吳鳳技術(shù)學(xué)院工程學(xué)群與安全學(xué)群貴重儀器中心附件十三

1、附件十三吳鳳技術(shù)學(xué)院工程學(xué)群與安全學(xué)群貴重儀器中心服務(wù)項(xiàng)目及收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)總表項(xiàng)次儀器名稱(chēng)儀器功能/服務(wù)內(nèi)容放置地點(diǎn)收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)1CNC電腦車(chē)床CNC車(chē)床加工花明樓TB-0031. 教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫(huà)收費(fèi)）2. 軟體使用費(fèi)（每小時(shí)1000元）2綜合中心切削機(jī)1. 電腦輔助製造2. CNC銑床加工、搪孔、鑽孔及攻牙加工花明樓TB-0031. 教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫(huà)收費(fèi)）2. 硬體使用費(fèi)（每小時(shí)1,000元）3軟體Master CAM電腦輔助製造花明樓TB-0041. 教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫(huà)收費(fèi)）2. 軟體使用費(fèi)（每小時(shí)600元）4導(dǎo)熱係數(shù)量測(cè)系統(tǒng)材料導(dǎo)熱係數(shù)量測(cè)花明樓TB-101徐旭

2、華5精密快速成型機(jī)組裝測(cè)試及模具翻製花明樓TB-102900元/小時(shí)6三次元量床3 D掃瞄儀器系統(tǒng)被廣 泛應(yīng)用在品管之檢測(cè)、醫(yī) 學(xué)之立體定位、廣告與動(dòng) 畫(huà)、到美容與服裝設(shè)計(jì)等花明樓TB-1071. 教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫(huà)收費(fèi)）2. 硬體使用費(fèi)（每小時(shí)800元）7光學(xué)式雷射帶狀掃描儀旋轉(zhuǎn)測(cè)頭減少死角。 多角度掃描與結(jié)合。 尋面掃描可變焦距。自動(dòng)分層掃描。雙鏡頭自動(dòng)判斷。 自動(dòng)校正。區(qū)域選擇掃描。不受物體材質(zhì)影響。 掃描精度高、速度快、 遠(yuǎn)超過(guò)傳統(tǒng)式掃描。安裝容易，操作簡(jiǎn)便。 可安裝於 CNC加工 機(jī)。花明樓TB-1071. 教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫(huà)收費(fèi)）2. 硬體使用費(fèi)（每小時(shí)800元

3、）8半導(dǎo)體晶圓研磨熱 特性量測(cè)儀工業(yè)安全設(shè)備維修預(yù) 知保養(yǎng)非破壞性檢測(cè)：研究開(kāi) 發(fā)花明樓TB-108各式試片及環(huán)境溫度量測(cè) 與監(jiān)控，收費(fèi)依照量測(cè)條 件與操作環(huán)境狀況議價(jià)。839電腦叢集計(jì)算系統(tǒng)系統(tǒng)操作盤(pán)面須提供系 統(tǒng)操作資訊檢視功能，包 括各節(jié)點(diǎn)之CPU溫度、 風(fēng)扇轉(zhuǎn)速、記憶體使用 率、CPU使用率等。花明樓TB-1081. 教育訓(xùn)練課程(依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫(huà)收費(fèi))2. 硬體使用費(fèi)(每小時(shí)1,000元)10磁控電漿鍍膜系統(tǒng)導(dǎo)電薄膜ZnO之濺鍍 沉積壓電薄膜AIN之濺鍍 沉積薄膜塊體波諧振器(Thin Film Bulk Acoustic Wave Reso nator , FBAR), 表面聲波元件

4、(Surface Acoustic Wave Device ,SAW)製作花明樓TB-1005沉積薄膜500元/小時(shí)11D.3D微細(xì)形狀測(cè)定 器對(duì)微機(jī)電，光電，半導(dǎo) 體，LCD，OLED等領(lǐng) 域作膜厚段差/粗度/平坦 度波紋度測(cè)定?；鳂荰B-607表面膜厚量測(cè)500元/小時(shí)12光罩對(duì)準(zhǔn)曝光機(jī)半導(dǎo)體元件圖形對(duì)準(zhǔn)及 轉(zhuǎn)移製程花明樓TB-605500元/小時(shí)13向量網(wǎng)路分析儀射頻/微波元件測(cè)試， 含被動(dòng)元件量測(cè)，搭配功 率計(jì)和衰減計(jì)可量測(cè)主 動(dòng)元件。射頻/微波電路量測(cè)。 支援輸入校正係數(shù)和 參數(shù)，搭配探針臺(tái)，可量 測(cè)晶圓電路特性?；鳂荰B-603高頻量測(cè)：校內(nèi)教師、研究生使用免費(fèi)高頻量測(cè)：校外人

