光電效應(yīng)測(cè)普朗克常數(shù)-實(shí)驗(yàn)報(bào)告

1、綜合、設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)報(bào)告年級(jí) * 學(xué)號(hào) *姓名 * 時(shí)間 *成績(jī) _一、 實(shí)驗(yàn)題目光電效應(yīng)測(cè)普朗克常數(shù)二、 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、通過(guò)實(shí)驗(yàn)深刻理解愛(ài)因斯坦的光電效應(yīng)理論，了解光電效應(yīng)的基本規(guī)律；2、掌握用光電管進(jìn)行光電效應(yīng)研究的方法；3、學(xué)習(xí)對(duì)光電管伏安特性曲線的處理方法，并用以測(cè)定普朗克常數(shù)。三、儀器用具ZKYGD3光電效應(yīng)測(cè)試儀、汞燈及電源、濾色片（五個(gè)）、光闌（兩個(gè)）、光電管、測(cè)試儀四、 實(shí)驗(yàn)原理1、光電效應(yīng)與愛(ài)因斯坦方程用合適頻率的光照射在某些金屬表面上時(shí)，會(huì)有電子從金屬表面逸出，這種現(xiàn)象叫做光電效應(yīng)，從金屬表面逸出的電子叫光電子。為了解釋光電效應(yīng)現(xiàn)象，愛(ài)因斯坦提出了“光量子”的概念，認(rèn)為對(duì)于頻率為

2、 的光波，每個(gè)光子的能量為式中， 為普朗克常數(shù)，它的公認(rèn)值是 =6.626 。按照愛(ài)因斯坦的理論，光電效應(yīng)的實(shí)質(zhì)是當(dāng)光子和電子相碰撞時(shí)，光子把全部能量傳遞給電子，電子所獲得的能量，一部分用來(lái)克服金屬表面對(duì)它的約束，其余的能量則成為該光電子逸出金屬表面后的動(dòng)能。愛(ài)因斯坦提出了著名的光電方程：                  （1）式中，為入射光的頻率，為電子的質(zhì)量，為光電子逸出金屬表面的初速度， 為被光線照射的金屬材料的逸出功

3、，為從金屬逸出的光電子的最大初動(dòng)能。由（1）式可見(jiàn)，入射到金屬表面的光頻率越高，逸出的電子動(dòng)能必然也越大，所以即使陰極不加電壓也會(huì)有光電子落入陽(yáng)極而形成光電流，甚至陽(yáng)極電位比陰極電位低時(shí)也會(huì)有光電子落到陽(yáng)極，直至陽(yáng)極電位低于某一數(shù)值時(shí)，所有光電子都不能到達(dá)陽(yáng)極，光電流才為零。這個(gè)相對(duì)于陰極為負(fù)值的陽(yáng)極電位被稱(chēng)為光電效應(yīng)的截止電壓。   顯然，有                   

4、60;  （2）代入（1）式，即有                       （3）由上式可知，若光電子能量，則不能產(chǎn)生光電子。產(chǎn)生光電效應(yīng)的最低頻率是，通常稱(chēng)為光電效應(yīng)的截止頻率。不同材料有不同的逸出功，因而也不同。由于光的強(qiáng)弱決定于光量子的數(shù)量，所以光電流與入射光的強(qiáng)度成正比。又因?yàn)橐粋€(gè)電子只能吸收一個(gè)光子的能量，所以光電子獲得的能量與光強(qiáng)無(wú)關(guān)，只與光子的頻率成

5、正比，將（3）式改寫(xiě)為                  （4）上式表明，截止電壓是入射光頻率的線性函數(shù)，如圖2，當(dāng)入射光的頻率時(shí)，截止電壓，沒(méi)有光電子逸出。圖中的直線的斜率是一個(gè)正的常數(shù)：                    

