msc9710c光譜分析儀操作指導書

1、目錄1 引言2MSC9710C光譜分析的基本操作方法3.1開機3.2接好光源3.3輸入光源3.4常用設置31.1.1 校準4功率校準4波長校準4保存和輸出52常用測試項目測試簡介51.1.1 光源光譜特性的測試方法6工作波長的測試方法6最小邊模抑制比（SMSR）7最大-20dB譜寬9最大均方根譜寬（6）92.2光放性能參數(shù)的測試102.3 WDM方式下光譜特性的測試112 插損和隔離度測試122.4.1插損的測試12隔離度的測試13附錄：MS9710C光譜分析儀菜單和面板快捷鍵說明141.1.1 屏幕菜單說明14Wavelength（F1）14Level（F2）151.1.1Res/VBW/A

2、vg（F3）16Peak/DipSearch（F4）18AnaylingWaveforms（F5）19TraceMemory（F6）20Save/Recalling（F7）保存/調出保存結果21Graph（F1）設置顯示圖形方式21Application（F2）21231.1.1MeasurementModes(F3)Titles(F4)設置文件名24Calibration(F5)校準功能24Conditions(F6)25Others(F7)251.2面板快捷鍵說明25MSC9710光譜分析儀使用說明1引言MS9710C光譜分析儀可以測試從600nm至1750nm波長范圍的光譜特性，最大分辨

3、率達0.05nm。在我們傳輸，常用MSC9710C來分析單縱膜、多縱膜、LED等光源的光譜特性；測試無源光器件的插損、隔離度；測試光放的增益、信噪比等性能參數(shù)以及分析WDM方式下光譜特性。MS9710C光譜分析儀的前面板如圖1所示，包括顯示屏、軟區(qū)、快捷鍵、測試孔、數(shù)值鍵、旋鈕等組成。屏幕的底部有一排菜單，有一排軟鍵與菜單相對應，在測試過程中，可以用F8進行翻頁，并用相對應的軟鍵確認進入菜單設置，用Prior返回前一級菜單。aI-IlFE二C7A4則由fWtfrIuuuiuu1IPTI1珥gfn丿鄉(xiāng)3匸匚匸廠、匸匚匸廠-匚匚匚匚展魁怏捷Luzr圖1MS9710C光譜分析儀的前面板在介紹各項指標

4、測試方法之前，首先講一下MSC9710C光譜分析儀的基本操作方法。2MSC9710C光譜分析的基本操作方法.1開機w把光譜分析儀放置平穩(wěn)w檢查電源線、保險絲安裝正確，保證儀器可靠接地、連接電源插座w打開儀器的電源開關PowerSwitch.2接好光源在把光源輸入光譜分析儀的測試口之前，最好測一下光源的光功率。如果您的輸入光功率超過光譜分析儀的輸入允許范圍，將損壞光譜分析儀的光口。光譜分析儀內置有光衰減器，當關閉衰減功能時，允許輸入的最大光功率為10dB;當開啟衰減器時，允許最大的輸入光功率為+23dB。光譜分析儀內部衰減的設置方法為：頮LevelScaleAttOff/On，AttOff/On

5、表示沒有開啟內部誤減器，AttOff/On_表示加了衰減。在保證您的光源強度不會損壞光譜分析儀的前提下，您可以將光源輸入MSC9710C的測試口。.3輸入光源按一下面板右下角的"AutoMeasure”或者"Single”、"Repeat”可以把光源掃入光譜分析儀中。用“AutoMeasure”掃入光源時，光譜分析儀自動根據(jù)輸入光譜的波長和功率調整調節(jié)橫坐標比例Span等選項，并把光譜主縱模放置在屏幕中間；Single、Repeat只是把光譜掃入儀器，不改變設置，Single是單步掃描，Repeat是重復掃描方式。掃描的時候都可以按“STOP”鍵停止。.4常用設置

6、掃入光源后，應該調節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log(/Div)，在屏幕上清晰顯示被測光譜，一般光譜放置在屏幕正中間，儀器分辨率Res設置為0.1nm，視頻分辨率VBW設為1KHZ。常用設置說明如下：設置屏幕中心顯示波長：頮Wavelegth>CenterWL，然后用Knob或數(shù)值鍵輸入數(shù)值。設置橫坐標比例Span：頮Wavelegth>Span,然后用Knob或數(shù)值鍵輸入數(shù)值或者直接用功能鍵選擇。選擇波長的單位：頮Wavelegth>MkrvalueW1/Freq是以nm為波長的單位；頮Wavelegth>MkrvalueW1/F

