第三單元超聲檢測的工藝ppt課件

1、第三單元 超聲檢測的工藝模塊一 超聲檢測方法概述導入：本模塊主要講授超聲檢測方法的種類及導入：本模塊主要講授超聲檢測方法的種類及其特點和適用場合。其特點和適用場合。課時：課時：2學時。學時。授課方式：新授。授課方式：新授。重點：超聲檢測方法分類。重點：超聲檢測方法分類。難點：共振法、液浸法。難點：共振法、液浸法。 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述一、按照檢測原理分一、按照檢測原理分1.脈沖反射法脈沖反射法超聲波探頭發(fā)射一脈沖超聲波進入到被檢測工超聲波探頭發(fā)射一脈沖超聲波進入到被檢測工件內(nèi)，當超聲波遇到異質件內(nèi)，當超聲波遇到異質界面如缺陷處時，產(chǎn)界面如缺陷處時，產(chǎn)生反射、透射和折射，根生

2、反射、透射和折射，根據(jù)反射回波的情況來判斷據(jù)反射回波的情況來判斷工件中缺陷的方法，稱為工件中缺陷的方法，稱為脈沖反射法。脈沖反射法。 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述（1缺陷回波法缺陷回波法 根據(jù)超聲波檢測儀顯示屏上根據(jù)超聲波檢測儀顯示屏上缺陷的反射回波情況來判斷缺陷有關信息的方法，缺陷的反射回波情況來判斷缺陷有關信息的方法，稱為缺陷回波法。稱為缺陷回波法。（2底波法底波法 如果工件的材質均勻、厚度一致，如果工件的材質均勻、厚度一致，工件底面回波在超聲檢測儀顯示屏上的高度應是工件底面回波在超聲檢測儀顯示屏上的高度應是基本不變的。當工件中存在缺陷時，底波的高度基本不變的。當工件中存在缺陷

3、時，底波的高度會降低甚至消失。因此，可以根據(jù)底面回波的高會降低甚至消失。因此，可以根據(jù)底面回波的高度變化來判斷工件中的缺陷情況，這就是底波法。度變化來判斷工件中的缺陷情況，這就是底波法。 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述（3多次底波法多次底波法 當超聲波的能量較大，而工當超聲波的能量較大，而工件厚度較小時，如果工件中存在缺陷，在出現(xiàn)缺件厚度較小時，如果工件中存在缺陷，在出現(xiàn)缺陷波的同時，由于缺陷的反射和散射增加了聲能陷波的同時，由于缺陷的反射和散射增加了聲能的損失，底面回波的次數(shù)會減少，高度依次降低的損失，底面回波的次數(shù)會減少，高度依次降低的規(guī)律也會發(fā)生變化。的規(guī)律也會發(fā)生變化。 返回

4、目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述2.穿透法穿透法 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述3.共振法共振法如果進入工件的超聲波頻率可調，當工件的厚如果進入工件的超聲波頻率可調，當工件的厚度為超聲波的半波長的整數(shù)倍時，將引起共振，度為超聲波的半波長的整數(shù)倍時，將引起共振，儀器顯示出共振的頻率。共振法常用于工件的測儀器顯示出共振的頻率。共振法常用于工件的測厚。厚。二、按照使用的波型分類二、按照使用的波型分類1.縱波法縱波法 返回目錄返回目錄10222mmffcfc模塊一 超聲檢測方法概述利用縱波完成對工件檢測的方法，稱為縱波法。利用縱波完成對工件檢測的方法，稱為縱波法?？v波法可以分為垂直入射縱

