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1、項(xiàng)目編號(hào)_ 1004080_大學(xué)生創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃結(jié)題驗(yàn)收材料項(xiàng)目名稱 金屬構(gòu)件脈沖渦流無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)項(xiàng)目負(fù)責(zé)人王地龍所學(xué)專業(yè)機(jī)械自動(dòng)化所在學(xué)院機(jī)械工程學(xué)院電話(手機(jī)子信箱541634926項(xiàng)目起止年月2010 年 10 月 到 2011年 9 月第一指導(dǎo)教師張洪專業(yè)技術(shù)職務(wù)副教授電話(手機(jī)子信箱1105399774結(jié)題日期2011年 9 月江 南 大 學(xué) 教 務(wù) 處 制目 錄1大學(xué)生創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃項(xiàng)目結(jié)題驗(yàn)收表。. .。.。12大學(xué)生創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃項(xiàng)目成果精粹.。. 。.。.。43大學(xué)生創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃項(xiàng)目成果佐證材料.。 。.。.20江南大學(xué)大學(xué)生
2、創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃項(xiàng)目結(jié)題驗(yàn)收表學(xué)院名稱: 機(jī)械工程學(xué)院 填寫(xiě)日期: 2011 年 8 月項(xiàng)目名稱金屬構(gòu)件脈沖渦流無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)項(xiàng)目編號(hào)20101505項(xiàng)目組成員姓名學(xué)號(hào)承擔(dān)工作量()本人簽字備注負(fù)責(zé)人王地龍040108041925成員1閻路偉040108031925成員2王夏萍040108020325成員3施勇040108041625指導(dǎo)教師姓名年齡職稱聯(lián)系電話(手機(jī))指導(dǎo)教師1張洪44副教導(dǎo)教師2周德強(qiáng)30講、 研究成果簡(jiǎn)介脈沖渦流無(wú)損檢測(cè)是一種最具發(fā)展前景的無(wú)損檢測(cè)新技術(shù),由于脈沖含有很寬的頻譜,感應(yīng)的電壓信號(hào)含有豐富的材質(zhì)信息。本項(xiàng)目采用
3、有限元仿真軟件對(duì)脈沖渦流探頭進(jìn)行有限元仿真,提出一種新型的脈沖渦流傳感器;通過(guò)對(duì)金屬構(gòu)件缺陷的實(shí)際檢測(cè),驗(yàn)證所提出的新式傳感器的有效性。二、 成果特色及創(chuàng)新點(diǎn):(1)探索出一種新型的脈沖渦流差分結(jié)構(gòu)的探頭,以克服現(xiàn)有脈沖渦流探頭必須存儲(chǔ)參考樣本信號(hào)的不足。(2)提出一種新的信號(hào)特征提取技術(shù),能夠檢測(cè)出金屬構(gòu)件內(nèi)部深層隱藏的缺陷;(3)采用傳感器陣列技術(shù),達(dá)到對(duì)金屬構(gòu)件缺陷的可視化成像。三、成果形式及數(shù)量:文獻(xiàn)綜述 1 份; 專利 1 個(gè);調(diào)研報(bào)告 份; 軟件 件;設(shè)計(jì)作品 份; 圖紙 套;實(shí)驗(yàn)記錄 1 份; 論文 1 篇;制作實(shí)物 1 件: 課件 件;心得體會(huì) 1 份; 其它 。四、指導(dǎo)教師意
