本節(jié)的難點(diǎn)。 講清楚倒易點(diǎn)陣對(duì)后續(xù)課程致關(guān)重要， 所以要通過(guò)正空間的復(fù)習(xí)、通過(guò)舉例等方法使同學(xué)建立倒空間的概念。其次講清楚衍射矢量方程對(duì)講解愛(ài)瓦爾德圖解是很重要的， 這里要將倒空間的概念、 布拉格方程和愛(ài)瓦爾德球聯(lián)系起來(lái)講， 建立空間入射和衍射的空間思維。 三種衍射方法的講解進(jìn)一步加深同學(xué)對(duì)上述問(wèn)題

6、的理解。 本節(jié)的重中之重的問(wèn)題是建立空間入射和衍射的空間思維及其與倒空間的聯(lián)系。第五次課教學(xué)內(nèi)容：一個(gè)原子的衍射強(qiáng)度（15 分鐘），一個(gè)晶胞的衍射強(qiáng)度與結(jié)構(gòu)因子（35 分鐘）；多晶體衍射強(qiáng)度（50 分鐘），通過(guò)一個(gè)電子的衍射強(qiáng)度、一個(gè)原子的衍射強(qiáng)度、一個(gè)晶胞的衍射強(qiáng)度、一個(gè)晶體的衍射強(qiáng)度和多個(gè)晶體的衍射強(qiáng)度循序漸進(jìn)地導(dǎo)出多晶體衍射強(qiáng)度。重點(diǎn)講清楚結(jié)構(gòu)因子，也就是原子種類(lèi)及其在晶胞中位置對(duì)衍射強(qiáng)度的影響，同時(shí)講清楚實(shí)際衍射中多晶X 射線(xiàn)衍射強(qiáng)度是多個(gè)晶體的衍射強(qiáng)度的集合，而每個(gè)晶體的衍射強(qiáng)度又是多個(gè)晶胞的衍射強(qiáng)度的集合等等。本節(jié)重點(diǎn)是一個(gè)晶胞的衍射強(qiáng)度與結(jié)構(gòu)因子的內(nèi)容。第六次課教學(xué)內(nèi)容：多重性因

7、子 （ 10 分鐘），羅侖茲因子 （10 分鐘），吸收因子 （ 10 分鐘），溫度因子 （ 10 分鐘），粉末衍射強(qiáng)度（ 10 分鐘）；積分強(qiáng)度（ 15 分鐘），總結(jié)（ 35 分鐘）。上節(jié)課循序漸進(jìn)地導(dǎo)出多晶體衍射強(qiáng)度， 但是實(shí)際衍射強(qiáng)度還受多種因素影響。 講清楚這些影響因素的影響機(jī)理，最后給出最終的積分強(qiáng)度和相對(duì)強(qiáng)度。優(yōu)秀教案歡迎下載講完前面內(nèi)容后將X 射線(xiàn)衍射方向和強(qiáng)度問(wèn)題結(jié)合起來(lái)，強(qiáng)調(diào)X 射線(xiàn)衍射方向取決于晶體的大小和類(lèi)型， X 射線(xiàn)衍射強(qiáng)度則取決于晶體中原子位置與種類(lèi)。因此X 射線(xiàn)衍射方向和強(qiáng)度的結(jié)合才能分析被測(cè)物質(zhì)的晶體學(xué)內(nèi)容。闡述這些是本節(jié)的重點(diǎn)。本節(jié)的難點(diǎn)是形狀因子和多重性因子，