5、波法和小角度入射縱波法可以分為垂直入射縱波法和小角度入射縱波法；縱波法還可分為單縱波法；縱波法還可分為單晶探頭反射法和雙晶探頭反晶探頭反射法和雙晶探頭反射法和穿透法。射法和穿透法?？v波法常用于鍛件、鑄縱波法常用于鍛件、鑄件、板材及其他軋制件的檢件、板材及其他軋制件的檢測，對于平行與檢測面的缺測，對于平行與檢測面的缺陷檢出效果最佳。陷檢出效果最佳。 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述2.橫波法橫波法利用波型轉換得到的橫波進行檢測的方法，稱利用波型轉換得到的橫波進行檢測的方法，稱為橫波法。為橫波法。主要用于焊縫和管材的檢測，或者作主要用于焊縫和管材的檢測，或者作為縱波法檢測的一種輔助手段，用

6、以發(fā)現(xiàn)縱波法為縱波法檢測的一種輔助手段，用以發(fā)現(xiàn)縱波法不易發(fā)現(xiàn)的缺陷。不易發(fā)現(xiàn)的缺陷。3.表面波法表面波法使用表面波進行工件檢測的使用表面波進行工件檢測的方法，稱為表面波法。方法，稱為表面波法。4.板波法板波法使用板波進行工件檢測的方法，稱為板波法。使用板波進行工件檢測的方法，稱為板波法。 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述三、按照探頭的接觸方式分類三、按照探頭的接觸方式分類1.直接接觸法直接接觸法在檢測時，探頭與工件之間僅涂有很薄的一層在檢測時，探頭與工件之間僅涂有很薄的一層耦合劑層，因此可以看作兩者直接接觸，這種探耦合劑層，因此可以看作兩者直接接觸，這種探傷方法稱為直接接觸法。傷方法

7、稱為直接接觸法。2.液浸法液浸法在檢測時，探頭與工件之間充滿一定厚度的液在檢測時，探頭與工件之間充滿一定厚度的液體介質耦合劑，超聲波先通過液體介質后再進入體介質耦合劑，超聲波先通過液體介質后再進入工件，這種探傷方法稱為液浸法，工件，這種探傷方法稱為液浸法， 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述液浸法：液浸法：a 全浸沒式全浸沒式b 噴液式噴液式c 通水式通水式d 滿溢式滿溢式 返回目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述四、按照使用探頭的數(shù)目分類四、按照使用探頭的數(shù)目分類1.單探頭法單探頭法2.雙探頭法雙探頭法 返回目錄返回目錄并列式 交叉式 V形式 K形式 串列時3.3.多探頭法多探頭法使用

8、兩個以上的探頭成對地組合在一起進行探傷的方法，使用兩個以上的探頭成對地組合在一起進行探傷的方法，稱為多探頭法。稱為多探頭法。模塊一 超聲檢測方法概述多探頭法多探頭法 返回目錄返回目錄小結小結超聲檢測的方法很多，如縱波法、橫波法、接觸法、液超聲檢測的方法很多，如縱波法、橫波法、接觸法、液浸法等。在實際檢測中，應根據(jù)具體的工件材質、尺寸、形浸法等。在實際檢測中，應根據(jù)具體的工件材質、尺寸、形狀和要求，具體分析，合理選用，否則可能漏檢缺陷。狀和要求，具體分析，合理選用，否則可能漏檢缺陷。模塊一 超聲檢測方法概述課外作業(yè)：課外作業(yè)：1.液浸法有何優(yōu)點？液浸法有何優(yōu)點？2.雙探頭法有幾種探頭布置方式？各

9、有什么特雙探頭法有幾種探頭布置方式？各有什么特點？點？ 返回目錄返回目錄第三單元 超聲檢測的工藝模塊二 超聲檢測設備的選擇導入：在上一模塊中我們學習了超聲檢測的方導入：在上一模塊中我們學習了超聲檢測的方法，接下來如何確定超聲檢測的設備呢？法，接下來如何確定超聲檢測的設備呢？課時：課時：2學時。學時。授課方式：新授。授課方式：新授。重點：超聲檢測設備的一般原則。重點：超聲檢測設備的一般原則。難點：探頭的選擇。難點：探頭的選擇。 返回目錄返回目錄模塊二 超聲檢測設備的選擇一、超聲檢測儀選擇原則一、超聲檢測儀選擇原則1.1.對于室外現(xiàn)場探傷，應選擇重量輕，熒光亮度好，抗對于室外現(xiàn)場探傷，應選擇重量輕

