第二章原子發(fā)射光譜法

1、第二章第二章 原子發(fā)射光譜法原子發(fā)射光譜法Atomic Emission Spectrometry (AES)Optical Emission Spectrometry (OES)第一節(jié) 概述 原子發(fā)射光譜法是根據(jù)處于激發(fā)態(tài)的待測元素原原子發(fā)射光譜法是根據(jù)處于激發(fā)態(tài)的待測元素原子回到基態(tài)時發(fā)射的特征譜線對待測元素進(jìn)行分析的方子回到基態(tài)時發(fā)射的特征譜線對待測元素進(jìn)行分析的方法。法。一、原子發(fā)射光譜分析過程一、原子發(fā)射光譜分析過程光源單色器檢測器原子發(fā)射光譜分析經(jīng)歷的過程原子發(fā)射光譜分析經(jīng)歷的過程蒸發(fā)蒸發(fā)原子化原子化激發(fā)激發(fā)定性分析定性分析由于待測原子的結(jié)構(gòu)不同，因此發(fā)射由于待測原子的結(jié)構(gòu)不同，因

2、此發(fā)射譜線特征不同譜線特征不同定量分析定量分析由于待測原子的濃度不同，因此發(fā)射由于待測原子的濃度不同，因此發(fā)射強度不同強度不同hvE1E0二、原子發(fā)射光譜儀器的發(fā)展歷史二、原子發(fā)射光譜儀器的發(fā)展歷史19世紀(jì)世紀(jì)50年代發(fā)現(xiàn)原子發(fā)射現(xiàn)象年代發(fā)現(xiàn)原子發(fā)射現(xiàn)象, 20世紀(jì)世紀(jì)30年代得年代得到迅速發(fā)展到迅速發(fā)展.原子發(fā)射光譜法在新元素發(fā)現(xiàn)方面作出很大貢獻(xiàn)原子發(fā)射光譜法在新元素發(fā)現(xiàn)方面作出很大貢獻(xiàn):Rb Cs Ga In Tl Pr Nd Sm HoTm Yb Lu He Ne Ar Kr Xe 火焰電弧ICP感光板光電倍增管CCD三、原子發(fā)射光譜分析的特點三、原子發(fā)射光譜分析的特點1、具有多元素同時

3、分析能力、具有多元素同時分析能力2、既可進(jìn)行定性、也可進(jìn)行定量分析、既可進(jìn)行定性、也可進(jìn)行定量分析3、具有較高的靈敏度和選擇性（、具有較高的靈敏度和選擇性（ng/ml pg/ml）4、儀器較簡單（與、儀器較簡單（與X射線熒光、射線熒光、ICP質(zhì)譜法相比）質(zhì)譜法相比）缺點：缺點：不適于部分非金屬元素如鹵素、惰性氣體元素等的分析不適于部分非金屬元素如鹵素、惰性氣體元素等的分析 目前原子發(fā)射光譜法廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、環(huán)境、目前原子發(fā)射光譜法廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、環(huán)境、臨床等樣品中痕量元素的分析臨床等樣品中痕量元素的分析第二節(jié)第二節(jié) 原子發(fā)射光譜分析的理論基礎(chǔ)原子發(fā)射光譜分析的理論基礎(chǔ)一、定性分析基

4、礎(chǔ)一、定性分析基礎(chǔ)原子光譜與原子結(jié)構(gòu)原子光譜與原子結(jié)構(gòu) 原子由原子核和繞核運動的電子組成。每一個電子原子由原子核和繞核運動的電子組成。每一個電子的運動狀態(tài)可以用的運動狀態(tài)可以用4個量子數(shù)來描述：個量子數(shù)來描述：1、主量子數(shù)、主量子數(shù)n：決定電子的主要能量：決定電子的主要能量E；取值為取值為K、L、M、N。2、角量子數(shù)、角量子數(shù)l：決定電子繞核運動的角動量：決定電子繞核運動的角動量取值為取值為s、p、d、f。3、磁量子數(shù)、磁量子數(shù)ml：決定電子繞核運動的角動量沿磁場方向：決定電子繞核運動的角動量沿磁場方向 的分量：的分量：4、自旋量子數(shù)、自旋量子數(shù)ms：決定自旋角動量沿磁場方向的分量：決定自旋角

