長度計量講義

1、 長長 度度 計計 量量 講講 義義 一、長度計量基礎(chǔ)知識一、長度計量基礎(chǔ)知識二、量塊二、量塊 三、線紋（尺）三、線紋（尺）四、角度塊四、角度塊 五、平面度和直線度五、平面度和直線度 七、萬能量具七、萬能量具一、長度計量基礎(chǔ)知識一、長度計量基礎(chǔ)知識（一）長度計量的基本原則（一）長度計量的基本原則 P3 1、阿貝原則、阿貝原則 2、最小變形原則、最小變形原則 3、最短測量鏈原則、最短測量鏈原則 4、封閉原則、封閉原則 5、基準(zhǔn)統(tǒng)一原則、基準(zhǔn)統(tǒng)一原則1、阿貝原則、阿貝原則 阿貝原則阿貝原則測量時，被測對象的軸測量時，被測對象的軸線與標(biāo)準(zhǔn)器具軸線相重合或者在其延長線線與標(biāo)準(zhǔn)器具軸線相重合或者在其延長

2、線上，稱為阿貝原則。不符合阿貝原則而產(chǎn)上，稱為阿貝原則。不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測量誤差稱為阿貝誤差。生的測量誤差稱為阿貝誤差。 P32、最小變形原則、最小變形原則 P4 為使測量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，在測量中盡可為使測量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，在測量中盡可能做到使各種原因引起的變形為最小。此能做到使各種原因引起的變形為最小。此原則是計量器具制造者必須考慮的基本原原則是計量器具制造者必須考慮的基本原則，主要在以下幾方面：則，主要在以下幾方面：1）測量力引起的接觸變形，）測量力引起的接觸變形，2）自重變形，一般使用者大都重點考慮在）自重變形，一般使用者大都重點考慮在支撐被測物時自重變形支撐被測物時自重變形3）熱變形

3、，）熱變形， 3、最短測量鏈原則、最短測量鏈原則 P5 為保證實現(xiàn)測量信息信號轉(zhuǎn)換的所有轉(zhuǎn)為保證實現(xiàn)測量信息信號轉(zhuǎn)換的所有轉(zhuǎn)換器的按順序的排列稱為測量鏈，測量信換器的按順序的排列稱為測量鏈，測量信息信號的每一個轉(zhuǎn)換稱測量鏈的環(huán)節(jié)，每息信號的每一個轉(zhuǎn)換稱測量鏈的環(huán)節(jié)，每一個環(huán)節(jié)又有若干構(gòu)件組成，各環(huán)節(jié)不可一個環(huán)節(jié)又有若干構(gòu)件組成，各環(huán)節(jié)不可避免的會引入誤差，環(huán)節(jié)越多，誤差因素避免的會引入誤差，環(huán)節(jié)越多，誤差因素越多，不利于提高測量準(zhǔn)確度，為保證一越多，不利于提高測量準(zhǔn)確度，為保證一定的準(zhǔn)確度，應(yīng)盡可能減少環(huán)節(jié)，即最短定的準(zhǔn)確度，應(yīng)盡可能減少環(huán)節(jié)，即最短測量鏈原則。測量鏈原則。4、封閉原則、封閉原

4、則 在測量中如能滿足封閉原則，則其間隔在測量中如能滿足封閉原則，則其間隔誤差總和為零。封閉原則是角度計量的基誤差總和為零。封閉原則是角度計量的基本原則不僅可使其總的累程誤差為零，而本原則不僅可使其總的累程誤差為零，而且創(chuàng)造了計量器具自撿的條件。使角度量且創(chuàng)造了計量器具自撿的條件。使角度量值的傳遞大大簡化。值的傳遞大大簡化。5、基準(zhǔn)統(tǒng)一原則、基準(zhǔn)統(tǒng)一原則（二）常用的幾種測量方法（二）常用的幾種測量方法 1、光隙法、光隙法 P8-112、技術(shù)光波干涉法、技術(shù)光波干涉法3、配對法、配對法4、排列互比法、排列互比法（三）幾何光學(xué)基礎(chǔ)知識（三）幾何光學(xué)基礎(chǔ)知識1、幾何光學(xué)的四個基本定律、幾何光學(xué)的四個基