6、       （5）由此可見(jiàn)，只要用實(shí)驗(yàn)方法作出不同頻率下的曲線，并求出此曲線的斜率，就可以通過(guò)式（5）求出普朗克常數(shù)。其中 是電子的電量。U0-v 直線2、光電效應(yīng)的伏安特性曲線下圖是利用光電管進(jìn)行光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)的原理圖。頻率為 、強(qiáng)度為 的光線照射到光電管陰極上，即有光電子從陰極逸出。如在陰極K和陽(yáng)極A之間加正向電壓，它使K、A之間建立起的電場(chǎng)對(duì)從光電管陰極逸出的光電子起加速作用，隨著電壓的增加，到達(dá)陽(yáng)極的光電子將逐漸增多。當(dāng)正向電壓 增加到時(shí)，光電流達(dá)到最大，不再增加，此時(shí)即稱(chēng)為飽和狀態(tài)，對(duì)應(yīng)的光電流即稱(chēng)為飽和光電流。光電效應(yīng)原理

7、圖由于光電子從陰極表面逸出時(shí)具有一定的初速度，所以當(dāng)兩極間電位差為零時(shí)，仍有光電流I存在，若在兩極間施加一反向電壓，光電流隨之減少；當(dāng)反向電壓達(dá)到截止電壓時(shí)，光電流為零。愛(ài)因斯坦方程是在同種金屬做陰極和陽(yáng)極，且陽(yáng)極很小的理想狀態(tài)下導(dǎo)出的。實(shí)際上做陰極的金屬逸出功比作陽(yáng)極的金屬逸出功小，所以實(shí)驗(yàn)中存在著如下問(wèn)題：（1）暗電流和本底電流存在，可利用此，測(cè)出截止電壓（補(bǔ)償法）。（2）陽(yáng)極電流。制作光電管陰極時(shí)，陽(yáng)極上也會(huì)被濺射有陰極材料，所以光入射到陽(yáng)極上或由陰極反射到陽(yáng)極上，陽(yáng)極上也有光電子發(fā)射，就形成陽(yáng)極電流。由于它們的存在，使得IU曲線較理論曲線下移，如下圖所示。伏安特性曲線五、 實(shí)驗(yàn)步驟&#

8、160;1、調(diào)整儀器 (1)連接儀器；接好電源，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，充分預(yù)熱（不少于20分鐘）。 (2)在測(cè)量電路連接完畢后，沒(méi)有給測(cè)量信號(hào)時(shí)，旋轉(zhuǎn)“調(diào)零”旋鈕調(diào)零。每換一次量程，必須重新調(diào)零。 (3)取下暗盒光窗口遮光罩，換上365.0nm濾光片，取下汞燈出光窗口的遮光罩，裝好遮光筒，調(diào)節(jié)好暗盒與汞燈距離。 2、測(cè)量普朗克常數(shù)（1） 將電壓選擇按鍵開(kāi)關(guān)置于22V檔，將“電流量程”選擇開(kāi)關(guān)置于 A檔。將測(cè)試儀電流輸入電纜斷開(kāi)，調(diào)零后重新接上。（2） 將直徑為4mm的光闌和365.0nm的濾色片裝在光電管電暗箱輸入口上。（3） 從高到低調(diào)節(jié)電壓，用“零電流法”測(cè)量該波長(zhǎng)對(duì)

9、應(yīng)的，并數(shù)據(jù)記錄。（4） 依次換上404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm的濾色片，重復(fù)步驟（1）、（2）、（3）。（5）測(cè)量三組數(shù)據(jù)你，然后對(duì)取平均值。3、測(cè)量光電管的伏安特性曲線(1)暗盒光窗口裝365.0nm濾光片和4mm光闌，緩慢調(diào)節(jié)電壓旋鈕，令電壓輸出值緩慢由0V伏增加到30V，每隔1V記一個(gè)電流值。但注意在電流值為零處記下截止電壓值.(2)在暗盒光窗口上換上404.7nm濾光片，仍用4mm的光闌，重復(fù)步驟（1）。(3)選擇合適的坐標(biāo)，分別作出兩種光闌下的光電管伏安特性曲線UI 。六、 實(shí)驗(yàn)記錄與處理1、 零電流法測(cè)普朗克常量(光闌=2mm)波長(zhǎng)（nm）3654