5、動量沿磁場方向的分量兩個取向：順磁場和反磁場方向兩個取向：順磁場和反磁場方向但是，由于核外電子之間的相互作用，原子的核但是，由于核外電子之間的相互作用，原子的核外電子排布并不能準(zhǔn)確表征原子的能量狀態(tài)，而需用光外電子排布并不能準(zhǔn)確表征原子的能量狀態(tài)，而需用光譜項來表征：譜項來表征：iilL式中式中n為主量子數(shù)為主量子數(shù)L為總角量子數(shù)，外層價電子角量子數(shù)為總角量子數(shù)，外層價電子角量子數(shù) li 的矢量和的矢量和JsLn12 L的取值：對兩個價電子耦合所得的總角量子數(shù)L，取值為（l1+l2）， （l1+l2-1）， （l1+l2-2），。 l1-l2 ， 取值為L=0，1，2，3 相應(yīng)的符號為S,P,

6、D,F,。 S為總自旋量子數(shù)，多個價電子的總自旋量子數(shù)是單個價電子自旋量子數(shù)的矢量和，取值為：,.2,23, 1,21, 0J為內(nèi)量子數(shù)，是原子的各價電子總軌道角動量L與總自旋角動量S相耦合得出的，取值為：) 12() 12(),.2(),1(),(LSLSSLSLSLSLSLJ若 有 個值 例如：Na原子的基態(tài)電子結(jié)構(gòu)是：（1s）2（2s）2（2p）6（3s）1 價電子為（3s）1n = 3； L = 0; S = J = 只有一個光譜支項為:32S1/2 鈉原子的第一激發(fā)態(tài)的光學(xué)電子是(3p)1L=1，S=1/2，2S+1=2，J=1/2、3/2，故有兩個光譜支項，32P1/2 與 32P

7、3/232P1/2 32P3/232S1/2例2鎂原子基態(tài)的電子組態(tài)是3s2, L=0，S=0， 2S+1=1， J=0只有一個光譜支項 31s0鎂原子第一激發(fā)態(tài)的電子組態(tài)是3s13p1由于L=1，S=0、1，2S+1=1或3，有兩個光譜項：31PJ 當(dāng)S=0 ，J=1，只有光譜支項 31P1 33PJ 當(dāng)S=1 ，J=2，1，0，故有三個光譜支項 31P1 33P233P133P0是三重態(tài)。這三個光譜支項的能量稍有不同。由此可見，由于L與S相互作用，每一個光譜項有2S+1個不同J值，即2S+1個光譜支項。（2S+1）是代表光譜項中光譜支項的數(shù)目，稱為光譜項的多重性。 31S0光譜選擇定則 并

8、不是原子內(nèi)所有能級之間的躍遷都是可以發(fā)生的，實際發(fā)生的躍遷是有限制的，服從光譜選擇定則。對于L-S耦合，這些選擇定則是：（1）在躍遷時主量子數(shù)n的改變不受限制。（2）L=1，即躍遷只允許在S與P之間、P與S或D之間、D與P或F之間產(chǎn)生，等等。（3）S=0，即單重態(tài)只能躍遷到單重態(tài)，三重態(tài)只能躍遷到三重態(tài)等等。（4）J=0、1，但當(dāng)J=0時，J=0的躍遷是禁戒的。例如鈉原子基態(tài)的電子組態(tài)是3s相應(yīng)的原子態(tài)是 32S1/2第一激發(fā)態(tài)電子組態(tài)是3p相應(yīng)的原子態(tài)是32P1/2與32P3/2電子在這兩能級之間躍遷產(chǎn)生大家所熟知的鈉雙線:Na588.996nmNa589.593nm鈉原子第二激發(fā)態(tài)的電子組