8、羅侖茲因子，吸收因子，溫度因子對(duì)強(qiáng)度影響的機(jī)制。第七次課教學(xué)內(nèi)容：第四章 多晶體分析方法粉末照相法（德拜照相法） （65 分鐘）；X 射線(xiàn)衍射儀法（ 35 分鐘）；德拜照相法是傳統(tǒng)的X 射線(xiàn)衍射方法。本節(jié)課在介紹德拜相機(jī)后著重講述德拜照相法對(duì)試樣的要求、德拜照相法中底片安裝方法及其作用、德拜照相法對(duì)輻射的要求、底片上2 角和衍射線(xiàn)的強(qiáng)度測(cè)量、德拜照相法的衍射花樣的分析標(biāo)定。對(duì)于衍射儀法， 重點(diǎn)講解的是測(cè)角儀的工作原理包括測(cè)角儀圓和聚焦圓，重點(diǎn)講解影響衍射儀法測(cè)量精度的因素（試樣、輻射參數(shù)、狹縫光欄和接受光欄的寬度、掃描速度、時(shí)間常數(shù)等）。難點(diǎn)是測(cè)角儀的工作原理包括測(cè)角儀圓和聚焦圓。第八次課教學(xué)

9、內(nèi)容：衍射儀的測(cè)量方法與實(shí)驗(yàn)參數(shù)，（ 15 分鐘）衍射線(xiàn)的指標(biāo)化（35 分鐘）；點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)量中的誤差來(lái)源（25 分鐘），點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定（25 分鐘）本節(jié)繼續(xù)講述衍射儀的測(cè)量方法與實(shí)驗(yàn)參數(shù)，重點(diǎn)講解衍射線(xiàn)的指標(biāo)化方法。主要講述面心立方晶體的衍射線(xiàn)的指標(biāo)化，簡(jiǎn)要介紹四方和六方晶體的衍射線(xiàn)的指標(biāo)化。其中難點(diǎn)是衍射花樣的分析標(biāo)定，而這一工作對(duì)后續(xù)課程也有重要的影響，務(wù)必講清楚。點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定主要講解點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)量中的誤差來(lái)源及其主要影響因素和消除誤差的方法。難點(diǎn)是消除誤差方法的數(shù)學(xué)處理技術(shù)，通過(guò)例題解決這一問(wèn)題。第九次課教學(xué)內(nèi)容：第五章 X 射線(xiàn)物相分析定性分析的原理和分析思路（15 分鐘）；粉

10、末衍射卡的組成（25 分鐘）；PDF 卡片的索引（25 分鐘）；物相定性分析方法（35 分鐘）本次課講述 X 射線(xiàn)物相分析中的定性分析原理、解決的途徑、粉末衍射卡的組成和索引書(shū)的使用方法、 定性分析的程序。 重點(diǎn)是粉末衍射卡的組成和索引書(shū)的使用方法、定性分析的程序。難點(diǎn)是多物相的衍射花樣的物相定性分析方法?？梢酝ㄟ^(guò)例題詳細(xì)介紹多物相的衍射花樣的物相定性分析中的注意事項(xiàng)和過(guò)程，為未來(lái)的實(shí)際應(yīng)用奠定基礎(chǔ)。第十次課教學(xué)內(nèi)容：物相定量分析方法（50 分鐘）第六章 宏觀應(yīng)力測(cè)定X 射線(xiàn)應(yīng)力測(cè)定原理（ 25 分鐘），單軸應(yīng)力測(cè)定原理（25 分鐘），本節(jié)介紹物相定量分析方法，包括物相定量分析原理、外標(biāo)法、內(nèi)

11、標(biāo)法和直接比較法。重點(diǎn)是物相定量分析原理和直接比較法，難點(diǎn)是物相定量分析方法的原理推導(dǎo)和各種方法中的具體使用。X 射線(xiàn)應(yīng)力測(cè)定講解殘余應(yīng)力的分類(lèi)和范圍、X 射線(xiàn)應(yīng)力測(cè)定的特點(diǎn)和方法概論、介紹單軸優(yōu)秀教案歡迎下載應(yīng)力的測(cè)定原理。這一節(jié)中的難點(diǎn)是單軸應(yīng)力測(cè)定原理。第十一次課教學(xué)內(nèi)容：平面應(yīng)力測(cè)定原理（ 50 分鐘）；實(shí)驗(yàn)方法（ 10 分鐘），衍射儀法（25 分鐘），應(yīng)力儀法（ 15 分鐘）繼上次課單軸應(yīng)力測(cè)定原理的介紹，著重講述和推導(dǎo)平面應(yīng)力測(cè)定原理。通過(guò)平面應(yīng)力測(cè)定原理的推導(dǎo)得到X 射線(xiàn)宏觀應(yīng)力測(cè)定的基本公式，通過(guò)衍射儀和應(yīng)力儀兩個(gè)儀器的具體應(yīng)用講解 X 射線(xiàn)宏觀應(yīng)力測(cè)定的方法及其區(qū)別與特點(diǎn)。本

