X射線熒光光譜法測定化探樣品中的25種主次和微量元素量

1、1范圍本方法規(guī)定了地球化學(xué)勘查試樣中SiO2、AI 2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2。、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、Nb、Ni、P、 Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr 25種主、次和微量元素的 測定方法。本方法適用于水系沉積物、土壤和巖石等試樣中以上各元素的測定。本方法檢出限(3s):見表1。表1 兀素檢出限(B) /卩-1 tg - g 融限觸限融限OTh7 on M.042AI50-42b N3 oO a CO2V60ZZ60F50O C30NiTK30r C5.p.2440U C.3b p.5aN70Y20b R9SS9n z.3Ba6.8La4

2、.4本方法測定范圍：見表2表2測定范圍s (B) /10-2兒糸s (B) /10-2兒糸s (B) /10-2兒糸s (B )/10-2SiO2190Mn0.00120.5Zr0.00020.2Al 2O30.130Nb0.00010.02CaO0.135Ni0.00030.3Fe2O30.230P0.0020.9K2O0.110Pb0.00040.3Mg0.1 40Rb0.00030.1ONa20.110Sr0.00030.1OBa0.0050.5Th0.00020.02Co0.0010.05Ti0.0042.0Cr0.00030.05V0.00020.1Cu0.00030.3Y0.000

3、10.05La0.0014 0.05Zn0.00050.32規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本方法的本部分的引用而成為本部 分的條款。下列不注日期的引用文件，其最新版本適用于本方法。GB/T20001.4標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)則第4部分：化學(xué)分析方法。GB/T14505巖石和礦石化學(xué)分析方法總則及一般規(guī)定。GB6379測試方法的精密度通過實(shí)驗(yàn)室間試驗(yàn)確定標(biāo)準(zhǔn)測 試方法的重復(fù)性和再現(xiàn)性。GB / T14496 93 地球化學(xué)勘查術(shù)語。3方法提要采用粉末樣品壓片制樣，用 X射線熒光光譜儀直接測量 樣品中 SiO2、AI2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2O、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、

4、Nb、Ni、P、Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr等25個(gè)主、次和痕量元素。各分析元素采用 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法與散射線內(nèi)標(biāo)法校正元素間的基體效應(yīng)。4試劑低壓聚乙烯粉5儀器及材料5.1壓力機(jī)壓力不低于50t。5.2波長色散X射線熒光光譜儀端窗銠靶X射線管（功率4kW）,儀器必須采用波長色 散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程（JJG810-93臉定合格。5.3氬甲烷（Ar/CH4）混合氣體混合比為9: 1。6分析步驟6.1試料6.1.1 試料粒徑應(yīng)小于 0.074mm。試料應(yīng)在105C烘68h,冷卻后放入干燥器中備用。6.2試料片制備稱取稱取試料（6.1）4.0g，放入模具內(nèi)，撥平，用低壓 聚乙烯鑲

5、邊墊底，在 35t壓力下，壓制成試樣直徑為 32mm,鑲邊外徑為40mm的試料片。壓制完成的試料片在非測量面貼上標(biāo)簽或用記號筆編寫樣號，放入干燥器內(nèi)保存，防止吸潮和污染。測量 時(shí)，只能拿試料片的邊緣，避免測量面被玷污。6.3標(biāo)準(zhǔn)化樣片的制備選擇某些分析元素含量適中的，還應(yīng)含有所有要求待測 元素的國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，按（6.1）-（6.2）的步驟制備成標(biāo)準(zhǔn)化 樣片。6.4測定641測量條件測量條件見表3表3分析元素測量條件元素分析線晶體準(zhǔn)直器探測器電 壓KV電 流mA2 e /(T/SPHALi neBacktptbLLULBLLiFS4PC606087.0988.501051132aot1600

6、CKLiFS4SC606052.7753.6420201675oot14614CKLiFS4SC606069.3270.4020109035ra100CKLiFS4SC606045.0146.301058530ua125LKLiFS4F-P606082.9484.4730303070aa1C8836MKLiFS4SC606062.95409040na160NKLiFS4SC606021.3521.8412122478ba18486NKLiFS4SC606048.6449.601588532ia100PKGeS4PC6060141.1143.3841134ot90000PLLiFS4SC6060

7、28.2429.7020101030b陽1000RKLiFS4SC606026.5929.70851030bot1600SKLiFS4SC606025.1229.70851030ra1800TLLiFS4SC606027.4529.702051030ha1000TKLiFS4SC606086.1141030iOt1000VKLiFS4SC606077.0178.0910103178a15076YKLiFS4SC606023.7624.4312122378a11096ZKLiFS4SC606041.7842.501058033na100ZKLiFS4SC606022.5023.101212247

