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文檔簡介

1、2022/7/131統(tǒng)計制程控制SPC-進階篇.2022/7/13課程內(nèi)容SPC 的根本觀念制程才干(CPK)分析直方圖控制圖及其叛讀 XR,XS,P,nP,C,UMinitab 繪制 CPK, XR,XS,P,nP,C,U.2022/7/13課程內(nèi)容SPC 的根本觀念制程才干(CPk)分析直方圖控制圖及其叛讀 XR,XS,P,nP,C,UMinitab 繪制 CPk, XR,XS,P,nP,C,U下面講解此部分.2022/7/13產(chǎn)質量量管理的六個根本觀念沒有兩件事情是完全相像即使雙胞胎兄弟產(chǎn)品或制程的變異是可以衡量事情的改動是根據(jù)一定的方式量測同類型的產(chǎn)品大多數(shù)的量測群會集中出如今中央附近

2、產(chǎn)品的制程,會決議其分配的曲線外形非機遇緣由的變異會扭曲常態(tài)分配的傾向.2022/7/13統(tǒng)計品管開展(SQC) 1939年,戴明(Edwards Deming)與休華特(Walter Shewhart)合著一本“由統(tǒng)計出發(fā)的質量控制(Statistic Method from the Viewpoint of Quality Control),強調(diào)質量是制造出來的,而非檢驗出來的,主張將簡單而且單刀直入的統(tǒng)計方法運用在制程之中,才是預防質量滑落的最好方法,并能節(jié)省大量檢驗本錢,達成質量的目的。.2022/7/13SPCStatistic Process Control的功用經(jīng)由上線前(off

3、 line)及制程中(on line)去搜集資料,透過統(tǒng)計分析或控制圖,加以分析中開掘制程的異常,并經(jīng)由問題分析,以找異常緣由立刻采取改善措施,使制程恢復正常。并透過制程才干解析與規(guī)范化,不斷提升制程才干。.2022/7/137統(tǒng)計制程控制SPC 制程設備環(huán)境人員資料消費參數(shù)產(chǎn)品母群體N樣本nnn統(tǒng)計處置feedback1.制程評價2.預測監(jiān)控 采取行動Statistics Process Control量產(chǎn)試作繼續(xù)改善線外 Off line在線On line.2022/7/13統(tǒng)計名詞定義:質量特性(Quality Characteristic):制程或產(chǎn)品所展現(xiàn)出的結果, (產(chǎn)品工程師or

4、制程工程師設計的目的)計量特性:管理者或工程人員可以進展量化描畫,有其客觀的科學的量度與評價來描畫或判別質量特性。屬于物理量、化學量、幾何特性,其資料表現(xiàn)方式為延續(xù)值-延續(xù)型隨機變量計數(shù)特性:管理者或工程人員較難進展量化描畫,僅僅用五官來描畫或判別質量特性。用較為客觀認定區(qū)分好壞、良不良或程度等級,其資料表現(xiàn)方式為非延續(xù)值-離散型隨機變量制程參數(shù)(條件) (Parameter):構成制程且直接影響制程結果(質量特性 )的條件,Men、Material、Method、Machine、 Environment .2022/7/139規(guī)格(Specification):制程或產(chǎn)品設計者所設定質量特性

5、的范圍或該制程或產(chǎn)品之國家或國際性所規(guī)定的范圍值。質量變異Variation:各產(chǎn)品間之差別,來自于制程條件無 法100%的一致性。平均值(Average):群體(or 樣本)量測之之平均值規(guī)范差(Standard deviation):衡量產(chǎn)品變異分布之程度之一種數(shù)據(jù),定量描畫的方法,以表示全距(Range):表示一群體全部數(shù)據(jù)的組內(nèi)變動范圍。母體(Population):研討者所思索的某種特性之全體集合樣本(Sample):母體所選出的一個部份集合抽樣(Sampling):自母體抽出樣本的過程與統(tǒng)計技術.2022/7/13-168.2695.451 23 -3 -2u99.73常態(tài)分配u:

6、常態(tài)分配的中 心值-mean:常態(tài)分配的規(guī)范差-Standard Deviation2:常態(tài)分配的變異-Variance.2022/7/13時間可預測假設制程中只需共同緣由之變異存在,那么其廢品將構成一個很穩(wěn)定的分布,而且是可預測結果。.2022/7/13重要特征:常態(tài)曲線左右兩尾端和橫軸漸漸接近,但不會相交。以u為中心成對稱分布。常態(tài)分配有兩個反曲點( Point of Inflection )分別在橫軸的一個規(guī)范偏向的位置。由于其左右對稱,曲線與橫軸所圍的面積為1。閱歷法那么:當分配形狀接近為鐘型分配時在正負一個規(guī)范差內(nèi)約占全部數(shù)值之68.26%在正負二個規(guī)范差內(nèi)約占全部數(shù)值之95.45%

