焊縫超聲波檢測工藝規(guī)程

1、焊縫超聲波檢驗(yàn)規(guī)程1 范圍 適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和設(shè)備的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備 的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用 .2 規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過 JB/T 4730 的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件， 其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成 協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部 分。JB 4730.12005 承壓設(shè)備無損檢測 第 1 部分：通用要求JB/T 7913 1995 超聲波

2、檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T 92141999 A 型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測試方法JB/T 10061 1999 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀 通用技術(shù)條件JB/T 10062 1999 超聲探傷用探頭 性能測試方法JB/T 10063 1999 超聲探傷用 1 號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件3 一般要求3.1 超聲檢測人員超聲檢測人員的一般要求應(yīng)符合 JB/T 4730.1 的有關(guān)規(guī)定。3.2 檢測設(shè)備3.2.1 超聲檢測設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。3.2.2 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.2.1 探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5M

3、Hz10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB誤差在土 1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于 5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合 JB/T10061 的規(guī)定。3.2.2.2 探頭23.2.221晶片面積一般不應(yīng)大于500mm，且任一邊長原則上不大于25mm。3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2°,主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能3.2.2.3.1 在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時(shí),其有效靈

4、敏度余量應(yīng)不小于10dB。3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于± 10%。3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下） ：對于頻率為 5MHz 的探頭,寬度不大于10mm ;對于頻率為 2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。3.2.2.3.4 直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于 30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于 6dB。3.2.2.3.5 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T 9214和JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測試。3.3 超聲檢測一般方法3.3.1 檢測準(zhǔn)備3.3.1.1 承壓設(shè)備的制造安裝和在用檢驗(yàn)中,檢測時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法

5、規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù) 文件的要求和原則進(jìn)行。3.3.1.2 檢測面的確定,應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。3.3.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除,其表 面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性,否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?.3.2 掃查覆蓋率 為確保檢測時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。3.3.3 探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過 150mm/s。3.3.4 掃查靈敏度 掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。3.3.5 耦合劑 應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測

6、表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、水等。3.3.6 靈敏度補(bǔ)償a) 耦合補(bǔ)償。在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。b) 衰減補(bǔ)償。 在檢測和缺陷定量時(shí)， 應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。c) 曲面補(bǔ)償。對探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試驗(yàn)進(jìn) 行曲率補(bǔ)償。3.4 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核3.4.1 一般要求 校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號。3.4.2 儀器校準(zhǔn) 每隔三個(gè)月至少對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定，測定方法按JB/T 10061 的規(guī)定進(jìn)行。3.4

7、.3 新購探頭測定 新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、 K 值、主聲束偏離、靈敏度余量 和分辨力等主要參數(shù)的測定。測定應(yīng)按 JB/T 10062 的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。3.4.4 檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定3.4.4.1 使用儀器 - 斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、 K 值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查 靈敏度。3.4.4.2 使用儀器 -直探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和 掃查靈敏度。3.4.5 檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 遇有下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)

8、；b) 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；c) 連續(xù)工作 4h 以上時(shí)；d) 工作結(jié)束時(shí)。3.4.6 檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a) 每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的 10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。b) 每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對距離- 波幅曲線的校核不應(yīng)少于 3 點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降 2dB ，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB ，則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。3.4.7 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器進(jìn)行線性檢測時(shí)，

9、任何影響儀器線性的控制器(如抑制或?yàn)V波開關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。3.5 試塊3.5.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊3.5.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊，本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試 塊有：a）鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CB I、CB n；b）鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：csi、csn、csm；c）焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK- I A、CSK- n A、CSK-川 A、CSK- IV A。3.5.1.2標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測時(shí)，不得有大 于或等于$ 2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。3.5.1.3標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)

10、計(jì)量部門檢定合格。3.5.1.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T 10063和JB/T 7913 1995的規(guī)定。3.5.2 對比試塊3.5.2.1 對比試塊是指用于檢測校準(zhǔn)的試塊。3.5.2.2 對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及 到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來確定。3.5.2.3 對比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定。4承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測4.1承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測4.1.1 范圍本條適用于板厚為 6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼承壓設(shè)備用板材的超聲檢測和質(zhì)量等級

