測井解釋 電阻率測井

1、第三章 電阻率測井一、普通電阻率測井一、普通電阻率測井二、側(cè)向測井二、側(cè)向測井第三章 電阻率測井 利用巖石的導(dǎo)電性（電阻率或電導(dǎo)率）利用巖石的導(dǎo)電性（電阻率或電導(dǎo)率）研究地層的一類測井方法稱為電阻率測井。研究地層的一類測井方法稱為電阻率測井。 巖石的電阻率與巖石的電阻率與巖性巖性、儲集物性儲集物性、含含油性油性有密切的關(guān)系有密切的關(guān)系 ，所以通過研究巖石的，所以通過研究巖石的電阻率的差異就可以區(qū)分巖性、劃分儲集電阻率的差異就可以區(qū)分巖性、劃分儲集層并評價含油氣性、進(jìn)行地層對比層并評價含油氣性、進(jìn)行地層對比一、普通電阻率測量原理一、普通電阻率測量原理1 1、實(shí)驗(yàn)室測量巖石電阻率、實(shí)驗(yàn)室測量巖石電

2、阻率 實(shí)驗(yàn)室測量巖石電阻率方法：通過測量流過實(shí)驗(yàn)室測量巖石電阻率方法：通過測量流過巖樣的電流巖樣的電流I和和MN之間的電位差之間的電位差 ，由歐姆，由歐姆定律確定巖樣定律確定巖樣MN之間的電阻之間的電阻.UIURMNMN一、普通電阻率測量原理一、普通電阻率測量原理1 1、實(shí)驗(yàn)室測量巖石電阻率、實(shí)驗(yàn)室測量巖石電阻率 由實(shí)驗(yàn)室測量巖石電阻率方法可知：由實(shí)驗(yàn)室測量巖石電阻率方法可知： 1）要測量電阻率，必須供電，形成人工電）要測量電阻率，必須供電，形成人工電場；場； 2）研究電場分布規(guī)律，確定電場參數(shù)與電）研究電場分布規(guī)律，確定電場參數(shù)與電阻率的關(guān)系；阻率的關(guān)系； 3）測量電場參數(shù)，根據(jù)電場參數(shù)與電

3、阻率）測量電場參數(shù)，根據(jù)電場參數(shù)與電阻率的關(guān)系，得到電阻率。的關(guān)系，得到電阻率。一、普通電阻率測量原理一、普通電阻率測量原理2 2、普通電阻率測量原理、普通電阻率測量原理 普通電阻率測井的測量方法與巖樣的測量原普通電阻率測井的測量方法與巖樣的測量原理是極其相似的；但井內(nèi)電場與電位的分布很復(fù)理是極其相似的；但井內(nèi)電場與電位的分布很復(fù)雜；與雜；與R R之的關(guān)系也很復(fù)雜。之的關(guān)系也很復(fù)雜。 供電電極：供電電極：A A、B B 測量電極：測量電極：M M、N N 有一個在地面（如圖有一個在地面（如圖為為N N），其余在井下，），其余在井下，構(gòu)成電極系，電極距構(gòu)成電極系，電極距L=AML=AM一、普通電

4、阻率測量原理一、普通電阻率測量原理2 2、普通電阻率測量原理、普通電阻率測量原理 電阻率表達(dá)式：電阻率表達(dá)式： KK電極系系數(shù)，只與電極系結(jié)構(gòu)有關(guān)電極系系數(shù)，只與電極系結(jié)構(gòu)有關(guān) II電流電流測量測量 即可確定介質(zhì)電阻率即可確定介質(zhì)電阻率IUKRMNaMNU一、普通電阻率測量原理一、普通電阻率測量原理2 2、普通電阻率測量原理、普通電阻率測量原理 測量時，測量時，3 3個電極放個電極放入井中，入井中，1 1個個(B(B或或N)N)留在地留在地面。提升過程中，地面儀面。提升過程中，地面儀器記錄沿井身的電位差變器記錄沿井身的電位差變化曲線，該電位差化曲線，該電位差不僅與不僅與地層的地層的Rt有關(guān)，而

