第3部分：超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)課件

1、2022-6-30承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第第3 3部分：超聲檢測(cè)部分：超聲檢測(cè)山東省特種設(shè)備檢驗(yàn)研究院山東省特種設(shè)備檢驗(yàn)研究院淄博分院淄博分院劉鐵民劉鐵民20152015年年0404月月2022-6-30JB中中 華華 人人 民民 共共 和和 國(guó)國(guó) 行行 業(yè)業(yè) 標(biāo)標(biāo) 準(zhǔn)準(zhǔn)JB 4730.32005代替代替JB 47301994 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第第3部分：超聲檢測(cè)部分：超聲檢測(cè)Nondestructive testing of pressure equipmentsPart 3：UItrasonict testing2005-07-26發(fā)布發(fā)布 2005-11-01實(shí)

2、施實(shí)施 國(guó)家發(fā)展和改革委員會(huì)國(guó)家發(fā)展和改革委員會(huì) 發(fā)布發(fā)布2022-6-30目目 次次前言前言 1 1 范圍范圍 2 2 規(guī)范性引用文件規(guī)范性引用文件 3 3 一般要求一般要求 4 4 承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 5 5 承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)6 6 承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)和質(zhì)量分級(jí) 7 7 在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)8 8 超聲檢測(cè)報(bào)告超聲檢測(cè)報(bào)告2022-6-30附錄附錄

3、A A（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 雙晶直探頭性能要求雙晶直探頭性能要求附錄附錄B B（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 承壓設(shè)備用鋼板超聲橫波檢承壓設(shè)備用鋼板超聲橫波檢 測(cè)測(cè)附錄附錄C C（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲橫波承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲橫波 檢測(cè)檢測(cè)附錄附錄D D（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 承壓設(shè)備全熔化焊用高壓無(wú)承壓設(shè)備全熔化焊用高壓無(wú) 縫鋼管軸向橫波檢測(cè)縫鋼管軸向橫波檢測(cè)附錄附錄E E（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件斜承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件斜 探頭檢測(cè)探頭檢測(cè)附錄附錄F F（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 聲能傳輸損耗差的測(cè)定聲能傳輸損耗差的測(cè)定附錄

4、附錄G G（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 6mm6mm8mm8mm鋼制承壓設(shè)備對(duì)接鋼制承壓設(shè)備對(duì)接 焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分 級(jí)級(jí)附錄附錄H H（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 回波動(dòng)態(tài)波形回波動(dòng)態(tài)波形2022-6-30附錄附錄I I（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 缺陷測(cè)高方法（一）缺陷測(cè)高方法（一） 采用超聲端點(diǎn)衍射波法測(cè)定缺采用超聲端點(diǎn)衍射波法測(cè)定缺 陷自身高度陷自身高度附錄附錄J J（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 缺陷測(cè)高方法（二）缺陷測(cè)高方法（二） 采用端部最大回波法測(cè)定缺陷采用端部最大回波法測(cè)定缺陷 自身高度自身高度附錄附錄K K（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 缺陷測(cè)高方

5、法（三）缺陷測(cè)高方法（三） 采用采用6dB6dB法測(cè)定缺陷自身高度法測(cè)定缺陷自身高度附錄附錄L L（規(guī)范性附錄）（規(guī)范性附錄） 缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判附錄附錄M M（資料性附錄）（資料性附錄） 鈦制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超鈦制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超 聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)附錄附錄N N（資料性附錄）（資料性附錄） 奧氏體不銹鋼對(duì)接焊接接頭超奧氏體不銹鋼對(duì)接焊接接頭超 （計(jì)（計(jì)1414個(gè)個(gè)附錄附錄） 聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)2022-6-30前前 言言 JB/T 4730.1JB/T 4730.14730.6-20054730.6-2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)承

6、壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)分為六個(gè)部分：分為六個(gè)部分：第第1 1部分：通用要求；部分：通用要求；第第2 2部分：射線檢測(cè)；部分：射線檢測(cè)；第第3 3部分：超聲檢測(cè)；部分：超聲檢測(cè)；第第4 4部分：磁粉檢測(cè)；部分：磁粉檢測(cè)；第第5 5部分：滲透檢測(cè)；部分：滲透檢測(cè)；第第6 6部分：渦流檢測(cè)。部分：渦流檢測(cè)。本部分為本部分為JB/T 4730.1JB/T 4730.14730.6-20054730.6-2005的第的第3 3部分：部分：超聲檢測(cè)。本部分主要根據(jù)國(guó)內(nèi)多年的研究成果和超聲檢測(cè)。本部分主要根據(jù)國(guó)內(nèi)多年的研究成果和應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，參考應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，參考ASMEASME鍋爐壓力容器規(guī)范鍋爐壓力容器規(guī)范第第卷卷和和