9、態(tài)是3d相應(yīng)的原子態(tài)為32D3/2與32D5/2當(dāng)電子在3p與3d之間躍遷時，有四種可能的躍遷：32P1/2-32D5/2、32P1/2-32D3/2、32P3/2-32D5/2、32P3/2-32D3/2實際上只觀察到后三種躍遷，因這種躍遷J=2，是禁戒的。32P1/2 32P3/232S1/2 31S033P233P133P0不同元素的原子因能級結(jié)構(gòu)不同，因此躍遷所產(chǎn)生的譜線具有不同的波長特征。根據(jù)譜線特征可以進(jìn)行發(fā)射光譜定性分析。31P1二、定量分析基礎(chǔ)二、定量分析基礎(chǔ)譜線強度及其影響因素譜線強度及其影響因素 已經(jīng)知道，在激發(fā)光源作用下，原子被激發(fā)，處已經(jīng)知道，在激發(fā)光源作用下，原子被激

10、發(fā)，處于激發(fā)態(tài)的原子不穩(wěn)定，于激發(fā)態(tài)的原子不穩(wěn)定，10-8 s內(nèi)又向低能級躍遷，并內(nèi)又向低能級躍遷，并發(fā)射特征譜線發(fā)射特征譜線 E =Eu - El = h ul = h C/ EoElEu頻率反映了單個光子的能量，強度是群體譜線總能量頻率反映了單個光子的能量，強度是群體譜線總能量 若激發(fā)態(tài)原子密度為若激發(fā)態(tài)原子密度為nu，每個原子單位時間內(nèi)發(fā)生，每個原子單位時間內(nèi)發(fā)生Aul 次躍遷（躍遷幾率）次躍遷（躍遷幾率）則則Iul = Aul h ulnu 根據(jù)根據(jù) Boltzmann 公式公式nunM=guZe-EuKT因為因為nM = no + nununo=gugoe-EuKT統(tǒng)計權(quán)重MKTEu

11、uulululneZghAI式中式中 Z= g j e- 稱為原子的配合函數(shù)稱為原子的配合函數(shù)EiKTnM是基態(tài)和激發(fā)態(tài)原子密度之和，但不是氣相中分析物的總濃度。在等離子體中還存在電離平衡和離解平衡：在等離子體中還存在電離平衡和離解平衡：即即 M + e M+ + 2 eMX M + X如果等離子體中氣態(tài)分析物總濃度為如果等離子體中氣態(tài)分析物總濃度為 n t 即即 n t = nM+ nM+ + nMX電離度電離度 x = nM+nM+nM+(1)離解度離解度 = nMnM+nMX(2)(3)則由上式可得則由上式可得nM =( 1- x ) 1-( 1- ) x ntnM+ =x 1-( 1-

12、 ) ntnMX =(1-x) (1 - )1-( 1- ) x nt可見當(dāng)電離度可見當(dāng)電離度x和離解度保持恒定，和離解度保持恒定， nM, nM+, nMX均與均與nt 成正比成正比 代入代入Iul = Aul h ulnu guZe-EuKT( 1- x ) 1 -( 1- ) x nt= Aul h ul在多數(shù)場合，離解度在多數(shù)場合，離解度 =1gZeEuKT( 1- x )ntIul = Aul h 氣相分析物與分析物濃度氣相分析物與分析物濃度C之間存在的關(guān)系為之間存在的關(guān)系為 nt = CB 等離子體中氣態(tài)分析物粒子平均停留時間等離子體中氣態(tài)分析物粒子平均停留時間 分析物蒸發(fā)速度常數(shù)

