數(shù)字電路實驗-集成邏輯門等

1、1v實驗一實驗一 集成邏輯門功能測試集成邏輯門功能測試v實驗二實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試功能測試v實驗三實驗三 集成觸發(fā)器集成觸發(fā)器功能測試功能測試v實驗四實驗四 計數(shù)器計數(shù)器功能測試功能測試v實驗五實驗五 移位寄存器功能測試移位寄存器功能測試 重慶通信學(xué)院電子技術(shù)教研室鄭勇2實驗一實驗一 集成邏輯門功能測試集成邏輯門功能測試 一、一、集成電路相關(guān)知識簡介集成電路相關(guān)知識簡介 （一）集成電路發(fā)展概況（一）集成電路發(fā)展概況 集成電路的發(fā)展經(jīng)歷了以下四個階段：集成電路的發(fā)展經(jīng)歷了以下四個階段： 1 1、19061906年電子管問世和年電子管問世和19471947年晶體管的

2、發(fā)明。年晶體管的發(fā)明。 2 2、19581958年集成電路的誕生。年集成電路的誕生。 3 3、19751975年超大規(guī)模集成電路。年超大規(guī)模集成電路。 4 4、2121世紀的以微電子技術(shù)為基礎(chǔ)、計算機和通信為媒世紀的以微電子技術(shù)為基礎(chǔ)、計算機和通信為媒 體的新階段。體的新階段。 全球每年生產(chǎn)集成電路大約全球每年生產(chǎn)集成電路大約60006000多億塊，集成電路多億塊，集成電路 在電子設(shè)備中的價值上世紀在電子設(shè)備中的價值上世紀8080年代年代7%7%，現(xiàn)在，現(xiàn)在30%30%以上，以上， 在一些軍事裝備中達在一些軍事裝備中達80%80%。集成電路已成為發(fā)展電子。集成電路已成為發(fā)展電子 信息技術(shù)的核心

3、和衡量一個國家綜合國力的重要標(biāo)志。信息技術(shù)的核心和衡量一個國家綜合國力的重要標(biāo)志。3（二）集成電路分類（二）集成電路分類按用途分為：模擬集成電路和數(shù)字集成電路；按用途分為：模擬集成電路和數(shù)字集成電路；按導(dǎo)電類型分為：雙極型集成電路和單極型按導(dǎo)電類型分為：雙極型集成電路和單極型 （MOSMOS）集成電路兩類；）集成電路兩類；按制造工藝和結(jié)構(gòu)分為：半導(dǎo)體集成電路、薄膜或厚按制造工藝和結(jié)構(gòu)分為：半導(dǎo)體集成電路、薄膜或厚膜集成電路、混合集成電路；膜集成電路、混合集成電路；按集成度分為：小規(guī)模、中規(guī)模、大規(guī)模、超大規(guī)模按集成度分為：小規(guī)模、中規(guī)模、大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路和巨大集成電路和巨大規(guī)模集成電路

4、規(guī)模集成電路。 4 目前世界上生產(chǎn)最多、應(yīng)用最廣的目前世界上生產(chǎn)最多、應(yīng)用最廣的是半導(dǎo)體集成電路是半導(dǎo)體集成電路 可分為可分為 半導(dǎo)體集成電路半導(dǎo)體集成電路 目前應(yīng)用最廣泛的數(shù)字集成電路是目前應(yīng)用最廣泛的數(shù)字集成電路是 TTLTTL和和CMOSCMOS電路電路5實驗一 集成邏輯門功能測試 （三）、（三）、 TTLTTL數(shù)字集成電路：數(shù)字集成電路： TTLTTL集成電路以雙極型晶體管為開關(guān)元件，又稱集成電路以雙極型晶體管為開關(guān)元件，又稱 為雙極型（電子和空穴）集成電路為雙極型（電子和空穴）集成電路 根據(jù)應(yīng)用領(lǐng)域不同分為：根據(jù)應(yīng)用領(lǐng)域不同分為： 5454系列（軍）如：系列（軍）如：54LS0054