5、本定律 P12（1）光的直線傳播定律）光的直線傳播定律（2）光的獨立傳播定律）光的獨立傳播定律（3）光的反射定律）光的反射定律（4）光的折射定律）光的折射定律2、量儀的光學(xué)系統(tǒng)、量儀的光學(xué)系統(tǒng) P13-15（1）顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)）顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)（2）投影光學(xué)系統(tǒng)）投影光學(xué)系統(tǒng)（3）望遠(yuǎn)鏡光學(xué)系統(tǒng)）望遠(yuǎn)鏡光學(xué)系統(tǒng)（4）干涉光學(xué)系統(tǒng)）干涉光學(xué)系統(tǒng)二、量塊二、量塊 P24 量塊是高準(zhǔn)確度的端面量具。用最簡單量塊是高準(zhǔn)確度的端面量具。用最簡單的幾何形狀設(shè)計、最有利于加工出精確的的幾何形狀設(shè)計、最有利于加工出精確的尺寸，常作為其他計量器具的標(biāo)準(zhǔn)，檢定尺寸，常作為其他計量器具的標(biāo)準(zhǔn)，檢定其他長度計量器具、量

6、具、量規(guī)的示值誤其他長度計量器具、量具、量規(guī)的示值誤差，對精密機械零件進行測量，對精密機差，對精密機械零件進行測量，對精密機床、夾具在加工中定位。床、夾具在加工中定位。（一）量塊的級和等（一）量塊的級和等 P26 量塊的級和等是量塊生產(chǎn)、檢定和使用量塊的級和等是量塊生產(chǎn)、檢定和使用中應(yīng)掌握的重要概念。在量塊生產(chǎn)時，應(yīng)中應(yīng)掌握的重要概念。在量塊生產(chǎn)時，應(yīng)使用級的概念，即量塊制造者應(yīng)按照各級使用級的概念，即量塊制造者應(yīng)按照各級量塊的技術(shù)要求制造不同準(zhǔn)確度級別的量量塊的技術(shù)要求制造不同準(zhǔn)確度級別的量塊，并在量塊出廠時注明其級別。而在量塊，并在量塊出廠時注明其級別。而在量塊檢定時使用等的概念，即按照量

7、塊的測塊檢定時使用等的概念，即按照量塊的測量不確定度和其它技術(shù)要求為被檢量塊定量不確定度和其它技術(shù)要求為被檢量塊定等，并在出具的量塊檢定證書上標(biāo)明其等等，并在出具的量塊檢定證書上標(biāo)明其等別。別。1、量塊的級、量塊的級 P26 量塊主要是按照量塊長度相對于標(biāo)稱量塊主要是按照量塊長度相對于標(biāo)稱長度的偏差來分級，同時各級量塊對量塊長度的偏差來分級，同時各級量塊對量塊長度變動量和其它性能也有相應(yīng)要求。根長度變動量和其它性能也有相應(yīng)要求。根據(jù)量塊國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，據(jù)量塊國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定， 量塊分為量塊分為K、0、1、2、3級，級，5個準(zhǔn)確個準(zhǔn)確度級別。度級別。2、量塊的等、量塊的等 P27 量塊主要以其長度