11、評定。4.1.2探頭選用4.1.2.1 探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。表1鍋爐、壓力容器用板材超聲檢測探頭選用板厚，mm采用探頭公稱頻率，MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭52晶片面積不小于150mm>20 40單晶直探頭5$ 14 $ 20 mm>40 250單晶直探頭2.5$ 20 $ 25 mm4.1.2.2 雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄A （規(guī)范性附錄）的要求。4.1.3標(biāo)準(zhǔn)試塊4.1.3.1用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的鋼板時(shí)，采用的 CB I標(biāo)準(zhǔn)試塊如圖1所示。4.1.3.2用單直探頭檢測厚度大于20mm的鋼板時(shí)，CB n標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖 2和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與

12、被檢鋼板厚度相近。im1V如 i 1 Ol A圖2 CB n標(biāo)準(zhǔn)試塊表2 CB n標(biāo)準(zhǔn)試塊mm試塊編號被檢鋼板厚度檢測面到平底孔的距離s試塊厚度Tcb n -1>20 4015> 20CB n -2>40 6030> 40CB n -3>60 10050> 65CB n -4>100 16090> 110cb n -5>160 200140> 170CB n -6>200250190> 2204.1.4 基準(zhǔn)靈敏度4.141板厚不大于20mm時(shí)，用CB I試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB

13、作為基準(zhǔn)靈敏度。4.1.4.2 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CB H試塊$ 5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。4.1.4.3 板厚不小于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié) 果應(yīng)與4.142的要求相一致。4.1.5檢測方法4.1.5.1 檢測面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測。若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩 軋制表面分別進(jìn)行檢測。4.1.5.2耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。4.1.5.3 掃查方式a）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm （當(dāng)板

14、厚超過100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意圖見圖 3;b）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。 4.1.6缺陷的測定與記錄4.1.6.1 在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1> 50%;b）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1 ）波高與底面第一次反射波（BJ波高之比大于或等于 50%,即B1<100%，而F1/B1 > 50% ;c）底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即BjV 50%。4.1.6.2缺陷的邊界

15、范圍或指示長度的測定方法a）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測，以確定缺陷的延伸。b）用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法 測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。c）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度

16、，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。d）確定4.161 c）中缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一 次反射波升高到熒光屏滿刻度的 50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷 的邊界點(diǎn)。e）當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次 反射波來校準(zhǔn)。4.1.7缺陷的評定方法4.1.7.1缺陷指示長度的評定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。若單個(gè)缺陷的指示長度小于40mm時(shí)，可不作記錄。4.1.7.2 單個(gè)缺陷指示面積的評定規(guī)則a）一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該

17、缺陷的單個(gè)指示面積。b）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）時(shí)，以各缺 陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。c）指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表 3。表3鋼板質(zhì)量等級評定等級單個(gè)缺陷 指示長度mm單個(gè)缺陷 指示面積2cm在任一 1mx 1m檢測面積 內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷 指示面積不計(jì)cm2Iv 80V 25w 3V 9nV 100V 50w 5V 15出v 120V 100w 10V 25IVv 150V 100w 10V 25V超過 V 級者4.1.7.3缺陷面積百分比的評定規(guī)則在任一 1mx 1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼

18、板面積小于1m x 1m，可按比例折算。4.1.8鋼板質(zhì)量等級評定4.1.8.1鋼板質(zhì)量等級評定見表 3。4.1.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各 50mm （板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長度大于 或等于50mm時(shí)，應(yīng)評為V級。4.1.8.3在檢測過程中，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評為V級。 4.1.9橫波檢測4.1.9.1在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用橫波檢測。4.1.9.2 鋼板橫波檢測見附錄B （規(guī)范性附錄）進(jìn)行。4.2承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測和質(zhì)量分級4.2.1 范圍本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超

