第6章—電子元件的測量技術(shù)及儀器

1、第第6 6章章 電子元件的測電子元件的測量技術(shù)及儀器量技術(shù)及儀器 本章主要內(nèi)容本章主要內(nèi)容 l電子元件參數(shù)測量的基本要求電子元件參數(shù)測量的基本要求l電橋法和萬用電橋的使用電橋法和萬用電橋的使用l諧振法及諧振法及QQ表的使用方法表的使用方法l晶體管特性圖示儀的使用方法晶體管特性圖示儀的使用方法1 1、了解萬用電橋組成及基本原理、了解萬用電橋組成及基本原理教學(xué)目標(biāo)教學(xué)目標(biāo)2 2、了解、了解Q Q表的結(jié)構(gòu)及基本原理表的結(jié)構(gòu)及基本原理3 3、平衡電橋法測量原理、平衡電橋法測量原理4 4、諧振法測量原理、諧振法測量原理5 5、晶體管特性圖示儀組成原理與使用、晶體管特性圖示儀組成原理與使用第6章 電子元件

2、的測量技術(shù)及儀器 6.1 電子元件參數(shù)測量的基本要求電子元件參數(shù)測量的基本要求 電子元器件是最基本的電子產(chǎn)品，是構(gòu)成電氣系統(tǒng)的基礎(chǔ)。在電子技術(shù)中，電子元器件的測量主要包括集中參數(shù)元件的測電子元器件的測量主要包括集中參數(shù)元件的測量和晶體管、場效應(yīng)管等器件的測量。量和晶體管、場效應(yīng)管等器件的測量。 集中參數(shù)元件測量是指對電阻、電容、電感、阻抗品質(zhì)因集中參數(shù)元件測量是指對電阻、電容、電感、阻抗品質(zhì)因數(shù)數(shù)Q Q及損耗因數(shù)及損耗因數(shù)D D的測量。的測量。雖然理想元件中只包含大小恒定不變的純電阻或純電抗，但實際的集中參數(shù)元件并非如此，因此，集中參數(shù)元件的測量還包括Q、D的測量。 第6章 電子元件的測量技術(shù)

3、及儀器 如圖6.1所示，實際電阻器可以等效為純電阻R與寄生電感LR的串聯(lián)，再與分布電容CR的并聯(lián)。圖6.1 實際電阻器的等效電路 寄生電感是由于繞制電阻的金屬絲或碳膜電阻制造過程中的刻槽等原因而產(chǎn)生的。在低頻狀態(tài)下，感抗很小，容抗很大，故可以忽略不計，但在高頻狀態(tài)下，由于感抗很大，容抗很小，就必須考慮LR和CR的因素。 6.1.1 電阻器測量的基本要求電阻器測量的基本要求第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 理想的電容器是儲能元件C，也稱為純電容，在電路中可以實現(xiàn)能量交換。實際電容器則存在損耗電阻和引線電感。實際電容器則存在損耗電阻和引線電感。6.1.2 電容器測量的基本要求電容器測量的基本要求

4、由于電容器損耗電阻的存在，會使電容器在使用過程中消耗一定的能量，這種能量損耗稱為電容器的介質(zhì)損耗，用Rcs或Rcp來表示。圖6.2 實際電容器的等效電路 在應(yīng)用形式上可等效為串聯(lián)損耗電阻Rcs與純電容串聯(lián)或者并聯(lián)損耗電阻Rcp與純電容并聯(lián)的電路，如圖6.2所示。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 在頻率不太高的情況下，引線電感引線電感的影響由于其感抗很小可忽略不計。在高頻電路中在高頻電路中就必須考慮必須考慮其影響，高頻時的電容等效電路如圖6.3所示。圖6.3 高頻時電容器等效電路 綜上所述，任何情況下，在實際運用中對電容器元件需要測量兩個參數(shù)測量兩個參數(shù)，即電容量電容量和損耗大小損耗大小，電容器

5、的損耗大小通電容器的損耗大小通常用損耗因數(shù)常用損耗因數(shù)D D來表示，來表示，D D值越大損耗越大。值越大損耗越大。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 通常用損耗因數(shù)D來表示電容器的損耗大小，具體表達(dá)式為： D=RCS/XC=CRCS D= XC/RCP =1/(CRCP) 串聯(lián)等效電路： 并聯(lián)等效電路： 式中，XC為電容器的容抗。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 理想電感器是儲能元件，為純電感，在電路中可實現(xiàn)能量交換。6.1.3 電感器測量的基本要求電感器測量的基本要求 實際電感器在運用中除考慮電感量參數(shù)電感量參數(shù)外，由于線圈的因素也要考慮損耗電阻損耗電阻，它的等效電路為損耗電阻RLS與純電感

6、串聯(lián)或者并聯(lián)損耗電阻RLP與純電感并聯(lián)，如圖6.4所示。（a） （b） 圖6.4 電感器等效電路 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 實際電感器還存在分布電容分布電容C C，在頻率不太高的情況下，分布電容的影響由于容抗很大可忽略不計。高頻時高頻時則必須考必須考慮，慮，高頻時電感的等效電路如圖6.5所示。圖6.5 電感器高頻等效電路 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 綜上所述，在實際實際運用中對電感器元件需要測量測量的也是兩個參數(shù)兩個參數(shù)，即電感量電感量和損耗大小損耗大小。電感器的損耗大小通常用電感器的損耗大小通常用品質(zhì)因數(shù)品質(zhì)因數(shù)Q Q來表示。來表示。Q Q值越大損耗越小，電感的品質(zhì)越好。值越大

7、損耗越小，電感的品質(zhì)越好。Q值具體表達(dá)式為： 串聯(lián)等效電路：Q=XL/RLS=L/RLS Q=RLP/XL= RLP/L 并聯(lián)等效電路： 集中參數(shù)元件的測量包括集中參數(shù)元件的測量包括伏安法伏安法、電橋法電橋法和和諧振法諧振法三種。三種。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6.2 伏安法及數(shù)字化測量伏安法及數(shù)字化測量6.2.1 伏安法伏安法 伏安法，即電壓表電壓表- -電流表法電流表法，是根據(jù)歐姆定律來測量集中元件參數(shù)的。該方法使用方便，但測量精確度較差，僅適用于低頻測量，比較適合直流電阻的，僅適用于低頻測量，比較適合直流電阻的測量。測量。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 圖6.6(a)、圖6