5、LS00、54LS2054LS20等等 7474系列（民）如：系列（民）如：74LS0074LS00、74LS2074LS20等等 它沿著它沿著74 74S 74LS 74AS 74ALS74 74S 74LS 74AS 74ALS系列發(fā)展。系列發(fā)展。 S S： 代表肖特基工藝速度高于標(biāo)準(zhǔn)代表肖特基工藝速度高于標(biāo)準(zhǔn)TTLTTL。 LSLS： 代表低功耗肖特基工藝。代表低功耗肖特基工藝。 ASAS： 代表先進（高速）肖特基工藝。代表先進（高速）肖特基工藝。 ALSALS：代表先進（高速）低功耗肖特基工藝。：代表先進（高速）低功耗肖特基工藝。6 CMOS CMOS數(shù)字集成電路：數(shù)字集成電路： CM

6、OSCMOS數(shù)字集成電路是數(shù)字集成電路是MOSMOS電路中的主導(dǎo)產(chǎn)品。電路中的主導(dǎo)產(chǎn)品。MOSMOS電路是以絕電路是以絕緣柵場效應(yīng)晶體管為開關(guān)元件，又稱為單極型集成電路，緣柵場效應(yīng)晶體管為開關(guān)元件，又稱為單極型集成電路，MOSMOS電電路可分為路可分為PMOSPMOS、NMOSNMOS、和、和CMOSCMOS電路。電路。 它沿著它沿著4000A 4000B/4500B4000A 4000B/4500B（統(tǒng)一稱為（統(tǒng)一稱為4000B4000B） 74HC 74HC 74HCT74HCT系列高速發(fā)展。目前系列高速發(fā)展。目前MOSMOS集成電路幾乎都是高速集成電路幾乎都是高速CMOSCMOS集成電集

7、成電路。由于生產(chǎn)廠家不同，產(chǎn)品的系列號不完全相同。路。由于生產(chǎn)廠家不同，產(chǎn)品的系列號不完全相同。ACAC： 代表先進的高速代表先進的高速CMOSCMOS集成電路。集成電路。ACTACT：代表與：代表與TTLTTL相一致的輸入特性、相容的輸出特性的高速相一致的輸入特性、相容的輸出特性的高速 CMOSCMOS集成電路。集成電路。HCHC： 代表高速代表高速CMOSCMOS集成電路。集成電路。HCTHCT：代表與：代表與TTLTTL電平相兼容的高速電平相兼容的高速CMOSCMOS集成電路。集成電路。實驗一 集成邏輯門功能測試774LS0740668實驗一 集成邏輯門功能測試 （四）基本特性（四）基本

8、特性 TTLTTL集成電路集成電路 工作電壓：工作電壓：5.0V5.0V 頻率特性頻率特性 標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)TTL: 35MHZTTL: 35MHZ LS-TTL LS-TTL： 40MHZ40MHZ ALS-TTL ALS-TTL：70MHZ70MHZ S-TTL S-TTL： 125MHZ125MHZ AS-TTL AS-TTL： 200MHZ200MHZ ECL ECL： 100-1000MHZ100-1000MHZ9 CMOS CMOS集成電路：集成電路： 工作電壓工作電壓 40004000系列：系列：3.0V18V3.0V18V 40H 40H系列：系列： 2.0V8.0V 2.0V8.0V

9、 HC HC系列：系列： 2.0V6.0V 2.0V6.0V HCU HCU系列：系列： 2.0V6.0V 2.0V6.0V HCT HCT系列：系列： 4.5V5.5V 4.5V5.5V 頻率特性頻率特性 40004000系列系列: 12MHZ: 12MHZ HCHC系列：系列： 40MHZ40MHZ 實驗一 集成邏輯門功能測試10 二、實驗任務(wù)與步驟二、實驗任務(wù)與步驟 （一）、（一）、74LS0074LS00與非門的功能測試與非門的功能測試 74LS0074LS00與非門的引腳排列見下圖與非門的引腳排列見下圖11實實驗方法：驗方法： 將集成電路將集成電路74LS0074LS00插入實插入實

