陣列感應(yīng)資料處理培訓(xùn)

1、陣列感應(yīng)資料處理培訓(xùn)12345陣列感應(yīng)（MIT5530）儀器67電源帶通濾波前置放大線圈系壓力平衡發(fā)射驅(qū)動數(shù)據(jù)采集處理與控制陣列感應(yīng)（MIT5530）配套100KBPS遙測處理軟件刻度裝置1.1 MIT5530陣列感應(yīng)儀器總體組成陣列感應(yīng)儀器總體組成MIT5530陣列感應(yīng)儀器線圈系結(jié)構(gòu)陣列感應(yīng)儀器線圈系結(jié)構(gòu)1.2 MIT5530陣列感應(yīng)線圈系結(jié)構(gòu)陣列感應(yīng)線圈系結(jié)構(gòu)1.2 MIT5530陣列感應(yīng)線圈系結(jié)構(gòu)陣列感應(yīng)線圈系結(jié)構(gòu)MIT5530原始測量信號原始測量信號1.3 MIT5530陣列感應(yīng)測量信號陣列感應(yīng)測量信號1.3 MIT陣列感應(yīng)響應(yīng)特性陣列感應(yīng)響應(yīng)特性012345-0.50.00.51.0

2、1.52.02.53.03.54.04.5 RGF (1/m) (m) 子 陣列1 子 陣列2 子 陣列3 子 陣列4 子 陣列5 子 陣列6 子 陣列7 子 陣列8012345-0.10.00.10.20.30.40.50.60.70.80.91.0 IRGFR (m) 子 陣列1 子 陣列2 子 陣列3 子 陣列4 子 陣列5 子 陣列6 子 陣列7 子 陣列8-5-4-3-2-1012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.54.0 VGF (1/m)z (m) 子 陣列1 子 陣列2 子 陣列3 子 陣列4 子 陣列5 子 陣列6 子 陣列7 子 陣列81.4 MI

3、T5530陣列感應(yīng)技術(shù)指標陣列感應(yīng)技術(shù)指標1.5 MIT5530陣列感應(yīng)儀器適應(yīng)范圍陣列感應(yīng)儀器適應(yīng)范圍MIT55305530短陣列測量誤差較大nMIT55305530最佳工作范圍：Rt 在0.2-100m， Rt/Rm應(yīng)在白色區(qū)域內(nèi)。nMIT5530陣列感應(yīng)儀器適用最佳井眼條件：鉆頭直徑在6”（150cm）- 12”(300cm)，當井眼尺寸大于12”時，合成的誤差可能較大。MIT55305530所有陣列測量誤差較大n測量信息多測量信息多1.6 MIT5530陣列感應(yīng)儀器優(yōu)點陣列感應(yīng)儀器優(yōu)點v監(jiān)控曲線監(jiān)控曲線QCQC判定判定v測井曲線合理性判定測井曲線合理性判定 QCQC曲線判定：曲線判定：

4、MIT5530MIT5530儀器質(zhì)量監(jiān)控曲線儀器質(zhì)量監(jiān)控曲線QCQC數(shù)值變化范圍應(yīng)小于數(shù)值變化范圍應(yīng)小于1010。且。且QCQC曲線無突變。否則需重新加電測井曲線無突變。否則需重新加電測井。 原始曲線合理性判定：原始曲線合理性判定： MIT5530 MIT5530原始曲線在典型地層情況下應(yīng)符合理論響應(yīng)。其典型原始曲線在典型地層情況下應(yīng)符合理論響應(yīng)。其典型地層主要有：均質(zhì)地層響應(yīng)，有井眼無侵入厚層，高侵厚層，低地層主要有：均質(zhì)地層響應(yīng)，有井眼無侵入厚層，高侵厚層，低侵厚層情況下理論響應(yīng)。在判斷原始曲線關(guān)系時，應(yīng)選擇典型厚侵厚層情況下理論響應(yīng)。在判斷原始曲線關(guān)系時，應(yīng)選擇典型厚層進行曲線關(guān)系分析，