7、req是以THZ為波長的單位。把光譜主縱模顯示在屏幕中間：按面板上的快捷鍵頮CENTER選擇光功率的單位：設置以dB為單位：頮LevelScale>Log(/Div);設置以uw為單位頮LevelScale>LinearLevel，如果要調節(jié)縱坐標的比例，則用Knob或數(shù)值鍵輸入數(shù)值或者直接用功能鍵選擇。設置儀器分辨率：頮Res/VBW/Avg>Res，然后用屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值，光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇Res的值(Res的值只能設置成下表顯示的值)：F1f2f3f4f5f61nm0.5nm0.2nm0.1nm0.07nm0.05nm在測試過程中，當測試比較窄的光

8、譜時（如LD），應把分辨率打小一些，當測試光譜比較寬的光譜時（如LED），Res應設大一大些。設置視頻分辨率：頮Res/VBW/Avg>VBW，或按快捷鍵VBW，則會顯示當前的VBW，可用屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值，光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇VBW的值為：f4F1f5f2f6f31MHZ100KHZ10KHZ1KHZ100HZ10HZPeakS&arch尋找主縱模峰值點并顯示峰值點的參數(shù)：按面板上的快捷鍵，光標自動移到主縱模峰值點并在屏幕上顯示峰值點的參數(shù)。1.1校準為了保證測試結果的正確性，您可以先校準一下光譜分析儀。校準包括波長和功率，校準時最好用波長與功率比較穩(wěn)定的可調

9、光源發(fā)出的1.3um或1.55um的單縱模光源進行。功率校準調節(jié)可調光源輸出的1.3um或1.55um的單縱模光源，并經(jīng)可調衰減器衰減到-23dB，用光纖接入光譜儀測試孔。Cal>AutoAlign進行光坐標自動對準按“Repeat”重復掃描參考光源，并按顯示峰值功率。然后進入“CaL”，選擇“LevelOffset”，用Knob或數(shù)值鍵調整功率補償值，直到屏幕上顯示的峰值功率為-23dB為至。校準完成后，光譜分析儀能自動保存校準結果。波長校準校準波長時可用光譜分析儀本身的校準光源，也可用外部光源進行校準，用外部的光源進行波長校準時，校準時最好用波長與功率比較穩(wěn)定的可調光源發(fā)出的1.3u

10、m或1.55um的單縱模光源進行。a、利用光譜分析儀內部校準源進行校準：用光纖把MS9710C光譜分析儀后面板上的校準光源接入測試孔Cal>AutoAlign進行光坐標自動對準按一下面板上的（頮Output）打開光譜分析儀的參考光源然后選擇“CaL”選項，按下“W1Cal（Ref）”，按一下“Execute”校準就開始了。b利用光譜分析儀外部校準源進行校準：利用外部校準源進行校準時，必需選擇比較穩(wěn)定的1.3um或1.55um單縱膜光源，并用多波長計等測試波長比較精確的儀表測出光源的波長。用光纖把參考光源接入測試孔Cal>AutoAlign進行光坐標自動對準然后選擇"CaL

11、”選項，按下“W1Cal（Ext）"，按一下"Execute”校準就開始了。Peak按“Repeat”重復掃描參考光源，并按顯示峰值波長。然后進入“CaL”，選擇“W1Offset”，用Knob或數(shù)值鍵調整波長補償值，直到屏幕上顯示的峰值波長等于參考光源的波長為至。校準完成后，光譜分析儀能自動保存校準結果。1.2保存和輸出頮Save/Recall進入保存/調出保存內容的菜單界面，首先進入頮FileOption選擇文件的保存形式（一般選BMP形式）和磁盤的類型，然后頮Save保存文件。界面如圖2所示。1保存文件的操作界面如果您想把波形打印出來，按一下COPY鍵即可（在儀表的左

12、手邊）。2常用測試項目測試簡介看到這里，您應該對MSC9710C光譜分析儀的基本操作有所了解了，下面就介紹一下使用MSC9710C進行光譜特性指標測試的方法。2.1光源光譜特性的測試方法主要測試項目：工作波長、最大-20dB帶寬、最小邊模抑制比（SMSR）和平均發(fā)送光功率等。2.1.1工作波長的測試方法工作波長指的是主縱模最大功率跌落3dB處的中心波長。測試步驟：打開儀表，接上光纖，按下“AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動掃入光譜。（在測試工作波長之前，最好對光譜分析儀進行波長校準）。調節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示

13、被測光譜。選擇波長的單位：頮Wavelegth>MkrvalueW1/Freq是以nm為波長的單位；頮Wavelegth>MkrvalueW1/Freq是以THZ為波長的單位。選擇“Analysis”選項（如果沒有，可以不斷地按下界面上返回圖標對應的按鈕F8進行翻頁，直至它出現(xiàn)為止。如果您按“Analysis”對應的按鍵，儀表發(fā)出“咚”的提示聲，并不能進入Analysis界面時，不要奇怪，MSC9710C光譜分析儀處在“Application”界面時，不能同時進入“Analysis”，此時您只要返回“Application”界面，按一下儀表右下角“off”，關閉Applicatio

