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文檔簡介

1、s1.2.3.4.5.6.7.8.9.10.11.12.13.14.15.16.17.18.19.20.21.22.23.24.25.PC培訓考試部門:姓名:分數(shù):填空題:(每空0.5分,共25分)SPC是英文Statistical Process Control的前綴簡稱,即一統(tǒng)計過程控制_ ,也稱為統(tǒng)計制程管制。CL表示 管制屮心限;UCL表示 上控制界限.;LCL表示 下控制界限oCa表示 準確度;Cp表示 精密度;CPK表示制程能力 oPPM是指制程中所產(chǎn)生之 百萬分之不良數(shù)DPM是指制程中所產(chǎn)生之_百萬分之缺點數(shù)_。? Defect Per Million pcs賣出的產(chǎn)品中發(fā)生故障

2、的百萬分比品管七大手法分別是 查檢表、柏拉圖、特性要因圖、散布圖、管制圖、直方圖、層別法o實施SPC能夠幫助企業(yè)在質(zhì)量控制上真正作到事前預防和控制??刂茍D的基本類型按數(shù)據(jù)類型分為計量值控制圖 和計數(shù)值控制圖o直方圖是以一組無間隔的直條圖表現(xiàn)頻數(shù)分布特征的統(tǒng)計圖,能夠直觀地顯示出數(shù)據(jù)的分布情況。如過程歷史數(shù)據(jù)計算的AVERAGE/, vr =0.2,過程目標值=5.1,貝U LCL是辿,CL是曲,UCL是 5.6。使用控制圖,對數(shù)據(jù)進行分組的基本原則是組內(nèi)變異小、組間變異大o一般企業(yè)的瑕疵率大約是 3到4個西格瑪,以4西格瑪而言,相當于每一百萬個機會里,有6210次誤差。如果企業(yè)不斷追求品質(zhì)改進

3、,達到_6_西格瑪?shù)某潭?,績效就幾近于完美地達成顧客要求,在一百萬個機會里,只找得出 3.4個瑕疵。計算CP,CPK時數(shù)據(jù)量不得少于25組。影響過程的主要因素有、機、料、迭、坯、測。對于普通原因的波動通常需要采取系統(tǒng)措施。日常工作中,將XBar控制圖與R控制圖聯(lián)合使用,較為方便有效。當過程處于受控狀態(tài)時,過程只受普通因素的影響,過程特性的波動具有統(tǒng)計規(guī)律性。當過程處于失控狀態(tài)時,過程受到特殊因素 的影響:波動偏離原來的規(guī)律。日常生產(chǎn)和服務中常見的波動分布有正態(tài)分布、二項分布、泊松分布o若直方圖符合正態(tài)分布,說明過程處于穩(wěn)定受控狀態(tài)。若直方圖出現(xiàn)孤島型、偏向型等非正態(tài)分布,說明過程屮有異常因素作

4、用,應杳明原因。當X-MR圖中有連續(xù)9個點落在中心線同一側(cè)時,說明過程處于失控狀態(tài)。當控制圖中有連續(xù)14點交替升降時,說明過程處于失控狀態(tài)。當控制圖屮有連續(xù)6點上升或下降時,說明過程處于失控狀態(tài)一?!?指”標準差,是用來衡量一個總數(shù)里標準誤差的統(tǒng)計單位。在“ 3原則下,控制點落在 苗3 6到卩+3之間的概率是99.73%。SPC執(zhí)行成功的最重要條件是Action ,即針對變差的特殊原因和普通原因分別采取措施。二、選擇題:侮題1分,共15分)1 將收集的測定值或數(shù)據(jù)之全距分為幾個相等區(qū)間作為橫軸,并將各區(qū)間內(nèi)之測定值所出現(xiàn)次數(shù)累積而 成的面積以條狀方式排列起來所產(chǎn)生的圖形,稱之為 _B。A:.柏