12、次課程的難點(diǎn)是涉及一些彈性力學(xué)的知識(shí)，要用彈性力學(xué)的知識(shí)結(jié)合X 射線(xiàn)衍射的特點(diǎn)推導(dǎo)許多公式。講課中力求刪繁就簡(jiǎn)，深入淺出講清原理。第十二次課教學(xué)內(nèi)容：實(shí)驗(yàn)精度的保證及測(cè)試原理的適用條件（50 分鐘）第七章 電子光學(xué)基礎(chǔ)電子波與電磁透鏡； （ 50 分鐘）本節(jié)課首先講完X 射線(xiàn)宏觀應(yīng)力測(cè)定中測(cè)試原理的適用條件，保證實(shí)驗(yàn)精度的前提下的注意事項(xiàng)。重點(diǎn)總結(jié)X 射線(xiàn)衍射在材料科學(xué)中的實(shí)際應(yīng)用：點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定，X 射線(xiàn)物相分析和 X 射線(xiàn)宏觀應(yīng)力測(cè)定。告訴同學(xué)X 射線(xiàn)衍射的實(shí)際應(yīng)用并非這些，還可以用于X射線(xiàn)衍射測(cè)定晶體的織構(gòu)等，未來(lái)實(shí)踐中還要參閱更多的文獻(xiàn)資料。電鏡課程的開(kāi)始應(yīng)介紹電子顯微學(xué)的發(fā)展及其

13、作用與意義，然后介紹電子波、 透鏡的分辨率概念和電磁透鏡，難點(diǎn)是分辨率概念、電磁透鏡的構(gòu)成與電子在透鏡中的運(yùn)動(dòng)及其軌跡。本次課程的重點(diǎn)是X 射線(xiàn)篇的總結(jié)與電鏡篇的開(kāi)篇。注意承上啟下。第十三次課教學(xué)內(nèi)容：電磁透鏡的像差與分辨本領(lǐng)（30 分鐘）電磁透鏡的景深與焦長(zhǎng)（ 20 分鐘）第八章 透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理（20 分鐘），照明系統(tǒng)（15 分鐘），成像系統(tǒng)（ 10 分鐘），觀察記錄系統(tǒng)（ 5 分鐘）；本次課程重點(diǎn)講清楚電磁透鏡的像差類(lèi)型、 像差與分辨本領(lǐng)的關(guān)系， 分辨本領(lǐng)與放大倍數(shù)的關(guān)系。講述電磁透鏡的景深與焦長(zhǎng)在電子顯微分析中作用和意義，以及與成像質(zhì)量的關(guān)系。在透射電子顯微

14、鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理的介紹結(jié)合實(shí)際的透射電子顯微鏡講，重點(diǎn)講解照明系統(tǒng)和成像系統(tǒng)的構(gòu)成與原理， 以及這兩個(gè)系統(tǒng)的優(yōu)劣對(duì)整個(gè)電鏡的影響。 難點(diǎn)是分辨本領(lǐng)與像差的關(guān)系和成像系統(tǒng)中的光路圖。第十四次課教學(xué)內(nèi)容：主要部件（測(cè)角器、樣品桿、消像散器、光欄）的結(jié)構(gòu)與工作原理（透射電子顯微鏡的分辨率和放大倍數(shù)測(cè)定（20 分鐘）第九章復(fù)型技術(shù)概述；（ 20 分鐘）30 分鐘）；一級(jí)復(fù)型、二級(jí)復(fù)型、萃取復(fù)型；（ 30 分鐘）本次課程介紹透射電鏡的主要部件（測(cè)角器、樣品桿、消像散器、光欄）的結(jié)構(gòu)與工作原理和透射電子顯微鏡的分辨率和放大倍數(shù)測(cè)定。這部分的重點(diǎn)是分辨率和放大倍數(shù)測(cè)定方法。難點(diǎn)是晶格分辨率和點(diǎn)分辨率的概念