14、n窗口即可。），進入“Analysis”界面后，按下“Threshold”對應的按鈕，選擇3dB，屏幕上顯示的c對應的值是工作波長。測試界面如圖3所示。如果您覺得屏幕上顯示的光譜不夠清晰，可以進入Wavelength>Span和Level>Log（/div）界面，調節(jié)橫坐標和縱坐標的比例，使波形放大。如果您需要保存或打印結果，按照MSC9710C光譜分析儀的基本操作方法中的“保存和輸出”中所提示操作即可。/irritsuiNkrA：LMkrC：-1化TSUBmB：15J9.inB-6:0.trnD：-£0TSkiBmC'Di3-GdE111IL：LI/-JER4S

15、：&11W6vg：0fffSuF'lgit#SmiOFf#ntvl：0ffLMB<jLmQ.EEF：>div片4!:enml+ineztold'CiJtL'JT"；JJE由：C.Irwi-1C0,0dHm-I5J13*Inn0L&nrnTCPrior3Wr._J._J1_氣人占-%也北t=%叫:卄jZZi7k|Reakd3ip|Analj)JBii|rran:dave/J.jj£引一隠m4>、222»、Lave-IanFesTEM”圖3工作波長測試界面2.1.2最小邊模抑制比（SMSR）SMSR定義為主縱模

16、（M1）的平均光功率與最顯著的邊模（M2）的光功率之比的最小值，用公式表示為SMSR=10Logio黑測試步驟：打開儀表，接上光纖，按下"AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動掃入光譜。調節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示被測光譜。選擇“Analysis”選項，進入“Analysis”界面后，選擇“SMSR”對應的按鍵，進入SMSR測試界面，然后選擇屏幕右邊選項“2nd”對應的按鍵fl。屏幕上顯示的1對應的值就是最小邊模抑制比（SMSR）。測試界面如圖4所示。如果您需要保存或輸出結果，按照MSC9710C光譜分析儀

17、的基本操作方法中的“保存和輸出”中所提示操作即可。/inritsuTfkrA;舊也OTnmUfkr:'17.TOdBniE:D：-庁:J6d帥B-ft;】.菇rmC-D：47.TTdBSHSRSidehod?2陽Ppflb?.OiRm47."7sBtm!a|italIiaiiiir.=a1i-<-!s-'111Fli-bIda1J-FH"0ci帥-100.BdBm:&43.m0.5nvd“t5d&.6nm#脫刃ffzSh：Gff/IrrtvitlfFPeahJIP:小創(chuàng)LevelScale曜:E-mVBWilkbte別耳審501”Ira

18、taEveX誠3grtgth向向向g11向圖4最小邊模抑制比測試界面最小邊模抑制比（SMSR）的測試還可以這樣：選擇“Application”選項，按下界面Test對應的按鈕，此時可以直接從屏幕上讀出SMSR。如圖5所示。DFB-LD/inribuHkrA：SiB-ft:fiJRLHkrCiDiCDi14卜ntk-iti|s-：f弓.亠B*XhHoJ-OfSwt.0.54nm!2nd珥ik1551-Wnn-&I-5WEH口怦陽衍2-mSid©矽北UrdthCcrtrOffset-zl.MtimSHSR>«35.7JB工丄I'-S0.neJinWU；tk

19、tt/Sm；Off/IntvbDrrzfflttOffGraptibppli-catiorlMeasure1HjdejFTCalCondi-Icg“3)546*6mt.Pnonoijv1551托伽imAir1556.6mRqs：.1nm>P:QFf>沖1JOFF圖5最小邊模抑制測試界面2.1.3最大-20dB譜寬主縱模中心波長的最大峰值功率跌落-20dB時的光譜最大全寬。測試步驟：打開儀表，接上光纖，按下"AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動掃入光譜。調節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示被測光譜。選擇

20、“Application”選項，按下界面下的DFB-LDTest對應的按鈕，然后按下nBWidth，用數(shù)值鍵或Knob輸入20，-20dBWidth后面對應的數(shù)值就是-20dB譜寬，如圖6所示。-JOJhb工丄I'Ji.h1；vI55Lin£).r>Snp-)-5：50l1546”BtiF；滬：NrunSU1：tkftppi；-cation/Sni；Off/Intv'l；OfTF（FW）/Tnnbsuankra：LHkrC：fi-l仃s：D：0-A:C-D：ndEUidthLJrD1L11Pea155td4m-l5J6dBnHoJ-Of;set.-.0.54nn

21、i2nd-1551-浙m-&l-5BdEn口op陽舊二IjnmSide2PdEUid+h+H,-孔磅nmCortflTOffBQti*il.Mnin-»35.7dG圖6-20dB譜寬測試界面2.1.4最大均方根譜寬（6）最大均方根譜寬是度量光脈沖能量的集中程度，對于多縱模激光器和發(fā)光二極管這樣光能量比較分散的光源的，采用最大均方根譜寬（6）來表征其光譜寬度。（有時會用FWHM來表征此指標,FWHM=2.356）測試步驟：打開儀表，接上光纖，按下“AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動掃入光譜。選擇波長的單位：頮Wavelegth>MkrvalueW1/Freq是以nm