8、.6(b)分別為電流表外接、內(nèi)接的伏安法測量集中參數(shù)元件原理圖。Z=U/I 圖6.6 伏安法測量原理圖 在忽略電壓表、電流表內(nèi)阻影響的情況下，根據(jù)歐姆定律有：第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 當(dāng)測量直流電阻時，電源為直流電源，則 當(dāng)測量電容或電感時，角頻率為的交流電壓作為電源，由電容、電感等效電路的分析可知，二者都可以等效為電阻與電抗的串聯(lián)，即阻抗的模值Z為：R=Z=U/I22XR 在忽略損耗電阻影響的情況下，存在關(guān)系： XXRZIU22/CXC1LXLIULUIC第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 上述分析中，均忽略了電壓表、電流表內(nèi)阻的影響，忽略了電壓表、電流表內(nèi)阻的影響，實際測實際測量的準(zhǔn)

9、確度較低。量的準(zhǔn)確度較低。當(dāng)被測元件阻抗遠(yuǎn)大于或者可以與電壓表輸入阻抗相比擬時，比較適合采用電流表內(nèi)接的方法；反之，比較適合采用電流表外接的方法。 由上式可知，如果測量時保持兩個參數(shù)不變，而只改變一個如果測量時保持兩個參數(shù)不變，而只改變一個參數(shù)，就可以用一個測量儀表進(jìn)行測量。參數(shù)，就可以用一個測量儀表進(jìn)行測量。例如，測量電容時，保持頻率和電壓不變，則流過電容器的電流I與電容C之間存在單值對應(yīng)的關(guān)系，電流表即可以刻度成電容的單位，該儀表稱為法拉計。 伏安法可以測量伏安法可以測量11到數(shù)百兆歐范圍內(nèi)的電阻以及到數(shù)百兆歐范圍內(nèi)的電阻以及1pF1pF到數(shù)百到數(shù)百微法的電容。微法的電容。第6章 電子元件

10、的測量技術(shù)及儀器 6.2.2 阻抗的數(shù)字化測量阻抗的數(shù)字化測量 阻抗的測量包括電感、電容、電阻等元器件的測量。阻抗的數(shù)字化測量阻抗的數(shù)字化測量是利用正弦信號在被測阻抗兩端產(chǎn)生利用正弦信號在被測阻抗兩端產(chǎn)生交流電壓，然后對電壓實部和虛部進(jìn)行分離，最后利用交流電壓，然后對電壓實部和虛部進(jìn)行分離，最后利用電壓的數(shù)字化測量來實現(xiàn)阻抗的測量。電壓的數(shù)字化測量來實現(xiàn)阻抗的測量。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 1. 電感元件的測量電感元件的測量 圖6.7為電感-電壓（L-V）變換器原理圖。 圖中左半部分為阻抗-電壓變換部分；同步檢波器實現(xiàn)實部、虛部分離；峰值檢波器完成交-直流電壓變換，并提供基準(zhǔn)電壓。U

11、1、U2、Ur都要送到電壓表雙積分式A/D變換器。 圖6.7 電感電壓變換器 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 經(jīng)過分析得到： 分析上式可見：因為Ur、R1均為常數(shù)，只要利用雙積分式數(shù)字多用表測出U1、U2來，即可換算出Rx、Lx及Qx的大小 來。xrRRUU11xrLRUU12第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 2. 電容元件的測量電容元件的測量 圖6.8為電容-電壓變換器的阻抗交流變換部分，其他部分與電感電壓變換器的結(jié)構(gòu)相似。 利用上述方法，可得： 圖6.8電容電壓變換器 rxURRU11 xrCURU12 由此可見，也可以利用數(shù)字多用表來實現(xiàn)Cx、Rx及D的測量。第6章 電子元件的測量技術(shù)

12、及儀器 3. LCR參數(shù)測試儀參數(shù)測試儀 圖6.9為LCR參數(shù)測試儀原理圖。 經(jīng)分析得知： 圖6.9 LCR參數(shù)測試儀原理圖 式中，R為等效串聯(lián)電阻；X為等效串聯(lián)電抗；G為等效并聯(lián)電導(dǎo)；B為等效并聯(lián)電納。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 測量線圈或電容時測量線圈或電容時，可以選擇它們的串聯(lián)等效電路或并聯(lián)等效電路來進(jìn)行測量。一般來說，對小容量電容和高阻抗線圈，采對小容量電容和高阻抗線圈，采用并聯(lián)等效電路測量用并聯(lián)等效電路測量，而對電解電容等大容量電容或小阻抗線圈對電解電容等大容量電容或小阻抗線圈采用串聯(lián)等效電路進(jìn)行測量采用串聯(lián)等效電路進(jìn)行測量。 由上述分析可見，只要先測出 和 ，再把 和 同步整

13、流并分解出實部和虛部，進(jìn)而計算出上式中R，X，G，B，最后以數(shù)字形式顯示出被測元件R，L，C，D，Q等參數(shù)。 iUOUiUOU第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 電橋法又稱為指零法，是利用零指示器作為電橋平衡指示器，根據(jù)電橋平衡時，各橋臂之間的關(guān)系來確定被測量。6.3 電橋法測量集中參數(shù)元件電橋法測量集中參數(shù)元件 該方法的工作頻率較寬，測量精度較高，可達(dá)10-4，比較適合低頻阻抗元件的測量。 該方法構(gòu)成的測量儀器稱為平衡電橋或電橋。 電橋分為直流電橋和交流電橋兩大類，前者用于測量直流電電橋分為直流電橋和交流電橋兩大類，前者用于測量直流電阻，后者用于測量電容、電感等參數(shù)阻，后者用于測量電容、電感等

