測(cè)井知識(shí)小結(jié)

1、測(cè)井知識(shí)小結(jié)一、測(cè)井原理按常規(guī)測(cè)井來講：9條曲線。分別是三條巖性曲線 CALI , SP , GR三條孔隙度曲線CNL , DEN，AC三條電阻率曲線RT，RI，RXO巖性曲線用來劃分儲(chǔ)層與非儲(chǔ)層，孔隙度曲線用來計(jì)算儲(chǔ)層孔隙度的大小，電阻率曲線用來判斷儲(chǔ)層的含油性。自然電位測(cè)井SP目的：計(jì)算和識(shí)別泥巖適用地層：富含高礦化度地層水的砂泥巖剖面利用：電化學(xué)性質(zhì)即地層水的礦化度與泥漿濾液的礦化度之差異 測(cè)量：地層中的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)和擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)1井中電極與地面電極N之間的電位差曲線的作用：主要用于砂泥巖坡面的巖性劃分即在砂泥巖剖面上識(shí)別砂巖和泥巖，其具體做法是一一第一，確定泥巖基線即找出泥巖的趨勢(shì)值；

2、第二，找出含水純砂巖在自然電位曲線先表現(xiàn)為最低值， 且一般是厚層，也就是說偏離泥巖基巖幅度最大位置；第三,位于泥巖基巖與含水純砂巖之間的那些曲線段那么可能為砂質(zhì)泥巖或泥質(zhì)砂巖這主要看是偏向泥巖基線還是偏向含水純砂巖，一般情況下，偏向泥巖基線較多的那么為砂質(zhì)泥巖。不過， 巖層中含有油氣也會(huì)對(duì)自然電位曲線有影響，一般表現(xiàn)為峰值向泥巖基線方向移動(dòng)， 這主要是由于油氣是高阻的緣故。如以下圖所示：SPSPJI幷內(nèi)目感電位令粕和宮然電位曲罐亍意自釀電位幅度泥旳舍整天磔亍意324=>q17<i4,1 / 1 /*>iUUun 1J:X1.A t1 fr&d嚴(yán)5FrJ42E111:V

3、13RILM « I2軒少酒苔、 乜逆浮浹輕: LVi'JJ-V.V.AW ?工矩£空m工 a_.V.7.n.7 rrrr.Ti-TiThTi"iThTiTr.v.v.T.'.-v.v.12onBH lUJiM(W I豹 At： M自然伽馬測(cè)井GR目的：計(jì)算和識(shí)別泥巖適應(yīng)情況：套管井、干井、油基泥漿、高阻地層一般如碳酸鹽巖剖面測(cè)量：鉆井剖面的天然放射性強(qiáng)度假設(shè)沉積巖本身是不含放射性的，一般而言，沉積巖的放射性主要取決于巖層中泥質(zhì)的含量，產(chǎn)生放射性的物質(zhì)主要有U、Th、K圈4 &自撚僅馬理奄餌線曲線的作用：主要用于劃分巖層。在自然伽馬測(cè)井曲線

4、上， 泥巖和頁巖顯示明顯的高放射性， 而且可以形成一條比擬穩(wěn)定的泥巖線儲(chǔ)積巖是低放的；在砂泥巖剖面，純砂巖 GR最低,粘土最高，泥質(zhì)砂巖較低，泥質(zhì)粉砂巖和砂質(zhì)泥巖較高，即自然伽馬隨泥質(zhì)含量的增加而升高；在碳酸鹽巖地層，純石灰?guī)r和純白云巖GR最低，泥巖和頁巖最高，泥灰?guī)r較高，泥質(zhì)石灰?guī)r和泥質(zhì)白云巖介于它們之間，也是隨泥質(zhì)含量增加而升高；在膏鹽剖面中，石膏層的GR值最低，泥巖最高，砂巖在二者之間。聲波£K1>£電爼率址W伽馬HILM普通電阻率測(cè)井、側(cè)向測(cè)井、微電阻率測(cè)井和感應(yīng)測(cè)井目的：探測(cè)不同徑向深度的電阻率值R,識(shí)別流體油、氣、水測(cè)量：地層中各個(gè)帶的電阻率沖洗帶電阻率、