13、分析物蒸發(fā)速度常數(shù)B 自吸收系數(shù)自吸收系數(shù)guZ-EuKT( 1- x ) A= Aul h ul guZ-EuKT( 1- x ) CBIul = Aul h ul 令令I(lǐng)ul =A CB log I = B log C + log A或或（羅馬金-賽伯公式）ee-上式表明：上式表明：1、 log I 與與 log C 成正比，構(gòu)成定量分析的基礎(chǔ)；成正比，構(gòu)成定量分析的基礎(chǔ)；2、影響發(fā)射強度的因素有、影響發(fā)射強度的因素有EuIul TIul IulX IulguZ-EuKT( 1- x ) CBIul = Aul h ul e -I CI nunu / nM Boltzman分布I nMn

14、t = nM+ nM+ + nMX（ ， x）I nt nt = CBI C思考題：離子線的強度與等離子體中的離子密度有關(guān)，試根據(jù)上述思路求離子譜線的強度與濃度間的關(guān)系。第三節(jié)第三節(jié) 發(fā)射光譜分析的儀器發(fā)射光譜分析的儀器光源光源單色器單色器檢測器檢測器一、激發(fā)光源一、激發(fā)光源 激發(fā)光源的作用是提供試樣蒸發(fā)、原子化、激發(fā)所需的激發(fā)光源的作用是提供試樣蒸發(fā)、原子化、激發(fā)所需的能量。能量。 對激發(fā)光源的要求是：對激發(fā)光源的要求是：溫度高溫度高穩(wěn)定，重現(xiàn)穩(wěn)定，重現(xiàn)背景?。o或少帶光譜）背景?。o或少帶光譜）簡便、安全簡便、安全1、火焰光源、火焰光源2、電弧光源、電弧光源分為直流光源和交流光源兩種分為直

15、流光源和交流光源兩種（1）直流光源）直流光源LAVEDC220V 10000= m NM 光柵級次N 刻痕總數(shù)3、集光本領(lǐng)、集光本領(lǐng) 表示光譜儀光學(xué)系統(tǒng)傳遞輻射的能力表示光譜儀光學(xué)系統(tǒng)傳遞輻射的能力EBL =E：感光板焦面所得輻射通量：感光板焦面所得輻射通量B：入射于狹縫的光源亮度：入射于狹縫的光源亮度光柵的閃耀特性：光柵的閃耀特性： 光柵衍射的能量中，不同波長的分配是不均勻的。輻光柵衍射的能量中，不同波長的分配是不均勻的。輻射能量最大的波長稱為閃耀波長。從光柵的閃耀特性出發(fā)，射能量最大的波長稱為閃耀波長。從光柵的閃耀特性出發(fā)，使分析所需的波長的能量達(dá)到最大，是原子發(fā)射光譜閃耀使分析所需的波長

16、的能量達(dá)到最大，是原子發(fā)射光譜閃耀光柵的特點。光柵的特點。 中階梯光柵閃耀角大，因此可通過增大閃耀角，利用中階梯光柵閃耀角大，因此可通過增大閃耀角，利用高光譜級次高光譜級次m來提高線色散率。來提高線色散率。B中階梯光柵中階梯光柵（Echelle光柵）是精密刻制的具有寬平刻痕的特殊衍射光柵。它看上去類似于普通的閃耀平面光柵，區(qū)別在于光柵每一階梯的寬度是其高度的幾倍，階梯之間的距離是欲色散波長的10-200倍，閃耀角大。 = Bm 0.05光柵適用的波長范圍光柵適用的波長范圍例如：例如： 某一光柵的閃耀波長為某一光柵的閃耀波長為500nm，其適，其適用的波長范圍為用的波長范圍為m=1333 - 1