14、參數(shù)，在此主要討論交流電橋。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6.3. 1 交流電橋交流電橋1.1.工作原理工作原理 圖6.10為交流電橋原理圖，主要由橋體、電源橋體、電源G G及平衡指及平衡指示器示器P P等組成。橋體由Z1、Z2、Z3 、Zx四個橋臂組成，橋臂由電阻和電抗元件組成。電源為純正弦交流電源。圖6.10 交流電橋 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 當(dāng)IP=0時，電橋處于平衡狀態(tài)，電橋平衡條件如下： 或 即： x+2=1+3 由此可見，要使交流電橋完全平衡，必須同時滿足后兩個等式，即振幅平衡條件和相位平衡條件。 振幅平衡條件振幅平衡條件相位平衡條件相位平衡條件第6章 電子元件的測

15、量技術(shù)及儀器 當(dāng)相鄰兩橋臂為純電阻時，另外兩個橋臂應(yīng)呈現(xiàn)同性電抗；當(dāng)某一對角橋臂為純電阻時，另外一對角橋臂應(yīng)呈現(xiàn)異性電抗；當(dāng)兩個橋臂由純電阻構(gòu)成時，呈現(xiàn)電抗特性的橋臂必須由標(biāo)準(zhǔn)可調(diào)電阻和電抗件構(gòu)成，該電抗件一般選用標(biāo)準(zhǔn)可調(diào)電容。 于是， 當(dāng)Z1、Z2為純電阻R1、R2時，滿足關(guān)系： 321ZRRZx 當(dāng)Z1、Z3為純電阻R1、R3時，滿足關(guān)系： 231ZRRZx第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 由上式得，當(dāng)兩個鄰臂為純電阻時的電橋稱為臂比電橋臂比電橋，它比較適于測量電容比較適于測量電容；當(dāng)兩個相對橋臂為純電阻時的電橋稱為臂乘電橋臂乘電橋，它比較適于測量電感比較適于測量電感。 321ZRRZx2

16、31ZRRZx 交流電橋的電源必須為交流電橋的電源必須為純正弦波交流電源純正弦波交流電源，否則，由于電源中頻率成分的復(fù)雜，會使電橋產(chǎn)生假平衡，從而產(chǎn)生很大的誤差。為了提高測量精確度，IP要經(jīng)過選頻放大器放大、檢波器檢波后送入檢流計。為了減小雜散耦合的影響，電橋各部分之間要良好屏蔽，但即使如此，也只適合在音頻或低也只適合在音頻或低射頻段使用，射頻段使用，高頻段的測量適合選用高頻段的測量適合選用。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 【例6-1】：下圖為測量低Q電感的麥克斯韋電橋橋體，試求Rx、Lx、Qx各是多少？ 【解】該交流電橋平衡條件為： 經(jīng)推導(dǎo)，得： Rx=R1R2/Rs Lx=R1R2Cs

17、 Qx=Lx/Rx=RsCs 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 【例6-2】：下圖為測量高Q電感的海氏電橋橋體，試求Rx、Lx、Qx各是多少？ 【解】該交流電橋平衡條件為： 經(jīng)推導(dǎo)，得： Rx=R1R2/RSLx=R1R2CS Qx=1/RsCs 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 【例6-3】：下圖為測量低損耗電容的串聯(lián)電阻式比較電橋橋體，試求Rx、Cx、Dx各是多少？ 【解】該交流電橋平衡條件為： 經(jīng)推導(dǎo)，得： Rx=R1RS/R2Cx=R2CS/R1Dx=RxCx =RsCs第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 【例6-4】：下圖為測量高損耗電容的并聯(lián)電阻式比較電橋橋體，試求Rx、Cx、Dx各

18、是多少？ 【解】該交流電橋平衡條件為： 經(jīng)推導(dǎo)，得： Rx=R1RS/R2Cx=R2CS/R1Dx=1/RsCs第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 2. QS18A型萬用電橋型萬用電橋（1）組成）組成 QS18A型萬用電橋是一種便攜式交流電橋，主要用于測量電阻、電感、電容等參數(shù)。其組成如圖6.11所示。 主要由橋體、信號源（橋體、信號源（1kHz1kHz）和晶）和晶體管檢流計體管檢流計三部分組成。橋體是電橋的核心部分，實際上是由直流電橋、交流電容電橋及電感電橋組合而成。使用時，通過變換開關(guān)進(jìn)行切換，以實現(xiàn)不同參數(shù)或量程的測量。 圖6.11 QS18A型萬用電橋組成框圖 第6章 電子元件的測量技術(shù)

19、及儀器 （2）測量電容）測量電容 測量電容時，橋體連接成如圖6.12所示的形式。Cx、Rx分別為被測電容的容量、串聯(lián)等效電阻阻值，R2由標(biāo)準(zhǔn)粗調(diào)、細(xì)調(diào)電阻器組成。調(diào)節(jié)橋體中可調(diào)電阻器使電橋平衡。圖6.12測量電容原理圖 根據(jù)電橋平衡條件，可導(dǎo)出： 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 由此可知，在量程確定的情況下，只要C2保持不變，可以通過調(diào)節(jié)R3使電橋平衡。其中，Cx、Rx、Dx可由有關(guān)度盤讀出數(shù)值。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （3）測量電感）測量電感 測量電感時，橋體連接如圖6.13所示。圖6.13 測量電感原理圖 Lx=R1R2C3 Lx、Rx分別是被測電感的電感量、串聯(lián)等效損耗電阻。

20、當(dāng)電橋平衡時有： Qx=C3R3 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （4）使用方法）使用方法圖6.14為QS18A型萬用電橋面板結(jié)構(gòu)圖。 圖6.14 QS18A型萬用電橋面板結(jié)構(gòu)圖 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 面板上各開關(guān)旋鈕的作用如下： 1被測元件接線柱用于連接被測元件。 2外接插孔用于外接音頻電源。3外-內(nèi)1kHz選擇開關(guān)用于選擇電橋工作電源。凡使用機(jī)內(nèi)1kHz振蕩器時，應(yīng)把此開關(guān)撥向“內(nèi)1kHz”位置。 4量程開關(guān)確定測量范圍，各示值是指電橋讀數(shù)在滿刻度各示值是指電橋讀數(shù)在滿刻度時的最大值。時的最大值。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 5損耗倍率選擇開關(guān) 分為三擋：三擋：Q1，D0