7、在正負三個規(guī)范差內(nèi)約占全部數(shù)值之99.73%.2022/7/13變異為使變異的表示簡化,通常分成共同緣由的變異機遇性緣由-Chance cause or system cause ,及特殊緣由的變異非機遇性緣由-Assignable cause or special cause 。共同緣由:制程中緣由,其所呵斥的分配與時間的關系是穩(wěn)定而可反復、可預測,如制程中之變異僅由普通緣由所呵斥,那么稱此制程是在統(tǒng)計的控制形狀中,因其產(chǎn)品之特性有固定的分配。特殊緣由:制程中不常發(fā)生但呵斥制程的變異,其所呵斥的分配與時間的關系不穩(wěn)定且無法預期,故稱制程變異是不在統(tǒng)計的控制形狀下,因其產(chǎn)品之特性沒有固定的分配

8、。.2022/7/13難預測假設制程中有特殊緣由之變異存在,那么其廢品將構成不穩(wěn)定的分布,而且無法預測結果。.2022/7/13問題與對策特殊緣由的變異可由統(tǒng)計分析控制圖發(fā)現(xiàn),這些變異的緣由可由現(xiàn)場人員從4M1E直接改善,普通稱之為部分問題之對策,大約可以處理15制程之問題;共同緣由的變異可由制程才干分析發(fā)現(xiàn),但改善的任務那么須由管理者及技術者共同來改善,普通稱之為系統(tǒng)改善,大約85 是屬于此類。統(tǒng)計制程控制的目的:參數(shù)設計減少共同變異,提升Cpk;運用控制圖偵測特殊緣由發(fā)生的景象,立刻反響現(xiàn)場進展改善。.2022/7/13.2022/7/1317.2022/7/13建立統(tǒng)計制程控制的方式1.

9、確立制造流程-繪制流程圖、制定質量方案管理什么-what;為何要管理-why2.決議控制工程-A、S項QC工程表3.實施規(guī)范化-SOP(Standard Operation Procedure)、SIP(Standard Inspection Procedure )4.制程才干分析-良率、Ca、Cp、Cpk5.控制圖運用-SPC的根本工具6.問題分析與對策-共同緣由、特殊緣由7.制程繼續(xù)控制.2022/7/131.確立制造流程2.決議控制工程3.實施規(guī)范化4.制程才干調(diào)查6.問題分析與處理5.控制圖的運用 6.問題分析與處理7.制程繼續(xù)控制制程條件變動時特殊緣由共同緣由.2022/7/13 w

10、orkshop1判別制程能否良好.2022/7/13為了調(diào)查SiO2之薄膜制程質量形狀,因此每天搜集5片,量測膜厚結果如下。規(guī)格是u30.500.05,試討論如何表現(xiàn)其制程的質量才干?制程穩(wěn)不穩(wěn)定? .2022/7/13制程質量調(diào)查的方式數(shù)值法 以Ca、Cp、Pp、 Ppk 、Cpk、不 良率表示圖示法 主要以直方圖、控制圖表示.2022/7/13課程內(nèi)容SPC 的根本觀念制程才干(CPk)分析直方圖控制圖及其叛讀 XR,XS,P,nP,C,UMinitab 繪制 CPk, XR,XS,P,nP,C,U下面講解此部分.2022/7/13一制程才干的根本概念1、制程才干 a.對于穩(wěn)定之制程所持有

11、之特定成果,可以 合理達成之才干界限 b.一個制程在固定的消費要素及在穩(wěn)定 控制下的質量才干.2022/7/132、研討目的 經(jīng)過統(tǒng)計方法包括控制圖、直方圖、次數(shù)分配等手法,設法減少制程中的變異,或能調(diào)整制程,使制程才干符合要求(或Spec.).2022/7/133、制程才干評價必需固定之要素 質量、設計、原資料、機器設備、作業(yè)方法或技藝、檢驗設備、檢驗 方法.2022/7/134制程才干分析的用途 a.提供資料以便產(chǎn)品的設計; b.驗收一項全新或經(jīng)過維修之設備 ; c.選擇正確的原資料操作人員或作 業(yè)方法; d.調(diào)整各消費要素選擇最正確組合; e.尋求最經(jīng)濟之消費.2022/7/135、制程