10、，熒光亮度好，抗干擾能力強的便攜式儀器。干擾能力強的便攜式儀器。2.2.對于近表面缺陷的檢測，應選擇盲區(qū)小、分辨力好的對于近表面缺陷的檢測，應選擇盲區(qū)小、分辨力好的儀器。儀器。3.3.對于大型零件的探傷，應選擇功率大、靈敏度余量高、對于大型零件的探傷，應選擇功率大、靈敏度余量高、信噪比高的儀器。信噪比高的儀器。4.4.如果對缺陷定位要求高，應選擇水平線性誤差小的儀如果對缺陷定位要求高，應選擇水平線性誤差小的儀器。器。 5.5.如果對缺陷定量要求高，應選擇垂直線性好、衰減器如果對缺陷定量要求高，應選擇垂直線性好、衰減器精度高的儀器。精度高的儀器。 此外還應考慮儀器的性能穩(wěn)定性、重復性、可靠性此外

11、還應考慮儀器的性能穩(wěn)定性、重復性、可靠性和和 返回目錄返回目錄模塊二 超聲檢測設備的選擇方便性等因素。隨著相關學科的技術進步，目前數(shù)字式超聲波檢測儀具有輕便、能存儲、記憶、簡單計算并直觀顯示檢測結果等智能化的特點，大有取代模擬式超聲檢測儀的趨勢。二、探頭選擇1.探頭類型縱波探頭-適合檢測與檢測面平行的缺陷。如鍛件、鋼板中的夾層、折疊等。橫波斜探頭-主要用于檢測與探測面成一定角度的缺陷，如焊縫中的夾渣、未熔合、未焊透等。表面波探頭和雙晶探頭-用于檢測工件表面或近表面的缺陷，如疲勞裂紋等。 返回目錄返回目錄模塊二 超聲檢測設備的選擇 聚焦探頭-發(fā)射的超聲波具有靈敏度高、聲束窄、橫向分辨率高和定位精

12、度高等特點，常用于水浸法檢測管材或板材等。 2.探頭頻率 常用頻率：0.5MHz、1MHz、1.25MHz、2MHz、2.5MHz、4MHz、5MHz、6MHz、10MHz、15MHz、25MHz。 選擇原則： 1由于波的衍射，使超聲波檢測的理論靈敏度為/2，因此提高超聲波頻率，有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷。但是，隨著頻率的提高，介質中聲波散射加劇，使聲波能量的衰減曾 返回目錄返回目錄模塊二 超聲檢測設備的選擇添加。 2超聲波的頻率高，脈沖寬度小，分辨力高，有利于區(qū)分相鄰的缺陷。 3超聲波的頻率高，波長短，半擴散角小，聲束指向性好，能量集中，有利于對缺陷進行準確定位。但是，近場區(qū)長度加大，對探傷不利。

13、 3.晶片尺寸 通常探頭中圓晶片的尺寸為1030mm。選擇晶片大小時，應考慮以下因素。 1晶片尺寸增加，半擴散角減小，聲束指向性變好，超聲波能量集中，有利于探傷。 返回目錄返回目錄模塊二 超聲檢測設備的選擇 2晶片尺寸增加，近場區(qū)長度迅速加大，對探傷不利。 3晶片尺寸大，輻射的能量大，聲場未擴散區(qū)范圍大，遠距離范圍相對變小，發(fā)現(xiàn)遠距離缺陷能力降低。 4.橫波斜探頭K值小結 超聲檢測用的設備主要指超聲檢測儀、探頭。不同的超聲檢測儀具有不同的外觀尺寸和性能。在實際檢測時，應根據(jù)具體檢測方法、檢測要求，合理選擇檢測儀，才能充分儀器的性能。探頭的選擇主要是確定所用探頭的類型、頻率、尺寸、K值等。 返回