19、聲檢測和質(zhì)量等級評定。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)、外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。4.2.2探頭雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2;單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用25MHz，探頭晶片一般為 $ 14$ 25mm。4.2.3 試塊應(yīng)符合3.5的規(guī)定。4.2.3.1 單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。4.2.3.2 雙晶直探頭試塊a）工件檢測距離小于 45mm時(shí)，應(yīng)采用CSH標(biāo)準(zhǔn)試塊。b）CS n試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。4.2.3.3 檢測面是曲面時(shí)，應(yīng)采用 CS川標(biāo)準(zhǔn)

20、試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸 按圖6所示4.2.4檢測時(shí)機(jī)檢測原則上應(yīng)安排在熱處理后，孔、臺等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測面的表面粗糙度Raw 6.3卩m。國外標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡要評述4.2.5檢測方法4.2.5.1 一般原則鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測。4.2.5.2縱波檢測a）原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測，盡可能地檢測到鍛件的全體積。主要檢測方向如圖7所示。其他形狀的鍛件也可參照執(zhí)行；b）鍛件厚度超過400mm時(shí)，應(yīng)從相對兩端面進(jìn)行100%的掃查。425.3橫波檢測鋼鍛件橫波檢測應(yīng)按 JB/T4730。2-2005附錄C

21、 （規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。4.2.6靈敏度的確定4.2.6.1 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)長度，且探測面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，可直接采用 CS I標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。4.262雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CS H試塊，依次測試一組不同檢測距離的$3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。4.2.6.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的©2mm平底孔當(dāng)量直徑。4.2.7工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定4.2

22、.7.1在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（Bi或Bn）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度 （B2或Bm）為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1-B2）或（Bn-Bm）的dB差值（不考慮底面反射損 失）。4.2.7.2衰減系數(shù)的計(jì)算公式（Tv 3N,且滿足n>3N/T,m=2n.a = ( Bn- Bm) - 6】/2 (葉 n) T, (1)式中:a-一衰減系數(shù)，dB/m （單程）;(Bn-Bm）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB;T工件檢測厚度，mm ;N 單直探頭近場區(qū)長度，mm;m、

23、n底波反射次數(shù)。4.2.7.3衰減系數(shù)的計(jì)算公式（T > 3N）a=(B1-B2)-6 /2T,(2)(B1-B2）兩次衰減器的讀數(shù)之差,dB;式中其余符號意義同式（1）的規(guī)定。4.2.7.4工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。4.2.8缺陷當(dāng)量的確定4.2.8.1被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對于三倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離-波幅曲線來確定缺陷當(dāng)量。也可采用其他等效方法來確定。4.2.8.2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m，應(yīng)考慮修正。4.2.9缺陷記錄4.2.9.1 記錄當(dāng)量直徑超過

24、 $ 4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。4.2.9.2 密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于$4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于$ 3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50mm x 50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。4.2.9.3 底波降低量應(yīng)按表 6的要求記錄。表6由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級評定dB等級InIVV底波降低量BG/BF< 8>814>1420>2026>26注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。4.2.9.4 衰減系數(shù)：若合同雙方有規(guī)定時(shí)，應(yīng)記錄衰減系

25、數(shù)。4.2.10質(zhì)量等級評定4210.1單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級評定見表7。表7單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級評定mm等級InIVV缺陷當(dāng)量直徑W $ 4$ 4+ ( >0 dB8dB)$ 4+ ( >8 dB12dB)$ 4+( >12 dB16dB)> $ 4 +16dB4.2.10.2缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級評定見表6。4.2.10.3缺陷密集區(qū)質(zhì)量等級評定見表&表8密集區(qū)缺陷的質(zhì)量等級評定等級InVV密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比，%0>05>510>1020>204.2.10.4表6、表7和表8的等級應(yīng)作為獨(dú)立的等級分別使用。4.2.10.5

