NBT47013.2_講課版

1、12345678附錄A（規(guī)性附錄）工膽寸線膠片系統(tǒng)的特性指標(biāo)附錄B （資料性附錄） 附錄C（資料性附錄） 附錄D （資料性附錄） 附錄E（資料性附錄）- II-1-1-126192427293031333845464748525355前言圍規(guī)性引用文件術(shù)語(yǔ)和定義一般要求檢測(cè)工藝及其選擇承壓設(shè)備熔化焊焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)和質(zhì)量分級(jí)承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定 檢測(cè)記錄和報(bào)告黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）定期核查方法 暗室安全照明時(shí)間確定 典型透照方式小意圖 環(huán)向?qū)雍缚p透照次數(shù)確定方法附錄F （規(guī)性附錄）焦點(diǎn)尺寸計(jì)算方法附錄G （規(guī)性附錄）幾何不清晰度（Ug ）計(jì)

2、算方法附錄H（姿料性附錄）濾光板附錄I （規(guī)性附錄）定位標(biāo)記的放置原則附錄J （資料性附錄）底片硫代硫酸鹽離子濃度測(cè)量方法 附錄K（規(guī)性附錄）對(duì)比試塊的型式和規(guī)格附錄L （資料性附錄）管子-管板角焊縫射線照相技術(shù)要求本標(biāo)準(zhǔn)NB/T 47013 ( JB/T4730 )承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)分為13個(gè)部分： 第1部分：通用要求； 第2部分：射線檢測(cè)； 第3部分：超聲檢測(cè)； 第4部分：磁粉檢測(cè)； 第5部分：滲透檢測(cè)； 第6部分：渦流檢測(cè)； 第7部分：目視檢測(cè)； 第8部分：泄漏檢測(cè)； 第9部分：聲發(fā)射檢測(cè)； 第10部分：衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)； 第11部分：X射線數(shù)字成像檢測(cè)； 第12部分：漏磁檢測(cè)； 第13

3、部分：脈沖渦流檢測(cè)。本部分為NB/T 47013 ( JB. T 4730 )的第2部分：射線檢測(cè)。本部分按GB/T 1.12009標(biāo)準(zhǔn)化工 作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫給出的規(guī)則起草。本部分代替JB/T 4730.22005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第2部分：射線檢測(cè)中的容，與JB/T 4730.2 2005相比，主要技術(shù)變化如下：擴(kuò)大了標(biāo)準(zhǔn)的適用圍，增加插入式管座角接接頭對(duì)接焊縫、安放式管座角接接頭對(duì)接焊縫和 管子-子板角焊縫的x射線及y射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)要求，并取消了鋼的分類； 修改和增加了部分規(guī)性引用文件； 增加了射線檢測(cè)專用術(shù)語(yǔ)和定義的容；增加Tml70和Ybl69射線源應(yīng)用的規(guī)定

4、；修改了工業(yè)射線膠片系統(tǒng)分類，將膠片分為Cl、C2、C3、C4、C5和C6六類。膠片類型的選 擇按照新的分類標(biāo)準(zhǔn)重新進(jìn)行修訂，同時(shí)補(bǔ)充了膠片灰霧度測(cè)量的相關(guān)要求；修改了黑度計(jì)核查時(shí)機(jī)的容；增加了標(biāo)準(zhǔn)空度片的黑度圍和測(cè)量點(diǎn)數(shù)目的相關(guān)規(guī)定；增加了偏心透照(F<R)時(shí)透照次數(shù)的計(jì)算公式(附錄E )；增加了增感屏質(zhì)量及使用要求、中屏材料及厚度圍、以及Tml70和Ybl69兩種y射線增感屏 材料及厚度圍，并明確了增感屏制造標(biāo)準(zhǔn)；增加了孔型像質(zhì)計(jì)應(yīng)用的容，并修訂了不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料圍及像質(zhì)計(jì)使用 和放置原則；增加了暗室安全照明時(shí)間確定的容；增加了射線檢測(cè)工藝規(guī)程容的基本要求和驗(yàn)證的相關(guān)規(guī)

5、定； 修改了特殊條件下射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)允許放寬原則; 修改了檢測(cè)時(shí)機(jī)要求，明確檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同 時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求； 增加了焊接接頭檢測(cè)區(qū)寬度圍確定的容；增加了膠片透照技術(shù)和底片觀察技術(shù)應(yīng)用的容;增加了確定管座角焊縫、橢圓形封頭和蝶形封頭小廠區(qū)的焊縫，以及其他曲率連續(xù)變化的焊縫 一次透照長(zhǎng)度的原則；增加了有效評(píng)定區(qū)搭接的技術(shù)要求；修改了結(jié)構(gòu)限制特殊情況下'徑管的透照原則；增加了安放式和插入式管座角焊縫采用源在透照方式時(shí)/龍放寬原則；增加了膠片與被檢工件之間距離的放置原則;增加了 y射線源曝光時(shí)間限值和限制使用多源曝光的規(guī)定，以及

6、球罐全景曝光像質(zhì)計(jì)擺放要 求；增加了濾光板應(yīng)用的推薦技術(shù)要求（附錄H ）；修改了定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記的放置原則；增加了膠片暗室處理試劑選用原則、膠片處理延遲時(shí)間及其底片處理質(zhì)量檢驗(yàn)的容；修改了底片質(zhì)量要求的容，增加了底片保存的容；修改了不同透照厚度應(yīng)達(dá)到的像質(zhì)計(jì)靈敏度，對(duì)應(yīng)的材料厚度圍有所擴(kuò)大，并增加了孔型像 質(zhì)計(jì)的靈敏度要求；取消了 "專用像質(zhì)計(jì)的型式和規(guī)格”的容；修改了小徑管專用對(duì)比試塊。本部分由全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 262 ）提出并歸口。本部分起草單位：中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院、省特種設(shè)備安全監(jiān)督檢驗(yàn)研究院、中廣核工程、 藍(lán)科石化高新裝備股份、電氣（）重型