21、.01， D1。根據(jù)不同情況，按 照表6-1選擇合適擋位。測量電阻時，該開關(guān)不測量電阻時，該開關(guān)不起作用。起作用。表表6-1倍率開關(guān)位置倍率開關(guān)位置 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6指示電表，用于指示電橋的平衡狀態(tài)。當(dāng)電橋平衡時，電表指當(dāng)電橋平衡時，電表指示為零。示為零。 7接地端，與機(jī)殼相連，接地。 8靈敏度調(diào)節(jié)旋鈕，用于控制電橋放大器的放大倍數(shù)。開始測量開始測量時，應(yīng)降低靈敏度，使電表指示小于滿刻度，在使用時應(yīng)逐步時，應(yīng)降低靈敏度，使電表指示小于滿刻度，在使用時應(yīng)逐步增大靈敏度，進(jìn)行電橋平衡調(diào)節(jié)。增大靈敏度，進(jìn)行電橋平衡調(diào)節(jié)。9讀數(shù)調(diào)節(jié)旋鈕（讀數(shù)盤），用于調(diào)節(jié)電橋的平衡狀態(tài)，由粗調(diào)和細(xì)

22、調(diào)組成。調(diào)節(jié)此二只讀數(shù)盤使電橋平衡時，第一位讀數(shù)盤第一位讀數(shù)盤的步級是的步級是0.1，也就是量程旋鈕指示值的，也就是量程旋鈕指示值的1/10，第二第三位讀數(shù)，第二第三位讀數(shù)是由連續(xù)可變電位器指示。是由連續(xù)可變電位器指示。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 11損耗平衡調(diào)節(jié)旋鈕用于指示被測元件（電容或電感）的損耗因數(shù)或品質(zhì)因數(shù)。被測元件的損耗讀數(shù)（指電容、電感）由此旋鈕指示，此讀數(shù)盤上的指示值乘以倍率形狀指示值，即為正讀數(shù)盤上的指示值乘以倍率形狀指示值，即為正確的損耗示值。確的損耗示值。 12測量選擇開關(guān)用于確定電橋的測量內(nèi)容。用來轉(zhuǎn)換電橋線路，測電容放在“C”處，測電感放在“ L”處，測10以

23、內(nèi)的電阻放在R10處。測量完畢，此開關(guān)應(yīng)置于“關(guān)”位置，以降低機(jī)內(nèi)干電池的損耗。10損耗微調(diào)旋鈕用于細(xì)調(diào)平衡時的損耗，一般情況下 置于置于“0”位置位置。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 使用方法如下：使用方法如下： 將被測元件接到“被測元件接線柱”，撥動電源選擇開關(guān)至“內(nèi)1kHz”位置，如果用外部電源，則將外部電源接到“外接”插孔上，撥動電源選擇開關(guān)至“外”的位置。 根據(jù)被測量，將測量選擇開關(guān)旋至“C”、“L”、“R10”或“R10”處。 估計被測量的大小，選擇量程開關(guān)的位置。 根據(jù)被測元件的情況，按照表6-1選擇合適的損耗倍率開關(guān)擋位。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 根據(jù)電橋平衡情況，

24、調(diào)整靈敏度調(diào)節(jié)旋鈕使指示電表讀數(shù)由小逐步增大。 反復(fù)調(diào)節(jié)電橋的讀數(shù)盤和損耗平衡旋鈕，并在調(diào)整過程中逐步提高指示電表的靈敏度直至電橋平衡。此時存在如下關(guān)系：Lx（或（或Cx或或Rx）=量程開關(guān)指示值量程開關(guān)指示值電橋讀數(shù)盤示值電橋讀數(shù)盤示值 Qx（或（或Dx）=損耗倍率指示值損耗倍率指示值損耗平衡盤指示值損耗平衡盤指示值 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 【例【例6-56-5】用QS18A型萬用電橋測量標(biāo)稱值為470pF的電容，試問： (1)怎樣設(shè)置量程選擇和損耗倍率開關(guān)？ (2)當(dāng)電橋平衡時，左邊讀數(shù)盤（粗調(diào)）示值為0.4，右邊讀數(shù)盤（細(xì)調(diào)）示值為0.056，損耗平衡盤讀數(shù)為1.4，其電容量和

25、損耗因數(shù)值各為多少？ 【解】：【解】：（1）量程選擇開關(guān)應(yīng)置于1000pF處，損耗倍率開關(guān)應(yīng) 置于D0.01處。Cx= (0.4+0.056)1000pF=456pF Dx=0.011.4=0.014 答：（略） （2）由QS18A型萬用電橋的使用方法介紹，可知： 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 【練習(xí)【練習(xí)】 用QS18A型萬用電橋測量線圈的電感量Lx及Qx值，當(dāng)電橋平衡時，左邊讀數(shù)盤（粗調(diào)）示值為0.6，右邊讀 數(shù)盤（細(xì)調(diào)）示值為0.028，量程開關(guān)在100mH擋上，損耗倍率開關(guān)在Q1擋上，損耗平衡盤讀數(shù)為3.5，求被測電感Lx和品質(zhì)因數(shù)Qx。 【解】：【解】： 由QS18A型萬用電橋的

26、使用方法介紹，可知： Lx= (0.6+0.028)100mH=62.8mH Qx=13.5=3.5 答：（略） 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6.4 諧振法測量集中參數(shù)元件諧振法測量集中參數(shù)元件 諧振法又稱諧振法又稱Q Q表法表法，是以是以LCLC諧振回路諧振特性為基礎(chǔ)諧振回路諧振特性為基礎(chǔ)而進(jìn)行測量的方法而進(jìn)行測量的方法。在高頻段，諧振法受雜散耦合等的影響較小，且比較符合電感、電容的實際工作情況，因此，諧振法高頻段測量結(jié)果比較可靠，是測量高頻元件是測量高頻元件的常用方法。的常用方法。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6.4.1 Q表的組成及工作原理表的組成及工作原理 諧振法構(gòu)成的測量