10、驗箱中集成電路插座上，選擇驗箱中集成電路插座上，選擇其中任一個與非門，按左圖連其中任一個與非門，按左圖連接好電路，輸入端（接好電路，輸入端（A A、B B）的）的數(shù)字信號由實驗箱中的數(shù)據(jù)開數(shù)字信號由實驗箱中的數(shù)據(jù)開關(guān)提供，輸出端（關(guān)提供，輸出端（Y Y）接實驗）接實驗箱中的發(fā)光二極管，利用發(fā)光箱中的發(fā)光二極管，利用發(fā)光二極管的二極管的亮亮和和不亮不亮來指示輸出來指示輸出端（端（Y Y）的邏輯狀態(tài)（）的邏輯狀態(tài)（亮代表亮代表“1”1”、不亮代表、不亮代表“0”0”），測），測試結(jié)果比較試結(jié)果比較74LS0074LS00與非門的功與非門的功能是否一致并填人下表能是否一致并填人下表。實驗一 集成邏輯

11、門功能測試1274LS0074LS00功能測試表功能測試表輸輸 入入輸輸 出出測測 試試 結(jié)結(jié) 果果BA0001101Y發(fā)光二極管指示結(jié)果發(fā)光二極管指示結(jié)果實驗一 集成邏輯門功能測試1 1 13（二）、（二）、74LS2074LS20與非門的功能測試與非門的功能測試 74LS2074LS20與非門的引腳排列見下圖與非門的引腳排列見下圖實驗一 集成邏輯門功能測試14實驗方法實驗方法：將集成電路將集成電路74LS2074LS20正確插入實驗箱中集成電路插正確插入實驗箱中集成電路插座上，選擇其中任一個與非門，座上，選擇其中任一個與非門，按左圖連接好電路，輸入端按左圖連接好電路，輸入端（A A、B B

12、、C C、D D）的數(shù)字信號由）的數(shù)字信號由實驗箱中的數(shù)據(jù)開關(guān)提供，輸實驗箱中的數(shù)據(jù)開關(guān)提供，輸出端（出端（Y Y）接實驗箱中的發(fā)光）接實驗箱中的發(fā)光二極管，利用發(fā)光二極管的二極管，利用發(fā)光二極管的亮亮和和不亮不亮來指示輸出端（來指示輸出端（Y Y）的）的邏輯狀態(tài)（邏輯狀態(tài)（亮代表亮代表“1”1”、不不亮代表亮代表“0”0”），測試結(jié)果比），測試結(jié)果比較較74LS2074LS20與非門的功能是否一與非門的功能是否一致。致。實驗一 集成邏輯門功能測試15實驗一 集成邏輯門功能測試三、實驗?zāi)康娜嶒災(zāi)康?通過本次實驗要求達到以下三個目的通過本次實驗要求達到以下三個目的 1 1、了解數(shù)字集成電路的

13、相關(guān)知識；、了解數(shù)字集成電路的相關(guān)知識； 2 2、掌握門電路邏輯功能的測試方法；、掌握門電路邏輯功能的測試方法； 3 3、學(xué)會門電路的基本應(yīng)用。、學(xué)會門電路的基本應(yīng)用。 16 四、實驗注意事項四、實驗注意事項 1.1.正確、細心使用集成塊正確、細心使用集成塊 任何集成塊在使用前必須搞清楚其型號功能、引腳排列，任何集成塊在使用前必須搞清楚其型號功能、引腳排列， 特別是電源端和接地端。在實驗中插集成塊時，一定要將其所特別是電源端和接地端。在實驗中插集成塊時，一定要將其所有引腳和插座上的小孔對準(zhǔn)并均勻用力按下，否責(zé)容易使集成有引腳和插座上的小孔對準(zhǔn)并均勻用力按下，否責(zé)容易使集成塊引腳彎曲甚至損壞。撥

14、出時，一是使用專用起撥鉗夾住集成塊引腳彎曲甚至損壞。撥出時，一是使用專用起撥鉗夾住集成塊，垂直往上撥，二是用小起子兩邊均勻用力向上對撬，使其塊，垂直往上撥，二是用小起子兩邊均勻用力向上對撬，使其垂直向上拔起；如用力不均，易使引腳彎曲或折斷而損壞塊。垂直向上拔起；如用力不均，易使引腳彎曲或折斷而損壞塊。 2.2.合理布局和正確連線合理布局和正確連線 在數(shù)字電路實驗中，要求做到：布線合理。一般布線順序是：在數(shù)字電路實驗中，要求做到：布線合理。一般布線順序是：先接地線和電源線，再接輸入、輸出及控制線，布線時盡可能先接地線和電源線，再接輸入、輸出及控制線，布線時盡可能采用不同顏色的導(dǎo)線，通常紅色接電源