7、機(jī)器、省特種設(shè)備檢測(cè)研究院、省特種設(shè)備檢驗(yàn)研究院、誠(chéng) 信達(dá)金屬檢測(cè)技術(shù)、儀表研究所有限責(zé)任公司。本部分主要起草人：強(qiáng)天鵬、功田、梁麗紅、朱從斌、軍、程怒濤、玉寶、髻壯輝、忠波、洪國(guó)。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：JB 473094、JB.T4730.22005o承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第2部分：射線檢測(cè)1.1 NB/T 47013的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備金屬熔化焊焊接接頭X射線和v射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí) 要求。1.2 本部分適用的金屬熔化焊焊接接頭的金屬包括鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎮(zhèn)及 銀合金。焊接接頭的型式包括板及管的對(duì)接接頭對(duì)接焊縫（以下簡(jiǎn)稱對(duì)接焊縫）、插入式和安放式 接管

8、角接接頭對(duì)接焊縫（以下簡(jiǎn)稱首座角焊縫）和管子一管板角焊縫。與2005版對(duì)照本部分適用于承壓設(shè)備的制造、安裝、在用檢測(cè)中對(duì)接焊接接 頭的射線檢測(cè)。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、銀及銀合金。1. 3承壓設(shè)備其他支承件和結(jié)構(gòu)件的焊接接頭的射線檢測(cè)，也可參照使用。2規(guī)性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB 11533標(biāo)準(zhǔn)對(duì)數(shù)視力表GB 18871電離輻射防護(hù)及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GBZ 117工業(yè)X射線探傷放射

9、衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GBZ 132工業(yè)y射線探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12604.2無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)射線照相檢測(cè)GB/T 19348.1無(wú)損檢測(cè)口11國(guó)寸線照相膠片 第1部分：ZD11國(guó)寸線照相膠片系統(tǒng)的分類GB/T 19348.2無(wú)損檢測(cè)ZDlkM線照相膠片 第2部分：用參考值方法控制膠片處理GB/T 19802無(wú)損檢測(cè)寸線照相觀片燈最低要求GB/T 23901.2無(wú)損檢測(cè)雄瑜瞌片獻(xiàn) 第2部分：階梯J國(guó)匐就十 獻(xiàn)朦的則淀NB/T 47013承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第1部分：通用要求5075無(wú)損檢測(cè) 射線照相檢測(cè)用金屬增感屏JB叮7902射線照相用線型像質(zhì)計(jì)4 2005版對(duì)照GB 115331989GB 163

10、571996GB 184652001GB 188712002標(biāo)準(zhǔn)對(duì)數(shù)視力表T業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)然 工業(yè)Y射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)要求 電離輜射防護(hù)與植射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB"J93弘一2003無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線照相膠片 第1部分：工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的分類GB" 19384.22003無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線照相膠片 第2部分：川參考值方法控制膠片處理HB 76842000JB/T 4730.1JBAT 79021999JB/T 79031999射線照相用線型像質(zhì)計(jì)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第1部分：通用要求線型像質(zhì)計(jì)工業(yè)射線照相底片觀片燈3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T 12604.2和NB/T 47

11、013.1界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3. 1透照厚度 penetrated thickness射線照射方向上材料的公稱厚度。多層透照時(shí)，透照厚度為通過(guò)的各層材料公稱厚度之和。 3.2工件至膠片距離 b object-to-film distance沿射線束中心測(cè)定的工件受檢部位射線源側(cè)表面與膠片之間的距離。3.3射線源至工件距離 f source-to-object distance沿射線束中心測(cè)定的射線源與工件受檢部位射線源側(cè)表面之間的距離。3.4焦距 F focal distance沿射線束中心測(cè)定的射線源與膠片之間的距離。3.5射線源尺寸d source size射線源的有效

12、焦點(diǎn)尺寸。3.6圓形缺陷round flaw長(zhǎng)寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鋁等缺陷。3.7條形缺陷stripy flaw長(zhǎng)寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鋁等缺陷。3.8透照厚度比片 ratio of max. and min. penetrated thickness一次透照長(zhǎng)度圍射線束穿過(guò)母材的最大厚度和最小厚度之比。3.9一次透照長(zhǎng)度 effective area of a single exposure符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的單次曝光有效檢測(cè)長(zhǎng)度。3. 10底片評(píng)定圍 film evaluation scope本部分規(guī)定底片上必須觀察和評(píng)定的圍。3. 11缺陷評(píng)定區(qū) defect evaluation

13、 zone在質(zhì)量分級(jí)評(píng)定時(shí)，為評(píng)價(jià)缺陷數(shù)量和密集程度而設(shè)置的一定尺寸區(qū)域，可以是正方形或長(zhǎng)方形。3. 12雙膠片透照技術(shù)double film technique暗盒裝兩膠片和三片增感屏（前、中、后屏）進(jìn)行曝光，在觀片燈上采用雙片疊加方式進(jìn)行底片觀 察的透照技術(shù)。3. 13小徑管 small diameter tube外直徑Oo小于或等于100mm的管子。4 一般要求4. 1檢測(cè)人員4.1.1 從事射線檢測(cè)的人員應(yīng)滿足NB/T 47013.1的有關(guān)規(guī)定。4.1.2 從事射線檢測(cè)的人員在上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識(shí)的培訓(xùn)，并按照有關(guān)法規(guī)的要求取得相應(yīng)證 書。4.1.3 射線檢測(cè)人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的

14、近（距）視力和遠(yuǎn)（距）視力應(yīng)不低于5.0 （小數(shù)記錄值為 1.0），測(cè)試方法應(yīng)符合GB 11533的規(guī)定。從事評(píng)片的人員應(yīng)每年檢查一次視力。4.2檢測(cè)設(shè)備和器材4.2.1 射線裝置4. 2. 1. 1可以使用兩種射線源：a ）由X射線機(jī)和加速器產(chǎn)生的X射線；關(guān)于新放射源b ）由Co60、IH92、Se75、Ybl69和Tml70射線源產(chǎn)生的y射線。4. 2.1.2經(jīng)合同雙方商定，允許采用其他新型射線源。采用其他射線源時(shí)，有關(guān)檢測(cè)技術(shù)要求仍應(yīng)參 照本部分的規(guī)定執(zhí)行。4. 2. 2射線膠片關(guān)于射線膠片4. 2.2. 1膠片系統(tǒng)按照GB/T 19348.1分為六類，即Cl、C2、C3、C4、C5和C