5、過渡帶電阻率、原狀地層電阻率 適應(yīng)情況：一般用于侵入條件下即泥漿濾液侵入到地層中形成沖洗帶、過渡帶和原狀地層曲線作用：在SP或GR粗略分層的根底上，電阻率測(cè)井可以用于精細(xì)劃分儲(chǔ)層。曲線的幅度變化即電阻率值的大小 反映了地層中電阻率的變化， 巖石的巖性將影響電阻率的大小。 一般主要對(duì)照深淺側(cè)向電阻曲線的差異，再結(jié)合沖洗帶電阻率測(cè)量曲線，綜合確定儲(chǔ)層，淺側(cè)向有幅度差是儲(chǔ)層顯示，此時(shí)還可參照井徑曲線，如果出現(xiàn)縮徑現(xiàn)象即井徑減小，出 現(xiàn)泥餅，那么說明是良好儲(chǔ)層，也可以參看沖洗帶電阻率測(cè)量曲線如微球形聚焦。(1)普通電阻率測(cè)井普通電阻率測(cè)井有兩種裝置，如下所示，一種是電位電極系，一種是梯度電極系，田 n

6、-.* jk R14K m jim* ffijnmiI 卜Vli l hJ fVJK 4iiaiL K其中梯度電極系包括頂部梯度電極系和底部梯度電極系，如下所示:0 I 20 I 2 34 56ffii 5踴度陀覆圖靈樂曲it X： 部甘竈曲規(guī)；麻“履疇檔庚墨議：兩種電極系的小結(jié) 一梯度電極系電位電極系分層能力好般薄層電阻率的真實(shí)性好-般徑向探測(cè)深度淺72 l深2L曲線形態(tài)不對(duì)稱對(duì)稱兩種電極系的優(yōu)點(diǎn)裝置簡(jiǎn)單經(jīng)濟(jì)兩種電極系的缺點(diǎn)井內(nèi)泥漿電流分流作用大，分層與測(cè)值精度不高電也電奩IEH度電嵐臺(tái)電9正«W KB «直*M 13正S丫 BU來Ma而AV麗丄豪2-2母範(fàn)廉分類

7、6;K取険供距«蓋SSM虔電aK 京握快電正媳£!«用電鼻鼻掛直電図慕*極拱址正駆£9H板正電址冊(cè)sft供 9>僅哥IU電«承單晨慣電正愛堪祕(mì)電！®斥單航供電西刖孚電軽扇亍裳ktEAM2沖洗帶與原狀地層電阻率測(cè)量一一側(cè)向測(cè)井針對(duì)：鹽水泥漿鉆井、低阻圍巖對(duì)供電電流的井內(nèi)分流作用等適應(yīng)地層：高阻目的層Rt、提高利用：同極性屏蔽聚焦電極使電流呈片狀進(jìn)入地層，有利于測(cè)得原狀地層電阻率 地層縱向分辯率EE ? 汕時(shí)側(cè)向臥嵐茶瞪梵電IS甘布3* 000.025 0,15 0.025TH1二辺匸(a)圖2-18三側(cè)向電極系結(jié)構(gòu)心深三側(cè)向電極系

8、；b SxM向電極系般而言，深淺側(cè)向存在幅度差，說明可能為儲(chǔ)集層。 3沖洗帶電阻率測(cè)量-soPETERSA .微側(cè)向RmLL針對(duì)：泥餅較厚采?。浩帘尉劢?使電流呈束狀進(jìn)入地層B .鄰近側(cè)向針對(duì)：泥餅過厚優(yōu)點(diǎn)：探測(cè)深度比微側(cè)向大，且受泥餅影響減少i f .# Ama鄰近敷向攜井電極系及電.濾線分布C.微球形聚焦目的：適應(yīng)泥餅厚度變化，準(zhǔn)確測(cè)量近井軸沖洗帶電阻率曲線特點(diǎn)：根據(jù)泥餅的厚度而擺動(dòng)陽2 訓(xùn) 慣蝕構(gòu)噸殊構(gòu)井砸Pi農(nóng)爪取場(chǎng)分柑4感應(yīng)測(cè)井針對(duì)：油基泥漿、干井等適于：低阻目的層測(cè)量：地層的電導(dǎo)率缺點(diǎn)：受高角度裂縫影響佗器外俺菽收線圏效大器圖4i雙線圈系感應(yīng)測(cè)井康理Mr 祁9X1tqi* Mt 酸