7、JISJIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范以及行業(yè)反饋意見(jiàn)進(jìn)行修訂。本部分標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范以及行業(yè)反饋意見(jiàn)進(jìn)行修訂。本部分與與JB 47301994JB 47301994相比，主要變化如下：相比，主要變化如下： 2022-6-301. 1. 對(duì)壁厚小于對(duì)壁厚小于3 3倍近場(chǎng)區(qū)工件材質(zhì)衰減系數(shù)公倍近場(chǎng)區(qū)工件材質(zhì)衰減系數(shù)公式進(jìn)行修正；增加了奧氏體不銹鋼和雙相不銹式進(jìn)行修正；增加了奧氏體不銹鋼和雙相不銹鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材超鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材超聲檢測(cè)內(nèi)容；統(tǒng)一了爆炸和軋制復(fù)合鋼板超聲聲檢測(cè)內(nèi)容；統(tǒng)一了爆炸和軋制復(fù)合鋼板超聲檢測(cè)內(nèi)容。檢測(cè)內(nèi)容。2. 2. 將鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)范圍

8、將鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)范圍擴(kuò)大到擴(kuò)大到 6mm6mm400mm400mm，對(duì)對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)，對(duì)對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)試塊進(jìn)行了局部調(diào)整；增加了鋼制承壓設(shè)備對(duì)試塊進(jìn)行了局部調(diào)整；增加了鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)等級(jí)分類的內(nèi)容；增加了接焊接接頭超聲檢測(cè)等級(jí)分類的內(nèi)容；增加了T T型焊接接頭以及奧氏體不銹鋼承壓設(shè)備對(duì)接焊型焊接接頭以及奧氏體不銹鋼承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)內(nèi)容。接接頭的超聲檢測(cè)內(nèi)容。 2022-6-303. 3. 增加了壁厚大于或等于增加了壁厚大于或等于4mm4mm，外徑為，外徑為32mm32mm159mm159mm或壁厚為或壁厚為 4 mm4 mm6 mm

9、6 mm，外徑大于或等于，外徑大于或等于159mm159mm的鋼制承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)拥匿撝瞥袎涸O(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測(cè)內(nèi)容；增加了壁厚大于或等于接頭超聲檢測(cè)內(nèi)容；增加了壁厚大于或等于5mm5mm，外徑為外徑為80mm80mm159mm159mm或壁厚為或壁厚為5mm5mm8 mm8 mm，外徑，外徑大于或等于大于或等于159mm159mm的鋁及鋁合金環(huán)向?qū)雍附咏拥匿X及鋁合金環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)內(nèi)容。頭超聲檢測(cè)內(nèi)容。4. 4. 增加了在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)內(nèi)容。增加了在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)內(nèi)容。2022-6-30本部分附錄本部分附錄A A至附錄至附錄L L為規(guī)范性附錄

10、；附錄為規(guī)范性附錄；附錄M M、附、附錄錄N N為資料性附錄。為資料性附錄。本部分由全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)本部分由全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC262SAC/TC262）提出。）提出。本部分由全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)本部分由全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC262SAC/TC262）歸口。）歸口。本部分主要起草人：袁榕、姚志忠、康紀(jì)黔、閻本部分主要起草人：袁榕、姚志忠、康紀(jì)黔、閻長(zhǎng)周、蕭家偉、許遵言、潘榮寶、陳程玉。長(zhǎng)周、蕭家偉、許遵言、潘榮寶、陳程玉。2022-6-30承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第第2 2部分：超聲檢測(cè)部分：超聲檢測(cè) 1 1

11、 范圍范圍JB/T 4730JB/T 4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A A型脈沖型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測(cè)工件缺陷的超聲檢測(cè)方法反射式超聲波探傷儀檢測(cè)工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)要求。和質(zhì)量分級(jí)要求。本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。也可參照本部分使用。2022-6-302

12、 2 規(guī)范性引用文件規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)下列文件中的條款通過(guò)JB/T 4730JB/T 4730的本部分的引的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。用于本部分。2022-6-30

13、JB/T 4730.1 JB/T 4730.1 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第第1 1部分：部分：通用要求通用要求JB/T 79131995 JB/T 79131995 超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法制作與校驗(yàn)方法JB/T 92141999 AJB/T 92141999 A型脈沖反射式超聲波探傷系型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T 100611999 AJB/T 100611999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀型脈沖反射式超聲波探傷儀 通用技術(shù)條件通用技術(shù)條件JB/T 100621999 JB/T 100621999 超

14、聲探傷用探頭性能測(cè)試方法超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法JB/T 100631999 JB/T 100631999 超聲探傷用超聲探傷用1 1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊 技技術(shù)條件術(shù)條件 2022-6-303 3 一般要求一般要求3.1 3.1 超聲檢測(cè)人員超聲檢測(cè)人員 超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合JB/T 4730.1JB/T 4730.1的有的有關(guān)規(guī)定。關(guān)規(guī)定。2022-6-303.2 3.2 檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)設(shè)備3.2.1 3.2.1 超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。格的證明文件。3.2.2 3.2.2 探傷儀、探頭和

15、系統(tǒng)性能探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.2.1 3.2.2.1 探傷儀探傷儀采用采用A A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為為0.5MHz0.5MHz10MHz10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB80dB以上的連續(xù)以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB2dB，其精度為任意，其精度為任意相鄰相鄰 12dB12dB誤差在誤差在1dB1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB1dB。水平線性誤差不大