15、6類。C1為最高類別，C6為最低類別，膠片系統(tǒng)的特性指標(biāo)見(jiàn)附錄A。4. 2. 2. 2膠片制造商應(yīng)對(duì)所生產(chǎn)的膠片進(jìn)行系統(tǒng)性能測(cè)試并提供類別和參數(shù)。膠片處理方法、設(shè)備和 化學(xué)藥劑可按19348.2的規(guī)定,用膠片制造商提供的預(yù)先曝光膠片測(cè)試片進(jìn)行測(cè)試和控制。不得 使用超過(guò)膠片制造商規(guī)定的使用期限的膠片。膠片應(yīng)按制造商推薦的溫度和濕度條件予以保存，并應(yīng)避 免受任何電離輻射的照射。4.2.3 觀片燈觀片燈的主要性能應(yīng)符合GBJT 19802的有關(guān)規(guī)定，最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。4.2.4 黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）4. 2. 4. 1黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于4.5 ,測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過(guò)±0

16、.05。4. 2. 4. 2黑度計(jì)首次使用前應(yīng)進(jìn)行核查，以后至少每六個(gè)月應(yīng)進(jìn)行一次核查，形成核查報(bào)告。法可參照附錄B的規(guī)定進(jìn)行。在工作開(kāi)始時(shí)或連續(xù)工作超過(guò)811后應(yīng)頡測(cè)量黑度圍選擇至少兩點(diǎn)進(jìn)行 板直。3.4黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）3.4.2黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。校驗(yàn)方法可參照附錄B （資料性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。B. 2. 6所使用的標(biāo)準(zhǔn)黑度片至少應(yīng)每2年送計(jì)量單位檢定一次。4.2.5標(biāo)準(zhǔn)密度片；密度片應(yīng)至少有8個(gè)一定間隔的黑度基準(zhǔn)，且能覆蓋04.5黑度圍，應(yīng)至少每2年校準(zhǔn)一次。必須特別注意標(biāo)準(zhǔn)密度片的保存和使用條件。4. 2. 6增感屏4. 2, 6.1射線檢測(cè)一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏

17、，金屬增感屏應(yīng)滿足JB/T 5075的要求，增感 屏應(yīng)完全干凈、拋光和無(wú)紋道。4. 2, 6. 2使用增感屏?xí)r，膠片和增感屏之間應(yīng)接觸良好。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1增感屏的材料和厚度射線源材料前屏后屏中屏°厚度,厚度/mm厚度,X 射線(<100kV)鉛不用或$0.03<0.03X射線d(>100 kV150kV)鉛<0.10<0.152x0.022x0.10X射線d(> 150 kV250kV )鉛0.020.150.02052x0.022x0.10X射線d(> 250 kV500kV )鉛0.02 0.200.02 0.202x

18、0.022x0.10Tml70鉛不用或$0.03不用或W0.03Yb169 d鉛0.02 0.150.02052x0.022x0.10Se75鉛A 級(jí) 0.02 0.20A 級(jí) 0.02 0.202x0.10AB級(jí)、B級(jí)0.10-0.20 3AB級(jí)、B級(jí) 0.10-0.202x0.10Irl92鉛A 級(jí) 0.02 0.20A 級(jí) 0.02 0.202x0.10AB級(jí)、B級(jí)0.10-0.20 3AB級(jí)、B級(jí) 0.10-0.202x0.10Co60 3鋼或銅0.25 0.700.25 0.700.25鉛（A級(jí)、AB級(jí)）0.50 2.00.50 2.02x0.10X射線(!MeV-4MeV )鋼或銅

19、0.25 0.700.25 0.700.25鉛（A級(jí)、AB級(jí)）0.50 2.00.50 2.02x00mm或不用X射線(4MeV 12MeV )銅、鋼或鋰< 1.0銅、鋼4L00.25也 40.500.25鉛（A級(jí)、AB級(jí)）0.50-1.00.50 1.02x00mm或不用a如果AB級(jí)、B級(jí)使用前屏WO O3mm的真空包裝膠片，應(yīng)在工件和膠片之間加0 07mm 0.15mm厚的附加鉛屏。b采用Co60射線源透照延遲裂紋傾向或標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值Rm2540MPa材料時(shí)，AB級(jí)和B級(jí)應(yīng)采用鋼 或銅增感屏。雙膠片透照技術(shù)應(yīng)增加使用中屏。d采用X射線和Ybl69射線源時(shí)，每層中屏的厚度應(yīng)不大于前

20、屏厚度。4.2.7像質(zhì)計(jì)4. 2.7.1底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計(jì)或孔整質(zhì)讓測(cè)定。通用線型像質(zhì)計(jì)和等徑線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào) 和規(guī)格應(yīng)符合JB/T 7902的規(guī)定，孔型像質(zhì)計(jì)型號(hào)和規(guī)格應(yīng)滿足GB T 23901.2的規(guī)定。4. 2. 7. 2像質(zhì)計(jì)的材料、材料代號(hào)和不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料圍可按表2的規(guī)定執(zhí)行，像質(zhì) 計(jì)材料的吸收系數(shù)應(yīng)盡可能的接近或等同于被檢材料的吸收系數(shù)，任何情況下不能高于被檢材料的吸收 系數(shù)。表2不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的材料圍像質(zhì)計(jì)材料代號(hào)A1TiFeNiCu像質(zhì)計(jì)材料工業(yè)純徭工業(yè)純鈦碳素鋼鎮(zhèn)-鋁合金3#純銅適用材料圍鋁，擔(dān)合金鈦，鈦合金鋼鍥-鎂合金銅、銅合金4.2.8暗室安

