連接器測(cè)試規(guī)范

1、Page 1Confidential連接器測(cè)試規(guī)范連接器測(cè)試規(guī)范Page 2Confidential連接器常用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)美國(guó)電子工業(yè)協(xié)會(huì)美國(guó)電子工業(yè)協(xié)會(huì) (EIA)(EIA)美國(guó)印制電路協(xié)會(huì)美國(guó)印制電路協(xié)會(huì) (IPC)(IPC)美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn) (MIL-STD)(MIL-STD)電氣與電子工程師協(xié)會(huì)電氣與電子工程師協(xié)會(huì) (IEEE)(IEEE)日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) (JIS)(JIS)國(guó)際電工委員會(huì)國(guó)際電工委員會(huì) (IEC)(IEC)Page 3Confidential連接器常用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)分類(lèi) 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定之試驗(yàn)一般分成三類(lèi):電氣試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、機(jī)械試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件

2、除非另有規(guī)定, 所有測(cè)試應(yīng)在下列環(huán)境條件中進(jìn)行:a.溫度: +15+35.b.大氣壓力: 550800mmHg.c.相對(duì)濕度: 2080%常用連接器測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) EIA(美國(guó)電子工業(yè)協(xié)會(huì)) MIL-STD-1344A 電連接器試驗(yàn)方法 MIL-STD-202F MIL-STD-810D (環(huán)境試驗(yàn)方法) Page 4Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意注意事項(xiàng)事項(xiàng)1電氣特性絕緣阻抗測(cè)試評(píng)估連接器或同軸端子之絕緣材料，在通過(guò)直流電壓后，其表面產(chǎn)生漏電流之狀況業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344,3003.1絕

3、緣電阻測(cè)試儀1、如果樣品有特殊規(guī)定，對(duì)于測(cè)試前之樣品需經(jīng)清洗處理，則樣品需置于合適之溶劑后，以純水清洗，再置于有對(duì)流作用之烤箱，以355 之條件烘烤2H，取出后再放置于室溫0.5H再測(cè)試。2、測(cè)試絕緣阻抗必須加上電壓連續(xù)2分鐘后再作測(cè)量。3、測(cè)量點(diǎn)對(duì)連接器而言，為距離最近之任何兩根端子或端子與鐵殼，若為同軸連接器則為內(nèi)部與外部之端子。4、當(dāng)有多組測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，以最小值作為判定基準(zhǔn)。5、在測(cè)試過(guò)程中不得有火花或塑膠擊穿之現(xiàn)象發(fā)生。無(wú)絕緣電阻測(cè)試絕緣電阻測(cè)試Page 5Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)測(cè)試試設(shè)設(shè)備備測(cè)試方法測(cè)試方法注意

4、事項(xiàng)注意事項(xiàng)2電氣特性耐電壓測(cè)試確定連接器之安全額定電壓，以及受瞬間的超額電壓，開(kāi)關(guān)沖擊電壓與類(lèi)似現(xiàn)象之安全性，進(jìn)而判斷絕緣材料與其組成之絕緣間隔是否適合。業(yè)界規(guī)范業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A, 3001.1高壓測(cè)試儀1、測(cè)試電壓，依樣品規(guī)定之電壓大小、性質(zhì)（交流或直流）作測(cè)試。2、電壓升高率：以每秒升高約500V（AC或Dc）由零點(diǎn)升至所規(guī)定之測(cè)試電壓值，在工廠內(nèi)可選擇瞬間達(dá)到測(cè)試之電壓值。3、測(cè)試點(diǎn)為最近之兩根端子或端子與鐵殼。若為同軸連接器，則為導(dǎo)體之外部與內(nèi)部。4、測(cè)試時(shí)間為1分鐘。5、漏電流（Leakage Current或Cut OFF Current）最大值為5mA。除特別

5、規(guī)定外，一般測(cè)試均以0.5mA為規(guī)格。因耐電壓測(cè)試為高壓測(cè)試項(xiàng)目，故在量測(cè)時(shí)應(yīng)特別小心，以避免操作上疏忽，造成人員受傷。耐電壓測(cè)試耐電壓測(cè)試Page 6Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試設(shè)備測(cè)試設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)3電氣特性接觸阻抗測(cè)試測(cè)試連接器在通過(guò)電流下端子之接觸阻抗，其測(cè)試值包含端子本身之阻值。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344, 3004.1Connector & Cable Testing System AD 411S1、將公母連接器結(jié)合一起，并將公母連接器之端子串聯(lián)成一回路。2、回路上通過(guò)一測(cè)試