15、。優(yōu)秀教案歡迎下載關(guān)于復(fù)型技術(shù)著重講清楚它的發(fā)展過(guò)程和現(xiàn)在在電子顯微分析工作中作用和地位。 介紹一級(jí)復(fù)型、 二級(jí)復(fù)型、 萃取復(fù)型技術(shù)的具體制作過(guò)程， 重點(diǎn)講述萃取復(fù)型技術(shù)在電子顯微分析工作中的作用。第十五次課教學(xué)內(nèi)容：質(zhì)厚襯度原理（20 分鐘）復(fù)型技術(shù)在材料研究方面的應(yīng)用（金相分析、斷口分析）粉末樣品制備（5 分鐘）第十章電子衍射電子衍射與X 射線(xiàn)衍射的比較（20 分鐘）；電子衍射原理，布拉格方程、（ 30 分鐘）（ 25 分鐘）。介紹與推導(dǎo)復(fù)型技術(shù)中質(zhì)厚襯度原理， 既從小孔成像的散射截面的角度講， 也從物質(zhì)對(duì)電子的吸收角度講。 在講復(fù)型技術(shù)在材料研究方面的應(yīng)用時(shí)既介紹它的優(yōu)點(diǎn)也指出這種方法的

16、局限性。結(jié)合納米材料介紹粉末樣品的具體制備方法。重點(diǎn)講述電子衍射與X 射線(xiàn)衍射的異同點(diǎn)，通過(guò)分析比較講述各自的特點(diǎn)。講解電子衍射原理，回顧復(fù)習(xí)布拉格方程，點(diǎn)出布拉格方程在電子衍射中的應(yīng)用特點(diǎn)，強(qiáng)調(diào)與 X 射線(xiàn)衍射時(shí)的不同之處。第十六次課教學(xué)內(nèi)容：倒易點(diǎn)陣（ 10 分鐘）、偏離矢量（20 分鐘）、電子衍射基本公式（20 分鐘）；電子顯微鏡中的電子衍射（10 分鐘），有效相機(jī)常數(shù)（ 10 分鐘），選區(qū)衍射（ 15 分鐘），磁偏轉(zhuǎn)角（ 15 分鐘）；復(fù)習(xí)倒易點(diǎn)陣的概念及性質(zhì)。重點(diǎn)講述電子衍射的特別之處：偏離矢量。 講解和證明電子衍射基本公式。 回顧第八次課中介紹的成像系統(tǒng)的光路圖，講解電子顯微鏡中的

17、電子衍射、有效相機(jī)常數(shù)、 選區(qū)衍射的概念。 重點(diǎn)講述選區(qū)衍射的作用和意義。講清楚磁偏轉(zhuǎn)角的概念和測(cè)量校正方法，指出現(xiàn)代電子顯微鏡因儀器的進(jìn)步，已經(jīng)在設(shè)計(jì)中矯正了磁偏轉(zhuǎn)角。本次課程難點(diǎn)在于偏離矢量的概念和磁偏轉(zhuǎn)角的概念。第十七次課教學(xué)內(nèi)容：?jiǎn)尉w電子衍射花樣的標(biāo)定（75 分鐘）復(fù)雜電子衍射花樣（ 5 分鐘），高階勞埃斑點(diǎn)（20 分鐘），單晶體電子衍射花樣的標(biāo)定是電子衍射課程內(nèi)容的重中之重的問(wèn)題，結(jié)合X 射線(xiàn)衍射花樣標(biāo)定，詳細(xì)講解單晶體電子衍射花樣的標(biāo)定方法。從已知晶體結(jié)構(gòu)的單晶體電子衍射花樣的標(biāo)定到未知晶體結(jié)構(gòu)的單晶體電子衍射花樣的標(biāo)定，逐一講解各種方法的具體標(biāo)定步驟，可能出現(xiàn)的問(wèn)題及解決的方法