21、全照明時(shí)間確定膠片應(yīng)在膠片制造商所推薦的安全燈光條件下進(jìn)行暗室處理，暗室安全照明時(shí)間的確定方法可參考 附錄C進(jìn)行。4.3檢測(cè)技術(shù)等級(jí)4. 3.1射線檢測(cè)技術(shù)分為三級(jí)：A級(jí)低靈敏度技術(shù)；AB級(jí)中靈敏度技術(shù)；B級(jí)高 靈敏度技術(shù)。4. 3. 2射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足 合同雙方商定的其他技術(shù)要求。承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的射線檢測(cè),一般應(yīng)采用AB級(jí)射線檢測(cè)技 術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對(duì)接焊接接頭，可采用B級(jí)技 術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。4. 3. 3檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，在 采

22、取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到了 AB級(jí)（或 B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定，則可認(rèn)為按AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)。4. 3. 4承壓設(shè)備在用檢測(cè)中，檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)合同雙方商 定,在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè)，但應(yīng)同時(shí)采 用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。3. 8.1射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標(biāo)與2005版對(duì)照準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的制造、安裝、在用時(shí)的射線檢測(cè)，一般應(yīng)采用AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)重要設(shè) 備、結(jié)構(gòu)、特殊材料

23、和特殊焊接工藝制作的對(duì)接焊接接頭，可采用B級(jí)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。3.8.2由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)（或B級(jí)） 射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)槍測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的 膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到了 AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定，則可認(rèn)為 按AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)。3. 8.3承壓設(shè)備在用檢測(cè)中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制，檢測(cè)的某些條件不能滿足 AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn),在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別 的膠片）后可采用其技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè),但應(yīng)同時(shí)采用其他

24、無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。4.4射線檢測(cè)工藝規(guī)程4. 4.1射線檢測(cè)通用工藝規(guī)程的基本要求企業(yè)應(yīng)根據(jù)其設(shè)備、場(chǎng)地、人員、技術(shù)能力，以及檢測(cè)對(duì)象等，結(jié)合必要的試驗(yàn)制訂射線檢測(cè)通用 工藝規(guī)程。除了滿足NB/T47013.1的要求外，規(guī)程還應(yīng)包括下列容：a ）被檢測(cè)工彳牛的類型（形狀、尺寸圍和所用材料的類型）；b ）檢測(cè)設(shè)備器材：射線源（類型和規(guī)格1膠片、增感屏、濾光板、背散射屏蔽鉛板、像質(zhì)計(jì)、 標(biāo)記、膠片暗室處理和觀察設(shè)備等；c）檢測(cè)技術(shù)：膠片透照技術(shù)，像質(zhì)計(jì)的類型、位置和數(shù)量，標(biāo)記符號(hào)類型、曝光條件、射線源與 檢測(cè)區(qū)域的相對(duì)位置等；d）膠片暗室處理?xiàng)l件；e）使用的膠片類型；f）底片觀察技術(shù)（雙片

25、疊加或單片觀察評(píng)定）；g ）底片質(zhì)量要求：幾何不清晰度、黑度、像質(zhì)計(jì)靈敏度、標(biāo)記等；h）檢測(cè)和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)；i）檢測(cè)工藝規(guī)程的驗(yàn)證要求。4. 4,2射線檢測(cè)工藝規(guī)程的修改凡下列參數(shù)的一項(xiàng)或幾項(xiàng)發(fā)生變化，超出原檢測(cè)工藝規(guī)程時(shí)，應(yīng)重新修訂工藝規(guī)程并進(jìn)行必要的驗(yàn) 證：a）適用材料類別及厚度圍；b ）身?yè)茉捶N類、能量及焦點(diǎn)尺寸；c ）透照方式；d ）身?yè)茉磁c工件受檢部位射線源側(cè)表面之間的距離；e）工件受檢部位射線源側(cè)表面與膠片之間的距離；f）膠片透照技術(shù)；g）膠片型號(hào)及等級(jí)；h）增感屏和濾光板型號(hào)（如使用）；i）暗室處理方法（或條件）；j）底片觀察技術(shù)。4.4.3操作指導(dǎo)書應(yīng)針對(duì)具體檢測(cè)對(duì)象根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和工藝

26、規(guī)程編寫操作指導(dǎo)書。首次使用的操作指導(dǎo)書應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn) 證，以驗(yàn)證底片質(zhì)量是否能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。驗(yàn)證可通過(guò)專門的透照試驗(yàn)進(jìn)行，或以產(chǎn)品的第一批 底片作為驗(yàn)證依據(jù)。在這兩種情況下，作為依據(jù)的驗(yàn)證底片應(yīng)做出標(biāo)識(shí)。4. 5輻射安全防護(hù)4. 5. 1放射衛(wèi)生防護(hù)應(yīng)符合GB 18871、GBZ 117和GBZ 132的有關(guān)規(guī)定。4. 5. 2現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行X射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GBZ 117的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志。檢測(cè) 工作人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警儀。4. 5. 3現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行y射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GBZ 132的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志,檢測(cè) 作業(yè)時(shí)，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測(cè)定輻射水

27、平。檢測(cè)工作人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警 儀。5檢測(cè)工藝及其選擇5.1檢測(cè)時(shí)機(jī)5.1.1 檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其 他技術(shù)要求。5.1.2 除非另有規(guī)定，射線檢測(cè)應(yīng)在焊接接頭制造完工后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在 焊接完成24h后進(jìn)行射線檢測(cè)。5.2檢測(cè)區(qū)5. 2.1檢測(cè)區(qū)寬度應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的 其他技術(shù)要求，對(duì)于非電渣焊焊接接頭，一般應(yīng)滿足以下規(guī)定：a ）對(duì)于對(duì)接焊縫，檢測(cè)區(qū)包括焊縫金屬及相對(duì)于焊縫邊緣至少為5mm的相鄰母材區(qū)域；b ）對(duì)于管座角焊縫，檢測(cè)區(qū)包括焊