16、于。水平線性誤差不大于1%1%，垂直線性誤差不大于，垂直線性誤差不大于5%5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T 10061JB/T 10061的規(guī)定。的規(guī)定。2022-6-301. 1. 檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)設(shè)備 探傷儀探傷儀a a、頻率范圍改為：、頻率范圍改為：0.5MHZ0.5MHZ10MHZ,10MHZ,主要考慮粗晶主要考慮粗晶材料采用低頻，薄工件采用高頻。故頻率范圍擴(kuò)大材料采用低頻，薄工件采用高頻。故頻率范圍擴(kuò)大（原為（原為1 15MHZ5MHZ）。）。b b、熒光屏滿刻度的、熒光屏滿刻度的8080范圍內(nèi)呈線性顯示概念：表范圍內(nèi)呈線性顯示概念：表示利用試塊上產(chǎn)生幅度比為示利用試塊上產(chǎn)生

17、幅度比為2 2：1 1的兩個(gè)互不干擾信的兩個(gè)互不干擾信號(hào)，改變?cè)鲆?，在整個(gè)熒光屏范圍內(nèi)觀察兩回波比號(hào)，改變?cè)鲆妫谡麄€(gè)熒光屏范圍內(nèi)觀察兩回波比值的誤差變化，并使其限制在值的誤差變化，并使其限制在5 5范圍內(nèi)，由此得到范圍內(nèi)，由此得到的垂直極限范圍不小于熒光屏滿刻度的的垂直極限范圍不小于熒光屏滿刻度的8080，是動(dòng)，是動(dòng)態(tài)范圍和垂直線性的綜合反映。態(tài)范圍和垂直線性的綜合反映。2022-6-303.2.2.2 3.2.2.2 探頭探頭3.2.2.2.1 3.2.2.2.1 晶片面積一般不應(yīng)大于晶片面積一般不應(yīng)大于500mm500mm2 2，且，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于任一邊長(zhǎng)原則上不大于25mm25

18、mm。3.2.2.2.2 3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于大于2 2，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。2022-6-30 探頭探頭 對(duì)探頭面積，晶片任一邊長(zhǎng)、主聲束偏離角對(duì)探頭面積，晶片任一邊長(zhǎng)、主聲束偏離角及雙峰等主要參數(shù)作出規(guī)定。主要考慮對(duì)缺及雙峰等主要參數(shù)作出規(guī)定。主要考慮對(duì)缺陷定位和發(fā)現(xiàn)缺陷的能力等因素。陷定位和發(fā)現(xiàn)缺陷的能力等因素。2022-6-303.2.2.3 3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能3.2.2.3.1 3.2.2.3.1 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程

19、時(shí)，其在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB10dB。3.2.2.3.2 3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于不得大于10%10%。3.2.2.3.3 3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz5MHz的探頭，寬度不大于的探頭，寬度不大于10mm10mm；對(duì)于頻率為；對(duì)于頻率為2.5MHz2.5MHz的探頭，寬度不大于的探頭，寬度不大于15mm15mm。3.2.2.3.4 3.2.2.3

20、.4 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB30dB，斜，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB6dB。3.2.2.3.5 3.2.2.3.5 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T 9214JB/T 9214和和JB/T 10062JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。2022-6-30 探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能a a、始脈沖寬度在基準(zhǔn)靈敏度對(duì)不同頻率分頻測(cè)、始脈沖寬度在基準(zhǔn)靈敏度對(duì)不同頻率分頻測(cè)試。因同一頻率在不同靈敏度下及同一靈敏度對(duì)試。因同一頻率在不同靈敏度下及同一靈敏度對(duì)不同頻率探頭和儀器組合

21、后始脈沖寬度均不同。不同頻率探頭和儀器組合后始脈沖寬度均不同。b b、組合頻率誤差與公稱頻率誤差、組合頻率誤差與公稱頻率誤差1010 探頭與儀器組合后的實(shí)際頻率不等于探頭公稱探頭與儀器組合后的實(shí)際頻率不等于探頭公稱頻率，也不等于探頭本身頻率，必須實(shí)際測(cè)試，頻率，也不等于探頭本身頻率，必須實(shí)際測(cè)試，故作規(guī)定。故作規(guī)定。c c、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率可利用、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率可利用CSK-ACSK-A試塊測(cè)試。試塊測(cè)試。2022-6-30具體測(cè)試方法為：具體測(cè)試方法為： 直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力測(cè)試方法：直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力測(cè)試方法：將直探頭放將直探頭放在在CSK-ACSK-A試塊上探測(cè)深度分別為試塊上探測(cè)深度分別為85mm85

22、mm，91mm91mm和和100mm100mm底面反射，分別得到底面反射，分別得到A A、B B、C C三個(gè)回波，三個(gè)回波，移動(dòng)探頭，將移動(dòng)探頭，將A A波（波（85mm85mm）底面反射）和）底面反射）和B B波波（91mm91mm底面反射）或底面反射）或B B波和波和C C波（波（100mm100mm底面反底面反射）調(diào)到基準(zhǔn)波高（如射）調(diào)到基準(zhǔn)波高（如5050滿幅），然后調(diào)節(jié)衰滿幅），然后調(diào)節(jié)衰減器，使兩回波的波谷升至基準(zhǔn)波高（減器，使兩回波的波谷升至基準(zhǔn)波高（5050滿滿幅），此時(shí)衰減器減少的讀數(shù)必須幅），此時(shí)衰減器減少的讀數(shù)必須30dB30dB。 2022-6-30具體測(cè)試方法為：具體