5、員，500元/小時(shí)14多功能掃瞄探針顯微鏡多功能掃瞄探針顯微 鏡，標(biāo)準(zhǔn)裝備了原子力、 磁力顯微鏡。同時(shí)豐富多 彩的表面電位、微粘彈 性、隧道顯微鏡等多功能 掃瞄探針顯微鏡功能可 供選擇?；鳂荰B-607AFM量測(cè) 1000元/小時(shí)15真空熱蒸鍍機(jī)使用在半導(dǎo)體製程用蒸 度方式來(lái)達(dá)到鍍上金屬花明樓TB-605500元/小時(shí)16電漿輔助化學(xué)氣相 沉積系統(tǒng)沈積半導(dǎo)體薄膜花明樓TB-605半導(dǎo)體製程實(shí)驗(yàn)室500元/小時(shí)17頻譜分析儀Anritsu MS2687B 頻譜分 析儀的應(yīng)用包括： 位置監(jiān)看：驗(yàn)證發(fā)射器 的訊號(hào)頻率是精確的。 干擾監(jiān)看：系統(tǒng)在安裝 之前可使用 AnritsuMS2687B頻譜分析

6、儀確 認(rèn)頻率沒(méi)有被佔(zhàn)據(jù)，或確 認(rèn)沒(méi)有強(qiáng)烈的訊號(hào)干擾 你的裝備。干擾可由不同 的狀況產(chǎn)生，利用AnritsuMS2687B頻譜分析儀的 功能，包括天線(xiàn)隔離、同 通道干擾、相鄰?fù)ǖ拦?率、佔(zhàn)據(jù)頻寬、互調(diào)、微 波或衛(wèi)星天線(xiàn)調(diào)整和元 件特性?；鳂荰B-603高頻量測(cè)：校內(nèi)教師、研究生使用免費(fèi)高頻量測(cè)：校外人員，500元/小時(shí)18螢光光譜儀(PL)有機(jī)物、無(wú)機(jī)物之螢光分 析?；鳂荰B1003校內(nèi)收費(fèi)：30元/件 校外收費(fèi)：40元/件19動(dòng)態(tài)熱膨脹係數(shù)量測(cè)儀(DIL)廣泛應(yīng)用於無(wú)機(jī)陶 瓷、金屬材料、塑膠聚合 物、建築材料、塗層材 料、耐火材料、複合材料 等領(lǐng)域。研究材料特性如下：線(xiàn) 膨脹與體積膨脹、玻

7、璃化 溫度、軟化點(diǎn)檢測(cè)、相轉(zhuǎn) 變過(guò)程、熱處理及燒結(jié)、 反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究。花明樓TB1003校內(nèi)收費(fèi)：1500元/件 校外收費(fèi)：3000元件(超過(guò)5小時(shí)每小時(shí)加收500 元)20雷射粒徑分析儀(LA)可用來(lái)測(cè)量的顆粒材質(zhì) 包括：陶瓷及水泥、醫(yī) 藥、金屬、礦物、火藥、 固體燃料、食物、藥妝乳 液、微胞、高分子、塗料 和黏著劑、顏料和染料， 橡膠、塑膠和紙業(yè)用的碳 黑和礦物添加劑?；鳂荰B1003校內(nèi):300元/件 校外:800元/件21高效能液相層析(HP LC)有機(jī)酸分析系統(tǒng)花明樓TB1003校內(nèi)收費(fèi)：30元/小時(shí) 校外收費(fèi)：50元/小時(shí)22原子吸收光譜儀(AA)金屬兀素的疋性及疋 量檢測(cè)水溶液

8、中或經(jīng)過(guò)某些 樣品處理程序後可溶解 金屬含量之分析醫(yī)學(xué)、環(huán)境、食品及化 學(xué)工業(yè)等領(lǐng)域中重金屬 之分析可直接或間接用於水 質(zhì)、海域、煙道、大氣、 金屬工業(yè)、地質(zhì)化學(xué)研 究、石油化學(xué)工業(yè)、陶瓷 及臨床醫(yī)學(xué)等金屬之測(cè) 定花明樓TB1003校內(nèi):40元/成份 校外:50元/成份 r僅作檢測(cè)不作前理23傅立葉紅外線(xiàn)光譜儀(FT-IR)有機(jī)物之成份鑑別 無(wú)機(jī)物之結(jié)構(gòu)鑑別Poly mer 分析多層膜組成分析 薄膜膜厚測(cè)定蛋白質(zhì)二次結(jié)構(gòu)分析其他花明樓TB1003校內(nèi)收費(fèi)：100元/件 校外收費(fèi)：200元/件24掃瞄式電子顯微鏡(SEM)能觀看樣品表面結(jié)構(gòu)，形 狀及顆粒大小。可分析其元素成分組 成。提供一般科學(xué)