15、，黑色接地。采用不同顏色的導(dǎo)線，通常紅色接電源，黑色接地。 3.3.嚴禁在加電源狀態(tài)下插拔集成塊和連接電路嚴禁在加電源狀態(tài)下插拔集成塊和連接電路。實驗一 集成邏輯門功能測試17五、要求五、要求 1.1.愛護實驗器材愛護實驗器材, ,嚴格遵守操作規(guī)范嚴格遵守操作規(guī)范。 2.2.注意良好機務(wù)作風(fēng)的養(yǎng)成注意良好機務(wù)作風(fēng)的養(yǎng)成。 3.3.認真寫出實驗報告認真寫出實驗報告( (三天內(nèi)交其三天內(nèi)交其) )。 4.4.保持實驗室的清潔衛(wèi)生保持實驗室的清潔衛(wèi)生。實驗一 集成邏輯門功能測試18數(shù)字電路實驗箱介紹數(shù)字電路實驗箱介紹實驗一 集成邏輯門功能測試電源開關(guān)繼電器喇叭接地點5V電源撥碼開關(guān)邏輯筆19實驗二實

16、驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試 一、實驗原理一、實驗原理 （一）編碼器（一）編碼器 編碼器是實現(xiàn)編碼功能的數(shù)字集成電路。編碼器是實現(xiàn)編碼功能的數(shù)字集成電路。 74LS14774LS147是一個是一個1010線線-4-4線優(yōu)先編碼器，其引腳排列線優(yōu)先編碼器，其引腳排列和功能表如下圖所示。圖中和功能表如下圖所示。圖中I I1 1I I9 9為編碼輸入端，低為編碼輸入端，低電平有效。電平有效。D D、C C、B B、A A為編碼輸出端，當(dāng)某個輸入為編碼輸出端，當(dāng)某個輸入端為端為0 0時，輸出相應(yīng)的時，輸出相應(yīng)的84218421碼的反碼，如當(dāng)碼的反碼，如當(dāng)I I1 1=0=

17、0時時(I(I2 2II9 9為為“1”),1”),則輸出端為則輸出端為00010001碼的反碼碼的反碼11101110。在。在這這9 9個編碼輸入端中，個編碼輸入端中，I I9 9的優(yōu)先級最高，即只要的優(yōu)先級最高，即只要I I9 9=0,=0,無論無論I I1 1I I8 8為何值，輸出總是為為何值，輸出總是為10011001碼的反碼碼的反碼01100110，其余依次類推。當(dāng)其余依次類推。當(dāng)9 9個輸入端全部為個輸入端全部為“1”1”時，編碼時，編碼器輸出為器輸出為00000000碼的反碼碼的反碼11111111。實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試2074LS14774LS147引腳排列引腳

18、排列 實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試2174LS14774LS147功能表功能表 輸 入 輸 出 I1 I2 I3 I4 I5 I6 I7 I8 I9 D C B A H H H H H H H H H H H H H X X X X X X X X L L H H L X X X X X X X L H L H H H X X X X X X L H H H L L L X X X X X L H H H H L L H X X X X L H H H H H L H L X X X L H H H H H H L H H X X L H H H H H H H H L L X L H

19、H H H H H H H H L H L H H H H H H H H H H H L實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試22實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試（二）數(shù)據(jù)選擇器（二）數(shù)據(jù)選擇器 數(shù)據(jù)選擇器是多輸入單輸出的組合邏輯路當(dāng)在數(shù)據(jù)選擇器是多輸入單輸出的組合邏輯路當(dāng)在選擇控制端加地址碼，就能從多個數(shù)據(jù)中選擇一個選擇控制端加地址碼，就能從多個數(shù)據(jù)中選擇一個數(shù)據(jù)傳送至輸出端。它的功能數(shù)據(jù)傳送至輸出端。它的功能“類似類似”一個單刀多一個單刀多擲開關(guān)。數(shù)據(jù)選擇器通常又叫多路數(shù)據(jù)選擇器。擲開關(guān)。數(shù)據(jù)選擇器通常又叫多路數(shù)據(jù)選擇器。 74LS15374LS153是雙四選一數(shù)據(jù)選擇器，其引腳排列是雙四