10、05436546577頻率(×1014Hz)8.2147.4086.8795.4905.196截止電壓（V）第一次1.7161.3681.1730.6200.492第二次1.7121.3981.1790.6150.491第三次1.7001.3901,1650.6180.485第一次測(cè)量結(jié)果及處理：第二次測(cè)量結(jié)果及處理：第三次測(cè)量結(jié)果及處理：2、 補(bǔ)償法測(cè)普朗克常量波長(zhǎng)（nm）365405436546577頻率(×1014Hz)8.2147.4086.8795.4905.196截止電壓（V）1.7241.4081.1830.6240.5043、 測(cè)量光電管的伏安特性曲線（波長(zhǎng)

11、=436nm 光闌=2mm）U（V）I（×1011A）U（V）I（×1011A）U（V）I（×1011A）-2-0.2944.32071.9-10.41048.02173.704.21151.42275.1111.11254.92376.6217.81357.92477.8324.01460.32579.6426.91562.52681.4530.11664.52782.5633.51766.52882.8737.01868.32983.4840.81969.93085.2七、 誤差計(jì)算由上面圖表，零電流法三次測(cè)量的結(jié)果誤差依次為：E1=-2.93% E2=-1.

12、99% E3=-2.85%補(bǔ)償法測(cè)量的結(jié)果誤差為：E=-2.05%八、 實(shí)驗(yàn)分析討論本實(shí)驗(yàn)中應(yīng)用不同的方法都測(cè)出了普朗克常數(shù)，但都有一定的實(shí)驗(yàn)誤差，據(jù)分析誤差產(chǎn)生原因是：1、暗電流的影響，暗電流是光電管沒(méi)有受到光照射時(shí)，也會(huì)產(chǎn)生電流，它是由于熱電子發(fā)射、和光電管管殼漏電等原因造成；2、本底電流的影響，本底電流是由于室內(nèi)的各種漫反射光線射入光電管所致，它們均使光電流不可能降為零 且隨電壓的變化而變化。3、光電管制作時(shí)產(chǎn)生的影響：（1）、由于制作光電管時(shí)，陽(yáng)極上也往往濺射有陰極材料，所以當(dāng)入射光射到陽(yáng)極上或由陰極漫反射到陽(yáng)極上時(shí)，陽(yáng)極也有光電子發(fā)射，當(dāng)陽(yáng)極加負(fù)電位、陰極加正電位時(shí)，對(duì)陰極發(fā)射的光電

13、子起了減速的作用，而對(duì)陽(yáng)極的電子卻起了加速的作用，所以IU關(guān)系曲線就和IKA、UKA曲線圖所示。為了精確地確定截止電壓US，就必須去掉暗電流和反向電流的影響。以使由I0時(shí)位置來(lái)確定截止電壓US的大??；制作上的其他誤差。4、實(shí)驗(yàn)者自身的影響：（1）從不同頻率的伏安特性曲線讀到的“抬頭電壓”（截止電壓），不同人讀得的不一樣，經(jīng)過(guò)處理后的到U s_ v曲線也不一樣，測(cè)出的數(shù)值就不一樣；（2）調(diào)零時(shí)，可能會(huì)出現(xiàn)誤差，及在測(cè)量時(shí)恐怕也會(huì)使原來(lái)調(diào)零的系統(tǒng)不再準(zhǔn)確。5、參考值本身就具有一定的精確度，本身就有一定的誤差。6、理論本身就有一定的誤差，例如，1963年Ready等人用激光作光電發(fā)射實(shí)驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)了與