17、000 nmm=2200 - 333 nm一級閃耀波長一級閃耀波長因為利用高級次光譜，光譜級的重疊現(xiàn)象十分嚴(yán)重。為了解決這一問題，采用了二維色散技術(shù)。用一個低色散光柵或棱鏡在垂直于中階梯方向先將各級次光譜色散開，用一個中階梯光柵在水平方向再將同一級光譜內(nèi)的各波長輻射色散。因此，中階梯光柵光譜儀得到的是二維色散的光譜圖。水平方向譜帶代表光譜級次，自下而上光譜級次增加；同一水平譜帶是色散的各波長譜線。原子發(fā)射光譜分析對單色器的要求是：原子發(fā)射光譜分析對單色器的要求是：1、色散率大且與波長無關(guān)；、色散率大且與波長無關(guān)；2、分辨率大（能分開、分辨率大（能分開Fe三線三線0.03nm）；）；3、集光本領(lǐng)

18、強（使分析所需的波長的能、集光本領(lǐng)強（使分析所需的波長的能量達(dá)到最大）量達(dá)到最大）目前常用中階梯光柵光譜儀三、檢測器三、檢測器 攝譜儀攝譜儀多道多道 光譜儀光譜儀單道單道掃描儀掃描儀全譜全譜直讀儀直讀儀感光板感光板PMTPMTCCD1、感光板、感光板感光層（感光層（AgX）玻璃層玻璃層感光板用于作為檢測器的原理：感光板用于作為檢測器的原理： 感光板將譜線的強度變?yōu)楹诙雀泄獍鍖⒆V線的強度變?yōu)楹诙萐S = lg i0ii0 感光乳劑未暴光部分的透射光強度 i 暴光變黑部分的透射光強度S與曝光量與曝光量H的關(guān)系可由實驗得出的關(guān)系可由實驗得出SlogHS0logH0暴光不足暴光不足暴光過度暴光過度暴光

19、正常暴光正常曝光量正常情況下：曝光量正常情況下： S = （logH - log H0） 稱為感光板的反襯度，表示感光板對光信號的敏感稱為感光板的反襯度，表示感光板對光信號的敏感程度。程度。 與波長有關(guān)，但在與波長有關(guān)，但在250-350nm范圍內(nèi)幾乎不變。范圍內(nèi)幾乎不變。由于曝光量由于曝光量H與照度與照度E呈正比：呈正比：H = Et，而照度，而照度E又與原又與原子的輻射強度子的輻射強度 I 呈正比，故黑度呈正比，故黑度S可以表征原子的輻射強可以表征原子的輻射強度度因此，乳劑特性曲線可由下列參數(shù)繪出因此，乳劑特性曲線可由下列參數(shù)繪出S log I乳劑特性曲線的繪制方法：乳劑特性曲線的繪制方法

20、：譜線組法譜線組法(p. 143)階梯減光板法階梯減光板法旋轉(zhuǎn)扇形板法旋轉(zhuǎn)扇形板法I1I2I3I4S1S2S3S4Slg II為階梯減光板透過光強度為階梯減光板透過光強度階梯減光板法階梯減光板法攝譜法的主要優(yōu)點是：攝譜法的主要優(yōu)點是：1、儀器簡單、儀器簡單2、適于較寬的波長范圍（一次可分析、適于較寬的波長范圍（一次可分析70多個元素）多個元素）攝譜法的主要缺點是：攝譜法的主要缺點是：1、操作麻煩（攝譜、沖洗、讀譜、測黑度）、操作麻煩（攝譜、沖洗、讀譜、測黑度）2、定量誤差較大、定量誤差較大發(fā)展了光電直讀法發(fā)展了光電直讀法光譜范圍打拿極數(shù)工作電壓2. 光電倍增管光電倍增管的外殼由玻璃或石英制成，