9、峪瑕井RIA .加3LA.0* *1Aflll®井 *1L1I1L1 I1.11,JFn卜11?rtis L 一6 塞H4A隨著儀器精度的改良，在同一個(gè)地方，俄羅斯感應(yīng)測(cè)井測(cè)得的電阻率比以前大，從而將以前認(rèn)為的油水層判為油層，這說明，測(cè)值的精確性將影響最終的解釋成果。3.測(cè)量孔隙度聲波時(shí)差測(cè)井 t或AC任務(wù)：計(jì)算孔隙度和礦物百分含量；氣水識(shí)別、力學(xué)參數(shù)計(jì)算 測(cè)量：巖石的彈性性質(zhì)，參數(shù)為時(shí)差T時(shí)差£沿井壁地層一側(cè)，滑行縱波傳播單位距離所需的時(shí)問，微秒/米、微秒/英尺速度聲波時(shí)差的倒數(shù)目的；通過地層巖行的剛性變化、進(jìn)而表征巖石的孔隙性圖氐占、井內(nèi)聲波傳播示竟圖曲線特征:1. 劃

10、分地層1在砂泥巖剖面，砂巖的速度一般較快，時(shí)差曲線數(shù)值低。砂巖的膠結(jié)物中，通常硅質(zhì)、 鈣質(zhì)膠結(jié)比泥質(zhì)膠結(jié)的時(shí)差低，隨鈣質(zhì)增加時(shí)差減小，隨泥質(zhì)增加時(shí)差增加；泥巖時(shí)差高， 粉砂巖、頁巖界于泥巖和砂巖之間；礫巖一般聲波時(shí)差較低，并且越致密時(shí)差越低。2在碳酸鹽巖地層，石灰?guī)r、白云巖都是低值，如果含泥質(zhì)會(huì)使時(shí)差增加，如果有孔隙 性和裂縫性碳酸巖，聲波時(shí)差明顯增加，有時(shí)還會(huì)出現(xiàn)周波跳躍。巖性砂巖灰?guī)r白云巖硬石膏泥巖t %eet4743522. 判斷氣層含氣的淺部地層有周波跳躍，時(shí)差大，曲線形態(tài)呈刺刀狀3. 確定孔隙度它主要反映的是均質(zhì)孔隙度，即巖層的總孔隙度，在固結(jié)、壓實(shí)的純地層中，孔隙度和 時(shí)差的關(guān)系為

11、：tftft mat ma密度測(cè)井目的：計(jì)算孔隙度、礦物百分含量特點(diǎn)：基于基質(zhì)孔隙，禾U用康普頓散射，禾U用人工源即中等放射源測(cè)量：中等能量的 源放出中等能量的射線，打擊地層介質(zhì)外部殼層的電子，測(cè)量散射后到達(dá)探測(cè)器的射線強(qiáng)度1、裂縫的測(cè)井響應(yīng)1裂縫識(shí)別測(cè)井 FIL 水平裂縫在 4 條重疊曲線上均有較短的異常， 1 號(hào)極板方位曲線反映出正常旋轉(zhuǎn)；垂直 裂縫在兩條重疊曲線上有較長(zhǎng)井段的異常， 1 號(hào)極板方位不旋轉(zhuǎn)或旋轉(zhuǎn)速度變慢。 2電導(dǎo)率異常檢測(cè) DCA在曲線比照垂向移動(dòng)允許范圍所確定的井段上， 求出各極板與相鄰兩個(gè)極板的電導(dǎo)率讀 數(shù)之間的最小正差異， 把這個(gè)最小正差異疊加在該極板的方位曲線上，

