奈米壓痕測(cè)試儀 Nanoindenter儀器原理與功能

1、奈米壓痕測(cè)試儀 Nanoindenter儀器原理與功能壓痕測(cè)試是材料機(jī)械性質(zhì)量測(cè)上最常用的方法，奈米壓痕測(cè)試?yán)媚蚊阻嵤瘔侯^將極微小之荷重作用在待測(cè)材料表面，使材料發(fā)生變形。利用位移感測(cè)器可測(cè)得壓頭之壓入深度、進(jìn)而得知下壓面積；而藉由測(cè)試所得之荷重-深度曲線，配合Oliver-Pharr關(guān)係式，可進(jìn)一步計(jì)算得到材料之硬度及彈性係數(shù)。廠牌規(guī)格奈米壓痕測(cè)試儀 Nanoindenter廠牌 / 型號(hào)TriboLab, Hysitron, USATransducer Specs.最大荷重10 mN儀器解析度荷重解析 1 N深度解析 0.2 nmDate Acquisition測(cè)試曲線最大測(cè)試點(diǎn)數(shù)131

2、,072數(shù)值點(diǎn)獲取速率30,000 points/secMotorized XY Sample Stage載臺(tái)尺寸50 mm x 50 mm載臺(tái)可測(cè)試範(fàn)圍50 mm x 50 mm載臺(tái)水平位移誤差50 nmMotorized Z Sample Stage載臺(tái)垂直可位移範(fàn)圍50 mm載臺(tái)垂直位移誤差3 nmOptics放大倍率10X - 20XTrue in-situ SPM Imaging Specs.水平掃描範(fàn)圍極限60 um x 60 um垂直掃描範(fàn)圍極限4 um掃描解析256 lines per image掃描頻率0.1Hz 3.0Hz附件功能附件功能奈米刮痕測(cè)試磨耗測(cè)試備註附件功能暫不

3、開(kāi)放自行操作自行操作辦法執(zhí)照等級(jí)管理辦法C級(jí)執(zhí)照(學(xué)習(xí)執(zhí)照)參加過(guò)儀器說(shuō)明會(huì)並提出儀器學(xué)習(xí)申請(qǐng)者，於接受操作訓(xùn)練後可取得學(xué)習(xí)執(zhí)照。領(lǐng)有學(xué)習(xí)執(zhí)照者，可由管理員或具講師執(zhí)照者於安排時(shí)段內(nèi)練習(xí)，不得獨(dú)自使用本儀器。學(xué)習(xí)時(shí)數(shù)超過(guò)15小時(shí)後，可參加一般執(zhí)照之操作考試。半年內(nèi)如未取得一般執(zhí)照，則取消其學(xué)習(xí)執(zhí)照。B級(jí)執(zhí)照(一般執(zhí)照)通過(guò)操作考試並了解儀器維護(hù)要點(diǎn)者，可取得一般執(zhí)照。領(lǐng)有一般執(zhí)照者，可自行於預(yù)約之上班時(shí)間內(nèi) (上午8點(diǎn)至下午5點(diǎn)) 使用本儀器。半年內(nèi)如未使用本儀器，則取消其一般執(zhí)照。A級(jí)執(zhí)照(講師執(zhí)照)取得一般執(zhí)照後，上機(jī)次數(shù)超過(guò)15次，未曾出錯(cuò)，通過(guò)儀器維護(hù)鑑定並參加規(guī)定講習(xí)，且願(yuàn)意協(xié)助指導(dǎo)

4、學(xué)習(xí)執(zhí)照者，可取得講師執(zhí)照。領(lǐng)有講師執(zhí)照者，可全天候使用本儀器。半年內(nèi)如未使用本儀器，或曾出錯(cuò)傷及儀器，則取消其講師執(zhí)照。備 註嚴(yán)禁冒名無(wú)照操作，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)該實(shí)驗(yàn)室禁用本儀器半年。服務(wù)項(xiàng)目服務(wù)項(xiàng)目材料機(jī)械性質(zhì)測(cè)量(附件光學(xué)顯微鏡)硬度彈性係數(shù)荷重-深度曲線試片表面與壓痕形貌SPM掃描備註1. 使用者必須詳細(xì)說(shuō)明試片之種類(lèi)與結(jié)構(gòu)。2. 表面須乾淨(jìng)，表面粗糙度不宜過(guò)大，否則可能無(wú)法量測(cè)。3. 薄膜試片之膜厚愈厚，則所量測(cè)之?dāng)?shù)據(jù)愈準(zhǔn)確。4. 試片尺寸須大於0.5 cm x 0.5 cm。5. 試片須事先黏貼於試片座上，請(qǐng)?zhí)嵩缰连F(xiàn)場(chǎng)處理。6. 請(qǐng)使用時(shí)段預(yù)約。預(yù)約時(shí)段 週三、週四上午 9：00-12：0

5、0和下午 2：00-5：00收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目校內(nèi)校外開(kāi)機(jī)費(fèi)用1000元2000元測(cè)試點(diǎn) (每一點(diǎn))100元200元SPM掃描 (每次)100元200元備註如有未盡事宜，將另行公告於貴儀網(wǎng)站。預(yù)計(jì)數(shù)據(jù)回報(bào)測(cè)試數(shù)據(jù)基本上於測(cè)試當(dāng)天即可取回，請(qǐng)自備隨身碟。備註由於指定與實(shí)際測(cè)試區(qū)域可能因觀察判斷而有所差異，上機(jī)時(shí)請(qǐng)?jiān)谂耘阃?。?lián)絡(luò) 地點(diǎn)聯(lián)絡(luò)人諮詢(xún)教授張守一TEL：(04) 22840500 #701E-mail：.tw管理學(xué)生陳思帆TEL：(04) 22840500 #702E-mail：ck910435yahoo.cm.tw儀器地點(diǎn)國(guó)立中興大學(xué)材料工程學(xué)

6、系工程三館 (化工暨材料大樓) 地下室MB04儀器預(yù)約者貴重儀器中心中興大學(xué)材料系主項(xiàng)儀器奈米壓痕測(cè)試儀 (Hysitron TriboLab Nanoindenter)細(xì)項(xiàng)儀器-預(yù)約方式時(shí)段預(yù)約序號(hào)預(yù)約儀器在 7 天前預(yù)約儀器在 3 天前取消付費(fèi)方式尾程優(yōu)惠上限實(shí)驗(yàn)基本費(fèi)用操作方式委託操作自行操作樣品樣數(shù)：實(shí)驗(yàn)件數(shù)：預(yù)估實(shí)驗(yàn)費(fèi)用總金額：實(shí)驗(yàn)額度：實(shí)驗(yàn)現(xiàn)金：備註說(shuō)明預(yù)約注意事項(xiàng)技術(shù)人員電話 (04) 22840500 #703 or #702.1. 使用者必須詳細(xì)說(shuō)明試片之種類(lèi)與結(jié)構(gòu)。2. 表面須乾淨(jìng)，表面粗糙度不宜過(guò)大，否則可能無(wú)法量測(cè)。3. 薄膜試片之膜厚愈厚，則所量測(cè)之?dāng)?shù)據(jù)愈準(zhǔn)確。4. 試片尺寸須大於0.5