8、測量不確定度來分等，同量塊主要以其長度測量不確定度來分等，同時量塊各等對量塊長度變動量和其它性能也有相時量塊各等對量塊長度變動量和其它性能也有相應(yīng)要求。根據(jù)量塊國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，量塊分為應(yīng)要求。根據(jù)量塊國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，量塊分為1、2、3、4、5等。等。3、級和等的相互關(guān)系、級和等的相互關(guān)系 級和等雖然是兩個概念，但相互間又有關(guān)聯(lián)。級和等雖然是兩個概念，但相互間又有關(guān)聯(lián)。從對不同級和等的技術(shù)要求可以看出，它們對長從對不同級和等的技術(shù)要求可以看出，它們對長度變動量都有要求，量塊的級別或等別越高，對度變動量都有要求，量塊的級別或等別越高，對長度變動量的要求越高，而且一定級別與一定等長度變動量的要求越高

9、，而且一定級別與一定等別量塊的長度變動量要求一一對應(yīng)。別量塊的長度變動量要求一一對應(yīng)。（二）量塊平面度檢定方法（二）量塊平面度檢定方法 P29 如何用平晶以光波干涉法檢定量塊的平如何用平晶以光波干涉法檢定量塊的平面度？面度？ 用直徑不小于用直徑不小于45mm、厚度不小于、厚度不小于11mm的的1級玻璃或石英平晶以光波干涉法檢定量級玻璃或石英平晶以光波干涉法檢定量塊的平面度。塊的平面度。（1）平面度值較小的量塊測量面的檢定方法）平面度值較小的量塊測量面的檢定方法 將平晶輕輕放在量塊的測量面上，并使平晶與將平晶輕輕放在量塊的測量面上，并使平晶與量塊測量面之間形成很小的尖劈形空氣層。在白量塊測量面之

10、間形成很小的尖劈形空氣層。在白光或單色光照明下，不斷調(diào)整角的大小和方向，光或單色光照明下，不斷調(diào)整角的大小和方向，使量塊的工作面上有便于測量的光波干涉條紋。使量塊的工作面上有便于測量的光波干涉條紋。觀察與量塊長邊、短邊以及兩條對角線平行的觀察與量塊長邊、短邊以及兩條對角線平行的4個個方向的干涉條紋圖像。以相鄰兩干涉條紋的間隔方向的干涉條紋圖像。以相鄰兩干涉條紋的間隔M為單位，讀出干涉條紋的彎曲度為單位，讀出干涉條紋的彎曲度m/M。上述。上述4個個彎曲度彎曲度m/M中絕對值最大者乘以所采用光源波長中絕對值最大者乘以所采用光源波長的一半即為被測量塊該測量面的平面度：的一半即為被測量塊該測量面的平面

11、度：2Mmfd 如果量塊測量面在平行于測量面長、短如果量塊測量面在平行于測量面長、短兩邊（或兩對角線）方向測得的平面度是凸兩邊（或兩對角線）方向測得的平面度是凸起和凹陷方向相反的，該測量面的平面度應(yīng)起和凹陷方向相反的，該測量面的平面度應(yīng)是合成值：是合成值： 式中：式中：分別為干涉條紋凸起和凹陷方向相反的分別為干涉條紋凸起和凹陷方向相反的讀數(shù)讀數(shù)2)(21MmMmfdcMm1Mm2（2）平面度值較大的量塊測量面的檢定）平面度值較大的量塊測量面的檢定方法方法 令平晶的測量面與量塊凸起的測量面令平晶的測量面與量塊凸起的測量面相接觸，使其中一個干涉條紋的中線與量相接觸，使其中一個干涉條紋的中線與量塊測

12、量面上距左側(cè)面塊測量面上距左側(cè)面0.8mm的平行線相重的平行線相重合，向右讀出干涉條紋的整數(shù)部分合，向右讀出干涉條紋的整數(shù)部分N。然。然后以干涉條紋間隔后以干涉條紋間隔M為單位，讀出第為單位，讀出第N條條干涉條紋中線向右到測量面上距右側(cè)面干涉條紋中線向右到測量面上距右側(cè)面0.8mm之間的距離之間的距離m，于是該量塊該測量，于是該量塊該測量面的平面度為：面的平面度為：221MmNfd（三）量塊研合性檢定方法（三）量塊研合性檢定方法 P32三、線紋（尺）三、線紋（尺） 普通鋼卷尺的檢定方法普通鋼卷尺的檢定方法 P66（1）零值誤差）零值誤差 檢定零值誤差時，將被檢普通鋼卷尺檢定零值誤差時，將被檢普