22、為波長的單位；頮Wavelegth>MkrvalueW1/Frea是以THZ為波長的單位。選擇“Analysis”選項，這時出現(xiàn)測量參數(shù)的界面，按下界面上的“RMS”對應的按鈕，按界面上的“=1.006”對應的按鈕，界面上會出現(xiàn)“k8：”的文字，它后面跟著的就是光源的最大方均根譜寬。n闊9“J.d蟲:JJ.t-rin/lnritsuIRkrA:126O!Grw_Mkri：-站.曲dBmS1711aFactor環(huán)=1，血zditfRfls劇.冊：念bl抵-他1295.3t日-A3,ei3iviD：-UN兇dBmCD：JUiHdBdBm：ILI-FinAi-?iplq-501圖7均方根譜寬測

23、試界面2.2光放性能參數(shù)的測試光放需用光譜分析儀的測試項目有：增益Gain、噪聲系數(shù)NF、增益平坦度。測試步驟：按下Application鑏Opt.AmpTest進入光放測試程序,接著把未經(jīng)光放的光源插入光譜分析儀的測試孔，選擇MemoryPin/Pout,按下把光源掃入光譜分析儀中；然后把經(jīng)光放放大后的光源插入測試孔，選擇MemoryPin/Pout，按下Single掃入光譜，調整光譜分析儀的顯示波長范圍和縱坐標比例，將需要測試的波長顯示在屏幕的中間，此時屏幕上就會顯示測試數(shù)據(jù)，NF(S-ASE)后面跟隨的數(shù)據(jù)是噪聲系數(shù)(NoiseFigure),Gain后面跟隨的數(shù)據(jù)是增益(Gain)(如

24、圖8所示)。當輸入光放有多個波長時，所有波長中增益最大值與最小值的差就是增益平坦度。/lnritsu-OpticalAmpTest01-08-2317:00NF(S-ASE)-64.09dBGain-*39*94dBSignalU11308*58nnASELvl(/Ros).-80.0dBmFinLW-38,74dBnPoutLvl1,2ldBnSpectDivOnRes-0098nmLoss(PinFitting(Fit/Mean/NFCal00dB/Pout5.0nmHask1.00.0dB)2.0nm)OptBPFLvlCal0.0dBRes:0*lnm(0.098nm)/3g:Off/

25、Smplg:501/VBU:1kHz/Sm:Off/Intvl:Off/#AttOn圖8光放測試界面2.3WDM方式下光譜特性的測試在DWDM方式下需測試的項目有：波長、功率、平坦度和信噪比，測試步驟：調整光譜分析儀的顯示波長范圍和縱坐標比例，將需要測試的波長顯示在屏幕中間選擇Application>WDM>Single，把被測光譜掃入光譜分析儀頮DisplayMode>SNR選擇信噪比顯示方式（在屏幕上顯示峰值波長、功率和信噪比），每一波長的波長、功率和信噪比SNR分別顯示在屏幕上。平坦度是指每通道最大功率與最小功率的差值znrtsu-湘vsiNo，LJ1(rmf1 155

26、1,7312 55£，52&3吒能.笙上筠54.Ls'/fl1，+Qr4dBDipFrmtr.*LvlQJEQSM?L/R*35.E43U.30R-'36.©33.96Rse.ffimlj-36.1233-72R田旳-黑PwkCount*-.HiM卄也“訶*gklHnn)y淵R&564.即-3S.IS33.666 15,745-36.19制已7 1553-36.J334.173IK7.362-策.1934.£316OfFLzRMultiP«ak-通皐dfinHEklfa、*-BasRla-tZTnibI9；r.:-：d諦1

27、.37rWcbiv1557.anIF-l,FrnfflFmm：亂2m低1丿10D/5<np旳：1EG1/WUrlGau/SmrQfFzntYHOff/圖9WD方式下光譜特性的測試2.4插損和隔離度測試2.4.1插損的測試測試插損一般用到Traces和Marker功能。有兩種測試方法，方法一比較簡單，一般可以用方法一;如果經(jīng)無源光器件后，光譜形狀沒改變，也可以用方法二進行測試。（1）方法一的測試步驟：把未經(jīng)器件的光源輸入光譜分析儀的測試孔，選擇Traces>ActiveA>Signle,把光源掃入光譜分析儀，調整光譜分析儀的顯示波長范圍和縱坐標比例，將需要測試的波長顯示在屏幕中