4、見(jiàn): 簽名: 年 月 日五、驗(yàn)收專家組意見(jiàn):1、專家組意見(jiàn):2、專家組建議: 推薦參加競(jìng)賽; 推薦省級(jí)創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃項(xiàng)目 推薦國(guó)家級(jí)創(chuàng)新性實(shí)驗(yàn)計(jì)劃項(xiàng)目 希望進(jìn)一步產(chǎn)品化; 申請(qǐng)專利; 發(fā)表論文; 推薦參加成果展示專家組成員簽字:年 月 日六、學(xué)院意見(jiàn):驗(yàn)收結(jié)論:通過(guò) 不通 負(fù)責(zé)人簽字: 學(xué)院蓋章 年 月 日七、學(xué)校意見(jiàn): 負(fù)責(zé)人(簽名): 蓋章: 年 月 日大學(xué)生創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃金屬構(gòu)件脈沖渦流無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)成 果 精 粹江 南 大 學(xué)二一一年八月(須有3000字左右,可另附頁(yè))項(xiàng)目完成的主要內(nèi)容1 基于COMSOL仿真實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)1.1 創(chuàng)建仿真模型從理論上說(shuō),建立三維渦流場(chǎng)的一般分析模型,并對(duì)其
5、進(jìn)行求解是完全可行的,但具體實(shí)現(xiàn)起來(lái)卻比較復(fù)雜而被測(cè)體與檢測(cè)線圈上電壓的對(duì)應(yīng)關(guān)系與被測(cè)體的表面形狀關(guān)系不大,所以可將模型簡(jiǎn)化為線圈正對(duì)一足夠大的圓盤(pán)狀導(dǎo)體來(lái)進(jìn)行分析.通過(guò)改變模型的物理場(chǎng)參數(shù),比如電導(dǎo)率、磁場(chǎng)強(qiáng)度等來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)各個(gè)缺陷的仿真模擬。其仿真模型如下圖1。1所示。線圈試塊霍爾元件H圖1。1 仿真模型1。2 設(shè)定仿真參數(shù)根據(jù)脈沖渦流檢測(cè)技術(shù)的理論研究,脈沖渦流無(wú)損檢測(cè)的實(shí)質(zhì)就是根據(jù)霍爾傳感器上檢測(cè)到的電壓信號(hào)來(lái)表達(dá)缺陷的信息,建立仿真模型的目的是為了得到出霍爾傳感器上檢測(cè)到的電壓與試件的缺陷尺寸之間的關(guān)系,從理論上就可以實(shí)現(xiàn)脈沖渦流無(wú)損檢測(cè),從而在其他條件都不變的情況下,只改變?cè)嚰毕莸某?/p>
6、寸.仿真中所用到的具體參數(shù)表1。1所示。表1。1 仿真模型參數(shù)參數(shù)參數(shù)值參數(shù)參數(shù)值線圈內(nèi)徑/(mm)10線圈外徑/(mm)20傳感器長(zhǎng)寬/(mm)33相對(duì)磁導(dǎo)率1金屬電導(dǎo)率(cond)17。5e7(1+c)缺陷尺寸/ mm081.3 創(chuàng)建基本模型、設(shè)定邊界條件打開(kāi)COMSOL,根據(jù)表1。1設(shè)定的仿真參數(shù)繪制圖形,在這里以缺陷尺寸為2mm為例進(jìn)行仿真圖形的繪制,如圖1.2所示.圖1。2 仿真模型的尺寸示意圖對(duì)有限元計(jì)算,歸結(jié)為一句話就是解微分方程。而解方程要有定解,就一定要引入條件, 這些附加條件稱為定解條件。其中邊界條件就為定解條件的一種。所以說(shuō)尤為重要。對(duì)于本模型的邊界條件,如圖2.3所示,
7、數(shù)字1、3、5表示軸對(duì)稱,2、7、15表示磁絕緣,4、6、8、9、14表示試塊,10、11、12、13表示探頭.圖1。3 邊界設(shè)定示意圖1.4 網(wǎng)格化與求解接下來(lái)就要對(duì)之前繪制的圖形進(jìn)行進(jìn)一步處理。首先要設(shè)置求解器參數(shù)如圖1。4所示。圖1.4 求解器參數(shù)設(shè)置時(shí)間設(shè)置中,網(wǎng)格點(diǎn)的個(gè)數(shù)越多,則計(jì)算更準(zhǔn)確,鑒于計(jì)算機(jī)的性能原因,將網(wǎng)格點(diǎn)數(shù)設(shè)置為30000點(diǎn)進(jìn)行求解.初始化網(wǎng)格,如圖1.5所示;圖1。6為細(xì)化網(wǎng)格。圖1。5初始化網(wǎng)格圖1.6 細(xì)化網(wǎng)格然后進(jìn)行求解,求解結(jié)果如圖1。7所示。圖1。7 求解結(jié)果后處理階段。求解剖面參數(shù),得到磁通密度與時(shí)間的關(guān)系如圖1.8所示。圖1。8 剖面圖參數(shù)(T/t曲線