23、測(cè)試方法為：斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力測(cè)試方法：斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力測(cè)試方法：將斜探頭放將斜探頭放在在CSK-ACSK-A試塊上，探測(cè)試塊上，探測(cè)50mm50mm，44mm44mm和和40mm340mm3個(gè)孔的外園弧面，分別得到個(gè)孔的外園弧面，分別得到A A波波（50mm50mm孔回波），孔回波），B B波（波（44mm44mm孔回波）孔回波）和和C C波（波（40mm40mm孔回波），移動(dòng)探頭，將孔回波），移動(dòng)探頭，將ABAB兩波或兩波或BCBC兩波調(diào)至基準(zhǔn)波高（如兩波調(diào)至基準(zhǔn)波高（如5050滿幅），滿幅），然后調(diào)節(jié)衰減器，使兩回波的波谷升至基準(zhǔn)波然后調(diào)節(jié)衰減器，使兩回波的波谷升至基準(zhǔn)波高（高（5050滿

24、幅），此時(shí)衰減器減少的讀數(shù)必須滿幅），此時(shí)衰減器減少的讀數(shù)必須6dB6dB。2022-6-303.3 3.3 超聲檢測(cè)一般方法超聲檢測(cè)一般方法3.3.1 3.3.1 檢測(cè)準(zhǔn)備檢測(cè)準(zhǔn)備3.3.1.1 3.3.1.1 承壓設(shè)備制造安裝和在用檢測(cè)中，超聲檢承壓設(shè)備制造安裝和在用檢測(cè)中，超聲檢測(cè)的時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)測(cè)的時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的的規(guī)定。技術(shù)文件的的規(guī)定。3.3.1.2 3.3.1.2 所確定的檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能所確定的檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。得到充分檢查。3.3.1.3 3.3.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)

25、合格。所有焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚?。?dāng)?shù)奶幚怼?022-6-302. 2. 檢測(cè)一般方法檢測(cè)一般方法 增加檢測(cè)時(shí)機(jī)和檢測(cè)率按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)增加檢測(cè)時(shí)機(jī)和檢測(cè)率按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)文件規(guī)定。文件規(guī)定。 對(duì)檢測(cè)面的確定，焊縫表面質(zhì)量，檢測(cè)表面要求對(duì)檢測(cè)面的確定，焊縫表面質(zhì)量，檢測(cè)表面要求提出了明確的要求。提

26、出了明確的要求。 規(guī)定掃查靈敏度不低于基準(zhǔn)靈敏度（不是原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定掃查靈敏度不低于基準(zhǔn)靈敏度（不是原標(biāo)準(zhǔn)比基準(zhǔn)靈敏度提高比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB6dB） 主要是儀器性能比以前提高的原因。主要是儀器性能比以前提高的原因。 將原標(biāo)準(zhǔn)偶合補(bǔ)償改為靈敏度補(bǔ)償，其內(nèi)容包括：將原標(biāo)準(zhǔn)偶合補(bǔ)償改為靈敏度補(bǔ)償，其內(nèi)容包括：偶合補(bǔ)償、衰減補(bǔ)償和曲面補(bǔ)償，這三方面均影響偶合補(bǔ)償、衰減補(bǔ)償和曲面補(bǔ)償，這三方面均影響靈敏度。靈敏度。2022-6-303.3.2 3.3.2 掃查覆蓋率掃查覆蓋率為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的域

27、，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%15%。3.3.3 3.3.3 探頭的移動(dòng)速度探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。裝置掃查時(shí)，不受此限。3.3.4 3.3.4 掃查靈敏度掃查靈敏度掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。3.3.5 3.3.5 耦合劑耦合劑應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。機(jī)油、漿糊、甘油和水等。2022-6-303.3.6 3.3.6 靈敏度補(bǔ)償靈敏度補(bǔ)償a

28、) a) 耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。b) b) 衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。c) c) 曲面補(bǔ)償。對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲曲面補(bǔ)償。對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。行曲率補(bǔ)償。2022-6-303.4 3.4 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核

29、3.4.1 3.4.1 一般要求一般要求校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。反射信號(hào)。3.4.2 3.4.2 儀器校準(zhǔn)儀器校準(zhǔn)每隔每隔3 3個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T 10061JB/T 10061的規(guī)定進(jìn)行。的規(guī)定進(jìn)行。 3.4.3 3.4.3 新購(gòu)探頭測(cè)定新購(gòu)探頭測(cè)定新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū)，新探頭使用前新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū)，新探

30、頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K K 值、主聲束偏離、靈敏度余量值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按JB/T 10062JB/T 10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。2022-6-303.4.4 3.4.4 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定3.4.4.1 3.4.4.1 使用儀器使用儀器- -斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、沿距離、K K 值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。和掃查靈敏度。3.4.4.2

31、3.4.4.2 使用儀器使用儀器- -直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。量程和掃查靈敏度。2022-6-303.4.5 3.4.5 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a) a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；改變時(shí)；b) b) 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；時(shí)；c) c) 連續(xù)工作連續(xù)