28、間，并按MemoryA對應的鍵把光譜保存在MemoryA中。把經(jīng)過無源光器件輸出的光輸入光譜分析儀的測試孔，選擇MemoryB選擇TraceA-B，按Signle掃入光譜，此時屏幕上就會一條兩者差值的光譜選擇Marker>TMKr，輸入被測光譜的波長，屏幕左上角TMKr下面顯示的就是插損。（2）方法二的測試步驟：把未經(jīng)器件的光源輸入光譜分析儀的測試孔，選擇Traces>ActiveA>Signle，把光源掃入光譜分析儀，調整光譜分析儀的顯示波長范圍和縱坐標比例，將需要測試的波長顯示在屏幕中間，并按MemoryA對應的鍵把光譜保存在MemoryA中。把經(jīng)過無源光器件輸出的光輸入

29、光譜分析儀的測試孔，選擇MemoryB曰、/疋兀選擇TraceA&B，按Signle入光譜，此時屏幕上就會二條光譜（如圖10所示），源，二是經(jīng)無源光器件后的輸出光譜。選擇Marker，然后移動LMkr_C和LMkr_D，使LMkr_C和LMkr_D分別對齊兩光譜的頂點，如圖8所示，屏幕上顯示的C-D的值是插損。/inritsu-««ACB:-15.88dBm-AD-BCRts:0.lnm(0.107nm)/Avg:OffSmplg501VEU:lkHz/IntvlOff/AttOn01-08-2811:49圖10插損測試界面242隔離度的測試測試隔離度（串擾）一般用

30、到Trace、Overlap和Marker功能。這里以測試分波器的相鄰兩通道的隔離度為例，介紹一下隔離度的測試方法。測試步驟選擇Graph>Overlap，使光譜分析儀工作在Overlap（重疊）方式下。把寬譜光源輸入分波器的IN口。把分波器一通道的輸出光譜輸入光譜分析儀的測試孔，選擇Signal，把光源掃入光譜分析儀。把分波器另一個相鄰通道的輸出光譜輸入光譜分析儀的測試孔，選擇Signal,把光源掃入光譜分析儀。調節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示被測光譜。選擇Marker，移動Mkr_A和Mkr_B,使其對準兩波長峰

31、值的中心，如圖11所示。移動LMkr_C到第一個峰值處與Mkr_A相交，LMkr_D移到第一通道串入第二通道處,并與Mkr_B相交，如圖8所示的位置，屏幕上顯示的C-D的值就是分波器一通道到另一通道的后向隔離度（即一通道串入相鄰通道的串抗）。移動LMkr_C到第二個峰值處與Mkr_A相交，LMkr_D移到第二通道串入第一通道處，并與Mkr_B相交，屏幕上顯示的C-D的值就是分波器一通道到另一通道的前向隔離度。/inritsu01-042912：55ANkrLNkr1544.72nm-32,912dBm:1545.58nm:-71664dBn0.86nn33.752dB-30,0dBm56BiV

32、-58.0dBn-86.0dBm1539.74nmLOnmdiv1544-74nminAir1549.74nmRes：0-Inm/Avg:Off/Smplg:&01#VBNHkHz/Sn:0ff/Intvl:Off/AttOff圖11隔離度測試界面3附錄：MS9710C光譜分析儀菜單和面板快捷鍵說明3.1屏幕菜單說明屏幕的底部有一排菜單，有一排軟鍵與菜單相對應，在測試過程中，可以用F8進行翻頁,并用相對應的軟鍵確認進入菜單設置，用Prior返回前一級菜單。下面簡單介紹一下常用菜單的含義。3.1.1Wavelength（F1）Wavelength用來設置波長，Wavelength界面下有

33、如下功能鍵：Center（f1）設置中心波長中心波長指的是顯示在屏幕中央的波長，當中心波長設置改變時，屏幕上顯示的起始波長和截止波長也會自動根據(jù)Span值作相應改變。設置中心波長的操作方法：PressF1選中Wavelength鑏Pressfl選中Center,然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值。中心波長的可設置范圍是600nm1750nm。在測試過程中，可以把主縱膜波長作為中心波長，設置方法：按一下快捷鍵Center就自動把輸入光譜的峰值波長顯示在屏幕中央。Span(f2)Span是用來設置橫坐標的比例，設置方法：PressF1選中Wavelength鑏Pressf2選中Span,或

34、者直接按快捷鍵Span，然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值或者從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇的Span值：f4F1f5f2f6f3Page11200nm1000nm500nm200nm100nm50nmPage220nm10nm5nm2nm1nm0nmSpan的可設范圍是0nm(或0.2nm)1200nm。Span的值必需滿足以下公式:Span(SpanWidth)<Res(Resolution)xNumberofSamplingPoints否則，會導致測試結果不正確，屏幕右下角會顯示"Res_uncal"的信息。Start(f4

35、)設置起始波長起始波長指在屏幕上顯示的起始波長，值顯示在屏幕左下角，當起始波長改變時，截止波長不會改變，而是自動改變Span值。此功能在TraceA&B、TraceA-B、TraceB-A的應用方式下無效。設置方法：PressF1選中Wavelength鑏Pressf4選中Start，然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值。起始波長可設范圍從600nm至截止波長。Stop(f5)設置截止波長截止波長指在屏幕上顯示的截止波長，值顯示在屏幕右下角，當截止波長改變時，起始波長不會改變，而是自動改變Spanf直。此功能在TraceA&B、TraceA-B、TraceB-A的應用方式