14、目錄返回目錄模塊一 超聲檢測方法概述課外作業(yè)：課外作業(yè)：1. 探頭探頭K值對超聲檢測有什么影響？值對超聲檢測有什么影響？ 返回目錄返回目錄第三單元 超聲檢測的工藝模塊三 耦合與補償導入：為了使超聲波能量盡可能多的進入工件導入：為了使超聲波能量盡可能多的進入工件中，在探頭與工件檢測面之間充以合適的透聲介中，在探頭與工件檢測面之間充以合適的透聲介質質-耦合劑。耦合劑。課時：課時：2學時。學時。授課方式：新授。授課方式：新授。重點：耦合的選擇。重點：耦合的選擇。難點：耦合補償。難點：耦合補償。 返回目錄返回目錄模塊三 耦合與補償一、影像聲耦合的因素一、影像聲耦合的因素1.1.耦合劑的要求、種類耦合劑

15、的要求、種類（1 1聲阻抗高，透聲性能好。聲阻抗高，透聲性能好。（2 2對工件無腐蝕，對人體無害、不污染環(huán)境。對工件無腐蝕，對人體無害、不污染環(huán)境。（3 3能潤濕工件和探頭表面，流動性、粘度和附著力適能潤濕工件和探頭表面，流動性、粘度和附著力適當，容易清洗。當，容易清洗。（4 4性能穩(wěn)定，不易變質。性能穩(wěn)定，不易變質。（5 5來源廣，價格便宜。來源廣，價格便宜。種類：表種類：表3-13-1。2.2.耦合層厚度耦合層厚度半波透聲。半波透聲。 返回目錄返回目錄模塊三 耦合與補償3.工件表面粗糙度4.工件表面形狀二、耦合損耗測定和補償 返回目錄返回目錄方法一方法一對比試塊工件模塊三 耦合與補償 返回

16、目錄返回目錄方法二方法二工件厚度試塊試塊厚度工件模塊一 超聲檢測方法概述小結小結耦合劑的目的在于讓更多的超聲波能量進入工件，耦合劑的目的在于讓更多的超聲波能量進入工件，為此必須了解耦合劑的聲阻抗，熟悉耦合劑的一般為此必須了解耦合劑的聲阻抗，熟悉耦合劑的一般要求，以及他對聲耦合的影響。必要時，需要用適要求，以及他對聲耦合的影響。必要時，需要用適當?shù)姆椒y定耦合損耗的大小，以便進行補償。當?shù)姆椒y定耦合損耗的大小，以便進行補償。課外作業(yè)：課外作業(yè)：耦合介質對回波高有什么影響？耦合介質對回波高有什么影響？ 返回目錄返回目錄第三單元 超聲檢測的工藝模塊四 缺陷位置的測定導入：缺陷位置的測定簡稱缺陷的定

17、位，本模導入：缺陷位置的測定簡稱缺陷的定位，本模塊主要介紹用直探頭和斜探頭超聲檢測時定位缺塊主要介紹用直探頭和斜探頭超聲檢測時定位缺陷的方法。陷的方法。課時：課時：8學時。學時。授課方式：新授。授課方式：新授。重點：掃描速度的調節(jié)、斜探頭的缺陷定位。重點：掃描速度的調節(jié)、斜探頭的缺陷定位。難點：斜探頭二次波法和圓柱形工件的缺陷定難點：斜探頭二次波法和圓柱形工件的缺陷定位。位。 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定一、掃描速度的調節(jié)一、掃描速度的調節(jié)儀器顯示屏上時基掃描線上某一回波的水平刻度值儀器顯示屏上時基掃描線上某一回波的水平刻度值與與工件中對應的實際聲程單程工件中對應的實際聲程單程x x