5、如果與理論圖版相符，即儀器工作狀態(tài)正層進行曲線關(guān)系分析，如果與理論圖版相符，即儀器工作狀態(tài)正常。常。0.010.11101000.010.1110100地層電導(dǎo)率（S/m）視電導(dǎo)率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfLMIT5530均質(zhì)地層響應(yīng)MIT5530常見問題：原始曲線缺失字符未安裝間隔器儀器預(yù)熱不足刻度文件加載錯誤測井遇卡硬件故障3.1 MIT5530陣列感應(yīng)曲線命名規(guī)范3.2 MIT5530陣列感應(yīng)不同扶正器方案測試3.2 MIT5530陣列感應(yīng)不同扶正器對短陣列

6、影響 MIT5530測井影響因素: 溫度影響溫度影響 井眼影響井眼影響 趨膚效應(yīng)趨膚效應(yīng) 圍巖影響圍巖影響4.2 趨膚效應(yīng)影響趨膚效應(yīng)影響0.010.11101000.010.1110100地層電導(dǎo)率（S/m）視電導(dǎo)率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfL偏心度偏心度d dh h井眼直徑井眼直徑R RF FMudMudR RM M深度深度=0.25m, =0.25m, 分辨率分辨率=0.3m=0.3m深度深度=0.50m, =0.50m, 分辨率分辨率=0.6m=0.6m深

7、度深度=0.75m, =0.75m, 分辨率分辨率=1.2m=1.2m深度深度=1.5m, =1.5m, 分辨率分辨率=1.5m=1.5m深度深度=2.25, =2.25, 分辨率分辨率=1.8m=1.8m4.5 MIT5530預(yù)處理預(yù)處理4.6 MIT5530井眼校正井眼校正4.7 MIT5530合成處理合成處理4.8 MIT5530反演反演處理環(huán)節(jié)質(zhì)量控制處理環(huán)節(jié)質(zhì)量控制 處理環(huán)節(jié)質(zhì)量控制主要是判定處理過程中參數(shù)選取是否合適，井段的選擇應(yīng)以井眼相對規(guī)則的大段泥巖段作為判斷點，結(jié)合滲透層曲線進行綜合判斷；處理效果可以通過井眼校正曲線和真分辨率聚焦曲線來綜合判定。圖20（正演模擬無侵地層）合格

8、的處理效果 圖21（正演模擬無侵地層）過校正效果圖（正演模擬無侵地層）欠校正效果圖 （吉林紅井）合格的處理效果（吉林紅井）過欠校正處理效果 在井眼相對規(guī)則的大段泥巖段，合格的井眼校正曲線經(jīng)在井眼相對規(guī)則的大段泥巖段，合格的井眼校正曲線經(jīng)過真分辨率聚焦，其聚焦曲線關(guān)系應(yīng)與其分辨率關(guān)系相一致。過真分辨率聚焦，其聚焦曲線關(guān)系應(yīng)與其分辨率關(guān)系相一致。即合成淺探測曲線分辨率高，合成深探測分辨率低。在非滲即合成淺探測曲線分辨率高，合成深探測分辨率低。在非滲透層即出現(xiàn)短陣列在長陣列左右擺動的現(xiàn)象。這是由于其分透層即出現(xiàn)短陣列在長陣列左右擺動的現(xiàn)象。這是由于其分辨率差異導(dǎo)致。辨率差異導(dǎo)致。 井眼相對規(guī)則的大段泥巖段，井眼校正過校正或欠校井眼相對規(guī)則的大段泥巖段，井眼校正過校正或欠校正則在其合成曲線中會出現(xiàn)短陣列在長陣列左側(cè)或右側(cè)的現(xiàn)正則在其合成曲線中會出現(xiàn)短陣列在長陣列左側(cè)或右側(cè)的現(xiàn)象。此現(xiàn)象為校正不當，需要適當調(diào)整處理參數(shù)。象。此現(xiàn)象為校正不當，需要適當調(diào)整處理參數(shù)。 MIT5530匹配曲線關(guān)系：匹配曲線關(guān)系：MIT5530匹配曲線在在典型滲透層（低阻環(huán)帶除外）情況下應(yīng)滿足：當Rmf Rw 時： AX10=AX20=