8、8ra15052SiKPES2PC6060109.041031aT1600AKPES2PC6060144.748031lotT000FKLiFS2SC606057.4848040eOf160CKLiFS4PC6060113.041030aot18050NKRXS4PC606047.3249.70848033aa2520MKRXS4PC606038.9341.85631034ga25400KKLiFS4PC6060136.641230Ot12600RKLiFS4SC606018.36101030ha1000C642工作曲線的繪制642.1標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣片的制備選用水系沉積物 GBW07301GBW0

9、7312、 土 壤 GBW07401GBW07408、硅酸鹽巖石 GBW07103GBW07114、 超基性巖 GBW07101GBW07102和覆蓋區(qū)土壤 GSS10GSS16 等國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，按（6.1）-（6.2）的步驟制備成標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣片。 按（6.4）分析步驟測定并繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。校準(zhǔn)與校正校準(zhǔn)、譜線重疊干擾系數(shù)采用數(shù)學(xué)方法回歸，求出含量xi，計(jì)算公式為Xi 二(al i2 bl i c) ' Di I j式中：Xi標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中分析元素 I的標(biāo)準(zhǔn)值或未知樣品中分析 元素的含量(未作基體校正)a、b、c校準(zhǔn)曲線常數(shù)；li、lj校準(zhǔn)物質(zhì)(或未知樣品)中元素 i、j的X射線強(qiáng)度；Dj

10、 干擾元素j對分析元素i的譜線重疊干擾系數(shù)。643譜線重疊干擾及基體效應(yīng)校正元素間譜線重疊干擾是影響分析準(zhǔn)確性的重要因素?；w效應(yīng)是X熒光分析中普遍存在的問題，是元素分析的主要誤差來 源。因此，如何消除或校正基體效應(yīng)，始終是X熒光分析領(lǐng)域中的重要研究課題。對于干擾，XRF可用無干擾特征線作分析線或校正。本法選擇合適的分析線，盡量避開干擾，使用多個(gè)校 準(zhǔn)樣品回歸，做分段處理，高段線用一次線。采用銠靶Ka線的康普頓散射線作內(nèi)標(biāo)校正基體效應(yīng)，并用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正Fe、Ca等基體對分析線的影響。其校正方程式為:Wi=Xi(1 + KCi+ 刀 AjWj+ 刀 BijkWjWk)+ 刀 DijWj+ 刀E

11、ijkWjWk+Ci式中：Wi為分析元素i校正后的含量；Xi為分析元素i校正前 的表觀含量；Aj為共存元素j對分析元素i的影響系數(shù)；Wj、Wk 為共存元素j、k的含量；Bjk為共存元素j、k對分析元素i的交 叉影響系數(shù)；Dj為共存元素j對分析元素i的重迭干擾系數(shù)；Ejk 為共存元素j、k對分析元素i的交叉重迭干擾系數(shù)；KCi、Ci為 校正常數(shù)。本文各元素均采用強(qiáng)度校正。644操作步驟6.441輸入分析元素的有關(guān)參數(shù)輸入分析元素的測量條件(表3)及I級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中要求待測元素的標(biāo)準(zhǔn)值。測量標(biāo)準(zhǔn)化樣片設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)化樣片名，測量標(biāo)準(zhǔn)化樣片(6.3)中各分析元素的X射線強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)化樣片(6.3)中各分 析元

12、素的參考強(qiáng)度必須與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)在一次開機(jī)中同時(shí)測量，以 保證儀器漂移校正的有效性。測量國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)輸入國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)名稱，測量該樣品中各分析元素的X射線強(qiáng)度?；貧w分析 對I級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中各元素的 X射線強(qiáng)度 與標(biāo)準(zhǔn)值的對應(yīng)關(guān)系進(jìn)行回歸曲線計(jì)算，求出校準(zhǔn)曲線常數(shù)a、b、c和譜線重疊校正系數(shù) Dj;求出共存元素的影響系數(shù)(Aj， Bjk、Dj、Ejk、K、C等)，全部保存在計(jì)算機(jī)的定量分析軟件中。測量未知樣品在測量未知樣品前，應(yīng)對 PHA進(jìn)行調(diào)節(jié)。PC探測 器可選用AI作為調(diào)節(jié)元素，SC探測器可選Cu作為調(diào)節(jié)元素。啟動定量分析程序，測量標(biāo)準(zhǔn)化樣片（644.2），進(jìn)行儀器漂移校正。測量與未知樣品同批制備的已知含量的監(jiān)控樣品 （或其他