28、縫金屬及相對(duì)于焊縫邊緣至少為5nmi的安放式接管相鄰母材Xi勺插入式主管（或筒體、封頭、平板等）相鄰母材區(qū)域。5. 2. 2對(duì)于電渣焊焊接接頭，其檢測(cè)區(qū)寬度可通過(guò)實(shí)際測(cè)量熱影響區(qū)確定，或由合同雙方商定。5. 3表面要求在射線檢測(cè)之前，對(duì)接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)目視檢測(cè)并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不 得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對(duì)表面作適當(dāng)修整。5.4 膠片選擇5.4.1 A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用C5類或更高類別的膠片,B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用C4 類或更高類別的膠片。5. 4. 2采用y射線和高能X射線進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，以及對(duì)標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值Rm2540MPa高強(qiáng) 度材料射線檢測(cè)時(shí)，

29、應(yīng)采用C4類或更高類別的膠片。5.5 透照布置5.5.1 膠片透照技術(shù)本部分允許以下兩種膠片透照技術(shù)：a）單膠片透照技術(shù)使用單膠片。X射線（V 100kV ）和Tml70射線源只允許采用單膠片透照技術(shù)。b）雙膠片透照技術(shù)使用兩分類等級(jí)相同或相近的膠片。5.5.2 透照方式5. 5. 2.1應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)優(yōu)先選用單 壁透照方式，在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見(jiàn)附錄D。5. 5. 2. 2安放式和插入式管座角焊縫應(yīng)優(yōu)先選擇源在外透照方式。插入式管座角焊縫源在透照方式 時(shí)，應(yīng)優(yōu)先選擇射線源放置在支管軸線上的透照布置

30、。2 .5.3透照方向透照時(shí)射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心，并應(yīng)與工件表面法線重合，需要時(shí)也可選用有利于 發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。5 . 5. 4 一次透照長(zhǎng)度：a）一次透照長(zhǎng)度應(yīng)以透照厚度比K進(jìn)行控制。不同級(jí)別射線檢測(cè)技術(shù)和不同類型對(duì)接焊接接頭 的透照厚度比應(yīng)符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向?qū)雍附咏宇^所需的透照次數(shù)可參照附錄E的曲 線圖確定；b）采用射線源在偏心透照（尸漲）時(shí)，透照次數(shù)參照附錄E的公式進(jìn)行計(jì)算。c）管座角焊縫、橢圓形封頭、碟形封頭小r區(qū)的焊縫，以及其他曲率連續(xù)變化的焊縫可不采用D K值確定一次透照長(zhǎng)度的方法，允許用黑度圍來(lái)確定一次透照長(zhǎng)度，底片黑度滿足5.16.1的上 度圍即為允許

31、采用的一次透照長(zhǎng)度。表3允許的透照厚度比K射線檢測(cè)技術(shù)級(jí)別A級(jí)；AB級(jí)B級(jí)縱向焊接接頭KS1.03K<1.01環(huán)向焊接接頭K<1.063對(duì)100mm < Do<400nim的環(huán)向?qū)雍附咏宇^（包括曲率相同的曲面焊接接頭），A級(jí)、AB級(jí)允許采用 KS1.2。5.5.5有效評(píng)定區(qū)搭接5. 5. 5.1焊縫進(jìn)行全部射線檢測(cè)時(shí)，采取的曝光次數(shù)和有效評(píng)定區(qū)的重疊應(yīng)能保證檢測(cè)到被檢測(cè)區(qū)的 整個(gè)體積圍。5. 5. 5. 2如果采用暗盒直接搭接透照的方式也應(yīng)保證整個(gè)有效評(píng)定區(qū)的底片黑度滿足5.16.1的要求。5. 5. 6小徑管透照5. 5. 6.1小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置小徑

32、管采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時(shí)滿足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像：T （壁厚）V8mm ; g （焊縫寬度）<£>o/4橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開(kāi)口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重量成像。5. 5. 6. 2小徑管環(huán)向?qū)咏宇^的透照次數(shù)小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測(cè)的透照次數(shù)：采用傾斜透照橢圓成像時(shí)，當(dāng)T/Do<0A2時(shí)，相 隔90°透照2次。當(dāng) 0。> 0,12時(shí)，相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120° 或60

33、°透照3次。按照上述規(guī)定進(jìn)行多次透照時(shí)，底片上被檢測(cè)區(qū)黑度滿足5.16.1的區(qū)域?yàn)橛行гu(píng)定區(qū)，相鄰底片的 有效評(píng)定區(qū)的重疊應(yīng)保證覆蓋被檢測(cè)區(qū)的整個(gè)體積圍，如最少曝光次數(shù)不能滿足100%覆蓋要求，則應(yīng) 增加曝光次數(shù)。5. 5. 6. 3特殊情況由于結(jié)構(gòu)原因不能按5.5.6.2的規(guī)定的間隔角度多次透照時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，可不再?gòu)?qiáng)制限制 5.5.6.2規(guī)定的間隔角度，但應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出圍，同時(shí)應(yīng)保證底片評(píng)定圍黑度和靈 敏度滿足要求，并在檢測(cè)報(bào)告中對(duì)有關(guān)情況進(jìn)行說(shuō)明。5.6射線能量5. 6.1在保證穿透力的前提下，X射線照相應(yīng)選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證 適當(dāng)

34、的曝光量。圖1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高X射線管電壓。5. 6. 2對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過(guò)圖1規(guī)定的X 射線管電壓。但對(duì)鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過(guò)50kV ;對(duì)鈦及鈦合金材料，管電壓 增量不應(yīng)超過(guò)40kV ；對(duì)鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過(guò)30kVo5. 6. 3 y射線源和高能X射線適用的透照厚度圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。5. 6. 4采用源在中心透照方式，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到5.16.2要求的前提下，允許Y射線最小 透照厚度取表4下限值的1/2。10 _1234 56789 102030 40 50 60 70100透

35、照厚度W/mm說(shuō)明：1一銅及銅合金；23鈦及鈦合金；4一鋁及鋁合金。圖1不同透照厚度允許的X射線最高透照管電壓5. 6. 5采用其他透照方式，在采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到5.16.2要求的前提下,經(jīng)合 同雙方商定，A級(jí)，AB級(jí)技術(shù)的11192源的最小透照厚度可降至lOnun , Se75源的最小透照厚度可降 至 5mm。表4 y射線源和能量1 MeV以上X射線設(shè)備的透照厚度圍（鋼、銅、銀合金等）射線源透照厚度VV/nimA級(jí)，AB級(jí)B級(jí)Tml70<5b價(jià) 169，Nl15N212Se75 b>10-40>14-40Irl92>20-100>20-90C