13、通鋼卷尺平鋪在鋼卷尺檢定臺上。加上規(guī)定的拉力平鋪在鋼卷尺檢定臺上。加上規(guī)定的拉力后，與經(jīng)檢定合格的后，與經(jīng)檢定合格的I級標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺進行比級標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺進行比較。使表示零位位置的尺鉤或拉環(huán)與標(biāo)準(zhǔn)較。使表示零位位置的尺鉤或拉環(huán)與標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺零值線紋對準(zhǔn)，在鋼卷尺零值線紋對準(zhǔn)，在100mm處讀出誤處讀出誤差值。差值。（2）任意段示值誤差的檢定）任意段示值誤差的檢定 P67 在鋼卷尺檢定臺上用經(jīng)檢定合格的在鋼卷尺檢定臺上用經(jīng)檢定合格的I級標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺進行級標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺進行比較測量。具體方法如下：比較測量。具體方法如下： 首先用壓緊裝置將標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺與被檢尺緊固在檢定首先用壓緊裝置將標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺與被檢尺緊固在檢定臺

14、上，分別在標(biāo)準(zhǔn)尺及被檢尺的另一端按規(guī)定加上拉力。臺上，分別在標(biāo)準(zhǔn)尺及被檢尺的另一端按規(guī)定加上拉力。調(diào)整檢定臺上的調(diào)零機構(gòu)，使被檢尺的零值線紋與標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整檢定臺上的調(diào)零機構(gòu)，使被檢尺的零值線紋與標(biāo)準(zhǔn)尺的零值線紋對齊。然后按每米逐段連續(xù)讀取各段和全尺的零值線紋對齊。然后按每米逐段連續(xù)讀取各段和全長誤差。全長不足長誤差。全長不足3m的鋼卷尺，受檢段不少于三段。任的鋼卷尺，受檢段不少于三段。任意兩線紋間的示值誤差是在逐米進行檢定的同時在全長意兩線紋間的示值誤差是在逐米進行檢定的同時在全長范圍內(nèi)任選范圍內(nèi)任選2至至3段進行評定，其示值誤差不得超過相應(yīng)段進行評定，其示值誤差不得超過相應(yīng)段允許誤差的要求。當(dāng)被

15、檢尺長度大于檢定臺面長度時，段允許誤差的要求。當(dāng)被檢尺長度大于檢定臺面長度時，可用分段法進行檢定，其全長誤差為其各段誤差的代數(shù)可用分段法進行檢定，其全長誤差為其各段誤差的代數(shù)和。和。四、角度塊四、角度塊 P90 1、用處、用處 角度塊是由兩相鄰工作平面的夾角來確角度塊是由兩相鄰工作平面的夾角來確定其角度值的高精度角度量具。主要用于定其角度值的高精度角度量具。主要用于檢定角度量具的示值誤差，直接測量角度檢定角度量具的示值誤差，直接測量角度樣板、角度零件的角度，在精密機械加工樣板、角度零件的角度，在精密機械加工中也可用作對精密機車的角度調(diào)整。中也可用作對精密機車的角度調(diào)整。2、工作面平面度的檢定、

16、工作面平面度的檢定 P91 對于對于0級角度塊應(yīng)用直徑不小于級角度塊應(yīng)用直徑不小于80mm 的的1級平面平晶，對于級平面平晶，對于1級、級、2級角度塊應(yīng)用級角度塊應(yīng)用直徑不小于直徑不小于80mm的的2級平面平晶，以技術(shù)級平面平晶，以技術(shù)光波干涉法進行檢定。光波干涉法進行檢定。 確定工作面平面度時，分別測出沿工作確定工作面平面度時，分別測出沿工作面長邊和短邊兩方向的平面度誤差。當(dāng)誤面長邊和短邊兩方向的平面度誤差。當(dāng)誤差符號相同時，取其中絕對值最大值為平差符號相同時，取其中絕對值最大值為平面度；符號相反時，取兩者絕對值之和為面度；符號相反時，取兩者絕對值之和為平面度。平面度。五、平面度和直線度五、