8、)1.6 運(yùn)用Matlab分析處理仿真數(shù)據(jù)把有限元仿真數(shù)據(jù)在Matlab軟件中進(jìn)行處理,并通過(guò)最小二乘法對(duì)其進(jìn)行擬合,可分別得到試件缺陷尺寸、霍爾傳感器峰值電壓關(guān)系圖和相應(yīng)的擬合曲線,將之前通過(guò)COMSOL仿真得到的剖面圖參數(shù)所輸出的數(shù)據(jù)(缺陷尺寸為2mm、4mm、6mm時(shí)的數(shù)據(jù))通過(guò)Matlab中的plot函數(shù)進(jìn)行分析,得到圖1.9所示關(guān)系圖。圖1.9 不同缺陷尺寸的磁通密度與時(shí)間的關(guān)系圖通過(guò)上圖可以看出,檢測(cè)線圈的磁通量隨著缺陷尺寸的增大而增大,因此可以對(duì)仿真數(shù)據(jù)做提取特征值處理(這里提取的是信號(hào)的最大值,即檢測(cè)探頭的峰值電壓),采用指數(shù)擬合的方式得到檢測(cè)探頭的峰值電壓與仿真缺陷尺寸的關(guān)系
9、如圖1。10所示.圖1.10 仿真數(shù)據(jù)擬合曲線2 檢測(cè)探頭的設(shè)計(jì)探頭的設(shè)計(jì)主要是包括霍爾元件的選擇以及線圈的繞制。探頭結(jié)構(gòu)示意圖如圖21所示?;趯W(xué)??陀^條件以及對(duì)學(xué)生動(dòng)手能力的培養(yǎng),對(duì)于霍爾元件的選擇在滿足工作要求的同時(shí)更加注重了其成本,而線圈則是利用學(xué)校的儀器繞制的。圖21 探頭實(shí)物圖2.1 霍爾元件的選擇霍爾傳感器選擇的是SS495A型霍爾元件,這種霍爾元件有助于提供穩(wěn)定的輸出;其內(nèi)部含有激光修正的薄膜電阻,可以提供精確的靈敏度和溫度補(bǔ)償?shù)膬?yōu)勢(shì).其引腳屬性如圖2。3所示.圖2.3 SS495A型霍爾傳感器引腳示意圖2。2 線圈的繞制線圈骨架選擇的是直徑為16mm、內(nèi)徑為10mm、厚度為3
10、mm的軟磁鐵氧體磁環(huán).鐵氧體是一種具有鐵磁性的金屬氧化物,具有易磁化易退磁、抗干擾的特點(diǎn).激勵(lì)線圈是用直徑0.3mm的漆包線繞成的空心線圈,內(nèi)徑10mm、外徑16mm、高度方向繞25圈,徑向繞20圈,總匝數(shù)為500匝。線圈繞制完成之后,用黑色膠袋包裹,再將霍爾SS495A固定與線圈的內(nèi)環(huán)之內(nèi),探頭便制作成了。2.3差分探頭的設(shè)計(jì) 如上面探頭的設(shè)計(jì),繞制兩個(gè)完全相同線圈,選用相同的霍爾傳感器制作兩個(gè)完全相同的探頭。再把這些探頭用黑色膠帶包裹在一起,就可以成為一組差分探頭,它的工作原理就是兩個(gè)探頭探測(cè)的位置不一樣,而導(dǎo)致得到兩個(gè)信號(hào),然后對(duì)這兩個(gè)信號(hào)差分,可以消除一些多余的干擾,而且還克服目前探頭
11、檢測(cè)需要參考樣本的缺陷.3 硬件電路設(shè)計(jì)3.1檢測(cè)功率放大電路在脈沖渦流的磁場(chǎng)中,激勵(lì)線圈所提供的磁感應(yīng)強(qiáng)度不符合該實(shí)驗(yàn)的強(qiáng)度要求,因此需對(duì)激勵(lì)信號(hào)進(jìn)行功率放大,以此來(lái)增強(qiáng)渦流磁場(chǎng)的磁感應(yīng)強(qiáng)度B。在該實(shí)驗(yàn)中,功率放大電路如圖3.1所示。圖3.1 功率放大器3.2 檢測(cè)信號(hào)放大電路由于實(shí)驗(yàn)所得的檢測(cè)信號(hào)是比較微弱的電壓信號(hào),這個(gè)微小的信號(hào)不適合數(shù)據(jù)采集卡的輸入范圍,所以需要對(duì)該信號(hào)進(jìn)行放大處理,以提高采樣信號(hào)的信噪比,然后進(jìn)行采集。該實(shí)驗(yàn)中信號(hào)放大器的核心芯片選用的是INA129儀用放大器。設(shè)計(jì)的信號(hào)放大電路如圖3.2所示。 圖3。2信號(hào)放大器此上模塊的設(shè)計(jì)完后,隨后焊接電路,再將電路元件和探頭