36、下無效。設置方法：PressF1選中Wavelength鑏Pressf5選中Stop，然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值。截止波長可設范圍從起始波長至1800nm,但實際可測試的最大波長是1750nm。ValueinAir/Vac(f7)切換波長顯示方式設置方法：PressF1選中Wavelength鑏Pressf7,Air或Vac下面有表示選中，Air表示顯示在空氣中的波長值，Vac表示顯示在真空中的值。1.1.1Level(F2)Log(/div)(f1)設置以dB為單位的縱坐標的比例選中此鍵，表示縱坐標以dB為單位。設置方法：PressF2選中Level鑏Pressf1,或者直接

37、按快捷鍵Log(div),然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值或者從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇的Log(/div)值：f5F1f6f2f7f3f40.5dB10dB0.2dB5dB0.1dB2dB1dBLog(div)可設置范圍：0.1dB10dB。RefLevel（f2）設置參考線的位置當縱坐標以dB為單位時，RefLevel可以用來設置功率參考線的位置，當縱坐標以Watts為單位時,縱坐標從C開始，不能改變0起始點。設置方法：PressF2選中Level鑏Pressf2,或者直接按快捷鍵Ref，然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值。利用快捷鍵Re

38、fLv1時，可以把主縱膜峰值點設置為功率參考線。RefLevel可設置范圍：-90dB30dB。LinearLevel（f4）設置以Watts為單位的縱坐標的比例選中此鍵，表示縱坐標以Watts為單位。設置方法：PressF2選中Level鑏Pressf4,然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值或者從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇LinearLevel的值：f4F1f5f2f6f3Page1500200100502010Page2521可設置范圍：1pW1W。Opt.AttOff/On（f6）設置光譜分析儀內部衰減此鍵可用來設置是否開啟內部衰減器，AttOff/

39、On表示沒有開啟內部誤減器，AttOff/On表示加了衰減。屏幕上顯示的功率值是輸入測試孔的光源的光功率，并未加衰減值。PressF2選中Level鑏Pressf6,AttOff/On表示沒有開啟內部誤減器，AttOff/On表示加了衰減。注意：當未加衰減時，輸入的最大光功率為10dB;當加了衰減器時，最大的輸入光功率為+23dB，如輸入興功率超過此范圍，將損壞光譜分析儀，如輸入光功率的值小于+5dB，此時如加了衰減器，則測試結果將不太精確，所以在使用過程中，一定在注意輸入光功率的值。1.1.1Res/VBW/Avg（F3）Res（f1）設置分辨率Res是用來設置分辨率。當測試比較窄的光譜時（

40、如LD），應把分辨率打小一些，當測試光譜比較寬的光譜時（如LED），Res應設大一大些。設置方法：PressF3鑏Pressf1,可用屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值，光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇Res的值：f4F1f5f2f6f31nm0.5nm0.2nm0.1nm0.07nm0.05nm可設范圍：Res的值只能設置成上表顯示的值。注：要顯示當前實際分辨，把Act-ResOff/On（f7）功能打開。VBW(f2)設置視頻帶寬VideoWidthVBW用來設置視頻帶寬。當視頻帶寬設置地比較寬時，掃描時間很快；反之，掃描時間會變慢，但提高靈敏度。設置VBW:PressF3鑏Pressf2,或按快捷

41、鍵VBW，則會顯示當前的VBW，可用屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值，光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇VBW的值：f4F1f5f2f6f31MHZ100KHZ10KHZ1KHZ100HZ10HZ可設范圍：VBW的值只能設置成上表顯示的6個值。PointAverage（f3）設置點平均功能此鍵用來激活點平均功能，所謂點平均指的是每點采樣多次，取平均值，然后才在屏幕上顯示。采樣的次數(shù)由用戶設置，在采樣過程中，是點鑏點逐點采樣。此功能在掃描平均功能下無效。（1）開啟點平均功能：PressF3鑏Pressf3,然后選擇ON。（2）設置采樣次數(shù)：PressF3鑏Pressf3,此時會顯示當前的采樣次數(shù)，然后用K

42、nob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值。（3）關閉點平均功能：PressF3鑏Pressf3，然后選擇OFF。（4）采樣次數(shù)可設范圍：采樣次數(shù)可設范圍從21000次。SweepAverage（f4）設置掃描平均功能此鍵用來激活掃描平均功能，所謂掃描平均指的是每一波形采樣多次，取平均值，然后才在屏幕上顯示。采樣的次數(shù)由用戶設置，在采樣過程中，是Sweep鑏Sweep逐波采樣。此功能在點平均功能下無效。（1）開啟掃描平均功能PressF3鑏Pressf4,然后選擇ON。（2）設置采樣次數(shù)PressF3鑏Pressf4,此時會顯示當前的采樣次數(shù)，然后用Knob選擇值或直接按數(shù)字鍵鍵入數(shù)值。（3）關閉掃描