27、儀器稱為Q表，適合在高頻狀態(tài)下測量電適合在高頻狀態(tài)下測量電容量、電感量、電容損耗因數(shù)、諧振回路或電感品質(zhì)的因數(shù)容量、電感量、電容損耗因數(shù)、諧振回路或電感品質(zhì)的因數(shù)。它由測量回路、信號源、耦合回路及測量回路、信號源、耦合回路及Q Q值電壓表值電壓表等部分組成，圖6.16為Q表工作原理圖，設(shè)測量回路電流有效值、總電感、總電容為I、L、C。 圖6.16 Q表工作原理圖 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 Q表各組成部分的作用如下： （1）信號源 信號源為正弦信號源，其振蕩頻率范圍即為其振蕩頻率范圍即為Q Q表工作頻率表工作頻率范圍。范圍。 （2）耦合回路 它將信號源輸出的信號饋入到測量回路，其耦合方式

28、通常為電阻耦合方式，稱之為插入電阻，為減小信號源對測量回路的影響，要求耦合電阻R2要很?。ㄈ?.04）。高頻段、超高頻段Q表則分別選用電容、電感作為Q表耦合元件。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （3）Q值電壓表 即Q值刻度的電壓表，用于指示Q值大小。當(dāng)當(dāng)Q Q值電壓表指值電壓表指示電壓最大時，測量回路處于諧振狀態(tài)。示電壓最大時，測量回路處于諧振狀態(tài)。 （4）測量回路 即LC諧振回路，它由電感、電容及回路等效損耗電阻R組成。Q表就是根據(jù)該回路的諧振特性來測量的。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 如果測量回路處于諧振狀態(tài)諧振狀態(tài)，則存在如下關(guān)系：I=Us/R=UL/XL=UC/XC Q=XL/R

29、=XC/R Q=UC/Us=UL/Us 可見，在Us一定時，電壓表可以刻度成為Q值指示器；改變Io值可以擴(kuò)大品質(zhì)因數(shù)的測量范圍，電流表則變成了Q值倍乘指示器。Z0=R第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 諧振法測量電感，除了依據(jù)式L=1/（02C)直接測量（直接法）外，還包括串聯(lián)替代法和并聯(lián)替代法。 6.4.2 測量電感測量電感1. 串聯(lián)替代法串聯(lián)替代法 串聯(lián)替代法適合測量小電感，如圖6.17所示，圖中信號源與測量回路之間采用的互感耦合方式為松耦合，否則，信號源內(nèi)阻將嚴(yán)重影響測量回路的諧振特性而產(chǎn)生諧振點誤判。圖6.17 串聯(lián)替代法測量電感原理圖 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 其測量步驟如下：

30、 將1、2端短接，調(diào)節(jié)Cs到較大電容C1位置，調(diào)節(jié)信號源頻率，使回路諧振，設(shè)諧振頻率為f0，此時滿足： 式1 去掉1、2之間的短路線， 將Lx接入回路，保持信號源頻率 f0不變，調(diào)節(jié)Cs至C2使回路重新諧振，此時滿足：式2 求解式1和式2組成的方程組，得： 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 2. 并聯(lián)替代法并聯(lián)替代法 并聯(lián)替代法適合測量大電感，始終將圖6.17中1、2兩端短接。 其測量步驟如下： 不接入Lx，調(diào)小可變電容Cs為C1，調(diào)節(jié)信號源頻率使回路諧振，設(shè)諧振頻率為f0，此時滿足： 式3 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 將Lx接至3、4端，保持信號源頻率f0不變，調(diào)節(jié)Cs至C2使回路重新

31、諧振，此時滿足： 式4 求解式（6-12）和式（6-13）組成的方程組，得：式5 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6.4.3 測量電容測量電容 諧振法測量電容，一般采用串聯(lián)替代法和并聯(lián)替代法。 替代法可以有效地消除分布電容或引線電感所造成的影響。 串聯(lián)替代法適合測量大電容，如圖6.17所示。 1. 串聯(lián)替代法串聯(lián)替代法 其測量步驟如下： 將1、2端短接，調(diào)小可變電容Cs為C1，調(diào)節(jié)信號源頻率使測量回路諧振，設(shè)諧振頻率為f0。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 去掉短路線，將被測電容Cx接至1、2端，保持信號源頻率f0不變，調(diào)節(jié)Cs至C2使測量回路重新諧振。 上述兩步，測量回路中的電感以及前后

32、兩次的諧振頻率未變，因此，前后兩次測量回路的等效電容值是相等的， 即：1221CCCCCx 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 2. 并聯(lián)替代法并聯(lián)替代法 其測量步驟如下： 并聯(lián)替代法適合測量小電容，如圖6.17所示，圖中1、2端始終短接或接入一標(biāo)準(zhǔn)電感。 （1）不接入被測電容Cx，調(diào)大可變電容Cs為C1，調(diào)節(jié)信號源頻率使測量回路諧振，設(shè)諧振頻率為f0。 （2）將被測電容接至3、4端，保持信號源頻率f0不變，調(diào)節(jié)Cs至C2使測量回路重新諧振。 （3）上述兩步，測量回路中的電感以及前后兩次的諧振頻率未變，因此，前后兩次測量回路的等效電容值是相等的，即：C1=C2+Cx Cx=C1C2第6章 電子元

33、件的測量技術(shù)及儀器 6.4.4 Q表實例及使用方法表實例及使用方法 圖6.18為QBG-3型Q表面板結(jié)構(gòu)圖，它的使用方法如下： 圖6.18 QBG-3型Q表面板圖 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 1. 測量準(zhǔn)備測量準(zhǔn)備 測量前先對定位表和Q值表進(jìn)行機(jī)械調(diào)零，然后將定位粗調(diào)逆時針調(diào)到底，將“定位零位校直”和“Q值零位校直”置于中間，“微調(diào)（電容）”調(diào)到零，開機(jī)預(yù)熱10min。2. 電感線圈電感線圈Q值的測量值的測量 將被測線圈接到Lx接線柱上；調(diào)節(jié)頻率旋鈕及波段開關(guān)至測量所需的頻率點；選擇合適的Q值擋級；調(diào)節(jié)“定位零位校直”旋鈕使定位表指示為零，調(diào)節(jié)定位粗調(diào)及定位細(xì)調(diào)旋鈕使定位表指針指到“Q1