5、且還與有關(guān)，而且還與井眼流體、侵入帶、圍巖井眼流體、侵入帶、圍巖的電阻率有關(guān)。的電阻率有關(guān)。故該電位故該電位差經(jīng)刻度后，得到視電阻差經(jīng)刻度后，得到視電阻率率RaRa。二、電極系分類二、電極系分類 成對電極：把電成對電極：把電極系中接在同一線路極系中接在同一線路中的電極叫成對電極：中的電極叫成對電極：MNMN。 不成對電極：把不成對電極：把和地面電極接在同一和地面電極接在同一線路中的電極叫不成線路中的電極叫不成對電極：對電極：ABAB。二、電極系分類二、電極系分類1 1、電位電極系、電位電極系 不成對電極到靠近不成對電極到靠近它的那個成對電極之它的那個成對電極之間的距離小于成對電間的距離小于成對

6、電極之間的距離（極之間的距離（AMMNAMRsRtRs，且，且hLhL，半幅點(diǎn)距離，半幅點(diǎn)距離=h-L=h-L；其它情況下，半幅點(diǎn)；其它情況下，半幅點(diǎn)距離距離=h+L=h+L。 b b、曲線極值對應(yīng)于地層、曲線極值對應(yīng)于地層重點(diǎn)且最接近于重點(diǎn)且最接近于RtRt。二、電極系分類二、電極系分類2 2、梯度電極系、梯度電極系 不成對電極到靠近不成對電極到靠近它的那個成對電極之它的那個成對電極之間的距離大于成對電間的距離大于成對電極之間的距離（極之間的距離（AMMNAMMN）的電極系。的電極系。二、電極系分類二、電極系分類2 2、梯度電極系、梯度電極系 梯度電極系視電阻率曲線特征：梯度電極系視電阻率曲

7、線特征： a a、在層界面處曲線出現(xiàn)極值。、在層界面處曲線出現(xiàn)極值。 b b、h3Lh3L時（厚層），地層中時（厚層），地層中部直線處部直線處RaRa近似等于近似等于RtRt。 c c、h=13Lh=13L時（中厚層），曲時（中厚層），曲線的形狀與層厚基本相同，所不同線的形狀與層厚基本相同，所不同的是的是h h變小時，中部的直線逐漸變變小時，中部的直線逐漸變短直至消失，扣除巖層頂或底一個短直至消失，扣除巖層頂或底一個電極范圍內(nèi)的曲線，取面積平均值，電極范圍內(nèi)的曲線，取面積平均值，其其RaRa近似等于近似等于RtRt d d、hLhL時（薄層），其極值最時（薄層），其極值最接近接近RtRt三、普

8、通電阻率測井影響因素三、普通電阻率測井影響因素1 1、電極系的影響、電極系的影響 電極矩不同時，探測范圍不同，測量結(jié)果不同電極矩不同時，探測范圍不同，測量結(jié)果不同（L L小時，主要測量小時，主要測量RmRm和和RiRi；L L太大時，受圍巖影太大時，受圍巖影響）響）2 2、井眼的影響、井眼的影響 井眼的大小、泥漿電阻率決定了探測范圍內(nèi)各井眼的大小、泥漿電阻率決定了探測范圍內(nèi)各種介質(zhì)對測量結(jié)果的貢獻(xiàn)的大小種介質(zhì)對測量結(jié)果的貢獻(xiàn)的大小三、普通電阻率測井影響因素三、普通電阻率測井影響因素3 3、層厚與圍巖的影響、層厚與圍巖的影響 地層厚度地層厚度h h、圍巖電阻率與、圍巖電阻率與RtRt的差異的大小

9、、層的差異的大小、層厚變薄，低阻圍巖對測量結(jié)果貢獻(xiàn)增大厚變薄，低阻圍巖對測量結(jié)果貢獻(xiàn)增大4 4、侵入的影響、侵入的影響 低侵（一般在油層）、高侵（一般在水層）與低侵（一般在油層）、高侵（一般在水層）與didi、RiRi有關(guān)有關(guān)5 5、高阻鄰層的屏蔽影響、高阻鄰層的屏蔽影響 高阻鄰層的屏蔽改變了電流的分布及地流密度高阻鄰層的屏蔽改變了電流的分布及地流密度四、視電阻率曲線的應(yīng)用四、視電阻率曲線的應(yīng)用1 1、劃分巖性剖面、劃分巖性剖面 不同巖性地層的不同巖性地層的RtRt不同，反映不同，反映RtRt的視電阻率的視電阻率RaRa也不同，所以也不同，所以RaRa曲線可用來劃分巖性，以地區(qū)經(jīng)曲線可用來劃分