18、。每一種方法都要結(jié)合具體衍射花樣講解。難點(diǎn)是未知晶體結(jié)構(gòu)的單晶體電子衍射花樣的標(biāo)定方法。對(duì)于復(fù)雜衍射花樣， 本門(mén)課程只作簡(jiǎn)介。 但要講清楚復(fù)雜衍射花樣的產(chǎn)生、 形態(tài)及其在電子衍射分析中作用。這部分的難點(diǎn)在于如何從復(fù)雜衍射花樣中進(jìn)行區(qū)分與識(shí)別。第十八次課教學(xué)內(nèi)容：超點(diǎn)陣斑點(diǎn)（ 10 分鐘）、二次衍射斑點(diǎn)（ 10 分鐘）、孿晶斑點(diǎn)（ 10 分鐘），菊池衍射花樣（ 20 分鐘）。第十一章晶體薄膜衍射成像分析概述（ 2 分鐘）；優(yōu)秀教案歡迎下載金屬薄膜樣品的制備（48 分鐘）繼續(xù)講述復(fù)雜衍射花樣：超點(diǎn)陣斑點(diǎn)、二次衍射斑點(diǎn)、孿晶斑點(diǎn)，菊池衍射花樣。重點(diǎn)是總結(jié)比較各種復(fù)雜衍射花樣的形態(tài)特點(diǎn)， 區(qū)分復(fù)雜花樣

19、與多套重疊晶體衍射， 列出容易的區(qū)分類(lèi)型和方法。難點(diǎn)是各種復(fù)雜衍射花樣的產(chǎn)生機(jī)理。概述襯度理論， 比較光學(xué)成像襯度、 復(fù)型技術(shù)中的質(zhì)厚襯度來(lái)簡(jiǎn)要介紹透射電子顯微鏡中衍襯襯度。詳細(xì)講述透射電子顯微鏡的樣品制備技術(shù)與方法，比較區(qū)分各種方法的適用場(chǎng)合與材料，制樣的成本與難度，制樣的水平和質(zhì)量。比較分析各種儀器的優(yōu)缺點(diǎn)及注意事項(xiàng)。難點(diǎn)是如何針對(duì)具體材料選擇試樣制備方法。第十九次課教學(xué)內(nèi)容：衍襯成像原理（35 分鐘），消光距離（15 分鐘）；衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)簡(jiǎn)介（50 分鐘）；衍襯襯度是一個(gè)新概念， 首先從直觀的成像示意圖給同學(xué)建立直觀感性認(rèn)識(shí)的。 講解電子束在晶體材料內(nèi)的傳播過(guò)程， 解釋電子束從入射束到產(chǎn)生

20、衍射束、 入射束和衍射束在傳播過(guò)程中的能量轉(zhuǎn)換， 導(dǎo)出消光距離的概念。 建立衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)的物理模型， 詳細(xì)講解衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)理論的先決條件和假設(shè)，推導(dǎo)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)的衍射波振幅公式和強(qiáng)度公式，通過(guò)強(qiáng)度公式討論，導(dǎo)出等厚消光和等傾消光。本次課重點(diǎn)是衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)的講解并由此介紹衍襯襯度。難點(diǎn)是建立衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)的物理模型， 推導(dǎo)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)的衍射波振幅公式和強(qiáng)度公式， 通過(guò)強(qiáng)度公式討論，導(dǎo)出等厚消光和等傾消光。第二十次課教學(xué)內(nèi)容：晶體缺陷分析（ 25 分鐘）。層錯(cuò)（ 25分鐘）、位錯(cuò)、第二相粒子襯度（ 50 分鐘）。本次課程首先在上次課程內(nèi)容的基礎(chǔ)上，引進(jìn)缺陷位移矢量R，在理想晶體的衍射波振幅和強(qiáng)度公式的基礎(chǔ)上深入