34、”處；調(diào)整主調(diào)電容度盤遠(yuǎn)離諧振點，再調(diào)節(jié)“Q值零位校直”使Q值表指針指在零點上，最后調(diào)解主調(diào)電容度盤和微調(diào)旋鈕使回路諧振（Q值表指示最大），則Q值表的示值即為被測線圈的Q值。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 3. 電感量的測量電感量的測量 首先估計一下被測線圈的電感量，按照表6-2選出對應(yīng)頻率，再調(diào)節(jié)波段開關(guān)及頻率旋鈕使信號源頻率達(dá)到所需頻率值；將“微調(diào)”置于零點，調(diào)節(jié)主調(diào)電容度盤使Q值表指示最大。此時，被測線圈的電感量等于主調(diào)電容度盤上讀出的電感值乘以L、f、倍率對照表中的倍率。 表6-2 L、f、倍率對照表 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 4. 線圈分布電容的測量線圈分布電容的測量 將主

35、調(diào)電容度盤調(diào)至某一適當(dāng)電容值上（一般為200pF），記為C1；再調(diào)節(jié)波段開關(guān)及頻率旋鈕使Q值表指示最大，即找到諧振點f1；重新調(diào)節(jié)波段開關(guān)、頻率旋鈕使信號源頻率為f1的兩倍，然后調(diào)節(jié)主調(diào)電容度盤使Q值表指示最大，記為C2。 則分布電容量C0可由下式計算： C0=(C14C2)/3 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 5. 電容量的測量電容量的測量 被測電容量大小不同，其測量方法也不同。主要有以下兩種情況： （1）小于460pF電容的測量 可以采用并聯(lián)替代法來測量。從Q表附件中選取一只電感量大于1mH的標(biāo)準(zhǔn)電感接至Lx接線柱，將“微調(diào)”調(diào)到零，主調(diào)電容度盤調(diào)至最大（500pF），記為C1；然后調(diào)節(jié)

36、“定為零位校直”和“Q值零位校直”旋鈕使定位表及Q值表指示為零，再調(diào)節(jié)定位粗調(diào)及定位細(xì)調(diào)旋鈕使定位表指針指在“Q1”處；最后調(diào)節(jié)頻率旋鈕及波段開關(guān)，使Q值表指示最大。將被測電容接至Cx接線柱，重調(diào)主調(diào)電容度盤使Q值表指示最大，此時度盤讀數(shù)為C2，則被測電容Cx等于： Cx=C1-C2 。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （2）大于460pF電容的測量 可以采用串聯(lián)替代法來測量。將標(biāo)準(zhǔn)電感接至Lx接線柱，調(diào)節(jié)主調(diào)電容度盤，使Q值表指示最大，讀盤讀數(shù)記為C1；取下標(biāo)準(zhǔn)電感，將其與被測電容串聯(lián)后再接于Lx接線柱上，重調(diào)主調(diào)電容度盤使Q值表指示再次達(dá)到最大，此時度盤讀數(shù)記為C2。被測電容Cx為： 第6

37、章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6. 6. 電容損耗因數(shù)的測量電容損耗因數(shù)的測量 首先將主調(diào)電容度盤調(diào)至500pF，記為C1，將大于1mH的標(biāo)準(zhǔn)電感接至Lx接線柱，調(diào)節(jié)波段開關(guān)及頻率旋鈕使Q值表指示最大，設(shè)它的讀數(shù)為Q1；然后將被測電容并接于Cx接線柱上，調(diào)小主調(diào)電容度盤至某值，設(shè)為C2，重調(diào)信號源頻率使Q值表再次指示最大，設(shè)讀數(shù)為Q2，則損耗因數(shù)Dx為： 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 7.7.注意事項注意事項 使用Q表測量過程中應(yīng)注意，被測元件不能直接放在儀器頂板上，要加一塊高頻損耗小的如聚乙烯之類的襯墊板；被測元件接線要短且接觸良好；被測元件的屏蔽罩要接到低電位接線柱上。 第6章 電子元

38、件的測量技術(shù)及儀器 6.5 6.5 晶體管特性圖示儀及應(yīng)用晶體管特性圖示儀及應(yīng)用 晶體管特性圖示儀簡稱為圖示儀，是一種采用圖示法在熒光屏上直接顯示各種晶體管、場效應(yīng)管等的特性曲線，并據(jù)此測算出元器件各項參數(shù)的元器件測試儀器，例如測量PNP和NPN型三極管的輸入特性、輸出特性、電流放大特性；各種反向飽和電流、擊穿電壓，各類晶體二極管的正反向特性；場效應(yīng)管漏極特性、轉(zhuǎn)移特性、夾斷電壓和跨導(dǎo)等參數(shù)。與示波器的區(qū)別是晶體管特性圖示儀能夠自身提供測試時所需要的信號源，并將測試結(jié)果以曲線形式顯示在熒光屏上。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6.5.16.5.1晶體管特性圖示儀的組成晶體管特性圖示儀的組成

39、 圖6.19是共發(fā)射極NPN型三極管輸出特性曲線及其逐點測量法示意圖。圖6.19(a)中，先固定基極電流IB，改變EC值，可測得一組uCE和iC值；再改變基極電流IB，重復(fù)上述過程，可測得多組數(shù)值。適當(dāng)選取坐標(biāo)，即可得到三極管輸出特性曲線，如圖6.19(b)所示。 圖6.19 晶體三極管輸出特性曲線及逐點測量法示意圖 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 晶體管特性儀的測量為動態(tài)測量法，逐點測量法是晶體管特性圖示儀的測量原理基礎(chǔ)。晶體管特性圖示儀應(yīng)具備以下功能： 能夠提供測試過程所需的各種基極電流IB。 每一個固定IB期間，集電極電壓EC應(yīng)作相應(yīng)改變。 能夠及時取出各組uCE及iC值送顯示電路。第