32、工作4h4h以上時(shí)；以上時(shí)；d) d) 工作結(jié)束時(shí)。工作結(jié)束時(shí)。2022-6-303.4.6 3.4.6 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a) a) 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10 10 % %，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。b) b) 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離一般對(duì)

33、距離- -波幅曲線的校核不應(yīng)少于波幅曲線的校核不應(yīng)少于3 3點(diǎn)。如曲線點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降上任何一點(diǎn)幅度下降 2dB2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升 2dB2dB，則應(yīng)，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。2022-6-303. 3. 校核與復(fù)核校核與復(fù)核 儀器校準(zhǔn)水平線性和垂直線性應(yīng)每?jī)x器校準(zhǔn)水平線性和垂直線性應(yīng)每3 3個(gè)月校準(zhǔn)個(gè)月校準(zhǔn)一次并作好記錄。一次并作好記錄。 規(guī)定新購(gòu)探頭使用前測(cè)試參數(shù)：前沿距離，規(guī)定新購(gòu)探頭使用前測(cè)試參數(shù)：前沿距離，K K值，主聲束偏離，靈敏度

34、余量和分辨力。值，主聲束偏離，靈敏度余量和分辨力。 明確規(guī)定探傷前測(cè)試項(xiàng)目（明確規(guī)定探傷前測(cè)試項(xiàng)目（3.4.43.4.4）和探傷過(guò)）和探傷過(guò)程（程（3.4.53.4.5）及探傷結(jié)束的復(fù)核要求（）及探傷結(jié)束的復(fù)核要求（3.4.63.4.6） 2022-6-303.4.7 3.4.7 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等）都應(yīng)儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等）都應(yīng)放在放在“關(guān)關(guān)”的位置或處于最低水平上。的位置或處于最低水平上。2022-6-303.5 3.5 試塊

35、試塊3.5.1 3.5.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊3.5.1.1 3.5.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，本部分采用的標(biāo)系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有：準(zhǔn)試塊有： a) a) 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBCB、CBCB； b) b) 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSCS、CSCS、CSCS； c) c) 焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-A CSK-A 、CSK-ACSK-A、CSK-ACSK-A、CSK-ACSK-A。2022-6-303.5.1.2 3.5.1.2 標(biāo)準(zhǔn)試

36、塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于得有大于或等于2mm2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。3.5.1.3 3.5.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門(mén)檢定合格。并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門(mén)檢定合格。3.5.1.4 3.5.1.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其它制造要求應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)試塊的其它制造要求應(yīng)符合JB/T JB/T 1006310063和和JB/T 79131995JB/T 79131995的規(guī)定。的規(guī)定。2022-6-

37、303.5.2 3.5.2 對(duì)比試塊對(duì)比試塊3.5.2.1 3.5.2.1 對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。3.5.2.2 3.5.2.2 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。3.5.2.3 3.5.2.3 對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本

38、部分的規(guī)定。合本部分的規(guī)定。 2022-6-304. 4. 試塊試塊 規(guī)定了標(biāo)準(zhǔn)試塊的型號(hào)規(guī)定了標(biāo)準(zhǔn)試塊的型號(hào) 將將 a) a) 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBCB、CBCB； b) b) 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSCS、CSCS、CSCS； c) c) 焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-A CSK-A 、CSK-CSK-AA、CSK-ACSK-A、CSK-ACSK-A。均規(guī)定為標(biāo)準(zhǔn)試塊。均規(guī)定為標(biāo)準(zhǔn)試塊。 規(guī)定了對(duì)比試塊的定義和制作要求。規(guī)定了對(duì)比試塊的定義和制作要求。2022-6-304 4 承壓設(shè)備用原材料、零部件的承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分

39、級(jí)超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)4.1 4.1 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)4.1.1 4.1.1 范圍范圍本條適用于板厚為本條適用于板厚為6mm6mm250mm250mm的碳素鋼、低合金鋼的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本章執(zhí)行。材的超聲檢測(cè)也可參照本章執(zhí)行。2022-6-30（二）（二） 原材料、零部件超聲檢測(cè)原材料、零部件超聲檢測(cè)1. 1. 鋼板超聲檢測(cè)：鋼板超聲檢測(cè)： 適用范圍增加了奧氏體鋼板，

40、鎳及鎳合金板適用范圍增加了奧氏體鋼板，鎳及鎳合金板及雙相不銹鋼板，因試驗(yàn)和實(shí)際應(yīng)用主要針對(duì)及雙相不銹鋼板，因試驗(yàn)和實(shí)際應(yīng)用主要針對(duì)50mm50mm以下；對(duì)以下；對(duì)50mm50mm以上厚度大的此類鋼板，以上厚度大的此類鋼板，因晶粒粗大，各向異性較復(fù)雜，對(duì)檢測(cè)的影響還因晶粒粗大，各向異性較復(fù)雜，對(duì)檢測(cè)的影響還不完全清楚，故規(guī)定參照?qǐng)?zhí)行。不完全清楚，故規(guī)定參照?qǐng)?zhí)行。2022-6-304.1.2 4.1.2 探頭選用探頭選用4.1.2.1 4.1.2.1 探頭的選用應(yīng)按表探頭的選用應(yīng)按表1 1的規(guī)定進(jìn)行的規(guī)定進(jìn)行 4.1.2.2 4.1.2.2 雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄A A（