18、的比例關系，即的比例關系，即x=1x=1n n稱為掃描速度時基線掃描比例）。稱為掃描速度時基線掃描比例）。 1.1.縱波掃描速度調節(jié)縱波掃描速度調節(jié)縱波探傷一般按縱波聲程來調節(jié)掃描速度。具體做法是：縱波探傷一般按縱波聲程來調節(jié)掃描速度。具體做法是：將縱波探頭對準厚度適當?shù)钠降酌婊蚯酌?，使兩次不同的將縱波探頭對準厚度適當?shù)钠降酌婊蚯酌?，使兩次不同的底波分別對準相應的水平刻度值。底波分別對準相應的水平刻度值。2.2.表面波掃描速度的調節(jié)表面波掃描速度的調節(jié)3.3.橫波掃描速度的調節(jié)橫波掃描速度的調節(jié) 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定縱波掃描速度調節(jié) 表面波掃描速度調節(jié) 橫波掃描速度調節(jié)

19、返回目錄返回目錄（1聲程調節(jié)法 模塊四 缺陷位置的測定（2水平調節(jié)法 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定（3深度調節(jié)法 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定二、缺陷定位二、缺陷定位1.縱波探傷時缺陷定位縱波探傷時缺陷定位設儀器按設儀器按1n調節(jié)的掃描深度，在探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷波，在調節(jié)的掃描深度，在探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷波，在顯示屏上該缺陷波的水平刻度值為顯示屏上該缺陷波的水平刻度值為 ，則缺陷至探頭的距離，則缺陷至探頭的距離為為 例例3-2：用某直探頭探傷一鋼制工件，儀器按：用某直探頭探傷一鋼制工件，儀器按15調節(jié)掃描調節(jié)掃描速度，探傷中在顯示屏上水平刻

20、度值速度，探傷中在顯示屏上水平刻度值60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，求處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，求此缺陷的位置。此缺陷的位置。解：缺陷至探頭的距離為解：缺陷至探頭的距離為 （mm） 返回目錄返回目錄fffnxfx300605ffnx模塊四 缺陷位置的測定2.表面波探傷時缺陷定位表面波探傷時缺陷定位 表面波探傷時，缺陷位置的確定方法基本同縱波，只是表面波探傷時，缺陷位置的確定方法基本同縱波，只是缺陷位于工件表面、探頭前方。缺陷位于工件表面、探頭前方。3.橫波探傷時缺陷定位橫波探傷時缺陷定位 返回目錄返回目錄聲程調節(jié)法：聲程調節(jié)法：模塊四 缺陷位置的測定 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定 返回目錄返回目錄水平調節(jié)

21、法：水平調節(jié)法：模塊四 缺陷位置的測定 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定 返回目錄返回目錄深度調節(jié)法：深度調節(jié)法：模塊四 缺陷位置的測定 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定三、橫波周向探傷圓柱形工件時的缺陷定位三、橫波周向探傷圓柱形工件時的缺陷定位 返回目錄返回目錄模塊四 缺陷位置的測定 返回目錄返回目錄四、影響缺陷定位的因素四、影響缺陷定位的因素1.儀器的影響儀器的影響2.探頭的影響探頭的影響3.工件的影響工件的影響模塊四 缺陷位置的測定4.操作人員的影響小結本模塊主要教授了超聲檢測定位缺陷的方法，它主要包括兩個步驟：一是調節(jié)掃描速度，二是計算缺陷位置。掃描速度的調節(jié)方法包括縱波、

22、橫波、表面波的調節(jié)，相應的有不同的定位缺陷方法。當工件為曲面時，還應注意缺陷位置的修正。課外作業(yè)教材P116第8題。 返回目錄返回目錄第三單元 超聲檢測的工藝模塊五 缺陷大小的測定導入：缺陷大小的測定稱為缺陷的定量。定量導入：缺陷大小的測定稱為缺陷的定量。定量的方法通常采取當量法，其具體包括試塊比較、的方法通常采取當量法，其具體包括試塊比較、曲線法、計算法等。曲線法、計算法等。課時：課時：6學時。學時。授課方式：新授。授課方式：新授。重點：曲線的繪制、計算法定量缺陷。重點：曲線的繪制、計算法定量缺陷。難點：缺陷測長、各種干擾回波的識別與判定。難點：缺陷測長、各種干擾回波的識別與判定。 返回目錄