21、討論缺陷晶體的衍射波振幅和強(qiáng)度公式。將缺陷晶體的衍射波振幅和強(qiáng)度公式應(yīng)用到具體的晶體缺陷上，分別討論層錯(cuò)、 位錯(cuò)、 第二相粒子的強(qiáng)度因缺陷存在而引起的變化以及缺陷部位的襯度特征。課程的重點(diǎn)是導(dǎo)出缺陷晶體的衍射波振幅和強(qiáng)度公式，以及三種晶體缺陷的衍射波振幅、強(qiáng)度、襯度。難點(diǎn)是具體的晶體缺陷：層錯(cuò)、位錯(cuò)、第二相粒子的衍射波振幅和強(qiáng)度的推導(dǎo)和襯度特征分析。第二十一次課教學(xué)內(nèi)容：第十二章 掃描電子顯微鏡電子束與固體樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的物理信號(hào)（50 分鐘）；掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理（25 分鐘）；掃描電子顯微鏡的主要性能（25 分鐘）；本次課程講授電子束與固體樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的各種物理信號(hào)，分

22、析各種物理信號(hào)的產(chǎn)生機(jī)理、 作用深度、 信號(hào)特點(diǎn)和在微分析工作中的應(yīng)用等。然后介紹掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理、 掃描電子顯微鏡的主要性能。重點(diǎn)內(nèi)容是分析各種物理信號(hào)的產(chǎn)生機(jī)理、作用深度、信號(hào)特點(diǎn)和在微分析工作中的應(yīng)用。難點(diǎn)是這些物理信號(hào)產(chǎn)生機(jī)制。掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)也是一個(gè)重點(diǎn)闡述的內(nèi)容，要和透射電子顯微鏡的特點(diǎn)加以比較，認(rèn)識(shí)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)、分辨率等與透射電鏡的不同之處。第二十二次課教學(xué)內(nèi)容：優(yōu)秀教案歡迎下載表面形貌襯度原理及其應(yīng)用（35 分鐘）；原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用（25 分鐘）。第十三章電子探針顯微分析電子探針儀的結(jié)構(gòu)與工作原理（40分鐘），本節(jié)課著重講解掃描電子顯微鏡的

23、表面形貌襯度原理及其應(yīng)用、原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用。至此我們已經(jīng)介紹了多種襯度，每一種襯度的原理、機(jī)制都各不相同， 引導(dǎo)同學(xué)比較區(qū)分，加深認(rèn)識(shí)和理解。在掃描電子顯微鏡的基礎(chǔ)上引入電子探針儀的結(jié)構(gòu)與工作原理。重點(diǎn)是引導(dǎo)同學(xué)加深對(duì)電子束與固體樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的物理信號(hào)的認(rèn)識(shí)與理解?？梢钥吹诫娮犹结槂x與掃描電子顯微鏡的區(qū)別就是儀器探測(cè)的物理信號(hào)不同而已，對(duì)材料分析來(lái)說(shuō)它們的分析內(nèi)容也就不同了。第二十三次課教學(xué)內(nèi)容：電子探針儀的分析方法及應(yīng)用（10分鐘），波譜儀（ 30分鐘），能譜儀（ 25分鐘）。第十四章 其它顯微分析方法簡(jiǎn)介離子探針（ 35 分鐘）本節(jié)課程具體介紹波譜儀和能譜儀的儀器結(jié)構(gòu)和工作原理，比較兩種儀器的特點(diǎn)和區(qū)別， 并介紹在實(shí)際材料分析中如何將兩者結(jié)合，各取所長(zhǎng)充分發(fā)揮儀器的性能。另外講述波譜儀和能譜儀在材料分析時(shí)的具體應(yīng)用方法：點(diǎn)掃描、 線(xiàn)掃描和面掃描， 介紹在材料分析時(shí)為了獲得高的