36、o60>40-200>60-150X 射線(lMeV4MeV )>30-200>50-180X 射線(>4MeV 12MeV )>50>80a對(duì)于鋁和鈦，A級(jí)和AB級(jí)透照厚度為：10 < w < 70 , B級(jí)透照厚度為：25 < “，< 550b對(duì)于鋁和鈦，A級(jí)和AB級(jí)透照厚度為：35 < my 120。5.7射線源至工件表面的最小距離5. 7.1所選用的射線源至工件表面的距離/應(yīng)滿足下式的要求：A級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：/ > 75d b犯AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：/ > 10dbsB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：/> 15db

37、M圖2是A級(jí)和B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定/的諾模圖，圖3是AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定/的諾模圖。 有效焦點(diǎn)尺寸d按附錄F的規(guī)定計(jì)算。5000 二.20003000 -一2000 二? 1000-1000 二二 500-300500 二300 -一200 -1001503020105一二二二二一 一 一- 一 10050302010I00806050403020圖2 A級(jí)和B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定焦點(diǎn)至工件表面距離的諾模圖500400一二一. 一.-二-二一 00000000000020o o O0(532 1 S32 1 5 3 2 1A - EEA/Mn但國(guó)生廿三海聰翅蘇3匏hv- - - - - -Z

38、- - - - O19 8 7 6 5 4 3 2 1A U1E、P.K些嫉髏號(hào)1- 1圖3 AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定焦點(diǎn)至工件表面距離的諾模圖5. 7. 2采用源在中心透照方式周向曝光時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求，/值 可以減小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的50%。6. 7. 3采用源在單壁透照方式時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求，/值可以減 小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的20%。5. 7. 4安放式和插入式管座角焊縫采用源在單壁中心透照方式（附錄D中圖D.9和圖D.13 ）時(shí)， 只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求/值可以減

39、小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的50%。6. 7. 5安放式和插入式管座角焊縫采用源在單壁偏心透照方式（附錄D中圖D.10和圖D.14 ）時(shí)， 只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求/值可以減小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的20%。5.8 膠片與被檢工件之間的距離曝光期間，膠片應(yīng)緊貼于工件，除非有特殊規(guī)定或透照布置能使被檢區(qū)域得到更好的透照影像。管 座角焊縫源在透照時(shí)，膠片應(yīng)盡可能的靠近被檢工件焊縫。5.9 曝光量5.9.1 X射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí),曝光量的推薦值為：A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于 15mA-min ； B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于20mA-mino當(dāng)焦距改變時(shí)可按

40、平方反比定律對(duì)曝光量的推薦 值進(jìn)行換算。5. 9.2采用y射線源透照時(shí)，總的曝光時(shí)間應(yīng)不少于輸送源往返所需時(shí)間的10倍。5. 9. 3采用y射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)超過(guò)8h ,且不得采用多個(gè)射線源捆綁方式進(jìn)行透照。5.10 曝光曲線5.10.1 對(duì)每臺(tái)在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測(cè)材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。5.10.2 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、隹距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達(dá)到的靈敏度、 黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定。5.10.3 對(duì)使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)核查一次。射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及 時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行核查或重新制作。5.10.4 采用采用y

41、射線源時(shí)，可采用曝光尺等方式計(jì)算曝光時(shí)間。5.11 無(wú)用射線和散射線屏蔽5.11.1 應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾光板、準(zhǔn)直器等適當(dāng)措施，屏蔽散射線和無(wú)用射線，限制照 射場(chǎng)圍。鋼制承壓設(shè)備濾光板推薦的技術(shù)要求見(jiàn)附錄H5.11.2 對(duì)初次制定的檢測(cè)工藝，以及在使用中檢測(cè)條件、環(huán)境發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查。檢查背散射防護(hù)的方法是：在暗盒背面貼附鉛字標(biāo)記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度為 1.61W11 ,按檢測(cè)工藝的規(guī)定進(jìn)行透照和暗室處理。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的"B"字影 像，則說(shuō)明背散射防護(hù)不夠，應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn)字影像或出現(xiàn)黑度

42、 高于周圍背景黑度的"B"字影像，則說(shuō)明背散射防護(hù)符合要求。在背散射輕微或后增感屏足以屏蔽背散射線的情況下，可不使用背散射防護(hù)鉛板。5.12 像質(zhì)計(jì)的使用5. 12. 1像質(zhì)計(jì)放置原則絲型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4左右位置），金屬絲應(yīng)橫跨 焊縫，細(xì)絲置于夕M則；階梯型像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置于被檢區(qū)中心部位的焊接接頭熱影響區(qū)以外，在不可 能實(shí)現(xiàn)的情況下，至少應(yīng)放置于熔敷金屬區(qū)域以外。當(dāng)一膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放 置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處，還應(yīng)滿足以下規(guī)定：a ）單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。雙壁雙

43、影透照像質(zhì) 計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)；b）單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無(wú)法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)（球罐全景曝光除外）；C）單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)。對(duì)比試驗(yàn)方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放 f 像質(zhì)計(jì)，用與工件相同的條件透照，測(cè)定出像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異，以 此修正像質(zhì)計(jì)靈敏度的規(guī)定，以保證實(shí)際透照的底片靈敏度符合要求；d ）當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字"F"作為標(biāo)記，F(xiàn)標(biāo)記的影像應(yīng) 與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明。5. 12. 2像質(zhì)計(jì)數(shù)量原則上每底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像。當(dāng)一次曝光完成多