20、選一數(shù)據(jù)選擇器，其引腳排列和功能表如下圖所示。圖中：和功能表如下圖所示。圖中：G G為工作狀態(tài)允許端為工作狀態(tài)允許端（或叫使能端）低電平有效；（或叫使能端）低電平有效；C C0 0、C C1 1、C C2 2、C C3 3為四為四個數(shù)據(jù)輸入端；個數(shù)據(jù)輸入端；Y Y為輸出端；為輸出端；A A、B B為控制端（地址為控制端（地址端）。數(shù)據(jù)選擇器的用途很多，例如多通道數(shù)據(jù)傳端）。數(shù)據(jù)選擇器的用途很多，例如多通道數(shù)據(jù)傳輸、數(shù)碼比較、并行碼變?yōu)榇写a以及實現(xiàn)邏輯函輸、數(shù)碼比較、并行碼變?yōu)榇写a以及實現(xiàn)邏輯函數(shù)等。數(shù)等。 23實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試74LS15374LS153引腳排列引腳排列2

21、4 輸 入 輸 出 B A C0 C1 C2 C3 G Y X X X X X X H L L L L X X X L L=C0 L L H X X X L H=C0 L H X L X X L L=C1 L H X H X X L H=C1 H L X X L X L L=C2 H L X X H X L H=C2 H H X X X L L L=C3 H H H=C3 X X X H 實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試 L25 實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試 74LS153YC0C1C2C3B A接數(shù)據(jù)開關(guān)接發(fā)光二極管5V167812 146543G輸入輸出控制（地址）二、實驗任務(wù)與步

22、驟二、實驗任務(wù)與步驟 1 1、測試、測試74LS15374LS153的邏輯功能的邏輯功能26 2 2、測試、測試74LS14774LS147的邏輯功能的邏輯功能實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試DCBA接發(fā)光二極管I1I974LS1471681110976145V27C0C1C2C3Y74LS15374LS147 B A1 2 3 43 3、四路數(shù)據(jù)傳輸電路、四路數(shù)據(jù)傳輸電路輸 入 控制端輸 出實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試28實驗二 編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測試 三、實驗?zāi)康囊笕嶒災(zāi)康囊螅ㄒ唬┠康?、了解編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能。2、加深對編碼器、數(shù)據(jù)選擇器概念的理解。（二）要求1、

23、連接電路時思路一定要清楚。2、在實驗過程中概念一定要清楚。29實驗三實驗三 集成觸發(fā)器集成觸發(fā)器一、實驗原理一、實驗原理 觸發(fā)器是組成時序電路的基本單元，它具有兩個穩(wěn)定狀態(tài)，即0狀態(tài)和1狀態(tài)。只有在觸發(fā)信號(CP脈沖)作用下，觸發(fā)器才從原有的穩(wěn)定狀態(tài)轉(zhuǎn)變成新的穩(wěn)定狀態(tài)；無觸發(fā)信號作用時，這就維持原來的穩(wěn)定狀態(tài)不變。因此觸發(fā)器是一種具有記憶功能的電路，可作為二進制存貯器單元使用。 觸發(fā)器的種類很多，按其功能可分為：R-S觸發(fā)器、D觸發(fā)器、J-K觸發(fā)器和T觸發(fā)器等；按電路的觸發(fā)方式又可分為：電位觸發(fā)型、主從型、維阻型、邊沿觸發(fā)型等；按材料分為TIL觸發(fā)器和CMOS觸發(fā)器類。 實驗三 集成觸發(fā)器30