12、整合為一個(gè)整體,以增強(qiáng)整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性,如圖3.3所示。圖3.3 放大電路實(shí)物圖3.3試塊的設(shè)計(jì)金屬試件是一塊幾何尺寸為300mm´100mm´10mm(長(zhǎng)´寬´厚)的鋁板,在其上設(shè)計(jì)缺陷,缺陷尺寸分別為2mm´2mm、2mm´4mm、2mm´6mm、2mm´8mm。實(shí)驗(yàn)時(shí)依次移動(dòng)檢測(cè)探頭放置于缺陷處,從而可以得到感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)與缺陷尺寸的關(guān)系曲線,圖3。4為試塊的示意圖。圖3。4 試塊示意圖圖 3。5 試塊實(shí)物圖4 數(shù)據(jù)采集與處理 根據(jù)項(xiàng)目要求,需要對(duì)電壓信號(hào)進(jìn)行采集。選擇NIPXI-6259信號(hào)采集卡比較適合。創(chuàng)建
13、新的任務(wù)(Create Task)并選擇電壓信號(hào)作為對(duì)象,即可實(shí)現(xiàn)對(duì)電壓信號(hào)的采集.4。1 Labview程序設(shè)計(jì)經(jīng)過(guò)初步的編程和窗口設(shè)計(jì),得到如下圖圖4.41所示工作界面,為較為清晰的表達(dá)該界面,所用界面為缺陷為8mm時(shí)的窗口。圖4.41 Labview工作界面上圖中的兩個(gè)窗口分別顯示濾波前的信號(hào)和濾波后的信號(hào).綠色的指示燈用來(lái)顯示一次采集的完成。Timeout為時(shí)間延遲.試驗(yàn)中設(shè)置為2s,樣本點(diǎn)為1000,采樣周期10個(gè),采樣頻率為50000Hz。程序設(shè)計(jì)面板如圖4。2所示。圖4。2 Labview程序面板4。2 試驗(yàn)過(guò)程4。2。1 試驗(yàn)步驟1)將檢測(cè)探頭放在基準(zhǔn)面上(無(wú)缺陷處),進(jìn)行數(shù)據(jù)
14、采集,所獲得的響應(yīng)信號(hào)作為基準(zhǔn)信號(hào),采集的信號(hào)如圖4。3。圖4。3 無(wú)缺陷時(shí)的采集波形圖2)將測(cè)量裝置放在試塊上,進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,檢測(cè)無(wú)缺陷狀態(tài)下線圈所獲得的響應(yīng)信號(hào),并將其作為被測(cè)試件的基準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào);3)將探頭依次置于試件不同尺寸缺陷處,進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,獲得各個(gè)缺陷尺寸下的被測(cè)試件的響應(yīng)信號(hào);4)對(duì)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)獲得的數(shù)據(jù)運(yùn)用MATLAB軟件進(jìn)行相應(yīng)的分析處理.4.3 數(shù)據(jù)處理4.3。1 濾波通過(guò)濾波之后,檢測(cè)信號(hào)得到明顯的改變,下圖4。5所示為濾波前后的對(duì)比示意圖。圖4。5 濾波前后波形示意圖4。3.2 檢測(cè)信號(hào)的平均處理由于渦流檢測(cè)的靈敏度很高,渦流信號(hào)對(duì)外界環(huán)境變化的反應(yīng)也就特別靈敏,為了消