10、巖性，以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)。驗(yàn)為基礎(chǔ)。2 2、層界面的確定、層界面的確定 梯度電極系依據(jù)極值確定層界面，電位電極系梯度電極系依據(jù)極值確定層界面，電位電極系依據(jù)半幅點(diǎn)的位置來確定層界面依據(jù)半幅點(diǎn)的位置來確定層界面四、視電阻率曲線的應(yīng)用四、視電阻率曲線的應(yīng)用3 3、確定巖層真電阻率、確定巖層真電阻率RtRt 1 1）正確讀取巖層的視電阻率值）正確讀取巖層的視電阻率值RaRa：電位電極系：電位電極系對應(yīng)地層中部取極值；梯度電極系：厚層在中部對應(yīng)地層中部取極值；梯度電極系：厚層在中部取值，中厚層在底部取值，中厚層在底部/ /頂部頂部RaRa上扣除距頂部上扣除距頂部/ /底部底部界面一個電極距后用面積平均法

11、取值，薄層取極界面一個電極距后用面積平均法取值，薄層取極值。值。 2 2）對）對RaRa做相應(yīng)的校正（井眼、層厚、侵入等），做相應(yīng)的校正（井眼、層厚、侵入等），每一種儀器在不同情況下，采用不同的圖版或經(jīng)每一種儀器在不同情況下，采用不同的圖版或經(jīng)驗(yàn)公式進(jìn)行校正。驗(yàn)公式進(jìn)行校正。第三章 電阻率測井一、普通電阻率測井一、普通電阻率測井二、側(cè)向測井二、側(cè)向測井普通電阻率測井的弱點(diǎn)普通電阻率測井的弱點(diǎn) 在高礦化度泥漿、地層為高阻薄層、在高礦化度泥漿、地層為高阻薄層、且有侵入的情況下，其電流主要分布在井眼且有侵入的情況下，其電流主要分布在井眼及圍巖之中，使其測量結(jié)果不能反映目的層及圍巖之中，使其測量結(jié)果不

12、能反映目的層的電阻率。的電阻率。改進(jìn)思路改進(jìn)思路 采用屏蔽電流控制主電流的流路（路徑）采用屏蔽電流控制主電流的流路（路徑）使影響減至最小使影響減至最小發(fā)展側(cè)向測井。發(fā)展側(cè)向測井。 目前側(cè)向測井包括：三側(cè)向、七側(cè)向、目前側(cè)向測井包括：三側(cè)向、七側(cè)向、雙側(cè)向、微側(cè)向等。雙側(cè)向、微側(cè)向等。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 A0A0主電極主電極 A1A1、A2A2屏蔽電極屏蔽電極 B1B1、B2B2回路電極回路電極 電極系中有三個柱狀電極（回電極系中有三個柱狀電極（回路電極除外）。路電極除外）。 主電極較短，屏蔽電極較長。主電極較短，屏蔽電極較長。 淺三測向的屏蔽電極較深

13、三測淺三測向的屏蔽電極較深三測向的短。向的短。 淺三測向的回路電極離屏蔽電淺三測向的回路電極離屏蔽電極較近，深三測向的回路電極極較近，深三測向的回路電極離屏蔽電極較遠(yuǎn)。離屏蔽電極較遠(yuǎn)。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 測井過程中，測井過程中，A1、A0、A2具有相同有極性和電位具有相同有極性和電位且與且與B的極性相反。的極性相反。 深、淺三側(cè)向的電流側(cè)深、淺三側(cè)向的電流側(cè)向流入地層。向流入地層。 深三側(cè)向的主電流能流深三側(cè)向的主電流能流入到地層較深的地方才開入到地層較深的地方才開始發(fā)散。這主要是屏蔽電始發(fā)散。這主要是屏蔽電極長，回路電極遠(yuǎn)，聚焦極長，回路電極遠(yuǎn)，聚