21、內(nèi)部抽真空，陰極涂有能發(fā)射電子的光敏物質(zhì)，如Sb-Cs或Ag-O-Cs等，在陰極C和陽極A間裝有一系列次級電子發(fā)射極，即電子倍增極D1、D2 等。陰極C和陽極A之間加有約1000V的直流電壓，當(dāng)輻射光子撞擊光陰極C時發(fā)射光電子，該光電子被電場加速落在第一被增極D1上，撞擊出更多的二次電子，依次類推，陽極最后收集到的電子數(shù)將是陰極發(fā)出的電子數(shù)的105-108倍。 光電倍增管的特性用以下參數(shù)表征：1）暗電流和線性響應(yīng)范圍在入射光的光譜成分不變時，光電倍增管的光電流強度i與入射光強度Ii成正比：即i = kIi + i0式中，Ii為對應(yīng)于該電流的入射光強度，k為比例系數(shù)，i0為暗電流。暗電流指入射光

22、強度為零時的輸出電流，它由熱電子發(fā)射及漏電流引起。因此，降低溫度及降低電壓都能降低暗電流。光電元件的暗電流愈小，質(zhì)量就愈好。2） 噪聲和信噪比在入射光強度不變的情況下，光電流也會引起波動。這種波動會給光譜測量帶來噪聲。光電倍增管輸出信號與噪聲的比值，稱為信噪比。信噪比決定入射光強度測量的最低極限，即決定待測元素的檢出限。只有將噪聲減小，才能有效地提高信噪比，降低元素的檢出限。FiS 3）靈敏度和工作光譜區(qū)在入射光通量為1個單位（流明）時，輸出光電流強度的數(shù)值，稱為光電倍增管的靈敏度。若用公式表示，靈敏度為式中，i為輸出光電流強度，F(xiàn)為入射光通量。光電倍增管的靈敏度隨入射光的波長而變化。這種靈敏

23、度，稱為光譜靈敏度。4）工作電壓和工作溫度在入射光強度不變的情況下，光電倍增管供電電壓的變化會影響光電流的強度。因此，必須采用穩(wěn)壓電源供電，工作電壓的波動不許超過0.05%。當(dāng)電壓升高到一定值后，光電倍增管即產(chǎn)生自發(fā)放電。這種自發(fā)放電會使光電元件受到損壞。因此，工作時不許超過光電倍增管允許的最高電壓。此外，工作環(huán)境的溫度變化也會影響光電流的強度。因此，光電倍增管必須在溫度波動不大的環(huán)境中工作，特別不能在高溫的環(huán)境中工作。5）疲勞和老化入射光強度較大或照射時間較長，會引起光電流的衰減。這種現(xiàn)象稱為疲勞現(xiàn)象。疲勞后在黑暗中經(jīng)過一些時間可以恢復(fù)靈敏度的，稱為可逆疲勞。疲勞后無法恢復(fù)靈敏度的，稱為不可

24、逆疲勞或老化。在正常情況下，老化過程是進(jìn)行得很慢的。如果入射光較強，產(chǎn)生超過1mA的光電流，光電倍增管就可能因老化而損壞。2.1 多道光譜儀檢測系統(tǒng)多道光譜儀檢測系統(tǒng)光源光源單色器單色器PMT讀譜速度快只可同時分析十余種元素光柵光柵狹縫狹縫反射鏡反射鏡2.2 單道掃描光譜儀檢測系統(tǒng)單道掃描光譜儀檢測系統(tǒng)可多元素可多元素同時分析同時分析讀譜速度讀譜速度慢慢3、CCD檢測器（Charge-Coupled Devices, 中文譯名是電荷耦合器件 ） CCD是一種新型固體成像器件，它是在大規(guī)模硅集成電路工藝基礎(chǔ)上研制而成的模擬集成電路芯片，借助必要的光學(xué)和電路系統(tǒng)，它可以將景物圖象通過輸入面空域上逐

