可測試性設(shè)計的邊界掃描法_第1頁
可測試性設(shè)計的邊界掃描法_第2頁
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文檔簡介

集成電路測試邊界掃描法設(shè)計原則硬件設(shè)計基本測試學(xué)習(xí)目標(biāo)設(shè)計原則每個寄存器都可輸入數(shù)據(jù),也可輸出數(shù)據(jù)所有寄存器可連接成一個移位寄存器設(shè)計原則硬件設(shè)計測試存取通道(TAP)指令寄存器(IR)TAP控制器測試數(shù)據(jù)寄存器組(TDR)基本測試測試核心邏輯測試由多個核心邏輯組成的芯片測試核心邏輯間的連線工作方式內(nèi)部測試方式采樣測試方式外部測試方式電路板正常工作方式1、設(shè)計原則:在核心邏輯電路的輸入輸出端都增加一個寄存器;2、硬件設(shè)計:測試存取通道(TAP);TAP控制器;指令寄存器(IR);測試數(shù)據(jù)寄存器組(TDR);3、基本測試:測試核心邏輯;測試連線;測試芯片;知識小結(jié)

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