14、焦能力強(qiáng)所導(dǎo)致的。能力強(qiáng)所導(dǎo)致的。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 測井過程中，測井過程中，A1、A0、A2具有相同有極性和電位具有相同有極性和電位且與且與B的極性相反。的極性相反。 深、淺三側(cè)向的電流側(cè)深、淺三側(cè)向的電流側(cè)向流入地層。向流入地層。 淺三側(cè)向的主電流流入淺三側(cè)向的主電流流入到地層后不久就發(fā)散，這到地層后不久就發(fā)散，這主要是屏蔽電極短，回路主要是屏蔽電極短，回路電極近，聚焦能力差所決電極近，聚焦能力差所決定的定的 。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 電阻率電阻率： KK電極系系數(shù)（一般電極系系數(shù)（一般由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定

15、）由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定） I0主電極強(qiáng)度。主電極強(qiáng)度。 U主電極與無限遠(yuǎn)處主電極與無限遠(yuǎn)處的電位差的電位差03IUKRLL一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井2 2、測井曲線特點(diǎn)、測井曲線特點(diǎn) 1 1）高阻層）高阻層RaRa增大，比普通電阻率曲線更接近增大，比普通電阻率曲線更接近RtRt。 2 2）上下圍巖電阻率相等時）上下圍巖電阻率相等時RaRa對稱于高阻層中部，對稱于高阻層中部，應(yīng)取地層中部的應(yīng)取地層中部的RaRa（極值）作為地層的（極值）作為地層的RaRa。 3 3）高阻鄰層影響很小。）高阻鄰層影響很小。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井3 3、影響因素、影響因素 1 1）井眼和泥漿的

16、影響）井眼和泥漿的影響 井眼的影響由井眼的直徑及流體的電阻率所井眼的影響由井眼的直徑及流體的電阻率所決定，當(dāng)井內(nèi)的電阻率較低時，且直徑不是很大決定，當(dāng)井內(nèi)的電阻率較低時，且直徑不是很大時，井眼影響小。時，井眼影響小。 2 2）泥餅的影響）泥餅的影響 泥餅的影響由泥餅的厚度（泥餅的影響由泥餅的厚度（hmc）、和泥餅）、和泥餅的電阻率（的電阻率（Rmc）所決定。通常）所決定。通常hmc很小，其對測很小，其對測量影響很小。量影響很小。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井3 3、影響因素、影響因素 3 3）泥漿侵入的影響）泥漿侵入的影響 影響的大小由侵入深度（影響的大小由侵入深度（di）侵入帶的電阻）

17、侵入帶的電阻率（率（Ri）所決定。）所決定。 4 4）圍巖的影響）圍巖的影響 圍巖影響的大小由地層的厚度（圍巖影響的大小由地層的厚度（h）和圍巖）和圍巖的電阻率（的電阻率（Rs）所決定。當(dāng)）所決定。當(dāng)h4倍主電流層的厚倍主電流層的厚度時，影響較低大，主要是影響電流的分布，即度時，影響較低大，主要是影響電流的分布，即主電流層包含了非目的層（圍巖），圍巖電阻率主電流層包含了非目的層（圍巖），圍巖電阻率低時，分流嚴(yán)重，使低時，分流嚴(yán)重，使RLL3不能很好地反映目的層不能很好地反映目的層的的Rt 一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井4 4、測井資料的應(yīng)用、測井資料的應(yīng)用 1 1）劃分巖性并決定層界面的

18、位置（以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)劃分巖性并決定層界面的位置（以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)）為基礎(chǔ)） 2 2）識別滲透層識別滲透層 在滲透層處兩條曲線（深三側(cè)向、淺三側(cè)向）在滲透層處兩條曲線（深三側(cè)向、淺三側(cè)向）出現(xiàn)差異，這主要是由于濾液與地層流體的差別出現(xiàn)差異，這主要是由于濾液與地層流體的差別所引起的。所引起的。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井4 4、測井資料的應(yīng)用、測井資料的應(yīng)用 3 3）判斷油氣水層判斷油氣水層 僅用深三側(cè)向：油氣層的僅用深三側(cè)向：油氣層的RLL3高，水層的高，水層的RLL3?。ㄒ缘貐^(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)）。小（以地區(qū)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)）。 用深三側(cè)向與淺三側(cè)向的差值進(jìn)行判別：一用深三側(cè)向與淺三側(cè)向的差值進(jìn)行判別：