44、膠片照相時(shí)，使用的像質(zhì)計(jì)數(shù)量允許減少 但應(yīng)符合以下要求：a ）環(huán)形對(duì)接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時(shí)，至少在圓周上等間隔地放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)；b ）球獻(xiàn)寸接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時(shí)，在上極和下極焊縫的每底片上都應(yīng)放置像質(zhì) 計(jì)，且在每帶的縱縫和環(huán)縫上沿經(jīng)度方向等間隔至少放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)；一次曝光連翎為U的多膠片時(shí)，至少L、中間一和最后一膠片處各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。1.1.3 3小徑管對(duì)接焊縫小徑管使用通用絲型和專用等徑絲型像質(zhì)計(jì)時(shí)，金屬絲應(yīng)橫跨垂直焊縫放置。像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置于源側(cè)， 當(dāng)無(wú)法放置在源側(cè)時(shí)，可將像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)，但應(yīng)在檢測(cè)記錄和報(bào)告中說(shuō)明。1.1.4 4不等厚或不同種類材料之間對(duì)接焊縫

45、如果焊接接頭的幾何形狀允許不同厚度或材料類型不同的部位應(yīng)分別采用與被檢材料厚度或類型 相匹配的像質(zhì)計(jì)，并分別放置在焊接接頭相對(duì)應(yīng)部位。1.1.5 5管座角焊縫推薦采用絲型像質(zhì)計(jì)，根據(jù)像質(zhì)計(jì)能夠投影到被檢測(cè)區(qū)的位置而放置。如果允許，像質(zhì)計(jì)盡可能置 于黑度最小的區(qū)域。1.1.6 6像質(zhì)計(jì)影像識(shí)別使用絲型像質(zhì)計(jì)時(shí)底片上能夠識(shí)別的最細(xì)線的編號(hào)即為像質(zhì)計(jì)靈敏度值。如底片黑度均勻部位- 般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長(zhǎng)度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時(shí)，則認(rèn)為該絲是 可識(shí)別的。專用等徑絲型像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬絲。使用階梯孔型像質(zhì)計(jì)時(shí)，底片上能夠識(shí)別的最小孔的編號(hào)即為像質(zhì)計(jì)靈敏度值，當(dāng)同一階

46、梯上含有 兩個(gè)孔時(shí)，則兩個(gè)孔都應(yīng)在底片上可識(shí)別。5.13 標(biāo)記5.13.1 透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛（或其他適宜的重 金屬）制數(shù)字、拼音字母和符號(hào)等構(gòu)成。底片標(biāo)識(shí)能清晰的閱讀且不至于對(duì)底片的評(píng)定帶來(lái)影響， 標(biāo)記的材料和厚度應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度來(lái)選擇，保證標(biāo)記影像不模糊，也不至于產(chǎn)生眩光。5.13.2 識(shí)別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號(hào)、對(duì)接焊接接頭編號(hào)、部位編號(hào)和透照日期。返修后的透 照還應(yīng)有返修標(biāo)記，擴(kuò)大檢測(cè)比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記。5.13.3 定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記、檢測(cè)區(qū)標(biāo)記等。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中 心位置和分段編號(hào)的方向，一般用十字

47、箭頭“令”表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測(cè)時(shí)的透照分段標(biāo)記， 可用符號(hào)“T”或其他能顯示搭接情況的方法（如數(shù)字等）表示。檢測(cè)區(qū)標(biāo)記采取的方式能夠清晰 標(biāo)識(shí)檢測(cè)區(qū)圍即可。5.13.4 外焊縫余高均磨平的情況，底片上不能直接正確測(cè)定和區(qū)別檢測(cè)區(qū)位置和寬度時(shí)，應(yīng)采用 適當(dāng)?shù)亩ㄎ粯?biāo)記（如采用鉛質(zhì)窄條）進(jìn)行標(biāo)識(shí)。5.13.5 允許采用預(yù)曝光方式獲得相關(guān)識(shí)別標(biāo)記，但必須采取有效措施保證根據(jù)射線底片上的預(yù)曝 光識(shí)別標(biāo)記能追蹤到工件的相應(yīng)被檢區(qū)域，并應(yīng)采取有效屏蔽措施保證放置識(shí)別標(biāo)記以外的區(qū)域不 被曝光。5.13.6 定位標(biāo)記應(yīng)放在工件上，其擺放應(yīng)符合附錄I的規(guī)定。所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng) 干擾有效評(píng)定圍的影像

48、。當(dāng)由于結(jié)構(gòu)原因，定位標(biāo)記需要放置于膠片側(cè)時(shí)，檢測(cè)記錄和報(bào)告應(yīng)標(biāo) 注實(shí)際的評(píng)定圍，標(biāo)記影像不得進(jìn)入檢測(cè)區(qū)源側(cè)表面在底片上的投影區(qū)。5.13.7 識(shí)別標(biāo)記允許放置于源側(cè)或膠片側(cè)，所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定圍的 影像。5.13.8 為了能精確的辨別底片位置，以被檢工件上永久標(biāo)識(shí)或部位作為參考點(diǎn)；如果因材料性質(zhì) 和使用條件而不能進(jìn)行永久標(biāo)識(shí)時(shí)，應(yīng)采用其他方法（如布片圖）確定底片位置。5.14 膠片處理和底片質(zhì)量檢測(cè)5.14.1 膠片處理膠片處理一般應(yīng)按膠片使用說(shuō)明書的規(guī)定進(jìn)行。可采用自動(dòng)沖洗或手工沖洗方式處理，推薦采 用自動(dòng)沖洗方式處理。原則上應(yīng)采用膠片廠家生產(chǎn)或推薦的沖洗配方或藥劑

49、，在按GB/T 19384.2 附錄A經(jīng)比較試驗(yàn)證明的條件下，也可以使用其他廠家的配方或藥劑。手工沖洗和自動(dòng)沖洗膠片宜在曝光后8h之完成，最長(zhǎng)不得超過(guò)24，5.14.2 底片質(zhì)量檢驗(yàn)暗室處理后的底片硫代硫酸鹽離子的濃度一般應(yīng)低于0.050g/nro底片上硫代硫酸鹽離子的濃度測(cè) 量可參考附錄J的要求執(zhí)行，測(cè)量結(jié)果應(yīng)記錄。檢驗(yàn)的頻率由檢測(cè)方確定，但在此期間暗室處置條件應(yīng)保持不變。如果檢驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，硫代硫酸鹽離子濃度大于0.050 g/m2 ,應(yīng)采取以下行動(dòng)：a）停止暗室處理，并采取糾正措施；b ）重新核查定影和沖洗工序驗(yàn)證的符合性；c）重新處置所有含有缺陷的底片。5.14.3 灰霧度測(cè)量本部分規(guī)定的灰