40、6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 晶體管特性圖示儀主要由階梯波發(fā)生器、集電極掃描信號源、測試變換電路、控制電路、X-Y方式示波器、主電源及高壓電源部分等部分組成。 （1）集電極掃描電壓發(fā)生器。產(chǎn)生如圖6.20（a）所示的正弦半波掃描電壓波。通常是由50Hz市電經(jīng)全波整流得到的100Hz正弦半波電壓。 圖6.20 正弦半波掃描電壓波形和階梯信號波形及對應(yīng)關(guān)系第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （2）階梯信號發(fā)生器。 產(chǎn)生如圖6.20（b）所示的階梯電壓或電流信號波。為避免被測管功耗過大而損壞，一般選用占空比可調(diào)的脈沖階梯波， 這樣既可使晶體管導(dǎo)通時間減小，避免損壞被 測管，又可提高圖示儀的性能。 （

41、3）測試變換電路。 根據(jù)NPN、PNP晶體管基極階梯信號、集電極掃描電壓信號的極性而變換，并選擇合適的顯示信號送至示波電路。通過測試變換電路可使晶體管基極電壓、電流和階梯波、集電極掃描電壓的極性按不同要求而改變，并選擇合適的顯示信號送至X、Y偏轉(zhuǎn)板，以顯示各種不同的曲線。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （4）X軸放大器及Y軸放大器。 放大測試變換電路輸出的電壓信號，然后送至示波管X、Y偏轉(zhuǎn)板形成掃描曲線。 （5）波形顯示及控制電路。 完成集電極掃描信號源與階梯波信號源的同步，并顯示測試元件的特性曲線。 （6）主電源及高壓電源部分。 為儀器電路提供所需的電源電路。第6章 電子元件的測量技術(shù)及

42、儀器 6.5.2 晶體管特性圖示儀的使用晶體管特性圖示儀的使用1. XJ4810型晶體管特性圖示儀的面板結(jié)構(gòu)型晶體管特性圖示儀的面板結(jié)構(gòu) 圖6.21為XJ4810型晶體管特性圖示儀面板圖。第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 各開關(guān)旋鈕的作用如下： （1）電源及示波管控制部分 電源及示波管控制部分開關(guān)旋鈕包括：聚焦、輔助聚焦、輝度及電源開關(guān)，各自的使用方法與示波器相似。 （2）集電極電源 1）“峰值電壓范圍”選擇開關(guān) “峰值電壓范圍”選擇開關(guān)用于選擇集電極電源最大值。其中AC擋能使集電極電源變?yōu)殡p向掃描，使屏幕同時顯示出被測二極管的正、反方向特性曲線。當(dāng)電壓由低擋換向高擋時，應(yīng)先將“峰值電壓%”旋

43、鈕旋至0。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 2）“峰值電壓%”旋鈕 調(diào)節(jié)“峰值電壓%”旋鈕使集電極電源在確定的峰值電壓范圍內(nèi)連續(xù)變化。 3）“+、”極性按鍵開關(guān) 按下“+、”極性按鍵開關(guān)時集電極電源極性為負(fù)，彈起時為正。 4）“電容平衡”、“輔助電容平衡”旋鈕 當(dāng)Y軸為較高電流靈敏度時，調(diào)節(jié)“電容平衡”、“輔助電容平衡”旋鈕兩旋鈕使儀器內(nèi)部容性電流最小，使熒光屏上的水平線基本重疊為一條。一般情況下無需調(diào)節(jié)。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 5）“功耗限制電阻”旋鈕 “功耗限制電阻”旋鈕用于改變集電極回路電阻的大小。測量被測管的正向特性時應(yīng)置于低電阻擋，測量反向特性時應(yīng)置于高阻擋。 （3）Y

44、軸部分 1）“電流/度”旋鈕 “電流/度”旋鈕是測量二極管反向漏電流IR及三極管集電極電流IC的量程開關(guān)。當(dāng)開關(guān)置于“ ”（該擋稱為基極電流或基極源電壓）位置時，可使屏幕Y軸代表基極電流或電壓；當(dāng)開關(guān)置于“外接”時，Y軸系統(tǒng)處于外接收狀態(tài)，外輸入端位于儀器左側(cè)面。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 2）“移位”旋鈕 “移位”旋鈕可進(jìn)行垂直移位外，還兼作倍率開關(guān)，當(dāng)旋鈕拉出時，指示燈亮，Y軸偏轉(zhuǎn)因數(shù)縮小為原來的1/10。 3）“增益”電位器 “增益”電位器用于調(diào)整Y軸放大器的總增益，即Y軸偏轉(zhuǎn)因數(shù)。一般情況下無需經(jīng)常調(diào)整。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （4）X軸部分軸部分 1）“電壓電壓/

45、度度”旋鈕旋鈕 “電壓/度”旋鈕是集電極電壓UCE及基極電壓UBE的量程開關(guān)。當(dāng)開關(guān)置于“ ”位置時，可使屏幕X軸代表基極電流或電壓；當(dāng)開關(guān)置于“外接”時，X軸系統(tǒng)處于外接收狀態(tài)，外輸入端位于儀器左側(cè)面。 2）“增益增益”電位器電位器 “增益”電位器用于調(diào)整X軸放大器的總增益，即X軸偏轉(zhuǎn)因數(shù)。一般情況下無需經(jīng)常調(diào)整。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （5）顯示部分）顯示部分 1）“變換變換”選擇開關(guān)選擇開關(guān) “變換”選擇開關(guān)用于同時變換集電極電源及階梯信號的極性，以簡化NPN型管與PNP管轉(zhuǎn)測時的操作。 2）“”按鍵開關(guān)按鍵開關(guān) “”按鍵開關(guān)按下時，可使X、Y放大器的輸入端同時接地，以確定零

