第2章 PLD器件

1、 PLD的發(fā)展歷程的發(fā)展歷程 熔絲編程的熔絲編程的PROM和和PLA器件器件 AMD公公司推出司推出PAL器件器件 GAL器件器件 FPGA器器件件 EPLD器器件件 CPLD器器件件 內嵌復雜內嵌復雜功能模塊功能模塊的的SoPC 1985年，美國年，美國Xilinx公司推出了現(xiàn)場可編程公司推出了現(xiàn)場可編程門陣列（門陣列（FPGA，F(xiàn)ield Programmable Gate Array） CPLD（Complex Programmable Logic Device），即復雜可編程邏輯器件，是從），即復雜可編程邏輯器件，是從EPLD改進而來的。改進而來的。PLDPLD的集成度分類的集成度分類

2、 可編程邏輯器件（PLD） 簡單 PLD 復雜 PLD PROM PAL PLA GAL CPLD FPGA 一般將一般將GAL22V10（500門門750門門 ）作為簡單）作為簡單PLD和高密和高密度度PLD的分水嶺的分水嶺PLD器件按照可以編程的次數可以分為兩類：器件按照可以編程的次數可以分為兩類：(1) 一次性編程器件（一次性編程器件（OTP，One Time Programmable）(2) 可多次編程器件可多次編程器件OTP類器件的特點是：只允許對器件編程一次，不能修改，類器件的特點是：只允許對器件編程一次，不能修改，而可多次編程器件則允許對器件多次編程，適合于在科研開而可多次編程器

3、件則允許對器件多次編程，適合于在科研開發(fā)中使用。發(fā)中使用。按編程特點分類按編程特點分類(1)熔絲（熔絲（Fuse）(2)反熔絲（反熔絲（Antifuse）編程元件）編程元件(3)紫外線擦除、電可編程，如紫外線擦除、電可編程，如EPROM。(4)電擦除、電可編程方式，電擦除、電可編程方式，(EEPROM、快閃存儲器（、快閃存儲器（Flash Memory），如多數），如多數CPLD(5)靜態(tài)存儲器（靜態(tài)存儲器（SRAM）結構，如多數）結構，如多數FPGA 按編程元件和編程工藝劃分按編程元件和編程工藝劃分輸入緩沖電路與陣列或陣列輸出緩沖電路輸入輸出PLD器件的原理結構圖器件的原理結構圖 數字電路符

4、號表示數字電路符號表示 常用邏輯門符號與現(xiàn)有國標符號的對照常用邏輯門符號與現(xiàn)有國標符號的對照 PLD電路符號表示電路符號表示 與門、或門的表示與門、或門的表示 nPLD連接表示法 PROM 與陣列（不可編程）或陣列（可編程）0A1A1nA0W1W1pW0F1F1mFnp2 PROM的邏輯陣列結構的邏輯陣列結構 PROM PROM表達的表達的PLD陣列圖陣列圖 與陣列（固定）或陣列（可編程）0A1A1A1A0A0A1F0F1010AACAASPROM 用用PROM完成半加器邏輯陣列完成半加器邏輯陣列 01110100AAFAAAAF與陣列（固定）或陣列（可編程）0A1A1A1A0A0A1F0FP

5、LA PLA邏輯陣列示意圖邏輯陣列示意圖 與陣列（可編程）或陣列（可編程）0A1A1A1A0A0A1F0FPLA PLA與與 PROM的比較的比較 0A1A1F0F2A2F0A1A1F0F2A2FPAL PAL結構結構 PAL的常用表示的常用表示 0A1A1F0F0A1A1F0FPAL PAL22V10部分結構圖部分結構圖GAL GAL22V10的結構（局部）的結構（局部） GAL22V10的的OLMC結構結構CPLD器件的結構器件的結構 MAX 7000S器件的內部結構器件的內部結構 MAX 7000S器件的宏單元結構器件的宏單元結構4輸入輸入LUT及內部結構圖及內部結構圖 FPGA器件的內

6、部結構示意圖器件的內部結構示意圖 XC4000器件的器件的CLB結構結構 Cyclone器件的器件的LE結構（普通模式）結構（普通模式） 1熔絲熔絲(Fuse)型器件型器件 2反熔絲反熔絲(Anti-fuse)型器件型器件 3EPROM型，紫外線擦除電可編程型，紫外線擦除電可編程4EEPROM型型 6SRAM型型 5Flash型型 邊界掃描電路結構邊界掃描電路結構 為了解決超大規(guī)模集成電路（為了解決超大規(guī)模集成電路（VLSI）的測試問題，自）的測試問題，自1986年開始，年開始，IC領領域的專家成立了域的專家成立了“聯(lián)合測試行動組聯(lián)合測試行動組”（JTAG，Joint Test Action