17、平面度和直線度 1、有關(guān)術(shù)語、有關(guān)術(shù)語 （1）平面度的術(shù)語和定義）平面度的術(shù)語和定義 P115理想平面理想平面具有幾何意義的平面具有幾何意義的平面實際平面實際平面零件上實際存在的平面零件上實際存在的平面測得平面測得平面測量得到的平面，在評定平面度誤測量得到的平面，在評定平面度誤差時，用測得平面代替實際平面差時，用測得平面代替實際平面平面度誤差平面度誤差實際平面對理想平面的變動量，實際平面對理想平面的變動量，理想平面的位置應(yīng)符合最小條件理想平面的位置應(yīng)符合最小條件平面度最小包容區(qū)域平面度最小包容區(qū)域包容實際平面，具有最包容實際平面，具有最小寬度的兩平行平面之間的區(qū)域小寬度的兩平行平面之間的區(qū)域（

18、2）直線度的術(shù)語和定義）直線度的術(shù)語和定義 P116理想直線理想直線具有幾何意義的直線具有幾何意義的直線實際直線實際直線零件上實際存在的直線零件上實際存在的直線測得直線測得直線測量得到的直線，在評定直線度誤測量得到的直線，在評定直線度誤差時，用測得直線代替實際直線差時，用測得直線代替實際直線直線度誤差直線度誤差實際直線對理想直線的變動量，實際直線對理想直線的變動量，理想直線的位置應(yīng)符合最小條件理想直線的位置應(yīng)符合最小條件直線度最小包容區(qū)域直線度最小包容區(qū)域包容實際直線，具有最包容實際直線，具有最小寬度的兩平行直線之間的區(qū)域小寬度的兩平行直線之間的區(qū)域（3）評定方法）評定方法 平面度誤差的評定方

19、法有：最小包容區(qū)平面度誤差的評定方法有：最小包容區(qū)域法、最小二乘法、對角線平面法和三遠(yuǎn)域法、最小二乘法、對角線平面法和三遠(yuǎn)點平面法。其中最小包容區(qū)域法的評定結(jié)點平面法。其中最小包容區(qū)域法的評定結(jié)果小于或等于其它三種評定方法。果小于或等于其它三種評定方法。 P117 直線度誤差的評定方法有：最小包容直線度誤差的評定方法有：最小包容區(qū)域法、最小二乘法和兩端點連線法。其區(qū)域法、最小二乘法和兩端點連線法。其中最小包容區(qū)域法的評定結(jié)果小于或等于中最小包容區(qū)域法的評定結(jié)果小于或等于其它兩種評定方法。其它兩種評定方法。 P1192、平晶、平晶 P121 平晶是采用光學(xué)玻璃或石英為材料，平晶是采用光學(xué)玻璃或石

20、英為材料，利用光波干涉原理，使平晶的測量面與試?yán)霉獠ǜ缮嬖?，使平晶的測量面與試件的被測量面之間所產(chǎn)生的干涉條紋來測件的被測量面之間所產(chǎn)生的干涉條紋來測量被測量面的平面度、平行度等的實物量量被測量面的平面度、平行度等的實物量具。平晶分平面平晶、平行平晶和長平晶具。平晶分平面平晶、平行平晶和長平晶三種。三種。用途：用途： 平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器和量具的的測量面、工作面的平面度。以及儀器和量具的的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密