43、平均功能PressF3鑏Pressf4,然后選擇OFF。（4）采樣次數(shù)可設范圍采樣次數(shù)可設范圍從21000次。Smoothing（f5）此功能是用來對采樣到的波形進行平滑處理。（1）開啟Smoothing功能PressF3鑏Pressf5,然后從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇Smoothing的值：f4F1f5f2f6f3Off3pt5pt7pt9pt11pt(2)關閉Smoothing功能PressF3鑏Pressf5,然后從功能鍵盤中選取中Off。(3) 可設范圍平滑點數(shù)只能取上表中的5個數(shù)值。SamplingPoint(f6)設置采樣點數(shù)此鍵可設置采樣點數(shù)。當

44、采樣點數(shù)設較小時，掃描速度很快，但在測試過程中想要一個較高的分辨率和較寬的掃描范圍，采樣點數(shù)應設的高一些。采樣點數(shù)與分辨率、Span有關。假如在這些設置下測試不到正確地結果，則屏幕右下角會顯示"Res_uncal”。設置采樣點數(shù)PressF3鑏Pressf6,然后從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇SamplingPoint的值:f5f1f2f3f4f6f751pt101pt251pt501pt1001pt2001pt5001pt(2)可設范圍采樣點數(shù)只能取上表中的7個數(shù)值。Act-ResOff/On(f7)開/關顯示實際分辨率功能PressF3鑏Pressf

45、7，Act-ResOff/On(f7)表示此功能打開，Act-ResOff/On表示此功能關閉。1.1.1 Peak/DipSearch(F4)SearchingforPeakPoints(f1)尋找峰值點設置方法：PressF4鑏Pressf1SearchingforDipPoints(f2)尋找最低點設置方法：PressF4鑏Pressf2(Peak/Dip)尋找下一個峰值點/最低點設置方法：Pressf4(阓：Next)(Peak/Dip)尋找上一個峰值點/最低點設置方法：Pressf5(開：Last)(Peak/Dip)尋找左邊一個峰值點/最低點設置方法：Pressf6(鏮:Left)

46、(Peak/Dip)尋找右邊一個峰值點/最低點設置方法：Pressf7(鑏：right)關閉Peak/DipSearch功能按快捷鍵MarkerSelect，然后按Off(f)。1.1.2AnaylingWaveforms(F5)ThresholdThreshold指的是從最大峰值跌落值(xxdB)，分析單縱模譜寬時用到。設置方法：PressF5鑏Pressf1,然后從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇Threshold的值:f1f2f3f43dB6dB10dB20dBndB-Loss(f2)ndB-Loss在分析多模光譜譜寬時用到，指的是從最大峰值跌落值(xxdB)。

47、設置方法：PressF5鑏Pressf2,然后從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇ndB-Loss的值:f1f2f3f43dB6dB10dB20dBSMSR(f3)邊膜抑制比SideModeSuppressionRation是指主縱膜的平均光功率與邊膜的光功率之比。邊膜可以是整個光譜中最顯著的邊膜，也可是主縱膜左邊的最顯著邊膜，或是主縱膜右邊的最顯著邊膜。設置方法：PressF5鑏Pressf3，然后從屏幕右邊的功能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇的鍵：功能鍵邊膜f1:2nd邊膜可以是整個光譜中最顯著的邊膜f2:left主縱膜左邊的最顯者邊膜f3:right

48、主縱膜右邊的最顯者邊膜EnvelopeEnvelope功能下的界面如圖12所示，光譜分析儀在CutLevel值及左、右點分別顯示直線標記，CutLeveI值可以通過Knob、數(shù)值鍵或功能鍵選擇，這樣可以更直觀地分析光譜特性。/Inntsu01-08-2316：30AMkrLMkr1556-08nm-4.26dBm0-18nm1556.26rm-15.76dBm/合ttOffRes：0,lnmC0.103nm)/Avg：0ff/Smplg：501/VBU:1kHz/zIntvl：0ff/圖12Envelope界面RMS(f5)均方根譜寬設置方法：PressF5鑏Pressf5,然后從屏幕右邊的功

49、能鍵選擇數(shù)值。光譜分析儀屏幕右邊顯示的可供選擇的鍵:f4flf2f316262.35636SpetrumPower光譜功率PressF5鑏Pressf6，顯示光譜積分總功率。刪除測試結果(Off功能鍵f7)PressF5鑏Pressf7(Off),就會清除屏幕上顯示的測試結果1.1.1 TraceMemory(F6)MemoryA(f1):把測試波形保存入MemoryAMemoryB(f2):把測試波形保存入MemoryBTraceA(f3):從MemoryA中調出波形TraceB(f4):從MemoryB中調出波形TraceA&B(f5):同時顯示A、BTraceA-B(f6):顯示