6、電流，然后測(cè)量端子兩端之微小電壓降，即得其阻值。1、測(cè)試前應(yīng)先確認(rèn)其回路是導(dǎo)通而非OPEN狀態(tài)。2、測(cè)試點(diǎn)位置應(yīng)一致性，而非高低不齊。3、測(cè)試接觸電阻時(shí)，要注意保持樣品不受振動(dòng)。接觸電阻測(cè)試接觸電阻測(cè)試Page 7Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)4機(jī)械特性接點(diǎn)插入與拔出力測(cè)試使用標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試公頭測(cè)試個(gè)別端子之插入與拔出時(shí)所需的力量，以評(píng)估端子之品質(zhì)特性。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,METHOD 2014拉拔力試驗(yàn)機(jī)1、測(cè)試用之PIN或BLADE其尺寸及表面粗糙度均符合MIL-3

7、197之規(guī)定。2、測(cè)試PIN或BLADE應(yīng)定期清洗，以避免其表面覆膜而影響到量測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。3、測(cè)試步驟1（使用PIN或BLADE)： A、先插拔一次以調(diào)整端子之狀態(tài)。 B、插入最大尺寸之測(cè)試PIN或BLADE，同時(shí)量測(cè)插入力拔出測(cè)PIN或BLADE，并換上最小尺寸之測(cè)試PIN或BLADE。 C、插入最小尺寸的PIN或BLADE至定位拔出并同時(shí)量測(cè)其拔出力。4、測(cè)試步驟2（使用認(rèn)可之端子）： A、用最大尺寸之GAGE插拔一次以調(diào)整端子之狀態(tài)。 B、插入被認(rèn)可之端子并測(cè)量插入力，再拔出端子時(shí)測(cè)量其拔出力。測(cè)試插拔力，因ALIGNMENT對(duì)測(cè)試的精度影響很大，故在測(cè)試時(shí)應(yīng)特別注意到從機(jī)臺(tái)之LOA

8、D CELL，測(cè)試PIN及測(cè)試樣品之中心線之一致性。接點(diǎn)插拔測(cè)試接點(diǎn)插拔測(cè)試Page 8Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)5機(jī)械特性連接器之整體插入及拔出力測(cè)試評(píng)估連接器在不同的環(huán)境應(yīng)力下，測(cè)試前及測(cè)試后的整體插入與拔出力及連接器保護(hù)蓋之防護(hù)能力。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,2013.1拉拔力試驗(yàn)機(jī)1、將公母連接器分別固定在拉拔力試驗(yàn)機(jī)之治具上。2、以5mm/min的速度測(cè)試其整體插拔力。1、除非有特別規(guī)定，若以BLADE方式測(cè)試插拔力時(shí)，則以最大尺寸的BLADE量測(cè)插入力，以

9、最小尺寸的BLADE量測(cè)拔出力。2、測(cè)試時(shí)應(yīng)注意樣品的浮動(dòng)性，避免因ALIGNMENT不準(zhǔn)而造成量測(cè)上誤差。整體插拔測(cè)試整體插拔測(cè)試Page 9Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)6機(jī)械特性端子保持力測(cè)試測(cè)試端子在裝進(jìn)塑膠后，所能承受的軸向力量，以避免在使用時(shí)，因操作上的錯(cuò)誤，而造成連接器退PIN及接觸不良等狀況。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A,2007.1推拉力試驗(yàn)機(jī)1、量測(cè)位移之變化 A、將測(cè)試樣品固定在治具上，并在端子裝配之反方向施加推力或拉力。 B、預(yù)拉或預(yù)推1/3的規(guī)格力量

10、(max:3 lb)于端子上，并在樣品端子上選一參考點(diǎn)作為位移的量測(cè)原點(diǎn)。 C、以約每秒增加一磅的速度增加到所規(guī)定的力量并停留510秒鐘。 D、從參考點(diǎn)量測(cè)經(jīng)此承受力量后，位移之變化是否合乎規(guī)格之規(guī)定。2、量測(cè)把端子推（拉）出HOUSING時(shí)的力量。 A、在測(cè)試樣品的端子施一軸力（拉或拔）直到把端子被推（拉）出塑膠體，并量測(cè)（推）出時(shí)之最大力量。 B、所量測(cè)之最大力量是否大于規(guī)格所訂的最小規(guī)格值。以量測(cè)位移之變化方式量測(cè)Contact Retention Force時(shí)，所加之荷重為一靜荷重，故在以拉力試驗(yàn)機(jī)量測(cè)時(shí)，應(yīng)特別注意到力量會(huì)衰減問(wèn)題。端子保持力測(cè)試端子保持力測(cè)試Page 10Confi