14、愛(ài)因斯坦方程偏離的奇異光電發(fā)射。1968年Teich 和Wolga用GaAs激光器發(fā)射的hn=1.48eV的光子照射逸出功為A=2.3eV的鈉金屬時(shí)，發(fā)現(xiàn)光電流與光強(qiáng)的平方成正比。按愛(ài)因斯坦方程，光子的頻率處于鈉的閥頻率以下，不會(huì)有光電子發(fā)射，然而新現(xiàn)象卻發(fā)生了，不但有光電子發(fā)射，而且光電流不是與光強(qiáng)成正比，而是與光強(qiáng)的平方成正比。于是，人們?cè)O(shè)想光子間進(jìn)行了“合作”，兩個(gè)光子同時(shí)被電子吸收得以躍過(guò)表面能壘，稱(chēng)為雙光子光電發(fā)射。后來(lái)，進(jìn)一步的實(shí)驗(yàn)表明，可以三個(gè)、多個(gè)、甚至40個(gè)光子同時(shí)被電子吸收而發(fā)射光電子，稱(chēng)為多光子光電發(fā)射。人們推斷，n光子的光電發(fā)射過(guò)程的光電流似乎應(yīng)與光強(qiáng)的n次方成正比。九

15、、 附錄1.光電效應(yīng)歷史光電效應(yīng)由德國(guó)物理學(xué)家赫茲于1887年發(fā)現(xiàn)，對(duì)發(fā)展量子理論起了根本性作用。 1887年，首先是赫茲（M.Hertz）在證明波動(dòng)理論實(shí)驗(yàn)中首次發(fā)現(xiàn)的。當(dāng)時(shí)，赫茲發(fā)現(xiàn)，兩個(gè)鋅質(zhì)小球之一用紫外線照射，則在兩個(gè)小球之間就非常容易跳過(guò)電花。 大約1900年， 馬克思布蘭科（Max Planck）對(duì)光電效應(yīng)作出最初解釋?zhuān)⒁隽斯饩哂械哪芰堪侥芰浚╭uantised）這一理論。 他給這一理論歸咎成一個(gè)等式，也就是 E=hf ， E就是光所具有的“包裹式”能量， h是一個(gè)常數(shù)，統(tǒng)稱(chēng)布蘭科常數(shù)（Planck's constant）， 而f就是光源的頻率。 也就是說(shuō)，光能的強(qiáng)

16、弱是有其頻率而決定的。但就是布蘭科自己對(duì)于光線是包裹式的說(shuō)法也不太肯定。 1902年，勒納（Lenard)也對(duì)其進(jìn)行了研究，指出光電效應(yīng)是金屬中的電子吸收了入射光的能量而從表面逸出的現(xiàn)象。但無(wú)法根據(jù)當(dāng)時(shí)的理論加以解釋 ； 1905年，愛(ài)因斯坦26歲時(shí)提出光子假設(shè)，成功解釋了光電效應(yīng)，因此獲得1921年諾貝爾物理獎(jiǎng)。他進(jìn)一步推廣了布蘭科的理論，并導(dǎo)出公式，Ek=hf-W，W便是所需將電子從金屬表面上自由化的能量。而Ek呢就是電子自由后具有的勢(shì)能。2.測(cè)量普朗克常量的其他方法1、 2光電效應(yīng)法（補(bǔ)償法、零電流法、拐點(diǎn)法）2、 X 射線光電效應(yīng)法3、 X 射線原子游離法4、 黑體輻射計(jì)算法5、 電子衍射法6、 康普頓波長(zhǎng)移位法7、 X 射線連續(xù)譜短波限法8、 電子- 正電子對(duì)湮沒(méi)輻射法9、 1962 年由約瑟夫森提出的測(cè)定2 e/ h 的交流約瑟夫森效應(yīng)法10、 由馮·克利青于1980 年發(fā)現(xiàn)的量子霍爾效應(yīng), 測(cè)定h/ e2 的量子霍爾效應(yīng)法11、 由英國(guó)國(guó)家物理實(shí)驗(yàn)室的基布爾等人于1990 年采用的直接測(cè)定h 的通電動(dòng)圈法12、 用磁化率測(cè)量普朗克常量（基于測(cè)量弱磁物質(zhì)磁化率的基本原理,使用大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)用的( Gouy) 磁天平）3光電管為