26、當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級為V級。 4.3承壓設(shè)備用無縫鋼管超聲檢測4.3.1 范圍本條適用于外徑為12mm660mm、壁厚大于等于 2mm的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金無縫鋼管或外徑為12mm400mm、壁厚為2mm35mm的奧氏體不銹鋼無縫管的超聲檢測和質(zhì)量等級評定。本條不適用于內(nèi)、外徑之比小于80%的鋼管周向直接接觸法橫波檢測，也不適用于分層缺陷的超聲檢測。4.3.2試塊的制備和要求4.5.2.1 對比試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同，材質(zhì)、熱處理工藝和表面狀況相同或相似的鋼管制備。對比試塊不得有大于或等于$ 2mm當(dāng)量的自然缺陷。對比試塊的長度應(yīng)滿足檢測方法和檢測設(shè)備要求

27、。4.3.2.2 鋼管縱向缺陷檢測試塊的尺寸、V形槽和位置應(yīng)符合圖 8和表11的規(guī)定。表11對比試樣上人工缺陷尺寸級別長度l , mm深度t占壁厚的百分比，%I405 ( 0.2mm < t< 1mm )n408 ( 0.2mm < t< 3mm )4010 ( 0.2mm < t < 3mm)4.3.3檢測方法4.3.3.1鋼管的檢測主要針對縱向缺陷。橫向缺陷的檢測可按附錄D （規(guī)范性附錄）的規(guī)定，由合同雙方協(xié)商解決。4.3.3.2鋼管的檢測可根據(jù)鋼管規(guī)格選用液浸法或接觸法檢測。4.3.3.3檢測縱向缺陷時(shí)超聲波束應(yīng)由鋼管橫截面中心線一側(cè)傾斜入射，在管壁內(nèi)

28、沿周向呈鋸齒形傳播（如圖9所示）。檢測橫向缺陷時(shí)超聲波束應(yīng)沿軸向傾斜入射呈鋸齒形傳播（如圖10所示）。4.3.3.4 探頭相對鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)保證超聲波束對鋼管進(jìn)行100%掃查時(shí)，有不小于15%的覆蓋率。4.3.3.5自動(dòng)檢測應(yīng)保證動(dòng)態(tài)時(shí)的檢測靈敏度，且內(nèi)、外槽的最大反射波幅差不超過2dB。4.3.3.6每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方向各檢測一次。4.3.4檢測設(shè)備4.3.4.1檢測設(shè)備由超聲波探傷儀、探頭和其他機(jī)械傳動(dòng)裝置及輔助裝置等組成。檢測頻率為2.5MHz5MHz。4.3.4.2液浸法檢測使用線聚焦或點(diǎn)聚焦探頭。接觸法檢測使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭或聚焦斜探 頭。單個(gè)探頭壓電晶片

29、長度或直徑小于或等于25mm。4.3.5靈敏度的確定4.3 5.1直接接觸法橫波基準(zhǔn)靈敏度的確定，可直接在對比試樣上將內(nèi)壁人工V形槽的回波高度調(diào)到熒光屏滿刻度的80%，再移動(dòng)探頭，找出外壁人工V形槽的最大回波，在熒光屏上標(biāo)出，連接兩點(diǎn)即為距離-波幅曲線，作為檢測時(shí)的基準(zhǔn)靈敏度。4.3.5.2液浸法基準(zhǔn)靈敏度按下述方法確定：a）水層距離應(yīng)根據(jù)聚焦探頭的焦距來確定；b）調(diào)整時(shí)，一面用適當(dāng)?shù)乃俣绒D(zhuǎn)動(dòng)管子，一面將探頭慢慢偏心，使對比試樣管內(nèi)、外表面人工缺陷所產(chǎn)生的回波幅度均達(dá)到熒光屏滿刻度的50%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。如不能達(dá)到此要求，也可在內(nèi)、外槽設(shè)立不同的報(bào)警電平。4.3.5.3 掃查靈敏度一般應(yīng)

30、比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。436驗(yàn)收要求：無縫鋼管的判廢要求按相應(yīng)技術(shù)文件規(guī)定。4.3.7結(jié)果評定：若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)的對比試塊人工缺陷回波，則判為不合格。不合格品允許重新處理，處理后仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行超聲檢測和質(zhì)量等級評定。4.4承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測4.4.1 范圍本條適用于承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量等級評定。4.4.2探頭4.4.2.1 探頭的工作頻率為 0.5 MHz2MHz。442.2 直探頭的晶片直徑為 14mm30mm。4.4.2.3 斜探頭的K值一般為0.52。4.4.2.4 為了準(zhǔn)確測定缺陷，必要時(shí)也可采用其他探頭。4.4.3 試塊4.4.3.1 對比試