41、規(guī)范性附（規(guī)范性附錄）的要求。錄）的要求。2022-6-30 探頭選用明確規(guī)定：探頭選用明確規(guī)定： 不同板厚選用的型式，頻率和晶片尺寸（見(jiàn)表不同板厚選用的型式，頻率和晶片尺寸（見(jiàn)表1 1），）， 主要是因?yàn)椋簽榱说玫綑z測(cè)結(jié)果的一致性，因主要是因?yàn)椋簽榱说玫綑z測(cè)結(jié)果的一致性，因不同頻率不同型式的探頭對(duì)不同板厚中同一大小缺不同頻率不同型式的探頭對(duì)不同板厚中同一大小缺陷，可能會(huì)出現(xiàn)不同指示長(zhǎng)度或指示面積的數(shù)值。陷，可能會(huì)出現(xiàn)不同指示長(zhǎng)度或指示面積的數(shù)值。避免用戶和供方意見(jiàn)不一致。避免用戶和供方意見(jiàn)不一致。2022-6-304.1.3 4.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊4.1.3.1 4.1.3.1 用雙晶

42、直探頭檢測(cè)厚度不大于用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm20mm的鋼板的鋼板時(shí)，采用如圖時(shí)，采用如圖1 1所示的所示的CBCB標(biāo)準(zhǔn)試塊。標(biāo)準(zhǔn)試塊。2022-6-304.1.3.24.1.3.2 用單直用單直探頭檢測(cè)厚度大探頭檢測(cè)厚度大于于20mm20mm的鋼板時(shí)，的鋼板時(shí)，CBCB標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖符合圖 2 2和表和表2 2 的規(guī)定。試塊厚的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。如經(jīng)厚度相近。如經(jīng)合同雙方同意，合同雙方同意，也可采用雙晶直也可采用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。探頭進(jìn)行檢測(cè)。2022-6-30 表表2 CB2 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊 mm2022-6-304.1.4 4.

43、1.4 基準(zhǔn)靈敏度基準(zhǔn)靈敏度4.1.4.1 4.1.4.1 板厚不大于板厚不大于20mm20mm時(shí)，用時(shí)，用CBCB試塊將工件等試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%50%，再提高，再提高10dB10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。作為基準(zhǔn)靈敏度。4.1.4.2 4.1.4.2 板厚大于板厚大于20mm20mm時(shí)，應(yīng)將時(shí)，應(yīng)將CBCB試塊試塊 5 5平底平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%50%作為基準(zhǔn)靈敏作為基準(zhǔn)靈敏度。度。4.1.4.3 4.1.4.3 板厚不小于探頭的板厚不小于探頭的3 3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，

44、也可取鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與其結(jié)果應(yīng)與4.1.4.24.1.4.2的要求相一致。的要求相一致。2022-6-30 基準(zhǔn)靈敏度基準(zhǔn)靈敏度 20mm 20mm時(shí)用雙晶直探頭時(shí)用雙晶直探頭CBCB試塊校正靈敏試塊校正靈敏度，主要是因?yàn)殡p晶直探頭直徑小，盲區(qū)小，只有度，主要是因?yàn)殡p晶直探頭直徑小，盲區(qū)小，只有3mm3mm4mm4mm。 20mm20mm時(shí)用單晶直探頭在時(shí)用單晶直探頭在CBCB試塊試塊55平平底孔試塊上校正，由于底孔試塊上校正，由于CB CB 試塊上試塊上 5 5平底孔到平底孔到檢測(cè)距離固定，標(biāo)準(zhǔn)中表檢測(cè)距離固定

45、，標(biāo)準(zhǔn)中表 2 2規(guī)定選用試塊是利用某規(guī)定選用試塊是利用某一深度的平均靈敏度檢測(cè)，操作和對(duì)比比較方便準(zhǔn)一深度的平均靈敏度檢測(cè)，操作和對(duì)比比較方便準(zhǔn)確，但是會(huì)造成靠近檢測(cè)面一側(cè)驗(yàn)收偏嚴(yán)，在遠(yuǎn)離確，但是會(huì)造成靠近檢測(cè)面一側(cè)驗(yàn)收偏嚴(yán)，在遠(yuǎn)離檢測(cè)面的另一側(cè)靈敏度偏低，驗(yàn)收偏松的現(xiàn)象。檢測(cè)面的另一側(cè)靈敏度偏低，驗(yàn)收偏松的現(xiàn)象。 用鋼板第一次底波校準(zhǔn)靈敏度規(guī)定適用于用鋼板第一次底波校準(zhǔn)靈敏度規(guī)定適用于3N3N，這是為獲得穩(wěn)定的底波，更為合適。，這是為獲得穩(wěn)定的底波，更為合適。2022-6-304.1.5 4.1.5 檢測(cè)方法檢測(cè)方法4.1.5.1 4.1.5.1 檢測(cè)面檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)