9、、材料 科學(xué)及醫(yī)藥科學(xué)等全 方位的分析應(yīng)用?；鳂荰B001校內(nèi)收費(fèi)：200元/時(shí)(自行 操作)500元/時(shí)(委託操作)校外收費(fèi)：400元/時(shí) (自行 操作)800元/時(shí)(委託操作)25X-光繞射分析儀(XRD)能測(cè)量晶體結(jié)構(gòu)，及計(jì)算 晶體晶格大小以計(jì)算其 理論密度。從X光繞射 圖樣決定其化學(xué)式。提供 一般科學(xué)、材料科學(xué)、生 物科學(xué)及醫(yī)藥科學(xué)等 全方位的分析應(yīng)用。花明樓TB904校內(nèi)收費(fèi)：50元/件 校外收費(fèi)：100元/件26示差掃瞄熱分析儀(DSC)在-150C 至U 350C溫 度測(cè)定範(fàn)圍，DSC能測(cè) 定並計(jì)算各種熱流轉(zhuǎn)移 數(shù)據(jù)。熱流轉(zhuǎn)移測(cè)定包括熔 解、分解、玻離溫度轉(zhuǎn) 移、熱容量、熟成動(dòng)

10、力等 現(xiàn)象測(cè)定。適合各種高分子材料 的測(cè)定?；鳂荰B909校內(nèi):1000元/件校外:1500元件27氣相層析質(zhì)譜儀（GC-MS）可揮發(fā)性化合物之分 析?？捎渺端幬?、毒物、 環(huán)境污染、空氣污染等分 析?；鳂荰B1003校內(nèi):1000元/件校外:1500元件28熱重量-熱示差掃瞄分析儀29X光繞射儀30反應(yīng)性射頻磁控濺鍍機(jī)作為一種鋁矽酸鹽材 料，蒙托石常存在于天然 的粘土中。DSC曲線(xiàn)顯 示了在868r與923r（峰溫）的額外吸放熱相 轉(zhuǎn)變。484 r（外推起始 點(diǎn)）的放熱效應(yīng)是由於雜 質(zhì)的存在所引起的。 霰石是碳酸鈣的某種 變體。這裏測(cè)試的樣品是 一種表面帶滑石雜質(zhì)（在461 r 與490r

11、出現(xiàn)放 熱峰）的霰石晶體。由於 雜質(zhì)的存在，碳酸鹽分解 過(guò)程中的失重比（43.71%）稍低於計(jì)算得 到的化學(xué)計(jì)量比（43.97%）。穿透導(dǎo)電氧化物薄膜（ex. Zn O）優(yōu)選結(jié)晶方位 分析薄膜太陽(yáng)電池微結(jié)構(gòu) 與相分析壓電光電材料組成分析 （43.71%）稍低於計(jì)算 得到的化學(xué)計(jì)量比（43.97%）。 Ti/Au等單一金屬 AIN , TiW 或 SiN 等 合金或化合物 ITO 或 SiO2, TiO2 等氧 化物花明樓TB-609花明樓TB-609花明樓TB-611每件實(shí)驗(yàn)基本測(cè)試費(fèi)（氮 氣坩蝸等耗材費(fèi)）300元。委託操作每件200元/小時(shí) （含資料及樣品處理時(shí) 間；不足一小時(shí)以一小時(shí) 計(jì)）

12、。每件實(shí)驗(yàn)基本測(cè)試費(fèi)（相 關(guān)耗材費(fèi)）300元。委託操作每件200元/小時(shí) （含資料及樣品處理時(shí) 間；不足一小時(shí)以一小時(shí) 計(jì)）。委託操作每件1,000元/小 時(shí)（含資料及樣品處理時(shí) 間；不足一小時(shí)以一小時(shí) 計(jì)）。31光電及半導(dǎo)體特性 量測(cè)儀器二極體、雙極性電晶體 及場(chǎng)效電晶體、CMOS 元件電流-電壓特性分 析。發(fā)光二極體I-V特性 分析。半導(dǎo)體雷射起始電壓 分析。光伏太陽(yáng)能電池及光 電感測(cè)元件分析?；鳂荰B-610委託操作每件1,000元/小 時(shí)（含資料及樣品處理時(shí) 間；不足一小時(shí)以一小時(shí) 計(jì)）。32光激光譜儀 III-V族半導(dǎo)體磊晶材 料品質(zhì)分析。 III-N 氮化物螢光特性 及雜質(zhì)分析。有機(jī)發(fā)光二極體材料 發(fā)光機(jī)制分析。光電感測(cè)元件光嚮應(yīng) 特性分折花明樓TB-610委託操作每件1,000元/小 時(shí)（含資料及樣品處理時(shí) 間