31、塊應(yīng)符合3.5的規(guī)定。4.4.3.2對比試塊的晶粒大小和聲學(xué)特性應(yīng)與被測鍛件大致相近。4.4.3.3應(yīng)制備幾套不同晶粒度的奧氏體鋼鍛件對比試塊，以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理的 比較。4.4.3.4對比試塊的形狀和尺寸按圖11和表14所示。表14奧氏體鋼鍛件試塊尺寸mm0 30 60 100 13LDLDLDLD205020502050205040505050505050506050805010060100608050120601508015080160802008020080200802501002501003001003001004001505001506002004.4.3.5 在條件允

32、許時(shí)，經(jīng)合同雙方協(xié)議，可在鍛件有代表性的部位加工一個(gè)或幾個(gè)適當(dāng)大小的對比孔或 槽，代替試塊作為校正和檢測的基準(zhǔn)。4.4.4檢測時(shí)機(jī)和工件要求4.4.4.1 鍛件原則上應(yīng)在最終熱處理后、粗加工前進(jìn)行超聲檢測。檢測表面粗糙度Raw 6.3卩m。檢測面應(yīng)無氧化皮、漆皮、污物等。4.4.4.2鍛件應(yīng)加工成簡單的形狀，以利于掃查和聲束的覆蓋。4.4.5檢測方法一般應(yīng)進(jìn)行直探頭縱波檢測。對筒形鍛件和環(huán)形鍛件必要時(shí)還應(yīng)進(jìn)行斜探頭檢測，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由合同雙方商定。445.1 斜探頭檢測奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測應(yīng)按附錄E （規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。4.4.5.2直探頭縱波檢測直探頭縱波檢測應(yīng)符合425.

33、2的規(guī)定。4.4.6靈敏度的校正4.4.6.1當(dāng)被檢鍛件厚度小于或等于600mm時(shí)，應(yīng)根據(jù)定貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級，在適當(dāng)厚度和當(dāng)量的平底孔試塊上校正，并根據(jù)實(shí)測值做出距離-波幅曲線（定量線）；當(dāng)被檢鍛件厚度大于 600mm時(shí)，在鍛件無缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。4.4.6.2掃查靈敏度應(yīng)至少比距離-波幅曲線（定量線）或基準(zhǔn)靈敏度提高6dB。4.4.7缺陷記錄4.4.7.1由于缺陷的存在，而使底波降為滿刻度25%以下的部位。4.4.7.2波幅幅度大于基準(zhǔn)線高度50%的缺陷信號。4.4.8質(zhì)量等級評定4.4.8.1 單直探頭檢測的質(zhì)量等級評定見表15。4.4.8.2

34、 斜探頭檢測的質(zhì)量等級評定見表16。448.3 表15和表16的級別應(yīng)作為獨(dú)立的等級使用。表15單直探頭檢測的質(zhì)量等級評定mm工件公稱厚度< 80>80200>200300> 300 600> 600工件質(zhì)量等級InInInInIn缺陷當(dāng)量直徑0或因缺陷 弓1起底波降低后的幅度0 3>030 6> 06010> 010013>013> 5%5%表16斜探頭檢測的質(zhì)量等級評定mm等級In缺陷大小V形槽深為工件壁厚的 3%，最大為3V形槽深為工件壁厚的 5%，最大為65承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測5.1鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測5.