12、才干分析的普通步驟 a明確要調(diào)查的質量特性與調(diào)查范 圍并搜集數(shù)據(jù); b確定制程處于穩(wěn)定的形狀; c計算制程才干指數(shù); d判別制程才干能否足夠如不夠時 那么加以改善.2022/7/136、制程才干評價 a.平均數(shù)( X )代表集中趨勢; b.規(guī)范差代表離中趨勢; c.超出規(guī)格的不良率 P; d.集中趨勢與離中趨勢之綜合指 數(shù)(CPK).2022/7/137、留意點 制程才干評價是一個粗略方法由于 (1).抽樣存在誤差; (2).沒有一個制程可以做到100統(tǒng)計控制; (3).沒有任何制品批為完全是常態(tài)分配.2022/7/131Ca-Capability of accuracy 定義: 準確度整體衡

13、量制程之平均值與規(guī)格中心值之一致性 二Ca,Cp,CPK解釋.2022/7/13 =2(X-)*100%/T (T=USL-LSL) X=(x1+x2+x3xn)/n 為規(guī)格中心值 USL,LSL為規(guī)格上下限Ca=*100規(guī)格公差的一半 (制程平均值-規(guī)格中心值.2022/7/13() X2X2-UT2=100%T2=100%T=公差規(guī)格下限規(guī)格上限X1X2Ca值之圖解.2022/7/13意義實踐中心值與規(guī)格中心值之差距占 T/2線段之百分率 *單邊規(guī)格無規(guī)格中心值所以不能計算Ca值.Ca值越小表示偏離規(guī)格值越少準確 度越好.2022/7/1335等級斷定Ca值大致可分為5級等級Ca值改進措施

14、ACa6.25%繼續(xù)保持B6.25%Ca12.5%改進到A級C12.5%Ca25%立即改進D25%Ca50%必要時停止生產(chǎn)E50%Cp1.33改進到A級C1.33Cp1.00立即改進D1.00Cp0.67必要時停止生產(chǎn)E0.67Cp必要時停止生產(chǎn).2022/7/13制程精細度Cp Capability of Precision:衡量規(guī)格公差范圍與制程變異寬度相差程度Cp值愈大質量愈佳00.671.001.331.672.00DCBAA降低本錢維持現(xiàn)狀改良為A全檢,改善緊急對策,進展改善,檢討規(guī)格.2022/7/13Ca過高大致緣由 1機臺零件刀具磨損; 2機臺維修后未矯正; 3未依O/I作業(yè);

15、 4原料變卦; 5操作人員看錯規(guī)格.2022/7/13Cp偏低大致緣由 1作業(yè)員熟練度不夠,呵斥變異過大; 2機臺零件缺點; 3任務環(huán)境變異過大.2022/7/13Ca大Cp小;不良高規(guī)格下限規(guī)格上限() X2不良部分不良部分.2022/7/13Ca小Cp小,須增大Cp,不良方可降低 X2.2022/7/13X2Cp大但由于Ca太大導致不良高,降低Ca調(diào)整中心值,較易改善.2022/7/13Ca=0,Cp1;良率 99.73%.2022/7/13Cp與Ca圖解準確不精細準確又精細不準確也不精細不準確但精細.2022/7/133、CPK-Capability of process 制程才干指數(shù)

16、CPK能同時衡量制程中的準確度和精細度 CA&CP合并評價CPK=( 1- |Ca| )*Cp雙邊規(guī)格 或CPK以CP值計單邊規(guī)格.2022/7/13超越控制界限的機率 母體均數(shù)規(guī)格下限規(guī)格上限XC p k 值之意義圖解.2022/7/13 CPK越大表示制程才干好; Ca小Cp小那么變異大有不良出現(xiàn); Ca大Cp高那么制程中心不良不良 率會提高.2022/7/1352CPK等級斷定 CPK與Ca一樣分為5級等級CPK值改進措施A167CPK繼續(xù)保持B133CPK167改進到A級C0.67CPK133立即改進D033CPK0.67必要時停止生產(chǎn)ECPK033停止生產(chǎn).2022/7/13534、

17、CPK實例演習124 123 104 102 102 119 124 108 111 104 111 121 108 108 101 132 117 124 129 108 122 104 122 127 114 123 127 102 130 121 126 117 123 126 126 125 113 112 120 114 101 98 122 115 91 136 108 120 124 107 106 115 115 117 101 98 110 106 108 100 100 100 105 97 Usl=120 Lsl=90.2022/7/13課程內(nèi)容SPC 的根本觀念制程才干