50、A-B的結果TraceB-A(f7)：顯示B-A的結果1.1.2 Save/Recalling(F7)保存/調出保存結果Save保存insert在光標所示位置插入字符Delect刪除字符鏮左移光標鑏右移光標Clear清除Recall從存貯器中調出測試結果Fileoption：選擇保存文件的類型、文件名稱類型以及軟盤類型。FileDelect:刪除文件FileFormat：格式化軟盤1.1.3Graph(F1)設置顯示圖形方式Normal(f1)NormalDiplay指在一般的顯示方式下顯示測試波形。設置方法：PressF1鑏Pressf1(NormalDiplay)。Overlap(f2)在

51、這種顯示方式下，每一次的掃描結果都重疊顯示在屏幕上。要刪除此顯示方式，可按f6(Clear)或fl(NormalDiplay)。設置方式：PressF1鑏Pressf2(OverlapDiplay)MaxHoldDisplay(f3)此顯示方式下，每一次的掃描的峰值點都重疊顯示在屏幕上。要刪除此顯示方式，可按f6(Clear)或fl(NormalDiplay)。設置方式：PressF1鑏Pressf3(MaxHoldDiplay)Normalize(f4)此顯示方式為規(guī)格化顯示方式，在這種顯示方式下，縱坐標在Log方式下以dB為單位，在Linear方式下以%為單位。3D(f5)此顯示方式為三維

52、顯示方式。1.1.4Application(F2)此菜單下有六種應用方式：單縱膜DFB-LDs測試，多縱膜FB-LDs測試，LED測試、PMD測試，光放測試，WDM方式測試。DFB-LDsTestDFB-LDsTest界面下的功能鍵有：（1）ndBWidth（fl）指從主縱膜峰值跌落ndB的譜寬。（2）SideMode（f2）選擇邊膜，可供選擇的邊膜：邊膜2nd邊膜可以是整個光譜中最顯著的邊膜left主縱膜左邊的最顯者邊膜right主縱膜右邊的最顯者邊膜（3）Off（f7）退出此測試程序FB-LDsTest屏幕上顯示的FHWM與均方根譜寬RMS的關系是：FHWM=2.35RMS。FB-LDsT

53、est界面下的功能鍵有：（1）ModeCutLevel（fl）（2）Off（f7）退出此測試程序LEDTestFB-LDsTest界面下的功能鍵有：（1）ndBWidth（f1）指從峰值點跌落ndB的譜寬（2）PowerCal（f2）功率校準（3）Off（f7）退出此測試程序PMDTest測試偏振膜色散，PMDTest界面下的功能鍵：（1）Auto/Manual（f1）:設置自動或手動分析方式，在自動方式下，光譜儀自動搜尋所有峰值點，并顯示延時時間。在手動方式下，手動Maker峰值點。ModeCplFactor(f2)(3)1stPeakMarker(f3)：Maker第一個峰值點。(4)La

54、stPeakMarker(f4)：Maker最后一個峰值點(5)PeakCount(f5):統(tǒng)計峰值個數(shù)(6)Off(f7):退出PMDTest應用程序光放測試OpticalAmplifiersTest此應用程序測試光放特性，OpticalAmplifiersTest界面下的功能鍵有：（1）f1（Prmtr）打開設置測試參數(shù)的窗口（2）f2（Method）設置分析方法（3）f3（MemoryPin/Pout）:MemoryPin保存未經(jīng)光放放大的光源；MemoryPout保存經(jīng)光放放大的光。（4）f4（Pout鑏Pasc）：把MemoryPout拷貝到MemoryPasc。（5）f5（6）f6

55、（ResCal）:校準分辨率（Ext.TrigDelay）:設置外部觸發(fā)延時時間。在測試調制光源或WDM方式下使用。（7）f7（Off）:退出此測試程序WDMWDM測試方式下是用來分析WDM下光譜特性，WDM界面下的功能鍵有:(1)NextPage:向后翻頁(2)LaxstPage:向前翻頁(3)DisplayMode:顯示模式MultiPeak:多個峰值顯示方式，在屏幕上顯示峰值波長和功率，一頁最多可顯示15個峰值，頮NextPage顯示下一頁。SNR:信噪比顯示方式，在屏幕上顯示峰值波長、功率和信噪比Relative:對比顯示方式，在屏幕上顯示的值是以與參考值對比得到的差值形式顯示。Table:以表格的形式顯示測試結果，在屏幕上顯示一表格，表中列出各波長值、光功率、信噪比。（4）PeakPrmtr1.1.1MeasurementModes（F3）D.rangeNorm/Hi（f1）此鍵用來設置掃描在普通的或較寬的動態(tài)掃描范圍，按f1來選擇，D.rangeNorm/Hi表示在普通方式下，D.rangeNorm/HL表示在較寬動態(tài)掃描方式下測試。寬動