23、返回目錄模塊五 缺陷大小的測定 一、一、AVG曲線繪制曲線繪制 AVG曲線是描述規(guī)則反射體的距離、回波高、當量大小曲線是描述規(guī)則反射體的距離、回波高、當量大小三者之間相互關系的曲線。三者之間相互關系的曲線。 1.通用通用AVG曲線曲線 當當x3N時：時： 返回目錄返回目錄模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄2.實用AVG曲線模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄3.AVG面板曲線模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄二、間隔二、間隔-波幅曲線的繪制波幅曲線的繪制步驟：1.測定斜探頭的K值。2.測定試塊CSK-IIA上的孔。3.利用基準波高時的孔的

24、距離和分貝值繪制曲線。4.據(jù)下表平移。模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄繪制面板曲線時，應保持不變的超聲波強度。此圖垂直方向表示波的實際高度，并非衰減器讀數(shù)。模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄應用舉例：應用舉例：模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄三、檢測靈敏度的調節(jié)三、檢測靈敏度的調節(jié)檢測靈敏度是指在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷檢測靈敏度是指在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準確定。的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準確定。 1.試塊調整法試塊調整法例如，超聲波探傷一厚度為例如，超聲波探傷一厚度

25、為100mm的鋼制鍛件，要求不的鋼制鍛件，要求不允許存在允許存在2平底孔當量大小的缺陷。其檢測靈敏度的調節(jié)方平底孔當量大小的缺陷。其檢測靈敏度的調節(jié)方法是：先加工一塊材質、表面粗糙度、聲程與被檢鍛件相同法是：先加工一塊材質、表面粗糙度、聲程與被檢鍛件相同的的2平底孔試塊，將探頭對準平底孔試塊，將探頭對準2平底孔，儀器保留一定的平底孔，儀器保留一定的衰減余量，調理衰減余量，調理“衰減器使衰減器使2平底孔的最高回波達基準高平底孔的最高回波達基準高60%，這時靈敏度就調好了。，這時靈敏度就調好了。2.曲線法曲線法模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄2.曲線法例如，某鍛件200/2靈敏度的調節(jié)方法

26、是：在AVG曲線上通過橫坐標200處作一條垂線與2線相交，讀出交點的縱坐標。調理“衰減器至讀數(shù)為，這時靈敏度就調好了。用距離波幅曲線調節(jié)靈敏度時，通常要求靈敏度不低于測長線，且規(guī)定：當工件厚度T=846時，用兩倍工件的厚度對應的測長線分貝值作為檢測靈敏度。當工件厚度T46時，用工件的厚度對應的測長線分貝值作為檢測靈敏度。模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄3.工件底波調整法計算：利用工件底波調整靈敏度時，將探頭對準工件底面，調節(jié)儀器使工件底波B1達基準高60%，然后利用“衰減器增益dB即可。四、缺陷大小測定1.當量試塊比較法2.當量曲線法模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄3.計算法模

27、塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄4.底波高度法（1F/BF法 F/BF法是在一定的檢測靈敏度下，用缺陷波高F與缺陷處的底波高BF之比來衡量缺陷的相對大小的方法。（2F/BG法 F/BG法是在一定的檢測靈敏度下，用缺陷波高F與無缺陷處底波高BG之比來衡量缺陷的相對大小的方法。（3BG/BF法 BG/BF法是用無缺陷處底波高BG與缺陷處的底波高BF之比來衡量缺陷的相對大小的方法。5.測長法（1相對靈敏度測長法 探傷時沿缺陷長度方向移動探頭模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄降低一定的dB值來測定缺陷的長度的方法，稱為相對靈敏度測長法。降低的dB值有