24、二、實驗任務(wù)、步驟二、實驗任務(wù)、步驟（一）基本（一）基本RSRS觸發(fā)器觸發(fā)器 用74LSOO與非門組成一個基本RS觸發(fā)器，電路如下圖所示，將測試結(jié)果填入表中實驗三 集成觸發(fā)器31RSRS觸發(fā)器測試電路圖觸發(fā)器測試電路圖 實驗三 集成觸發(fā)器器材：器材：74LS00（接數(shù)據(jù)開關(guān)）（接發(fā)光二極管）32（二）（二）D D觸發(fā)器的功能測試觸發(fā)器的功能測試 CD4013雙D觸發(fā)器功能表和管腳排列圖見下圖實驗三 集成觸發(fā)器R -置“0”端（清0端），S-置“1”端，Cp-時鐘脈沖端，Q -輸出端。33 D D觸發(fā)器功能測試圖觸發(fā)器功能測試圖 實驗三 集成觸發(fā)器DCpSRQQXX10XX01XX1110000

25、034實驗三 集成觸發(fā)器DCpSRQQXX10XX01XX11100000D D觸發(fā)器功能測試表觸發(fā)器功能測試表35（三）（三）D D觸發(fā)器實現(xiàn)計數(shù)觸發(fā)測試圖觸發(fā)器實現(xiàn)計數(shù)觸發(fā)測試圖 實驗三 集成觸發(fā)器136（四四）D D觸發(fā)器實現(xiàn)觸發(fā)器實現(xiàn)二分頻器二分頻器測試圖測試圖 實驗三 集成觸發(fā)器CPCPQ Q37三、實驗?zāi)康囊笕嶒災(zāi)康囊螅ㄒ唬┠康?、掌握基本R-S觸發(fā)器、D觸發(fā)器的邏輯功能；2、加深對基本R-S觸發(fā)器、D觸發(fā)器概念的理解；3、了解基本R-S觸發(fā)器、D觸發(fā)器的基本應(yīng)用。（二）要求1、連接電路時思路一定要清楚。2、在實驗過程中概念一定要明確。3、注意時序關(guān)系，比較與前兩次實驗有什

26、么不同。4、預(yù)習(xí)實驗四的內(nèi)容。實驗三 集成觸發(fā)器38實驗四實驗四 計數(shù)器功能測試計數(shù)器功能測試一、實驗原理一、實驗原理 計脈沖個數(shù)計脈沖個數(shù) 定時、分頻定時、分頻 數(shù)字運算和其它特定邏輯功能數(shù)字運算和其它特定邏輯功能 同步計數(shù)器、異步計數(shù)器同步計數(shù)器、異步計數(shù)器 二進制、十進制、二進制、十進制、M M進制計數(shù)器進制計數(shù)器 加法、減法、可逆計數(shù)器加法、減法、可逆計數(shù)器 實驗四 計數(shù)器功能測試393 3、顯示譯碼器（、顯示譯碼器（七段字型譯碼器）七段字型譯碼器）TTLTTL顯示譯碼器顯示譯碼器: :分為分為OEOE型和型和OCOC型兩種。型兩種。 OE OE型顯示譯碼器：其特點是以型顯示譯碼器：其

27、特點是以高電平高電平點亮共陰點亮共陰數(shù)碼管，輸出低電平時，字段熄滅。數(shù)碼管，輸出低電平時，字段熄滅。計數(shù)器 顯 示譯碼器R0輸入OE型 共陰數(shù)碼管實驗四 計數(shù)器功能測試40 OC OC型顯示譯碼器型顯示譯碼器 其特點是以其特點是以低電平低電平點亮共陽數(shù)碼管，輸出高電平點亮共陽數(shù)碼管，輸出高電平時，字段熄滅。時，字段熄滅。 CMOS CMOS顯示譯碼器（無顯示譯碼器（無OEOE型和型和OCOC型之分）。型之分）。 計數(shù)器 顯 示譯碼器5VR0輸入OC型共陽數(shù)碼管實驗四 計數(shù)器功能測試414 4、LEDLED數(shù)碼管數(shù)碼管 數(shù)碼管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)類似數(shù)碼管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)類似PNPN結(jié)，由七個條形發(fā)光二極管構(gòu)成