46、基準(zhǔn)點。 3）“校準(zhǔn)校準(zhǔn)”按鍵開關(guān)按鍵開關(guān) “校準(zhǔn)”按鍵開關(guān)用于校準(zhǔn)X軸及Y軸放大器增益。開關(guān)按下時，在熒光屏有刻度的范圍內(nèi)，亮點應(yīng)自左下角準(zhǔn)確地跳至右上角，否則應(yīng)調(diào)節(jié)X軸或Y軸的增益電位器來校準(zhǔn)。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （6）階梯信號）階梯信號 1）“電壓電壓電流電流/級級”旋鈕旋鈕 “電壓電流/級”旋鈕用于確定每級階梯的電壓值或電流值。 2）“串聯(lián)電阻串聯(lián)電阻”開關(guān)開關(guān) “串聯(lián)電阻”開關(guān)用于改變階梯信號與被測管輸入端之間所串接的電阻大小，但只有當(dāng)電壓電流/級開關(guān)置于電壓擋時，本開關(guān)才起作用。 3）“級級/簇簇”旋鈕旋鈕 “級/簇”旋鈕用于調(diào)節(jié)階梯信號一個周期的級數(shù)，可在110級

47、之間連續(xù)調(diào)節(jié)。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 4）“調(diào)零調(diào)零”旋鈕旋鈕 “調(diào)零”旋鈕用于調(diào)節(jié)階梯信號起始級電平，正常時該級為零電平。 5）“+、”極性按鍵開關(guān)極性按鍵開關(guān) “+、”極性按鍵開關(guān)用于確定階梯信號的極性。 6）“重復(fù)重復(fù)關(guān)關(guān)”按鍵開關(guān)按鍵開關(guān) “重復(fù)關(guān)”按鍵開關(guān)彈起時，階梯信號重復(fù)出現(xiàn)，用作正常測試；當(dāng)開關(guān)按下時，階梯信號處于待觸發(fā)狀態(tài)。 7）“單簇按單簇按”開關(guān)開關(guān) “單簇按”開關(guān)與“重復(fù)關(guān)”按鍵開關(guān)配合使用。當(dāng)階梯信號處于調(diào)節(jié)好的待觸發(fā)狀態(tài)時，按下該按鈕，指示燈亮，階梯信號出現(xiàn)一次，然后又回至待觸發(fā)狀態(tài)。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （7）測試臺部分）測試臺部分 圖6

48、.22為XJ4810型晶體管特性圖示儀測試臺面板圖，各開關(guān)旋鈕的作用如下： 1 1）“左左”“”“右右”按鍵開關(guān)按鍵開關(guān)開關(guān)按下時，分別接通左、右邊的被測管。圖6.22 測試臺面板圖第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 3）“零電壓零電壓”、“零電流零電流”按鈕按鈕 “零電壓”、“零電流”按鈕按下時，分別將被測管的基極接地、基極開路，后者用于測量ICEO、BUCEO等參量。 2 2）二簇）二簇”按鍵開關(guān)按鍵開關(guān) “二簇”按鍵開關(guān)按下時，圖示儀自動交替接通左、右兩只被測管，此時可同時觀測到兩管的特性曲線，以便對它們進(jìn)行比較。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （1）使用方法）使用方法 開啟電源，指示

49、燈亮，預(yù)熱15min后使用。 調(diào)節(jié)輝度、聚焦、輔助聚焦等旋鈕，使屏幕上的亮點或線條清晰。 X、Y靈敏度校準(zhǔn)。將峰值電壓%旋鈕選為0，屏幕上的亮點移至左下角，按下顯示部分中的校準(zhǔn)按鍵開關(guān)，此時亮點應(yīng)準(zhǔn)確地跳至右上角。否則，應(yīng)調(diào)節(jié)X軸或Y軸的增益電位器來校準(zhǔn)。 2. XJ4810型晶體管特性圖示儀的使用方法與注意事項型晶體管特性圖示儀的使用方法與注意事項第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 階梯調(diào)零。當(dāng)測試中要用到階梯信號時，必須先進(jìn)行階梯調(diào)零，其過程如下：將階梯信號及集電極電源均置于“+”極性，“電壓/度”置于“1V/度”，“電流/度”置于“”，“電流/級”置于“0.05V/級”，“重復(fù)開關(guān)”置于重

50、復(fù)，“級/簇”置于適中位置，“峰值電壓范圍”置于10V擋，調(diào)節(jié)“峰值電壓%”旋鈕使屏幕上的掃描線滿度，然后按下“”按鍵，觀察此時亮點在屏幕上的位置，再將按鍵復(fù)位，調(diào)節(jié)調(diào)零旋鈕使階梯波起始級處于亮點位置，這樣，階梯信號的零電平即被校準(zhǔn)。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 （2）注意事項）注意事項 應(yīng)特別注意階梯信號選擇、功耗限制電阻、峰值電阻范圍旋鈕的使用，如果使用不當(dāng)會損壞被測晶體管。 測試大功率晶體管和極限參數(shù)、過載參數(shù)時，應(yīng)采用單簇階梯信號，以防過載損壞被測器件。 測試MOS型場效應(yīng)管時，應(yīng)特別注意不要使柵極懸空，以免感應(yīng)電壓過高擊穿被測管。 測試完畢后，使儀器復(fù)位，以防下次使用時因疏忽而

51、損壞被測器件。此時應(yīng)將“峰值電壓范圍”置于（010V）擋，“峰值電壓調(diào)節(jié)”旋到零位，階梯信號選擇開關(guān)置于關(guān)擋，“功耗限制電阻”置于10k以上位置。 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 6.5.4 晶體管特性圖示儀特性曲線測試舉例晶體管特性圖示儀特性曲線測試舉例 晶體管特性圖示儀可直接測試晶體管各種組態(tài)的輸出、輸入特性以及各種參數(shù)的測量。這里僅介紹部分特性曲線的測試方法。 1. 二極管特性曲線的測試二極管特性曲線的測試 二極管特性曲線的測試原理如圖6.23所示。 圖6.23 二極管特性曲線測試原理圖 第6章 電子元件的測量技術(shù)及儀器 測試二極管時只需觀察流過二極管的電流與二極管兩端電壓之間的關(guān)系，不必使用階梯信號源。將二極管的正極和負(fù)極分別插入C、E兩個接線端即可。測正向特性時加正極性掃描電壓，測反向特性時加負(fù)極性掃描電壓。集電極掃描電壓接至X軸，RF上的取樣