50、霧度意義指未經(jīng)曝光的膠片經(jīng)暗室處理后的總黑度（乳膠+片基），膠片灰霧度應(yīng) 不超過(guò)0.3?；异F度應(yīng)針對(duì)不同時(shí)間購(gòu)進(jìn)的每一批膠片進(jìn)行測(cè)量，從某一批（同時(shí)采購(gòu)規(guī)格不計(jì)的膠片） 中抽一樣品與焊縫底片相同暗室處理?xiàng)l件下處理后進(jìn)行灰霧度測(cè)量，當(dāng)某一批次的膠片使用期限超過(guò)6 個(gè)月時(shí)，應(yīng)至少每6個(gè)月測(cè)量一次，以核查膠片是否符合4.2.2規(guī)定使用前儲(chǔ)存的要求。5.15 評(píng)片要求5.15.1 評(píng)片一般應(yīng)在專用的評(píng)片室進(jìn)行。評(píng)片室應(yīng)整潔、安靜，溫度適宜,光線應(yīng)暗且柔和。5.15.2 評(píng)片人員在評(píng)片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時(shí)間。從下進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間一般為5 mm 10mm ；從一般的室進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30

51、s。5.15.3 評(píng)片時(shí)，底片評(píng)定圍的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定：a）當(dāng)?shù)灼u(píng)定圍的黑度042.5時(shí),透過(guò)底片評(píng)定圍的亮度應(yīng)不低于30cd/m2 ；b ）當(dāng)?shù)灼u(píng)定圍的黑度D > 2.5時(shí)，透過(guò)底片評(píng)定圍的亮度應(yīng)不低于10cd,m2o5.16 底片質(zhì)量5.17 . 1黑度底片黑度應(yīng)采用黑度計(jì)(光學(xué)密度計(jì))進(jìn)行測(cè)量，不同膠片透照技術(shù)和底片觀察技術(shù)對(duì)應(yīng)的黑度圍 如下。5.16.1.1 單膠片透照技術(shù)，單底片觀察評(píng)定，底片評(píng)定圍的黑度。應(yīng)符合下列規(guī)定：A 級(jí)：1.5<D<4.5 ；AB 級(jí)：2.0<£)<4.5 ；B 級(jí)：2.34044.5。5.16.1.2 雙膠片透

52、照技術(shù)，雙底片疊加觀察評(píng)定，評(píng)定圍的黑度D應(yīng)符合2.74044.5的規(guī)定。注1 :雙底片疊加評(píng)定時(shí)，黑度圍超過(guò)4.5的局部區(qū)域，如果單底片黑度圍符合5.16.1.1的規(guī)定時(shí)，可以對(duì)該區(qū)注2 :采用分類相同的膠片時(shí),在有效評(píng)定區(qū)每底片上相同點(diǎn)測(cè)量的黑度的差應(yīng)不超過(guò)0.5.注3 ：用于雙底片疊加評(píng)定的任何單底片的黑度應(yīng)不低于1.3。注4 ：應(yīng)同時(shí)觀察、分析和保存每底片。5.16.1.3 用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件，單底片觀察評(píng)定時(shí)，AB級(jí)最低黑 度允許降至1.5 ； B級(jí)最低黑度可降至2.0。5.16.1.4 對(duì)檢測(cè)區(qū)進(jìn)行評(píng)定時(shí)，對(duì)應(yīng)看不同的膠片透照技術(shù)或不同的底片觀察技術(shù)的區(qū)域

53、的黑度 圍應(yīng)分別在檢測(cè)報(bào)告中進(jìn)行標(biāo)識(shí)。5.16.1.5 評(píng)定區(qū)的最大黑度限值允許提高，但觀片燈應(yīng)經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，觀片燈亮度應(yīng)保證在底片最高 黑度評(píng)定圍的亮度能夠滿足5.15.3的要求。5.16.2底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表5和表6的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合 表7和表8的規(guī)定的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)符合表9和表10的規(guī)定。 5.16.3其他要求底片上，定位和識(shí)別標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。底片評(píng)定圍不應(yīng)存在影響影像觀察的灰霧，干擾缺陷影像識(shí)別的水跡、劃痕、顯影條紋、靜電斑紋、 壓痕等偽缺陷影像，以及增感屏缺陷帶來(lái)的各種偽影像。在

54、采用雙膠片疊加觀察評(píng)定時(shí)，如果其中一底片存在輕微偽缺陷或劃傷，在能夠識(shí)別和不妨礙底片 評(píng)定的情況下，可以接受該底片。表5絲型像質(zhì)計(jì)靈敏度值一單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)應(yīng)識(shí)別絲號(hào)絲徑/mm公稱厚度(T )圍，mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)19 ( 0.050 )<1.518 ( 0.063 )< 1.2> 1.5 2.517 ( 0.080 )<1.2> 1.22.0> 2.5 4.016 ( 0.100 )<1.2-20>2.0 3.5> 4.0 6.015 ( 0.125 )>20-3.5> 3.5 5.0> 6.0 8.014 (

55、0.160 )> 3.5 5.0> 5.0 7.0>8.0-1213 ( 0.20 )> 5.0 7.0> 7.0 10> 12 20表5 (續(xù))應(yīng)識(shí)別絲號(hào) 絲徑，min公稱厚度(T )圍，mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)12 ( 0.25 )>7.0- 10> 10 15>20-3011 ( 032 )> 10 15>15-25>30 3510 ( 0.40 )> 15 25>25 32>35-459 ( 0.50 )>25 32> 32 40> 45 658 ( 0.63 )>3240>4055> 651207 ( 0.80 )>4055>55-85> 1202006 ( 1.