21、封件等。平學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。面和樣板。 平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量面的平行度。相對測量面的平行度。 長平晶是以等斜干涉法檢定研磨面平尺平面長平晶是以等斜干涉法檢定研磨面平尺平面度的標(biāo)準(zhǔn)量具。度的標(biāo)準(zhǔn)量具。 3、平面等厚干涉儀、平面等厚干涉儀 P131 平面等厚干涉儀是采用等厚光波干涉平面等厚干涉儀是采用等厚光波干涉原理，用于測量物體表面平

22、面度的光學(xué)精原理，用于測量物體表面平面度的光學(xué)精密計量儀器。密計量儀器。 工作原理：工作原理： P132 當(dāng)一束給定波長當(dāng)一束給定波長的單色平行光，照射到由的單色平行光，照射到由兩個平面組成楔形很小的空氣楔時，被兩平面分兩個平面組成楔形很小的空氣楔時，被兩平面分別反射回來的兩束相干光，在相遇處存在一定的別反射回來的兩束相干光，在相遇處存在一定的光程差。這個光程差只與空氣隙的厚度有關(guān)，厚光程差。這個光程差只與空氣隙的厚度有關(guān)，厚度相同的地方，兩束反射光的光程差相同，因此度相同的地方，兩束反射光的光程差相同，因此在同一條干涉條紋出現(xiàn)的地方，正是空氣隙厚度在同一條干涉條紋出現(xiàn)的地方，正是空氣隙厚度相

23、同的地方所產(chǎn)生的反射光形成的，稱之為相同的地方所產(chǎn)生的反射光形成的，稱之為“等等厚干涉原理厚干涉原理”。等厚干涉條紋的形狀決定于空氣。等厚干涉條紋的形狀決定于空氣厚度相同地方的軌跡。因此，根據(jù)干涉條紋的形厚度相同地方的軌跡。因此，根據(jù)干涉條紋的形狀來確定平面度。狀來確定平面度。 4、平板、平尺和刀口形直尺、平板、平尺和刀口形直尺 P137（1）平板）平板是以平面度為主要指標(biāo)的是以平面度為主要指標(biāo)的計量器具，主要用于工件檢驗或劃線。計量器具，主要用于工件檢驗或劃線。（2）平尺）平尺是以平面度和直線度為主是以平面度和直線度為主要指標(biāo)的計量器具，主要用于測量工件表要指標(biāo)的計量器具，主要用于測量工件表

24、面的直線度和平面度。面的直線度和平面度。（3）刀口形直尺）刀口形直尺是以直線度為主要是以直線度為主要指標(biāo)的計量器具，以光隙法測量工件表面指標(biāo)的計量器具，以光隙法測量工件表面的直線度和平面度。的直線度和平面度。七、萬能量具七、萬能量具 （一）卡尺類量具（一）卡尺類量具 P1831、游標(biāo)類量具誤差主要來源、游標(biāo)類量具誤差主要來源（1）結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則引起的誤差）結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則引起的誤差（2）主尺基面與固定測量爪測量面垂直度引起）主尺基面與固定測量爪測量面垂直度引起的誤差的誤差（3）讀數(shù)誤差）讀數(shù)誤差（4）刻線誤差）刻線誤差（5）對零誤差）對零誤差（6）測量面平行度和平面度引起的誤差）測量面平

25、行度和平面度引起的誤差（7）測量力引起的變形誤差）測量力引起的變形誤差2、如何檢定高度卡尺量爪測量面的平面度？、如何檢定高度卡尺量爪測量面的平面度？ P191高度卡尺量爪測量面的平面度用高度卡尺量爪測量面的平面度用0級刀口形級刀口形直尺，以光隙法檢定。檢定時，分別在量直尺，以光隙法檢定。檢定時，分別在量爪測量面長邊、短邊和對角線的位置上進爪測量面長邊、短邊和對角線的位置上進行。其平面度根據(jù)各方位的間隙情況確定。行。其平面度根據(jù)各方位的間隙情況確定。當(dāng)所有檢定方位上出現(xiàn)的間隙均在中間部當(dāng)所有檢定方位上出現(xiàn)的間隙均在中間部位或兩端部位時，取其中間隙量最大的作位或兩端部位時，取其中間隙量最大的作為平

