《材料分析測試方法》碩士生入學復(fù)試大綱

1、材料分析測試方法碩士生入學復(fù)試大綱第一部分概述1. 課程性質(zhì)本課程是針對材料類專業(yè)本科生而開設(shè)專業(yè)基礎(chǔ)課。目的是使學生掌握材料主要分析技術(shù)方法的基本原理和應(yīng)用，了解較先進的材料分析方法和應(yīng)用，培養(yǎng)學生的材料微觀組織結(jié)構(gòu)分析測試及研究的能力。2. 考試范圍X- 射線分析、電子顯微分析及紅外光譜3. 參考書材料近代分析測試方法現(xiàn)代分析測試技術(shù)材料研究方法常鐵軍等主編祁景玉主編王培銘等主編哈爾濱工程大學出版社2005同濟大學出版社2006科學出版社， 2005第二部分考試要點1、緒論課程性質(zhì)2、 X射線物理學基礎(chǔ)掌握 X 射線的本質(zhì)、連續(xù) X 射線譜，特征 X 射線譜、 X 射線與物質(zhì)相互作用、經(jīng)典

2、散射與經(jīng)典散射強度；二次特征輻射； X 射線的衰減。3、 X 射線衍射的幾何原理掌握布拉格定律、倒易點陣的定義，了解倒易點陣的某些關(guān)系式，倒易點陣的性質(zhì)倒易空間中表示衍射條件的矢量方程，掌握埃瓦爾德圖解。4、 X 射線衍射束的強度理解一個電子對X 射線的散射、一個原子對X 射線的散射、單胞對X 射線的散射；掌握結(jié)構(gòu)因子計算；理解一個小晶體對X 射線的散射；一個小晶體衍射的積分強度；粉末多晶體衍射的積分強度。5、 X 射線衍射方法了解類型和發(fā)展；粉末照相法；粉末法成象原理，德拜謝樂法；勞厄?qū)嶒灧椒ǎ簞诙蚍ǔ上笤砗脱苌浒唿c分布規(guī)律；勞厄衍射花樣指數(shù)化； 掌握多晶衍射儀法；了解測角器，探測器，計數(shù)

3、電路，實驗條件選擇及試樣制備。6、多晶體的物相分析掌握基本原理，了解PDF 卡片， PDF 卡片索引，掌握物相的定性和定量分析原理和方法。7、點陣常數(shù)的精確測定掌握立方晶體衍射花樣的指標化；理解點陣常數(shù)測量中誤差的來源；照相法中 測量誤差的來源，衍射儀法中的測量誤差；掌握點陣常數(shù)精確測定的方法8、 X 射線應(yīng)力測定理解 X 射線應(yīng)力測定的基本原理；掌握X 射線應(yīng)力測定方法。9、電子光學基礎(chǔ)理解電子光學的原理。10、電子與物質(zhì)的交互作用理解原子核對電子的彈性散射，原子核對電子的非彈性散射，核外電子對入射電子的非彈性散射； 高能電子與樣品物質(zhì)交互作用產(chǎn)生的電子信息。二次電子（ SE），背散射電子（

4、 BE），吸收電子（ AE ），特征 X 射線及俄歇電子，自由載流子形成所伴生效應(yīng)， 入射電子和晶體中電子云相互作用， 入射電子和晶格相互作用，周期脈沖電子入射的電聲效應(yīng)，透射電子（ TE）。11、透射電子顯微分析了解透射電鏡的結(jié)構(gòu)、 成象原理； 樣品制備方法， 掌握電子衍射和電子衍射花樣的標定；了解電子像襯度分類，薄晶體樣品的衍襯成象、相位襯度原理成，透射電鏡薄膜電子成像的基本方法。12、掃描電子顯微分析理解掃描電鏡工作基本原理，掃描電鏡的結(jié)構(gòu)，掃描電鏡的主要性能，樣品制備；掃描電鏡在材料研究中的應(yīng)用；掌握表面形貌襯度及其應(yīng)用。13、光譜分析掌握紫外 -可見、拉曼、紅外光譜儀的分析原理， 儀器結(jié)構(gòu)，基本的實驗方法，以及在材料科學與工程的應(yīng)用。一般了解原子光譜的基本原理及應(yīng)用。14、熱分析熱分析技術(shù)分類， TG/DTA/DSC 實驗原理，儀器結(jié)構(gòu)，