7、Group），并制定出了，并制定出了IEEE 1149.1邊界掃描測試（邊界掃描測試（BST，Boundary Scan Test）技）技術規(guī)范術規(guī)范引引 腳腳描描 述述功功 能能TDI測試數據輸入測試數據輸入(Test Data Input)測試指令和編程數據的串行輸入引腳。數據在測試指令和編程數據的串行輸入引腳。數據在TCK的上升沿移入。的上升沿移入。TDO測試數據輸出測試數據輸出(Test Data Output)測試指令和編程數據的串行輸出引腳，數據在測試指令和編程數據的串行輸出引腳，數據在TCK的下降沿移出。如果數據沒有被移出時，該引腳處的下降沿移出。如果數據沒有被移出時，該引腳處于

8、高阻態(tài)。于高阻態(tài)。TMS測試模式選擇測試模式選擇(Test Mode Select)控制信號輸入引腳，負責控制信號輸入引腳，負責TAP控制器的轉換?？刂破鞯霓D換。TMS必須在必須在TCK的上升沿到來之前穩(wěn)定。的上升沿到來之前穩(wěn)定。TCK測試時鐘輸入測試時鐘輸入(Test Clock Input)時鐘輸入到時鐘輸入到BST電路，一些操作發(fā)生在上升沿，而電路，一些操作發(fā)生在上升沿，而另一些發(fā)生在下降沿。另一些發(fā)生在下降沿。TRST測試復位輸入測試復位輸入(Test Reset Input)低電平有效，異步復位邊界掃描電路低電平有效，異步復位邊界掃描電路(在在IEEE規(guī)范規(guī)范中，該引腳可選中，該引腳

9、可選)。 未編程前先焊接安裝未編程前先焊接安裝n 減少對器件的觸摸減少對器件的觸摸和損傷和損傷n 不計較器件的封裝不計較器件的封裝形式形式系統(tǒng)內編程系統(tǒng)內編程-ISPn 樣機制造方便樣機制造方便n 支持生產和測試支持生產和測試流程中的修改流程中的修改在系統(tǒng)現(xiàn)場重編程修改在系統(tǒng)現(xiàn)場重編程修改n 允許現(xiàn)場硬件升級允許現(xiàn)場硬件升級n 迅速方便地提升功能迅速方便地提升功能下載接口引腳信號名稱下載接口引腳信號名稱 引腳引腳12345678910PS模式模式DCKGNDCONF_DONEVCCnCONFIG-nSTATUS-DATA0GNDJATG模模式式TCKGNDTDOVCCTMS-TDIGNDUSB

10、-Blaster下載電纜下載電纜 1. ispLSI器件的結構與特點器件的結構與特點 （1）采用）采用UltraMOS工藝。工藝。（2）系統(tǒng)可編程功能，所有的）系統(tǒng)可編程功能，所有的ispLSI器件均支持器件均支持ISP功能。功能。（3）邊界掃描測試功能。）邊界掃描測試功能。（4）加密功能。）加密功能。（5）短路保護功能。）短路保護功能。 2. ispMACH4000系列系列 3. Lattice EC & ECP系列系列 ispMACH4000系列系列CPLD器件有器件有3.3V、2.5V 和和 1.8V 三種供電電壓，分別屬于三種供電電壓，分別屬于 ispMACH 4000V、is

11、pMACH 4000B 和和 ispMACH 4000C 器件系列。器件系列。 Xilinx公司的公司的FPGA和和CPLD器件系列器件系列 1. Virtex-4系列系列FPGA 2. Spartan& Spartan-3 & Spartan 3E器件系列器件系列 3. XC9500 & XC9500XL系列系列CPLD 4. Xilinx FPGA配置器件配置器件SPROM 5. Xilinx的的IP核核 Altera公司公司FPGA和和CPLD器件系列器件系列 1. Stratix II 系列系列FPGA 2. Stratix系列系列FPGA 3. ACEX系列系列FPGA 4. FLEX系列系列FPGA 5. MAX系列系列CPLD 6. Cyclone系列系列FPGA低成本低成本FPGA 7. Cyclone II系列系列FPGA 8. MAX II系列器件系列器件 9. Altera宏功能塊及宏功能塊及IP核核 2-1 PLA和和PAL在結構上有什么區(qū)別？在結構上有什么區(qū)別？2-2 說明說明GAL的的OLMC有什么特點，它怎樣實現(xiàn)可編有什么特點，它怎樣實現(xiàn)可編程組合電路和時序電路？程組合電路和時序電路？2-3 簡述基于乘積項的可編程邏輯器件的結構特點？簡述基于乘積項的可編程邏輯器