12、作為識(shí)別裂縫的標(biāo)志。 3定向微電阻率 OMRL根據(jù)地層傾角測(cè)井記錄所回放的 4 條電阻率曲線直接重疊組合， 當(dāng)出現(xiàn)低阻與高阻曲線 的明顯別離且垂直方向有一定延續(xù)長(zhǎng)度的異常時(shí)， 可作為有裂縫存在的標(biāo)志， 其裂縫的方位 可由相應(yīng)的低阻極板方位求得。4利用SHDT測(cè)井資料的并列電極比照探測(cè)垂直裂縫被泥漿濾液充滿的裂縫， 在原始測(cè)井曲線上表現(xiàn)為電導(dǎo)率高的尖峰， 如果裂縫系統(tǒng)是垂 直向的或接近垂直方向的， 那么電導(dǎo)尖峰只在成對(duì)的并列電極的一條曲線是哪個(gè)出現(xiàn)； 對(duì)于水 平裂縫，電導(dǎo)尖峰將在兩條曲線上同時(shí)出現(xiàn)。 5雙井徑曲線解釋概要 1.雙井徑曲線值與鉆頭直徑均相等， 為硬地層， 既無泥餅，又無井徑擴(kuò)大；2

13、. 雙井徑曲線均小于鉆頭直徑， 為滲透層； 3. 雙井徑曲線值均大于鉆頭直徑， 為泥巖或疏松 易塌砂、礫巖；4. 雙井徑曲線之一大于鉆頭直徑， 另一等于或稍大于鉆頭直徑， 呈橢圓井眼， 為陡傾裂縫； 5. 雙井徑曲線之一大于鉆頭直徑，另一小于鉆頭直徑，這可能是儀器不正常， 由于極板未接觸井壁或儀器校驗(yàn)不準(zhǔn)，其特點(diǎn)是較長(zhǎng)井段或全井段異常。 6 地層傾角矢量圖在地層傾角測(cè)井矢量圖中， 裂縫或是表現(xiàn)為層段之間無法進(jìn)行比照， 或是表現(xiàn)為傾角看 起來很混亂， 如果屬于后一種， 可以根據(jù)孤立的高傾角提示裂縫的存在， 在有利條件下可以 找出裂縫的方向。從極板上的小電極依次向地層發(fā)送電流，且保持電壓恒定，測(cè)量

14、流經(jīng)地層的電流變化， 它反映地層電阻率的變化。當(dāng)電阻率高時(shí)，流經(jīng)地層的電阻率變小，處理后顯示為淺色；當(dāng) 地層電阻率低時(shí)，流經(jīng)地層的電流變大， 相應(yīng)的顯示為深色， 裂縫、溶洞在圖像上將顯示為 深色。1微電阻率測(cè)井 MSFL裂縫在MSFL曲線上一般顯示為電阻率低值。 2感應(yīng)測(cè)井由于感應(yīng)電流線 渦流 的分布是環(huán)狀的，所以它一般不受高角度裂縫的影響；高阻剖 面中含泥漿濾液或地層水的水平裂縫， 在雙感應(yīng)聚焦測(cè)井 DIL-SFL 組合測(cè)井曲線上， 將顯示為低電阻率， 3 條曲線的測(cè)井值將反響侵入性質(zhì)增阻或減阻侵入剖面 。 3雙側(cè)向測(cè)井 DLL在高阻剖面中的裂縫發(fā)育層段上， 曲線呈現(xiàn)明顯的低阻異常。 一般地

15、說， 對(duì)于 600到 700 的高角度裂縫，DLL測(cè)井曲線呈正差異，即深側(cè)向視電阻率 FUd大于淺側(cè)向視電阻率 Rlls,其比值約為 1.5-2 左右； 對(duì)于低角度裂縫， 特別是水平裂縫， 雙側(cè)向測(cè)井曲線呈現(xiàn)小的差異或 無差異。1聲波時(shí)差 水平裂縫往往使縱波首波時(shí)差增大， 當(dāng)裂縫發(fā)育時(shí)， 由于首波能量嚴(yán)重衰減而產(chǎn)生周波 跳躍。2縱、橫波幅度 水平裂縫對(duì)橫波的衰減比縱波更嚴(yán)重， 而高角度裂縫對(duì)縱波衰減更明顯。 As/Ap 比值 As 表示橫波振幅， Ap 表示縱波振幅曲線上的低值，說明有裂縫存在且阻斷聲波能量的通過。 數(shù)值越低，那么存在被流體充滿的張開縫的可能性越大。3變密度測(cè)井 VDL裂縫在變密度圖上的特征是：條帶顏色變淺，反差變?nèi)?；水平裂縫處出現(xiàn)“ V'形和“