11、dential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)7環(huán)境特性鹽水噴霧試驗(yàn)評(píng)估樣品對(duì)鹽水噴霧試驗(yàn)的耐劣化及保護(hù)膜品質(zhì)的均勻性判定。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A, METHOD 1001.1鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)1、調(diào)配鹽水 A、試驗(yàn)所需之鹽應(yīng)為高品質(zhì)之NaCl。即在干燥狀態(tài)下， NaCl含量不超過(guò)0.1%，全部雜質(zhì)不超過(guò)0.3%. B、鹽溶液應(yīng)由鹽及蒸餾水或純水調(diào)制而成，其重量比為51%. C、鹽水之PH值在水溫352 時(shí)應(yīng)為6.57.2，比重為1.0261.041. D、為了調(diào)整鹽水PH值，先把水加溫至60 再加

12、鹽成5%濃度，經(jīng)24H冷卻并穩(wěn)定后，其PH值可保持穩(wěn)定測(cè)量，若PH值偏酸則加NaOH,偏堿則加CH3,COOH加以調(diào)整。2、設(shè)定試驗(yàn)條件 A、試驗(yàn)箱之溫度： 352 ，濕度9598%. B、飽和桶溫度：472 . C、測(cè)試時(shí)間：8H、16H、24H、48H3、試樣之放置應(yīng)不互相接觸及不與其他金屬接觸且使其不影響其他試樣放置，測(cè)試面應(yīng)與垂直面成15 .4、應(yīng)最少16H量測(cè)收集霧量一次，平均12ml/H.5、試驗(yàn)完畢后，試樣應(yīng)以清水沖洗5分鐘，水溫不超過(guò)35 ，再以蒸餾水或純水洗凈，再以空氣或軟毛刷予以清潔。6、依測(cè)試需求作最終量測(cè)。1、作此項(xiàng)測(cè)試時(shí)除了必要的調(diào)機(jī)或檢視樣品外，試驗(yàn)不可中斷。2、如

13、需中斷此試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)作除霧動(dòng)作，再打開(kāi)試驗(yàn)箱蓋子。鹽水噴霧試驗(yàn)鹽水噴霧試驗(yàn)Page 11Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)8環(huán)境特性耐濕性測(cè)試評(píng)估樣品在高相對(duì)濕度下放置規(guī)定時(shí)間后，使樣品不致遭到破壞或功能退化，并驗(yàn)證樣品在高濕環(huán)境下操作的可行性。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A, METHOD 1002.2恒溫恒濕機(jī)1、恒溫恒濕 A、量測(cè)條件：溫度： 402 ，濕度：9095%（RH） B、量測(cè)時(shí)間：72H、96H、240H C、最終量測(cè)：取出樣品后應(yīng)在12H內(nèi)作最終量測(cè)。2、溫濕度循

14、環(huán)測(cè)試： A、測(cè)試前準(zhǔn)備：將樣品放置于505 ，濕度20%以下24H. B、測(cè)試條件： C、最終量測(cè)：在最后一個(gè)周期完成后，樣品自試驗(yàn)倉(cāng)取出后應(yīng)在12H內(nèi)作最終量測(cè)。1、試驗(yàn)時(shí)所加的水應(yīng)為蒸餾水或純水。2、試驗(yàn)倉(cāng)內(nèi)壁及倉(cāng)頂凝結(jié)之水不得滴于測(cè)試樣品上。3、從25 降至-10 之步驟設(shè)備能在30分鐘內(nèi)完成。 耐濕性試驗(yàn)?zāi)蜐裥栽囼?yàn)Page 12Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試設(shè)備測(cè)試設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)9環(huán)境特性振動(dòng)測(cè)試為了判定受測(cè)試樣品于使用壽命年限中，所感受到在明確的或是隨機(jī)的振動(dòng)頻寬及振動(dòng)量之影響。業(yè)界規(guī)范MI