15、除噪聲的影響,對(duì)輸出電壓信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)首先對(duì)信號(hào)求平均值.也就是求連續(xù)等時(shí)間間隔記錄的電壓信號(hào)的平均,再將該平均信號(hào)作為最終的輸出電壓信號(hào)記錄下來(lái).如圖4。6所示,為脈沖渦流響應(yīng)信號(hào)的一部分,可以看出,經(jīng)過(guò)平均后,信號(hào)去噪效果有了較大的改變.圖4.6平均處理后的檢測(cè)信號(hào)4。3.3 特征值的提取通過(guò)特征值的提取,可以得到各個(gè)缺陷處的峰值電壓與缺陷尺寸的關(guān)系。圖4.7所示為峰值電壓與缺陷尺寸的關(guān)系的擬合曲線。圖4。7峰值電壓與缺陷尺寸的關(guān)系圖運(yùn)用cftool工具,對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行指數(shù)擬合,其函數(shù)信息為:General model Exp2:f(x) = aexp(bx) + cexp(dx)Coef
16、ficients (with 95 confidence bounds):a = 0。9259 (0。6477, 1。204)b = 0。05007 (0。005106, 0.09504)c = -0。9259 (-1。235, 0。6164)d = 1.302 (-3.16, 0.5564)Goodness of fit:SSE: 0.0001162R-square: 0。9999Adjusted R-square: 0。9996RMSE: 0。01078得擬合方程為: (4。4)4.3。4 誤差分析對(duì)擬合前后的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行誤差分析,得分析結(jié)果如表4。1。表4.1 曲線擬合誤差分析缺陷尺寸擬
17、合前數(shù)據(jù)擬合后數(shù)據(jù)相對(duì)誤差絕對(duì)誤差2mm1。11071。1193-0.00860.77%4mm1.17231.16490。00740.946mm1.21341。2316-0.01821.508mm1.24131。24770。00640。52從表中可知:絕對(duì)誤差大都小于1%,誤差基本在允許的范圍之內(nèi),所以本次實(shí)驗(yàn)所得數(shù)據(jù)是比較理想的。4.3。5 仿真數(shù)據(jù)與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的比較 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與仿真數(shù)據(jù)的誤差分析如表4。2所示。表4。2 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與仿真數(shù)據(jù)的誤差分析缺陷尺寸仿真數(shù)據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)相對(duì)誤差絕對(duì)誤差2mm1.07031.13930.06906.14mm1.10961。16490.05534。7%6mm1
18、.23271。13160.10118。9%8mm1。29841。2413-0.05714。6 由上述分析可以得出以下結(jié)論: 1)對(duì)于同一試塊,仿真與實(shí)驗(yàn)得出的峰值電壓數(shù)值均隨著缺陷尺寸的增加而變大. 2)有的數(shù)組誤差還比較大,說(shuō)明脈沖渦流檢測(cè)系統(tǒng)還有進(jìn)一步改進(jìn)的地方,比如可以采用峰值電壓補(bǔ)償技術(shù)。 3)對(duì)于實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與仿真的絕對(duì)誤差基本上在正常范圍之內(nèi),說(shuō)明仿真與實(shí)驗(yàn)的峰值與缺陷尺寸的對(duì)應(yīng)關(guān)系基本上是沒(méi)有變化的;這在另一方面也證實(shí)了脈沖渦流檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案的有限元仿真分析與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的一致性,也說(shuō)明了脈沖渦流在實(shí)際生產(chǎn)中可行性.項(xiàng)目未完成內(nèi)容傳感器陣列檢測(cè)實(shí)現(xiàn)缺陷的成像未完成原因1. 因?yàn)閭€(gè)人的