28、3dB、6dB、10dB、12dB、20dB等幾種。常用的是6dB法和端點6dB法。16dB法。2端點6dB法。（2絕對靈敏度測長法 （3端點峰值法 模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄五、影響缺陷定量的因素1.儀器和探頭的性能2.工件3.耦合4.缺陷模塊五 缺陷大小的測定 返回目錄返回目錄小結小結缺陷大小的測定方法主要有試塊比較法、計算法和曲線缺陷大小的測定方法主要有試塊比較法、計算法和曲線法。相關的內(nèi)容有法。相關的內(nèi)容有AVG曲線和距離曲線和距離-波幅曲線的繪制、檢測靈波幅曲線的繪制、檢測靈敏度的調節(jié)和缺陷的測長方法。敏度的調節(jié)和缺陷的測長方法。

29、課外作業(yè)課外作業(yè)綜合訓練：三、綜合訓練：三、11。第三單元 超聲檢測的工藝模塊六 缺陷的性質分析導入：不同類型的缺陷對產(chǎn)品的危害不一樣，導入：不同類型的缺陷對產(chǎn)品的危害不一樣，因此超聲檢測不僅要找出缺陷位置、測定其大小，因此超聲檢測不僅要找出缺陷位置、測定其大小，還需要判定缺陷的類型。不過，目前還需要判定缺陷的類型。不過，目前A型顯示的型顯示的超聲檢測儀很難直觀、準確得到缺陷種類，它需超聲檢測儀很難直觀、準確得到缺陷種類，它需要檢測人員運用所掌握的知識和經(jīng)驗進行綜合分要檢測人員運用所掌握的知識和經(jīng)驗進行綜合分析，才能獲得較為合理的結果。析，才能獲得較為合理的結果。課時：課時：1學時。學時。授課

30、方式：新授。授課方式：新授。重點：根據(jù)缺陷波形分析缺陷的性質。重點：根據(jù)缺陷波形分析缺陷的性質。難點：動態(tài)波形。難點：動態(tài)波形。 返回目錄返回目錄模塊六 缺陷的性質分析一、根據(jù)加工工藝分析缺陷性質一、根據(jù)加工工藝分析缺陷性質1.1.工件中缺陷與加工工藝密切相關。工件中缺陷與加工工藝密切相關。2.2.檢測前應查閱有關工件的圖樣和資料，了解工件的材檢測前應查閱有關工件的圖樣和資料，了解工件的材料、結構特點、幾何尺寸、加工工藝等。料、結構特點、幾何尺寸、加工工藝等。二、根據(jù)缺陷特征分析缺陷性質二、根據(jù)缺陷特征分析缺陷性質缺陷特征：缺陷的形狀、大小、密集程度等。缺陷特征：缺陷的形狀、大小、密集程度等。

31、1.1.平面型缺陷裂紋、夾層、折疊等）平面型缺陷裂紋、夾層、折疊等）垂直于缺陷檢測時，回波較高；平行于缺陷檢測時，回垂直于缺陷檢測時，回波較高；平行于缺陷檢測時，回波較低，甚至無回波。波較低，甚至無回波。2.2.點狀缺陷氣孔、小夾渣等）點狀缺陷氣孔、小夾渣等）在不同方向上檢測，缺陷回波的高度五明顯變化。在不同方向上檢測，缺陷回波的高度五明顯變化。 返回目錄返回目錄模塊六 缺陷的性質分析3.密集型缺陷白點、密集氣孔、疏松等）從不同方向探測，缺陷回波情況類似，都是密集相連。三、根據(jù)缺陷波形分析缺陷性質1.靜態(tài)波形一般聲阻抗小、表面光滑的缺陷，回波較高，波形陡直尖銳，如氣孔、白點等。反之，波形寬度大且?guī)т忼X狀，如夾渣等。2.動態(tài)波形不同缺陷的動態(tài)波形對探頭移動的敏感程度不一樣。通常白點的敏感度較高，只要探頭稍一移動，缺陷波立刻此起彼伏，十分活躍。常見缺陷的動態(tài)波形如下： 返回目錄返回目錄模塊六 缺陷的性質分析 返回目錄返回目錄模塊六 缺陷的