46、。若檢測(cè)人員認(rèn)可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。4.1.5.2 4.1.5.2 耦合方式耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。2022-6-304.1.5.3 4.1.5.3 掃查方式掃查方式 a) a) 探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm50mm（當(dāng)板厚超過(guò)（當(dāng)板厚超過(guò)1

47、00mm100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作應(yīng)作100%100%掃查，掃查示意圖見(jiàn)圖掃查，掃查示意圖見(jiàn)圖3 3； b) b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其它形式的掃查?？刹捎闷渌问降膾卟椤?2022-6-30圖圖3 3 探頭掃查示意圖探頭掃查示意圖2022-6-304.1.6 4.1.6 缺陷的測(cè)定與記錄缺陷的測(cè)定與記錄4.1.6.1 4.1.6.1 在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：作為缺陷： a) a) 缺陷第一次反射波（缺陷第一次反射波（F1F1）波高大于或等于

48、滿刻）波高大于或等于滿刻度的度的50%50%，即，即F150%F150%； b) b) 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎó?dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1B1）波高未達(dá)到滿刻度，）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1F1）波高與底面第一次）波高與底面第一次反射波（反射波（B1B1）波高之比大于或等于）波高之比大于或等于50%50%，即，即B1100%B1100%，而而F1/B150%F1/B150%； c) c) 底面第一次反射波（底面第一次反射波（B1B1）波高低于滿刻度的）波高低于滿刻度的50%50%，即，即B1B150%50%。2022-6-304.1.6.2 4.1.6.2

49、 缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法 a) a) 檢出缺陷后，應(yīng)在它的周?chē)^續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以檢出缺陷后，應(yīng)在它的周?chē)^續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的延伸。確定缺陷的延伸。 b) b) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為之比為50%50%。此時(shí)，探頭中

50、心的移動(dòng)距離即為缺陷的。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。2022-6-30 c) c) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的條件下熒光屏滿刻度的25%25%或使缺陷第一次反射波與底或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為面第一次反射波高之比為50%50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)。此時(shí)，探頭

51、中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 d) d) 確定確定4.1.6.1 c4.1.6.1 c）中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度）中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的反射波升高到熒光屏滿刻度的50%50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。界點(diǎn)。e) e)

52、當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。波來(lái)校準(zhǔn)。2022-6-304.1.7 4.1.7 缺陷的評(píng)定方法缺陷的評(píng)定方法4.1.7.1 4.1.7.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm40mm時(shí)，可不作記錄。時(shí)，可不作記錄。4.1.7.2 4.1.7.2 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則單個(gè)缺陷

53、指示面積的評(píng)定規(guī)則 a) a) 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。示面積。b) b) 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm100mm或間距小于相鄰或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。c c） 指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見(jiàn)表指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見(jiàn)表3 3。2022-6-30表表3 3 鋼板質(zhì)量分級(jí)鋼板質(zhì)量分級(jí)2022-6-30 4.1.7.3 4.1.7.3 缺陷面積百分比的評(píng)定規(guī)則缺陷面積百分比的評(píng)定

54、規(guī)則在任一在任一1m1m1m1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。如鋼板面積小于來(lái)確定。如鋼板面積小于1m1m1m1m，可按比例折算。，可按比例折算。4.1.8 4.1.8 鋼板質(zhì)量分級(jí)鋼板質(zhì)量分級(jí)4.1.8.1 4.1.8.1 鋼板質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表鋼板質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表3 3。4.1.8.2 4.1.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm50mm（板厚大于（板厚大于100mm100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于等于50mm50mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為時(shí)，應(yīng)評(píng)為級(jí)。級(jí)。4.1.8.3 4.

55、1.8.3 在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為級(jí)。級(jí)。4.1.9 4.1.9 橫波檢測(cè)橫波檢測(cè)4.1.9.1 4.1.9.1 在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用橫波檢測(cè)。術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用橫波檢測(cè)。4.1.9.2 4.1.9.2 鋼板橫波檢測(cè)見(jiàn)附錄鋼板橫波檢測(cè)見(jiàn)附錄B B（規(guī)范性附錄）。（規(guī)范性附錄）。 2022-6-30 增加了耦合方式的規(guī)定。增加了耦合方式的規(guī)定。 當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次當(dāng)板厚較薄

56、，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)第二次反底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)，其原因是考慮到多次疊加效應(yīng)的影響。射波來(lái)校準(zhǔn)，其原因是考慮到多次疊加效應(yīng)的影響。 關(guān)于單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)的規(guī)定關(guān)于單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)的規(guī)定 表表3 3規(guī)定了不計(jì)單個(gè)缺陷指示面積的數(shù)值，主要規(guī)定了不計(jì)單個(gè)缺陷指示面積的數(shù)值，主要針對(duì)鋼板中小分層缺陷，因小分層缺陷對(duì)鋼板強(qiáng)度針對(duì)鋼板中小分層缺陷，因小分層缺陷對(duì)鋼板強(qiáng)度影響不大，且產(chǎn)生較大數(shù)量小分層缺陷的幾率也比影響不大，且產(chǎn)生較大數(shù)量小分層缺陷的幾率也比較低，為統(tǒng)一評(píng)定，故規(guī)定進(jìn)行缺陷相加計(jì)算面積較低，為統(tǒng)一評(píng)定，故