35、1.1適用范圍本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭的超聲檢測和質(zhì)量等級評定。本條適用于母材厚度為8mm400mm全焊透熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測。母材厚度為6mm8mm全焊透熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測應(yīng)按照附錄G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。鈦制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測參 照附錄M （資料性附錄）的規(guī)定進(jìn)行，奧氏體不銹鋼承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲波檢測參照附錄N （資料性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。如確有需要，壁厚為 4mm6mm的環(huán)向焊接接頭的超聲檢測可參照6.1進(jìn)行。本條不適用于鑄鋼焊接接頭、外徑小于159mm的鋼管對接焊接

36、接頭、內(nèi)徑小于或等于200mm的管座角焊縫的超聲檢測，也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)、外徑之比小于 80%的縱向焊接接頭超聲檢測。5.1.2超聲檢測技術(shù)等級 5.1.2.1超聲檢測技術(shù)等級選擇超聲檢測技術(shù)等級分為 A、B、C三個(gè)檢測級別。超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等 有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。5.1.2.2 不同檢測技術(shù)等級的要求5.1.2.2.1 A級僅適用于母材厚度8mm46mm的焊接接頭。可用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測。5.1.2.2.2 B 級檢測：a) 母材厚度8mm46mm時(shí)，一般用一種K值探頭采

37、用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面 雙側(cè)進(jìn)行檢測。b) 母材厚度大于46mm120mm時(shí)，一般用一種 K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K 值探頭進(jìn)行檢測。c) 母材厚度大于120mm400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°。d) 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10° 20°作兩個(gè)方向的斜平行掃查，見圖12。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃

38、查，見圖 13。5.1.2.2.3 C 級檢測：采用 C 級檢測時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平， 對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn) 行檢測，檢測方法見 5.1.4.4。a) 母材厚度8mm46mm時(shí)，一般用兩種 K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于 10°，其中一個(gè)折射角應(yīng)為45°。b) 母材厚度大于46mm400mm時(shí)，一般用兩種 K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°。對于單側(cè)坡口角度小于5°的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平

39、行缺陷有效的檢測方法。c) 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時(shí)，將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查， 見圖 13。5.1.3 試塊5.1.3.1 試塊制作應(yīng)符合 3.5 的規(guī)定。5.1.3.2 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為 CSK- I A、CSK- H A、CSK-川A和CSK- IV A。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖14、圖 15、圖 16、圖 17和表 17的規(guī)定。5.1.3.3 CSK- I A、CSK- n A和CSK-川A試塊適用壁厚范圍為 6mm120mm的焊接接頭，CSK- I A和CSK- V A系列試塊適用壁厚范圍大于120mm400mm的焊接接頭。在滿足靈敏度要求時(shí)，試塊上的人工

40、反射體根據(jù)檢測需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效試塊。25.1.3.4 檢測曲面工件時(shí)，如檢測面曲率半徑 RW W/4時(shí)(W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測時(shí)為探頭寬度， 縱縫檢測時(shí)為探頭長度) ，應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊，反射孔的位置可參照標(biāo)準(zhǔn)試塊確定。試 塊寬度 b 一般應(yīng)滿足：b2 入 S/D0,”,”,”,”,”(3)式中：b試塊寬度，mm;入一一超聲波波長，mm ;S聲程，mm;D0聲源有效直徑，MM5.1.4 檢測準(zhǔn)備5.1.4.1 檢測面a) 檢測區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm，最大為10 mm，見圖

41、18。b) 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)。檢測表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，其表面粗糙度Ra應(yīng)小于等于6.3卩m, 般應(yīng)進(jìn)行打磨。(1)采用一次反射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)大于或等于 1.25P：P=2TK ,(4)或P=2TtanB ,(5)式中：P 跨距, mm ;T母材厚度，mm;K 探頭K值；3 探頭折射角，（°）。（2）采用直射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于0.75P。c）去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較 大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過渡以免影響檢測結(jié)果的評定。5.142 探頭K值（角度）斜探

42、頭的K值（角度）選取可參照表18的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。表18推薦采用的斜探頭 K值板厚T, mmK值6253.02.0 （72° 60°）>25 462.51.5 （68° 56°）>461202.01.0 （60° 45°）>1204002.01.0 （60° 45°）5.143 檢測頻率檢測頻率一般為 2MHz5MHz。5.1.4.4 母材的檢測對于C級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測