25、點的光電信號轉(zhuǎn)換、儲存和傳輸，在其輸出端產(chǎn)生一視頻信號，并經(jīng)末端顯示器同步顯示出人眼可見的圖象。在原子發(fā)射光譜中采用CCD的主要優(yōu)點是： 速度快，35S 檢測70種元素； 動態(tài)響應(yīng)范圍和靈敏度達(dá)到甚至超過PMT 性能穩(wěn)定，耐過度曝光曝光，比PMT結(jié)實耐用(1) CCD工作原理： CCD由許多光敏像元組成，每一個像元就是一個MOS電容器或光敏二極管。當(dāng)一束光子照射于MOS電容器(或光敏二極管)上時，襯底中處于價帶的電子將吸收光子的能量而躍遷進(jìn)入導(dǎo)帶，產(chǎn)生電子-孔穴對。P金屬層SiO2襯底hvhvEg價帶導(dǎo)帶導(dǎo)帶-價帶間能量差Eg稱為半導(dǎo)體的禁帶寬度。 在一定外加電壓EG下，Si-Si02界面上多

26、數(shù)載流子-孔穴被排斥到底層，在界面處感生負(fù)電荷，中間則形成耗盡層，而在半導(dǎo)體表面形成電子勢阱。勢阱形成后，隨后到來的信號電子就被存貯在勢阱中。由于勢阱的深淺可由電壓大小控制，因此，如果按一定規(guī)則將電壓加到CCD各電極上，使存貯在任一勢阱中的電荷運動的前方總是有一個較深的勢阱處于等待狀態(tài)，存貯的電荷就沿勢阱從淺到深做定向運動，最后經(jīng)輸出二極管將信號輸出。由于各勢阱中存貯的電荷依次流出，因此根據(jù)輸出的先后順序就可以判別出電荷是從哪個勢阱來的，并根據(jù)輸出電荷量可知該像元的受光強弱。N+P+-+-E不同襯底材料Eg不同，器件具有不同的光譜特性，Eg = 1.24 / cSi Eg = 1.12 eV

27、c = 1.1 umGe 1.8 1.8InAs 0.39 3.2PPPP(2) CCD的性能參數(shù) 像元靈敏度或量子效率：收集到的電荷數(shù)和照射的光子數(shù)的比值；光譜響應(yīng)范圍 分辨率： 線陣CCD：256x1； 1024x1； 2048x1 面陣CCD：100 x108；320 x320；512x320；604x588； 1024x1024噪音SEchelleFieldFlattenerUV CameraSphereComputer-controlledMirrorICPTorchEntranceSlitFoldFlatSchmidtCrossDisperserParabolaVisiblePri

28、smTelephoto LensOutputCCD Subarray第四節(jié)第四節(jié) 原子光譜分析方法原子光譜分析方法一、定性分析目前常用標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜比較法和鐵譜比較法鐵譜比較法將試樣與鐵并列攝譜于同一光譜感光板上，然后將試樣光譜與鐵光譜標(biāo)準(zhǔn)譜圖對照，以鐵譜線為波長標(biāo)尺，逐一檢查欲檢查元素的靈敏線，若試樣光譜中的元素譜線與標(biāo)準(zhǔn)譜圖中標(biāo)明的某一元素譜線出現(xiàn)的波長位置相同，表明試樣中存在該元素。鐵譜比較法對同時進(jìn)行多元素定性鑒定十分方便。Ag Pb二、半定量分析二、半定量分析可采用譜線黑度比較法和光譜呈現(xiàn)法可采用譜線黑度比較法和光譜呈現(xiàn)法譜線黑度比較法：譜線黑度比較法：比較某元素一系列標(biāo)準(zhǔn)的黑度，并與比較某元素一系列標(biāo)準(zhǔn)的黑度，并與樣品對照樣品對照光譜呈現(xiàn)法：同一元素的不同譜線黑度不同，濃度越低，光譜呈現(xiàn)法：同一元素的不同譜線黑度不同，濃度越低，留下的譜線越少留下的譜線越少分析線分析線用于確定某一元素的特征譜線用于確定某一元素的特征譜線靈敏線靈敏線元素特征譜線中強度較大的譜線元素特征譜線中強度較大的譜線最后線最后線隨濃度降低，譜線數(shù)目減小，直到最后消