19、一般情況下（中、低礦化度）；油層為正差異，水般情況下（中、低礦化度）；油層為正差異，水層為負(fù)差異。層為負(fù)差異。一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井4 4、測井資料的應(yīng)用、測井資料的應(yīng)用 4 4）確定地層電阻率確定地層電阻率 a）僅用深三側(cè)向的視電阻率確定）僅用深三側(cè)向的視電阻率確定Rt： 對應(yīng)于地層中部讀取極值；對應(yīng)于地層中部讀取極值； 對其作相應(yīng)的影響因素校正。對其作相應(yīng)的影響因素校正。 根據(jù)儀器的型號、測井時的環(huán)境選擇相根據(jù)儀器的型號、測井時的環(huán)境選擇相應(yīng)的專用圖版或經(jīng)驗(yàn)公式。應(yīng)的專用圖版或經(jīng)驗(yàn)公式。 b）用淺三側(cè)向的視電阻率確定）用淺三側(cè)向的視電阻率確定Ri: 對應(yīng)于地層中部讀取極值；對

20、應(yīng)于地層中部讀取極值； 對其作相應(yīng)的影響因素的校正。對其作相應(yīng)的影響因素的校正。 一、三電極側(cè)向測井一、三電極側(cè)向測井 三側(cè)向測井與普通電阻率測井相比，受井眼、三側(cè)向測井與普通電阻率測井相比，受井眼、圍巖的影響要小得多。但仍有弱點(diǎn)：圍巖的影響要小得多。但仍有弱點(diǎn)： 1）深三側(cè)向測井的探測深度不夠深。三側(cè)）深三側(cè)向測井的探測深度不夠深。三側(cè)向測井是通過加長屏蔽電極來增強(qiáng)聚焦能力，提向測井是通過加長屏蔽電極來增強(qiáng)聚焦能力，提高探測深度，而理論與實(shí)驗(yàn)結(jié)果都表明：隨屏蔽高探測深度，而理論與實(shí)驗(yàn)結(jié)果都表明：隨屏蔽電極的加長，探測深度加深，當(dāng)屏蔽電極加長到電極的加長，探測深度加深，當(dāng)屏蔽電極加長到一定的度

21、度之后，再進(jìn)一步加長屏蔽電極對聚焦一定的度度之后，再進(jìn)一步加長屏蔽電極對聚焦效果的改善不明顯。效果的改善不明顯。 2）淺三側(cè)向的探測深度不夠淺。）淺三側(cè)向的探測深度不夠淺。 改進(jìn)的思路：改變電極系的結(jié)構(gòu)和聚焦方式改進(jìn)的思路：改變電極系的結(jié)構(gòu)和聚焦方式從而以展了七側(cè)向測井。從而以展了七側(cè)向測井。 二、七電極側(cè)向測井二、七電極側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 七測向測井的電極系結(jié)構(gòu)七測向測井的電極系結(jié)構(gòu)A0主電極主電極 A1、A2屏蔽電極屏蔽電極 M1、M2、M1、M2 監(jiān)督電極監(jiān)督電極 電極系距電極系距:L= O1O2 電極系長度電極系長度:L0= A1 A2 電極系分布比：電極系分布比：S=

22、L0/L 記錄點(diǎn)：記錄點(diǎn)：A0的中點(diǎn)。的中點(diǎn)。 二、七電極側(cè)向測井二、七電極側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理測量過程中：測量過程中：A1、A0、A2的極性相的極性相同同;主電流強(qiáng)度主電流強(qiáng)度0不變，通過自動不變，通過自動調(diào)節(jié)電路調(diào)整調(diào)節(jié)電路調(diào)整Is的大小使的大小使Um1=Um1,Um2=Um2,即使主電即使主電流流Io側(cè)向流入地層之中側(cè)向流入地層之中.深淺七側(cè)向的電極系分布比深淺七側(cè)向的電極系分布比S不同，不同，聚絲能力不同。深七側(cè)向的主電流聚絲能力不同。深七側(cè)向的主電流能流入到地層的深部，而淺七側(cè)向能流入到地層的深部，而淺七側(cè)向的主電流進(jìn)入地層后不久就開始發(fā)的主電流進(jìn)入地層后不久就開始發(fā)散