19、基礎(chǔ)知識(shí)薄弱,對(duì)相關(guān)的研究無(wú)法深入進(jìn)行,要想完全理解并掌握這些知識(shí),一年時(shí)間是不夠的,而且大三的課程占用了絕大部分時(shí)間。2. 由于項(xiàng)目需要投入大量時(shí)間和精力,我們組里有三個(gè)成員在忙于復(fù)習(xí)考研,無(wú)法抽出時(shí)間來(lái)繼續(xù)完成該項(xiàng)目.大學(xué)生創(chuàng)新訓(xùn)練計(jì)劃金屬構(gòu)件脈沖渦流無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)項(xiàng)目成果佐證材料一、探頭的設(shè)計(jì)二、硬件電路的設(shè)計(jì)三、信號(hào)采集及處理四、發(fā)明專利一份五、發(fā)表論文一篇江 南 大 學(xué)二一一 年 八 月一 探頭的設(shè)計(jì)差分探頭實(shí)物圖探頭實(shí)物圖 二 硬件電路設(shè)計(jì)在脈沖渦流的磁場(chǎng)中,激勵(lì)線圈所提供的磁感應(yīng)強(qiáng)度不符合該實(shí)驗(yàn)的強(qiáng)度要求,因此需對(duì)激勵(lì)信號(hào)進(jìn)行功率放大,以此來(lái)增強(qiáng)渦流磁場(chǎng)的磁感應(yīng)強(qiáng)度B。在該實(shí)驗(yàn)
20、中,功率放大電路如圖所示。 功率放大器圖由于實(shí)驗(yàn)所得的檢測(cè)信號(hào)是比較微弱的電壓信號(hào),這個(gè)微小的信號(hào)不適合數(shù)據(jù)采集卡的輸入范圍,所以需要對(duì)該信號(hào)進(jìn)行放大處理,以提高采樣信號(hào)的信噪比,然后進(jìn)行采集.該實(shí)驗(yàn)中信號(hào)放大器的核心芯片選用的是INA129儀用放大器。設(shè)計(jì)的信號(hào)放大電路如圖所示。 信號(hào)放大器圖將兩個(gè)放大電路圖焊接成一個(gè)整體,再將電路元件和探頭整合為一個(gè)整體,以增強(qiáng)整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性,如圖所示。 放大電路實(shí)物圖實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)圖三 信號(hào)采集及處理無(wú)缺陷時(shí)的采集波形圖濾波前后波形示意圖平均處理后的檢測(cè)信號(hào)峰值電壓與缺陷尺寸的關(guān)系圖 四 發(fā)明專利 申請(qǐng)?zhí)枺?01110069252.6 發(fā)明專利名稱:脈沖漏磁缺陷與應(yīng)力的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及無(wú)損檢測(cè)方法。五 發(fā)表論文 發(fā)表在儀器儀表學(xué)報(bào)的基于頻譜分析的脈沖渦流缺陷檢測(cè)研究心得體會(huì) 通過(guò)一年左右的時(shí)間來(lái)完成的這項(xiàng)創(chuàng)新項(xiàng)目。對(duì)我們四個(gè)人來(lái)說(shuō),可謂意義非凡.當(dāng)初當(dāng)我們絞盡腦汁想不出一個(gè)好的項(xiàng)目時(shí)。周老師就毫無(wú)保留的把自己正在研究的課題拿給我們來(lái)做。當(dāng)我們自己看到這個(gè)題目金屬構(gòu)件脈沖渦流無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì),感覺(jué)一頭霧水.這跟我們學(xué)的知識(shí)相關(guān)嗎?做這個(gè)需要哪些知識(shí)呢?我們能夠順利完成嗎?一系列疑問(wèn)經(jīng)常會(huì)在我們之間出現(xiàn)。可是當(dāng)我們一點(diǎn)點(diǎn)深入,一點(diǎn)點(diǎn)搞點(diǎn)以前
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