5、拉圖B:直方圖C:管制圖D:層別法2 以下哪種直方圖的形態(tài)表現(xiàn)為缺齒形B3. 以下兒種原因,哪種不屬于普通原因D oA:原料之微小變異B:機械之微小振動 C:儀器測定時不十分精確之作法D:新手之作業(yè)員4 生產(chǎn)部生產(chǎn)某一產(chǎn)品時,用快速檢測夾具檢測高度和同軸度,應該使用(B)控制圖A. Xbar-R chart B. np chart C. c chart D. Xbar-s chart不變的樣本?5漏焊、未焊滿、氣孔、焊渣等指的是( B )A.不良B.缺陷C.產(chǎn)品D. OQA reject6檢驗員每小時用高度儀檢測軸的高度后,所收集的數(shù)據(jù)應該用(A)控制圖。?A. Xbar-R chart B.

6、 np chart C. u chart D. Xbar-s chart7以下哪個選項不屬于過程的重要輸入(C )A.自動粘和機B.凈化室C.控制圖D.操作工8. ( a )負責組織對產(chǎn)品不良及過程不良進行原因分析,并制訂對策,相關(guān)部門配合執(zhí)行對策,(a)對對策執(zhí)行情況進行監(jiān)督。a.質(zhì)檢部b.生產(chǎn)部c.技術(shù)部d.采購部e.市場部9. 初始能力研究時:樣本大小一般至少為(c) 個數(shù)據(jù)以上。a.30b.50c.100d.125e.8010. 過程能力研究時:每(a)小時抽取(e)件,每班填寫一張能力測算表單。a.1b.2c.3d.4e.511. 以下過程能力要求中,(ad)符合客戶要求。a. PP

7、K > 1.67 b. 1.33< PPKC 1.67 c. PPK v 1.33 d. CPK > 1.33 e. CPK v 1.3312. 在汽車行業(yè)中,不屬正態(tài)分配之數(shù)據(jù),可依顧客之需求,采用(a)法。aPPM值b.合格率c.柏拉圖d.直方圖13. 對過程能力進行持續(xù)不斷地改善,具體可以系統(tǒng)性從以下(ab)方面入手。a)調(diào)整過程加工Z分布屮心,減少偏移量。b)提高過程作業(yè)水平,減少分散程度。c)修正上下控制限范圍。(b )予以注明。14. 當客戶有要求較高或較低之過程能力時,應在相應的a.FMEA b.控制計劃c.作業(yè)指導書d.特殊特性清單15. ( a )負責進行過

8、程能力統(tǒng)計以及數(shù)據(jù)分析。a.質(zhì)檢部b.生產(chǎn)部c.技術(shù)部d.采購部e.市場部三、判斷題(對",錯X;每題1分,共15分)1. (X)做初始能力研究時,Cp大于1.33,這臺機器能力可以接受了。?2. ( X)只有超出USL和LSL才需要采取措施。3. ( X)沒有超出控制界限的點,過程能力是可接受的。4. ( X)特殊特性的選擇應由企業(yè)按產(chǎn)品/過程屮特性的重要程度來制定,并沒有絕對的正確與否。5. ( X)在繪制控制圖時,不管采取何種方法,均應注意控制圖應能顯示過程受控,否則不能計算過程 能力。?6. ( X) P圖控制法適用于對所有的計數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計過程控制。7. () 1924年,

9、美國的品管大師休哈特博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3控制圖。即:一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng) 驗所分析的 過程能力的控制界限比較,而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進行控制,為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎。& (X)因為X(bar)-R圖最為精確和敏感,較其它方法優(yōu)勢更強,因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。9. ()特殊原因都是惡性的,都應該進行剔除。10. ( X)當過程能力較高時,為降低成本,采取方法使之降低。11. ()當過程能力不足時,為提高過程能力,應進一步減小普通原因和特殊原因造成的