43、僅作記錄，不屬于對母材的驗(yàn)收檢測。母材檢測的要點(diǎn)如下:a） 檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2MHz5MHz的直探頭，晶片直徑 10mm25mm。b） 檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。c） 凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。5.1.5距離-波幅曲線的繪制5.1.5.1距離-波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、 定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為n區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)榇▍^(qū)，如圖19所示。如果距離-波幅曲線繪制在熒光屏上，

44、則在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%。5.1.5.2 距離-波幅曲線的靈敏度選擇a）壁厚為6mm120mm的焊接接頭，其距離-波幅曲線靈敏度按表19的規(guī)定。表19距離-波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚，mmr評定線定量線判廢線CSK- n A646>461200 2 X 40-18dB0 2 X 40-14dB0 2X 40- 12dB0 2 X 40-8dB0 2X 40- 4dB0 2X 40+2dBCSK-皿 A815> 15 46>461200 1X 6-12dB0 1 X 6- 9dB0 1 X 6-6dB0 1 X 6- 6dB0 1 X 6- 3dB0 1X 6

45、0 1 X 6+2dB0 1 X 6+5dB0 X 6+10dBb）壁厚大于120mm400mm的焊接接頭，其距離-波幅曲線靈敏度按表 20的規(guī)定。 表20 距離-波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚，mm評定線定量線判廢線CSK- IV A>1204000 d- 16dB0 d- 10dB0 d注：d為橫孔直徑，見表 17oc） 檢測橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。d）檢測面曲率半徑 RW W/4時(shí)，距離-波幅曲線的繪制應(yīng)在與檢測面曲率相同的對比試塊上進(jìn)行。e） 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按附錄F （規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償。在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差

46、小于或等于2dB時(shí)可不進(jìn)行補(bǔ)償。f）掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度。5.1.6 檢測方法5.1.6.1 平板對接焊接接頭的超聲檢測a）為檢測縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查，見圖20。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10°15°的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。不同檢測等級對縱向缺陷的檢測要求見5.1.2。b）不同檢測等級對橫向缺陷的檢測要求見5.1.2。C）對電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成 45°的斜向掃查。d ）為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和

47、形狀，可采用前后、 左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見圖 21。5.1.6.2曲面工件（直徑小于或等于500mm）對接焊接接頭的超聲檢測a）檢測面為曲面時(shí)，可盡量按平板對接焊接接頭的檢測方法進(jìn)行檢測。對于受幾何形狀限制，無法 檢測的部位應(yīng)予以記錄。b）縱縫檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。（1）根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭 K 值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭。（ 2）探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K 值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測定。（ 3）應(yīng)注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，必

48、 要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。C） 環(huán)縫檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測面曲率半徑的0.9倍1.5倍。5.1.6.3 管座角焊縫的檢測a） 一般原則。 在選擇檢測面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結(jié)構(gòu)中的 主要缺陷。b ） 檢測方式。 根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，管座角焊縫的檢測有如下五種檢測方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測。檢測方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。1）在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖 22 位置 1。2）在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖23位置 1。在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖 22位置 4。3）在接管外壁采用斜探頭檢測，見圖

49、23 位置 2。4）在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖22 位置 3 和圖 23 位置 3。5）在容器外壁采用斜探頭檢測，見圖 22 位置 2。C） 管座角焊縫以直探頭檢測為主，探頭頻率、尺寸應(yīng)按 4.2.2 的規(guī)定執(zhí)行，管座角焊縫和 T 型焊接 接頭超聲檢測時(shí)， 管座角焊縫斜探頭的距離 -波幅曲線靈敏度按表19的規(guī)定， 直探頭的距離 -波幅曲線靈敏度按表 21的規(guī)定。距離-波幅曲線的制作可在 CSH試塊上進(jìn)行，詳見5.1.5.1。必要時(shí)應(yīng)增加斜探頭檢測的內(nèi)容。5.1.6.4 T 型焊接接頭的超聲檢測a） 適用范圍。本條適用于厚度為 6mm50mm的承壓設(shè)備全焊透 T型焊接接頭的超聲檢測。其他用途