15、L-STD-1344A,METHOD 20051、振動(dòng)量測(cè)系統(tǒng)（包括：控制主機(jī)、放大器、振動(dòng)機(jī)臺(tái)、夾治具及加速規(guī)）2、斷電監(jiān)視器1、將受測(cè)樣品之端子連接，并與斷電監(jiān)測(cè)器串聯(lián)而行成各自獨(dú)立之回路。量測(cè)回路之初始阻值并設(shè)定斷電時(shí)間，回路額定電流幾斷電最終之判定阻值。2、將樣品依照三個(gè)正交軸向，分別架設(shè)于振動(dòng)機(jī)臺(tái)夾治具上，并僅貼加速規(guī)于治具表面作為機(jī)器系統(tǒng)之回路控制用途。3、適當(dāng)輸入振動(dòng)測(cè)試規(guī)格所需之條件參數(shù)到控制器中（如振動(dòng)頻寬、振幅掃描、測(cè)試時(shí)間等），控制訊號(hào)產(chǎn)生后，經(jīng)放大器功率放大而至振動(dòng)機(jī)臺(tái)產(chǎn)生所需之正弦或隨機(jī)振動(dòng)推力。4、更換每一受測(cè)樣品之三軸向，并記錄或監(jiān)控在每一獨(dú)立的回路中是否有斷電現(xiàn)

16、象。5、檢查樣品及配件外觀是否有松脫、變形或折損之現(xiàn)象。1、樣品緊固于夾治具上，以避免振動(dòng)測(cè)試時(shí)樣品可能松脫飛濺造成人員及機(jī)臺(tái)損傷。2、根據(jù)樣品、治具之總重量及振幅加速度值評(píng)估機(jī)臺(tái)所能提供之最大輸出推力，確保機(jī)器之安全性。3、檢視機(jī)臺(tái)之氣墊、避振系統(tǒng)，維持足夠氣量，并確保機(jī)器散熱、排氣正常。4、注意夾治具設(shè)計(jì)，以避免在測(cè)試之頻寬內(nèi)造成不允許之供振，影響樣品測(cè)試。振動(dòng)測(cè)試振動(dòng)測(cè)試Page 13Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試設(shè)備測(cè)試設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)10環(huán)境特性機(jī)械沖擊測(cè)試驗(yàn)證受測(cè)樣品是否能夠通過(guò)特定沖擊嚴(yán)厲程

17、度之考驗(yàn)，以確保樣品滿(mǎn)足設(shè)計(jì)之要求。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A, 20041、沖擊測(cè)試機(jī)（含波形產(chǎn)生器）2、頻譜分析儀（含加速規(guī)）3、斷電監(jiān)測(cè)器1、樣品必須事先串聯(lián)端子，連成回路，并固定于機(jī)臺(tái)上的夾治具上。注意受測(cè)樣品在所定義正交的三個(gè)軸向上，必須輪流受測(cè)。2、依據(jù)所指定之沖擊波形，如半正弦波、方波或鋸齒波等，在機(jī)臺(tái)底座更換相關(guān)之波形產(chǎn)生器，滿(mǎn)足規(guī)格要求之G值及波形作用時(shí)間或速度變化。3、緊貼加速規(guī)于機(jī)臺(tái)上方，并利用頻譜分析攝取沖擊波形之訊號(hào)。4、針對(duì)不同的產(chǎn)品及數(shù)量之樣本，適當(dāng)增減機(jī)臺(tái)落下之高度，并參考頻譜分析儀的實(shí)際數(shù)據(jù)及落下壓力的數(shù)據(jù)，以滿(mǎn)足沖擊波形之規(guī)格條件。5、注意每個(gè)單一軸

18、向之正負(fù)方向，依規(guī)定每個(gè)樣品皆須經(jīng)過(guò)三個(gè)正交軸向（包括正負(fù)方向）分別施加連續(xù)三次之沖擊動(dòng)作，共合計(jì)18次的沖擊。6、各個(gè)受測(cè)之樣本的回爐，必須與斷電監(jiān)測(cè)器串聯(lián)，以利于沖擊測(cè)試過(guò)程中，作為斷電與否之判定依據(jù)。1、受測(cè)樣品必須牢固架設(shè)在機(jī)器臺(tái)面并蓋上安全護(hù)蓋，以免在沖擊測(cè)試時(shí)物體飛濺，發(fā)生危險(xiǎn)。2、加速規(guī)盡量放置機(jī)器臺(tái)面之中心位置或接近臺(tái)面表面所獲得之沖擊波形愈精確。機(jī)械沖擊試驗(yàn)機(jī)械沖擊試驗(yàn)Page 14Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試設(shè)備測(cè)試設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)11環(huán)境特性熱沖擊試驗(yàn)評(píng)估測(cè)試樣品于溫度變化的環(huán)境中