28、結(jié)，由七個條形發(fā)光二極管構(gòu)成七段七段8 8字形。它是將電信號轉(zhuǎn)換為光信號的半導(dǎo)體顯示件又字形。它是將電信號轉(zhuǎn)換為光信號的半導(dǎo)體顯示件又稱七段數(shù)碼管，分共陰和共陽兩種類型。使用時一定要接限稱七段數(shù)碼管，分共陰和共陽兩種類型。使用時一定要接限流電阻。并且一定要和顯示譯碼器配合使用，共陰型數(shù)碼管流電阻。并且一定要和顯示譯碼器配合使用，共陰型數(shù)碼管配合配合OEOE型顯示譯碼器，共陽型數(shù)碼管配合型顯示譯碼器，共陽型數(shù)碼管配合OCOC型顯示譯碼器。型顯示譯碼器。否則它們不能正常工作。否則它們不能正常工作。實驗四 計數(shù)器功能測試42實驗四 計數(shù)器功能測試43實驗任務(wù)、步驟實驗任務(wù)、步驟 實驗四 計數(shù)器功能測

29、試1 1、實驗器材介紹、實驗器材介紹44實驗四 計數(shù)器功能測試45實驗四 計數(shù)器功能測試 輸 入 輸 出 顯 示LE BI LT D C B A a b c d e f gL H H L L L L H H H H H H L 0L H H L L L H L H H L L L L 1 L H H L L H L H H L H H L H 2L H H L L H H H H H H L L H 3 L H H L H L L L H H L L H H 4 L L H L H L H H L H H L H H 5 L H H L H H L L L H H H H H 6L H H L

30、 H H H H H H L L L L 7L H H H L L L H H H H H H H 8L H H H L L H H H H L L H H 9L8XXH H H H H H HLXH空白_46實驗四 計數(shù)器功能測試CP3456Q0Q1Q2Q3接發(fā)光二極管VDD 5V18162EN72HZCD45182 2、用、用CD4518CD4518實現(xiàn)實現(xiàn) M=10M=10進制計數(shù)器進制計數(shù)器47 abcdefgagCD4511 CD4518ABCD QQQQ0123CPENVDDR0VDDBILT88LE 3 3、用、用CD4518CD4518實現(xiàn)實現(xiàn)M=7M=7進制計數(shù)器進制計數(shù)器C

31、R712 163 4 5 61 2 4689R1R7實驗四 計數(shù)器功能測試數(shù)碼管七段字型譯碼器74LS20計數(shù)器48（一）目的 1、 熟悉計數(shù)器的功能和控制端的作用。 2、掌握用計數(shù)器實現(xiàn)任意進制的方法。 3、了解顯示譯碼器的邏輯功能和數(shù)碼管的使用方法。（二）要求 1、連接電路時思路一定要清楚。 2、在實驗過程中概念一定要明確。 3、任意進制計數(shù)器的連接方法、步驟、分析、結(jié)論要清 楚，做圖一定要規(guī)范，目的要明確。 實驗四 計數(shù)器功能測試49實驗五 移位寄存器實驗五實驗五 移位寄存器移位寄存器一、實驗原理一、實驗原理 74LS19474LS194是功能較全的四位雙向移位寄存器，它是功能較全的四位

32、雙向移位寄存器，它具有清除、左移、右移、并行送數(shù)和保持等多種功具有清除、左移、右移、并行送數(shù)和保持等多種功能。能。R=R=清零端，低電平有效；清零端，低電平有效；S S1 1 、S S0 0狀態(tài)控制端；狀態(tài)控制端；執(zhí)行各功能操作時，均按功能表中各個引腳端所處執(zhí)行各功能操作時，均按功能表中各個引腳端所處狀進行。例如狀進行。例如R=0,R=0,寄存器中所存數(shù)據(jù)全部清除。注寄存器中所存數(shù)據(jù)全部清除。注意：在意：在CP=0CP=0期間，不要改變期間，不要改變S S0 0 和和S S1 1的狀態(tài)，以免的狀態(tài)，以免造成動作。造成動作。50實驗五 移位寄存器 74LS19474LS194應(yīng)用較廣，它除了具有雙向移位功能應(yīng)用較廣，它除了具有雙向移位功能外，還可用做二進制碼串外，還可用做二進制碼串/ /并行轉(zhuǎn)換