50、的全焊透T型 焊接接頭的超聲檢測也可參照本條的規(guī)定進(jìn)行。b） 基本原則。在選擇檢測面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測各類缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結(jié)構(gòu)中的 主要缺陷。C） 檢測方式。根據(jù)焊接接頭結(jié)構(gòu)形式， T 型焊接接頭的檢測有如下三種檢測方式?？蛇x擇其中一種或幾種方式組合 實(shí)施檢測，檢測方式選擇應(yīng)由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。1）用斜探頭從翼板外側(cè)用直射法進(jìn)行探測，見圖 24位置1、圖25位置1和圖 26位置 1。2）用斜探頭在腹板一側(cè)用直射法或一次反射法進(jìn)行探測，見圖24 位置 2、位置 4，圖 25 位置 2、位 置4和圖26位置2、位置4。3）用直探頭或雙

51、晶直探頭在翼板外側(cè)沿焊接接頭探測，或者用斜探頭（推薦使用K1探頭）在翼板外側(cè)沿焊接接頭探測，見圖24位置3、圖25位置3和圖26位置3。位置3包括直探頭和斜探頭兩種掃查。d）斜探頭K值的確定。用斜探頭在翼板外側(cè)進(jìn)行探測時(shí)，推薦使用K1探頭；用斜探頭在腹板一側(cè)進(jìn)行探測時(shí)，探頭K值根據(jù)腹板厚度按表18進(jìn)行選擇。e）距離-波幅曲線靈敏度的確定。用斜探頭探測時(shí)，距離-波幅曲線靈敏度應(yīng)以腹板厚度按表19確定；用直探頭探測時(shí)，距離-波幅曲線靈敏度應(yīng)以翼板厚度按表22確定。f）掃查方式直探頭和斜探頭的掃查按5.1.6的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。g）對缺陷進(jìn)行等級評定時(shí)，均以腹板厚度為準(zhǔn)。5.1.7缺陷定量檢測5.1.7

52、.1靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。5.1.7.2 對所有反射波幅達(dá)到或超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。5.1.7.3缺陷位置測定缺陷位置測定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn)。5.1.7.4缺陷最大反射波幅的測定將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號的位置，測定波幅大小，并確定它在距離-波幅曲線圖中區(qū)域。5.1.7.5 缺陷定量應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑0或缺陷指示長度 L。a） 缺陷當(dāng)量直徑$ ,用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測，可采用公式計(jì)算，距離-波幅曲 線和試塊對比來確定缺陷當(dāng)量尺寸。b）缺陷指示長度L的檢測采用以下方法：1）當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，

53、且位于n區(qū)或n區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用6dB法測其指示長度；2）當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于n區(qū)或n區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度 的80%后，應(yīng)以端點(diǎn)6dB法測其指示長度；3）當(dāng)缺陷反射波峰位于I區(qū)，如認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動(dòng)，使波幅降到評定線，以此測 定缺陷指示長度。5.1.8缺陷評定5.1.8.1超過評定線的信號應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭 K值、增加檢測面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定，如對波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其他檢測方法作綜 合判定。5.1.8.2 缺陷指示長度小于 10mm時(shí)，按5mm計(jì)。

54、5.1.8.3相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長 度之和作為其指示長度（間距不計(jì)入缺陷長度）。5.1.9質(zhì)量等級評定焊縫質(zhì)量等級評定按表 23的規(guī)定進(jìn)行。表23焊縫質(zhì)量等級評定mm等級板厚T反射波幅（所在區(qū)域）單個(gè)缺陷指示長度 L多個(gè)缺陷累計(jì)長度L'I6 400I非裂紋類缺陷6 120nL = T /3，最小為10,最大不超過 30在任意9T焊縫長度范圍內(nèi)L'不超過T>120400L = T /3，最大不超過 50n6 120nL = 2 T/3 ,最小為12,最大不超過 40在任意4.5T焊縫長度范圍內(nèi)L '不超過T>120400最大不超過756 400n超過n級者超過n級者川所有缺陷i、n、皿裂紋等危害性缺陷注：1母材板厚不同時(shí)，取