19、零組件之特性是否改變，樣品之功能與動(dòng)作是否正常。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344, METHOD 1003.1Thermal Shock Testing Chamber1、高低溫之溫度變化應(yīng)于5分鐘內(nèi)完成。2、測(cè)試樣品應(yīng)依機(jī)器操作指導(dǎo)書(shū)規(guī)定為MATED或UNMATED狀態(tài)。3、量測(cè)條件： A、高溫：8588 B、低溫：-55-58 C、置放時(shí)間：30分鐘 D、循環(huán)次數(shù)：5 CYCLES1、此項(xiàng)設(shè)備若為長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試條件應(yīng)注意設(shè)備之除霜，以確保壓縮機(jī)之冷凍效果。2、若為兩個(gè)試驗(yàn)箱，兩箱之距離能在規(guī)定時(shí)間內(nèi)由一箱移至另一箱。3、當(dāng)放入測(cè)試樣品時(shí)，箱內(nèi)溫度應(yīng)在不超過(guò)放置時(shí)間內(nèi)之10%內(nèi)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定之

20、許可差之內(nèi)。4、測(cè)試條件應(yīng)依各產(chǎn)品規(guī)格相關(guān)測(cè)試規(guī)范進(jìn)行。熱沖擊試驗(yàn)熱沖擊試驗(yàn)Page 15Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)12環(huán)境特性耐插拔試驗(yàn)評(píng)估樣品經(jīng)連續(xù)插拔后，端子電鍍層磨耗機(jī)械特性與電氣特性在測(cè)試前后之變化。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A, METHOD 2016.1耐插拔試驗(yàn)機(jī)1、把公母連接器以適當(dāng)夾具固定在耐插拔試驗(yàn)機(jī)上。2、除有特別規(guī)定外，插拔速度以每小時(shí)不超過(guò)600CYCLES.3、完成此項(xiàng)測(cè)試后，應(yīng)作外觀目視檢查及依照產(chǎn)品規(guī)格書(shū)之檢測(cè)項(xiàng)目檢測(cè)。1、當(dāng)樣品固定在治

21、具上時(shí)，應(yīng)特別注意其ALINEMENT.2、當(dāng)測(cè)試為CARD-EDGE系列產(chǎn)品時(shí)，則以最大板厚之測(cè)試板測(cè)試。耐插拔試驗(yàn)?zāi)筒灏卧囼?yàn)Page 16Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試依據(jù)測(cè)試依據(jù)測(cè)試測(cè)試設(shè)備設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)13環(huán)境特性高溫測(cè)試為了評(píng)估樣品處于高溫環(huán)境之承受能力的測(cè)試，以探究樣本因高溫失效的原因及先期規(guī)劃。業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A, METHOD 1005高溫烤箱1、將受測(cè)之樣品放置于預(yù)先設(shè)定好的烤箱內(nèi)。2、預(yù)熱烤箱至所指定之溫度及設(shè)定測(cè)試總時(shí)間如： 852 共計(jì)240小時(shí)。 1、通常樣本為MARING狀態(tài)方可接受測(cè)試。2、樣本取出烤箱后直到常溫時(shí)，方可執(zhí)行后續(xù)之測(cè)試。3、若有特別規(guī)定，需量測(cè)樣本本身的溫度，而非只是對(duì)烤箱溫度作量測(cè)。高溫測(cè)試高溫測(cè)試Page 17Confidential序序號(hào)號(hào)測(cè)試測(cè)試類(lèi)型類(lèi)型測(cè)試測(cè)試名稱(chēng)名稱(chēng)測(cè)試目的測(cè)試目的測(cè)試測(cè)試依據(jù)依據(jù)測(cè)試設(shè)備測(cè)試設(shè)備測(cè)試方法測(cè)試方法注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)14環(huán)境特性耐焊錫熱測(cè)試評(píng)估受測(cè)樣品經(jīng)過(guò)焊接制程時(shí)，其承受熱（包括