18、(CPk)分析直方圖控制圖及其叛讀 XR,XS,P,nP,C,UMinitab 繪制 CPk, XR,XS,P,nP,C,U下面講解此部分.2022/7/13P55次數(shù)直方圖次數(shù)直方圖普通又稱直方圖,它通常用于:其平均值能否在中央判別數(shù)據(jù)能否為鐘形曲線制程才干能否符合規(guī)定直方圖適宜用于做制程后的分析,不適宜作為監(jiān)控正在消費的產(chǎn)品。.次數(shù)直方圖找全部中最大及最小值:找出一切數(shù)據(jù)之最大、最小,并標注符號.57計算各組出現(xiàn)之個數(shù):各組出現(xiàn)之個數(shù)其結果如下:次數(shù)直方圖 各組的組距、組中點與組界及次數(shù) 組距 組中點 組界 次數(shù)0.390.42 0.405 0.3950.42540.420.45 0.43

19、5 0.4250.455 100.450.48 0.465 0.4550.485 120.480.51 0.495 0.4850.515 80.510.54 0.525 0.5150.545 30.540.57 0.555 0.5450.575 80.570.60 0.585 0.5750.605 5.2022/7/1358繪制次數(shù)直方圖的本卷須知:數(shù)據(jù)數(shù)量最好在50個以上運用等寬的組距區(qū)間,不等寬的組距將呵斥視覺上的差別,因此盡能夠采用等寬的組距。組距不要采用開放式,開放式常會令人無法得知其界限究竟為多少。組距不可太少或太多。不要運用跳蛙式坐標的繪圖,在某個數(shù)據(jù)組中,由于個數(shù)過多常看到此一繪

20、圖方式,建議發(fā)生此一情形可改用對數(shù)坐標或再次審核數(shù)據(jù)。不要將多個數(shù)據(jù)信息放在一張圖表上,如此將呵斥閱讀上的困難。.2022/7/13594、直方圖實例演習124 123 104 102 102 119 124 108 111 104 111 121 108 108 101 132 117 124 129 108 122 104 122 127 114 123 127 102 130 121 126 117 123 126 126 125 113 112 120 114 101 98 122 115 91 136 108 120 124 107 106 115 115 117 101 98 11

21、0 106 108 100 100 100 105 97 Usl=120 Lsl=90.2022/7/13求解步驟 1.求極差R9145 2.決議組數(shù)K13.32log64=6.99取7 3.求組距HR/K=45/7取8常取2、5、10的倍數(shù) 4求各組上下限依由小而大 第一組下限最小值-最小丈量單位/2整數(shù)取0.1 91-0.05= 90.95 小數(shù)1位取0.1 第組上限第一組下限組距 小數(shù)2位取0.01 90.95898.95最小數(shù)應在第一組內(nèi)最大數(shù)應在第二組內(nèi)假設有數(shù)據(jù)小于最小組下限或大于最大組上限應自動加一組.2022/7/135、組中點(該組上限該組下限)/2組號組界組中點組中點組中點

22、190.95090.95290.9598.95498.95398.95106.9515106.954106.95114.9522114.955114.95122.9521122.956122.95130.952130.957130.95138.950138.958138.95146.950.2022/7/13.2022/7/13確保制程才干的方法-SPC維持制程才干的方法產(chǎn)品及制程系統(tǒng)維持:監(jiān)控人員、機械設備、資料、制程條件及環(huán)境管理工具:、8D改善、QCC、QIT.2022/7/13課程內(nèi)容SPC 的根本觀念制程才干(CPk)分析直方圖控制圖及其叛讀 XR,XS,P,nP,C,UMinita

23、b 繪制 CPk, XR,XS,P,nP,C,U下面講解此部分.2022/7/13控制圖的由來控制圖是由1924年休華特博士Dr.W.A.Shewhart,在研討產(chǎn)質量量特性之次數(shù)分配時所發(fā)現(xiàn)。正常的工程所消費出來產(chǎn)品之質量特性,其分配大都成常態(tài)分配,會超出三個規(guī)范差3的產(chǎn)品只需0.27。根據(jù)此原理,將常態(tài)曲線圖旋轉90度,在三個規(guī)范差的位置劃兩條線,將抽樣之數(shù)據(jù)依序點繪而成控制圖。.2022/7/13控制圖的效果作業(yè)者運用于制程中控制提供檢討制程情況的共同言語及時改善的根據(jù)QIT,QCC.2022/7/13控制圖的分類,控制圖分兩種:計量值控制圖分平均值及全距控制圖、平均值及規(guī)范差控制圖、個