10、變差。12. ( X) Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析, Cpk用于批 產(chǎn)前對過程能力的分析。13. ()正確使用統(tǒng)計技術(shù),能達到早期預防或及時提出矯正措施并得以及時改善的目的。14. (X)控制計劃規(guī)定的特殊特性都應做統(tǒng)計過程控制一 SPC15. ()重要過程事件(如工具變更,機器修理等)須摘記于相應之XR控制圖及/或直方圖上。四、名詞解釋(每題3分,共30分)1、變差:過程的單個輸出之間不可避免的差別;變差的原因可分為兩類:普通原因和特殊原因。固有變差:僅由普通原因造成的過程變差,由 ? =R/d2來估計??傋儾睿河善胀ㄔ蚝吞厥庠蚬餐斐傻淖儾?,用 ? s來估計。2、特殊特性:可能

11、影響安全性或法規(guī)的符合性、配合、功能、性能或產(chǎn)品后續(xù)生產(chǎn)過程的產(chǎn)品特性或制造過程參數(shù)3、控制限:控制圖上的一條線(或幾條線),作為制定一個過程是否穩(wěn)定的基礎。如有超出了控制極限變差存在,則證明過程受特 殊因素的影響??刂葡奘峭ㄟ^過程數(shù)據(jù)計算岀來的,不要與工程的技術(shù)規(guī)范相混淆。4.過程:14.當客戶有要求較高或較低之過程能力時,應在相應的(b )予以注明。一組將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或相互作用的活動。過程是向過程的顧客(內(nèi)部的和外部的)提供產(chǎn)品或服務的增值活動鏈。注:A)個過程的輸入通常是其它過程的輸出。B)組織為了增值通常對過程進行策劃并使其在受控條件下運行。C)過程的資源通常包括:人員、資

12、金、設施、設備、材料、技術(shù)和方法。5、過程能力:一個穩(wěn)定過程的固有變差(6? : R/d2 )的總范圍。6、Cpk (穩(wěn)定過程的能力指數(shù)):為一穩(wěn)定過程【某一天、某一班次、某一批、某一機臺其組內(nèi)的變差(Rbar/d2 or Sbar / C4 )】短期下的“能力指數(shù)”,計算時須同時考慮過程數(shù)的趨勢及該趨勢接近于規(guī)格界限的程度。即: 通常定義為CPU或CPL屮的最小值。7、Ppk (性能指數(shù),即初期過程的性能指數(shù)):為試生產(chǎn)階段一項類似于Cpk的能力指數(shù),某一產(chǎn)品長期監(jiān)控下的“能力指數(shù)”;但本項指數(shù)的計算,是以新產(chǎn)品 的初期過程性能研究所得的數(shù)據(jù)為基礎。即:通常定義為PPU或PPL+的最小值。8

13、、PPM (質(zhì)量水準,即每百萬零件不合格數(shù)):指一種根據(jù)實際的有缺陷材料來反映過程能力的一種方法。PPM數(shù)據(jù)常用來優(yōu)先制定糾正措施。9、Xbar, R c (需列出計算公式):Xbay:均值(一般指子組均值);R:極差,R MaxXiMinXi(T:標準差,(Xj X)10、正態(tài)分布:呈以標稱值為屮心、左右對稱的倒鐘形分布。一般地說,計量值質(zhì)量特性,如尺寸、重量、強度、溫度、時間等,都有相似的分布狀態(tài):正態(tài)分布五、問答題(每題5分,共15分)1、控制圖應用在什么條件下可以由分析階段轉(zhuǎn)入控制階段?答:控制圖應用由分析階段轉(zhuǎn)入控制階段應滿足的條件: 、控制圖是受控的; 、過程能力能夠滿足生產(chǎn)要求。2、什么時候應該重新計算控制圖的控制界限?答:、控制圖是根據(jù)穩(wěn)定狀態(tài)下的條件(人員、設備、原材料、工藝方法、測量系統(tǒng)、環(huán)境)來制定的。如果上述條件變化,則必須重新制定控制圖; 、一定時間后檢驗控制圖還是否適用; 、過程能力值有大的變化時。3、請分別寫出常用的三種計量型控制圖和計數(shù)型控制圖的簡稱、符號及主要用途和特點。答:答:常用的五種計量型控制圖的簡稱為:、平均數(shù)與極差控制圖

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