57、規(guī)定進(jìn)行缺陷相加計(jì)算面積百分比時(shí)，一律不考慮。百分比時(shí)，一律不考慮。 但對(duì)非金屬氧化物夾雜物類缺陷應(yīng)注意，實(shí)際但對(duì)非金屬氧化物夾雜物類缺陷應(yīng)注意，實(shí)際評(píng)定時(shí)不應(yīng)簡(jiǎn)單不計(jì)。評(píng)定時(shí)不應(yīng)簡(jiǎn)單不計(jì)。2022-6-30 鋼板橫波檢測(cè)鋼板橫波檢測(cè)厚鋼板在軋制成型過(guò)程中，由于軋制能力或軋制比厚鋼板在軋制成型過(guò)程中，由于軋制能力或軋制比不夠，則可能產(chǎn)生與檢測(cè)表面成一定角度的缺陷，不夠，則可能產(chǎn)生與檢測(cè)表面成一定角度的缺陷，這種缺陷比平行于檢測(cè)面的夾層類缺陷具有更大的這種缺陷比平行于檢測(cè)面的夾層類缺陷具有更大的危險(xiǎn)性，對(duì)受壓部件用鋼板，檢測(cè)這類缺陷更為重危險(xiǎn)性，對(duì)受壓部件用鋼板，檢測(cè)這類缺陷更為重要，因此本標(biāo)準(zhǔn)

58、規(guī)定了采用橫波檢測(cè)的要求，可由要，因此本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用橫波檢測(cè)的要求，可由供需雙方協(xié)商或按技術(shù)文件要求進(jìn)行橫波檢測(cè)。橫供需雙方協(xié)商或按技術(shù)文件要求進(jìn)行橫波檢測(cè)。橫波檢測(cè)方法按附錄波檢測(cè)方法按附錄B B規(guī)定進(jìn)行。規(guī)定進(jìn)行。 鋼板的質(zhì)量分級(jí)鋼板的質(zhì)量分級(jí)表表3 3中中、級(jí)適用于受壓件鋼板，級(jí)適用于受壓件鋼板，級(jí)適用于級(jí)適用于支承件和結(jié)構(gòu)件的制造和安裝。支承件和結(jié)構(gòu)件的制造和安裝。級(jí)為發(fā)現(xiàn)白點(diǎn)、級(jí)為發(fā)現(xiàn)白點(diǎn)、裂紋類危險(xiǎn)性缺陷及其他缺陷超過(guò)裂紋類危險(xiǎn)性缺陷及其他缺陷超過(guò)者，均為不合者，均為不合格。格。2022-6-30鋼板超聲波探傷應(yīng)掌握的要點(diǎn)：鋼板超聲波探傷應(yīng)掌握的要點(diǎn)： a. a. 對(duì)奧氏體鋼板材

59、、鎳及鎳合金板材及雙相不銹鋼對(duì)奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材及雙相不銹鋼板材可采用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的常規(guī)檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)，但板材可采用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的常規(guī)檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)，但主要是針對(duì)板厚在主要是針對(duì)板厚在50mm50mm以下的板材。以下的板材。 b. b. 檢測(cè)用探頭一定要按照表檢測(cè)用探頭一定要按照表1 1規(guī)定要求選用。規(guī)定要求選用。 c. c. 鋼板檢測(cè)缺陷波按鋼板檢測(cè)缺陷波按4.1.6.14.1.6.1規(guī)定確定，缺陷測(cè)定方法規(guī)定確定，缺陷測(cè)定方法按按4.1.6.24.1.6.2規(guī)定執(zhí)行。規(guī)定執(zhí)行。 d. d. 對(duì)缺陷測(cè)定時(shí)，只測(cè)缺陷指示長(zhǎng)度，指示面積，不對(duì)缺陷測(cè)定時(shí)，只測(cè)缺陷指示長(zhǎng)度，指示面積，不測(cè)

60、缺陷當(dāng)量。測(cè)缺陷當(dāng)量。 e. e. 應(yīng)重視坡口預(yù)定線兩側(cè)各應(yīng)重視坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm50mm（板厚大于（板厚大于100mm100mm時(shí)，以板厚一半為準(zhǔn)）范圍內(nèi)的缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，以板厚一半為準(zhǔn)）范圍內(nèi)的缺陷指示長(zhǎng)度50mm50mm時(shí)均應(yīng)評(píng)為時(shí)均應(yīng)評(píng)為級(jí)。級(jí)。 f. f. 是否需要作橫波檢測(cè)，應(yīng)根據(jù)對(duì)直探頭檢測(cè)發(fā)現(xiàn)的是否需要作橫波檢測(cè)，應(yīng)根據(jù)對(duì)直探頭檢測(cè)發(fā)現(xiàn)的缺陷有疑問(wèn)，或由雙方技術(shù)協(xié)議規(guī)定做出決定缺陷有疑問(wèn)，或由雙方技術(shù)協(xié)議規(guī)定做出決定 2022-6-304.2 4.2 承壓設(shè)備用鋼鍛件承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 4.2.1 4.2.1 范圍范圍 本條適用于承壓設(shè)備