23、。散。探測范圍不同。探測范圍不同。 深七側(cè)向的深度較大深七側(cè)向的深度較大,測得的測得的RLL7主要反映主要反映Rt,而淺七側(cè)向的探測而淺七側(cè)向的探測深度較小深度較小,測得的測得的RLL7主要反映主要反映Ri 二、七電極側(cè)向測井二、七電極側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 電阻率電阻率： KK電極系系數(shù)（一般由實(shí)電極系系數(shù)（一般由實(shí)驗(yàn)或理論計(jì)算確定）驗(yàn)或理論計(jì)算確定） I I0 0主電極強(qiáng)度主電極強(qiáng)度UM1UM1與與N(N(無限遠(yuǎn)處無限遠(yuǎn)處) )的電的電位差。位差。07IUKRLL二、七電極側(cè)向測井二、七電極側(cè)向測井2 2、測井曲線特點(diǎn)、測井曲線特點(diǎn) 特點(diǎn)與三側(cè)向類似，七側(cè)向與三側(cè)向探測特特點(diǎn)與

24、三側(cè)向類似，七側(cè)向與三側(cè)向探測特性的差別：性的差別： 深七側(cè)向的探測深度比深三側(cè)向大。深七側(cè)向的探測深度比深三側(cè)向大。 淺七側(cè)向的探測深度比淺三側(cè)向小淺七側(cè)向的探測深度比淺三側(cè)向小二、七電極側(cè)向測井二、七電極側(cè)向測井3 3、影響因素、影響因素 與三側(cè)向類似，所不同的是依探測深度的不與三側(cè)向類似，所不同的是依探測深度的不同所受影響大小不同同所受影響大小不同4 4、測井資料的應(yīng)用、測井資料的應(yīng)用 與三側(cè)向類似，與三側(cè)向類似，三、雙側(cè)向測井三、雙側(cè)向測井 三側(cè)向測井的深度不夠深，其測量結(jié)果受井三側(cè)向測井的深度不夠深，其測量結(jié)果受井眼及泥漿侵入的影響較大，但分辨高（主電流層眼及泥漿侵入的影響較大，但分

25、辨高（主電流層?。疑?、淺三側(cè)向的主電流層厚度基本相同，?。疑?、淺三側(cè)向的主電流層厚度基本相同，有利于對比分析。（深淺之間的比較分析油氣水有利于對比分析。（深淺之間的比較分析油氣水層）。層）。 七側(cè)向測井的探測深度略有增大，但還不夠七側(cè)向測井的探測深度略有增大，但還不夠深，而且深、淺七側(cè)向的電流層厚度不同深，而且深、淺七側(cè)向的電流層厚度不同,不利于不利于對比分析。對比分析。 改進(jìn)思路：改進(jìn)思路： 加大探測深度，減小井眼及泥漿侵入的影響。加大探測深度，減小井眼及泥漿侵入的影響。使深淺探測的主電流層厚度相同，且受圍巖和影使深淺探測的主電流層厚度相同，且受圍巖和影響小。響小。 三、雙側(cè)向測井三

26、、雙側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 電極的結(jié)構(gòu)及電流分布：電極的結(jié)構(gòu)及電流分布： 電極的數(shù)目：電極的數(shù)目：9個個 電極的形狀電極的形狀: Ao、A1、A1為環(huán)狀；為環(huán)狀； A2、A2為柱。為柱。 三、雙側(cè)向測井三、雙側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 電極的極性：電極的極性： 深側(cè)向：深側(cè)向： A2與與A1的極性相同；的極性相同； 淺側(cè)向：淺側(cè)向： A2與與A1的極性相反。的極性相反。 因此，深側(cè)向的探測深因此，深側(cè)向的探測深度較深七側(cè)向的還大。而度較深七側(cè)向的還大。而淺側(cè)向的探測深度與淺七淺側(cè)向的探測深度與淺七側(cè)向的差不多。側(cè)向的差不多。 三、雙側(cè)向測井三、雙側(cè)向測井1 1、測量原理、測量原理 深、淺側(cè)向的電極的大小、深、淺側(cè)向的電極的大小、形狀、位置完全相同。所形狀、位置完全相同。所以主電流層的厚度完全相以主電流層的厚度完全相同同 ，有利于對比。，有利于對比。 主電流層