26、面度。當(dāng)其中有的方位中間部位有間為平面度。當(dāng)其中有的方位中間部位有間隙，而有的方位兩端部位有間隙，則平面隙，而有的方位兩端部位有間隙，則平面度以中間最大間隙量和兩端最大間隙量之度以中間最大間隙量和兩端最大間隙量之和確定。和確定。 例、用刀口尺檢定游標(biāo)卡尺工作面的平例、用刀口尺檢定游標(biāo)卡尺工作面的平面度時，在一對角線方位上出現(xiàn)兩邊有面度時，在一對角線方位上出現(xiàn)兩邊有2微微米的間隙，在另一對角線的方位上出現(xiàn)中米的間隙，在另一對角線的方位上出現(xiàn)中間間3微米的間隙，試求該工作面的平面度。微米的間隙，試求該工作面的平面度。答：試求該工作面的平面度答：試求該工作面的平面度= 2+3 =5微米微米（二）千分

27、尺類量具（微分類或測微尺類（二）千分尺類量具（微分類或測微尺類量具）量具） P192（三）指示表類量具（表類量具）（三）指示表類量具（表類量具） P2051、百分表的工作原理是將測桿的直線位、百分表的工作原理是將測桿的直線位移，經(jīng)過齒條移，經(jīng)過齒條齒輪傳動，轉(zhuǎn)變?yōu)橹羔樀凝X輪傳動，轉(zhuǎn)變?yōu)橹羔樀慕俏灰?。角位移?齒條齒條齒輪傳動具有結(jié)構(gòu)簡單、緊齒輪傳動具有結(jié)構(gòu)簡單、緊湊、外廓尺寸小、重量輕等優(yōu)點，是百分湊、外廓尺寸小、重量輕等優(yōu)點，是百分表的基本結(jié)構(gòu)形式。表的基本結(jié)構(gòu)形式。2、表類量具的檢定方法、表類量具的檢定方法 P211工具：光柵式指示表檢定儀、千分表檢工具：光柵式指示表檢定儀、千分表檢定儀、

28、百分表檢定儀。定儀、百分表檢定儀。(1)百分表示值誤差的檢定方法：百分表示值誤差的檢定方法： 先將檢定儀和被檢表分別對準(zhǔn)零位，百先將檢定儀和被檢表分別對準(zhǔn)零位，百分表示值誤差應(yīng)在正反行程的方向上每間分表示值誤差應(yīng)在正反行程的方向上每間隔隔10個分度檢定一次；個分度檢定一次； 檢定儀移動規(guī)定分檢定儀移動規(guī)定分度值后，在被檢表上讀取各點相應(yīng)的誤差度值后，在被檢表上讀取各點相應(yīng)的誤差值，直到工作行程終點。繼續(xù)壓縮測桿，值，直到工作行程終點。繼續(xù)壓縮測桿，使指針轉(zhuǎn)過使指針轉(zhuǎn)過10個分度，接著進行反向檢定。個分度，接著進行反向檢定。在整個檢定過程中，中途不得改變測桿移在整個檢定過程中，中途不得改變測桿移動方向，也不得對被檢表和檢定儀作任何動方向，也不得對被檢表和檢定儀作任何調(diào)整。決定反行程誤差的正負(fù)號與正行程調(diào)整。決定反行程誤差的正負(fù)號與正行程的相同。的相同。（2）確定示值誤差）確定示值誤差 P212 被檢表的工作行程示值誤差由正行程被檢表的工作行程示值誤差由正行程內(nèi)各受檢點誤差中的最大值和最小值值差內(nèi)各受檢點誤差中的最大值和最小值值差確定；確定； 百分表任意百分表任意1mm的示值誤差分別根據(jù)的示值誤差分別根據(jù)百分表百分表0-1mm;1-2mm,2-3mm,各