24、別值及挪動全距控制圖、中位值及全距控制圖計數(shù)值控制圖分百分不良率控制圖、nP不良數(shù)控制圖、C缺陷數(shù)控制圖、U單位缺陷數(shù)控制圖計量控制圖適用的情況是:資料是可量測的,且數(shù)據(jù)方式是延續(xù)性的。計數(shù)控制圖那么適用于資料大半只能斷定為良或不良,數(shù)據(jù)不為延續(xù)量的情況,普通常用于外觀檢查??刂茍D.2022/7/13決議控制對象決議控制特性有計量數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)獲得容易數(shù)據(jù)樣本n10平均值規(guī)范差控制圖平均值全距控制圖個別值挪動全距控制圖目的為不良數(shù)不良率/不良數(shù)控制圖缺陷數(shù)控制圖NNNNYYYY.2022/7/13制造控制圖的本卷須知:正確選擇控制工程、以免無效控制。訂定合理之控制界限,以免產(chǎn)品或制程條件超出規(guī)格。訂

25、定適當?shù)臋z查間隔,以免呵斥資源人力浪費或者不良品發(fā)生而不知道。對于制程繼續(xù)加以監(jiān)控,以期在問題未發(fā)生前進展對策的處置。.2022/7/13控制方法與取樣頻率重要特性(CC,SC)次要特性制程能力管制方法取樣頻率管制方法取樣頻率1.67 Cpk 2x-R管制查檢表低中免驗1.33Cpk 1.67制程能力足夠x-R管制查檢表中高查檢表中1.0Cpk1.33制程能力不充分x-R管制高x-R管制中Cpk1.0工程能力不足 , 4M改善檢驗全檢檢驗全檢高: 0.5-1hr中:2-4hr低:每班.2022/7/13控制圖繪制原那么根本資料:制程稱號、控制特性、測定樣本、測定單位、規(guī)格值、設備號碼、操作者、

26、測定者、抽樣方法、樣本數(shù)、期間、制程要因4M+IE。中心線CL記以實線,控制上限UCL及控制下限LCL記以虛線,中心線、控制上限、控制下限分別記入其數(shù)值及CL、 UCL、 LCL等符號。UCL與 LCL間隔決議坐標,使上下限之間隔在3040mm,太寬太窄均不適宜。.2022/7/13平均值與全距控制圖適用制程可用以控制分組之計量數(shù)據(jù),即每次同時獲得幾個數(shù)據(jù)之工程。適把握工程形狀最有效的一種控制圖 .2022/7/13平均值與全距控制圖nA2D4D3d221.8803.26701.12831.0232.57501.69340.7292.28202.05950.5772.11402.32660.4

27、832.00402.53470.4191.9240.0762.70480.3731.8640.1362.84790.3371.8160.1842.970100.3081.7170.2233.078控制界限系數(shù)表ASTM STP-15D.2022/7/13先確立制程穩(wěn)定且制程才干足夠選擇量測點:在每一個制程中會有很多量測點,但如何確定量測點是有效的且重要的呢?有以下數(shù)點可供參考:要找出制程中最重要的點,不要使控制圖淪為“日記?;蛟S該點不易量測,此時可思索運用代用特性。此點在如今為量測點,但并不表示永遠是量測點。建立步驟.2022/7/13規(guī)劃資料圖表格式:在進展控制圖的制造時,一份好的表格應包括

28、之背景資料如下ASQC所用之表格:日期品名或零件量測單位操作者其他相關資料.2022/7/13繪圖與解析階段Step1.搜集欲管理工程之數(shù)據(jù)-取100個以上。35個為一組,共分成2034組,測定出每一個樣本值X在進展控制圖的制造時,由于需求“延續(xù)取樣,因此通常一個樣本會包含35個。.2022/7/13Step2.依測定時間順序陳列數(shù)據(jù)Step3.計算各組平均值X barStep4.計算各組全距R RX的最大值方框 X的最小值圓框.2022/7/13Step5.計算全部平均值X double bar ;計算各組全距的平均值R bar 計算出全部數(shù)據(jù)的平均值及平均全距。在本例分別為平均值=0.58

29、,平均全距為=0.13。.2022/7/13Step6.查系數(shù)D4 、 D3,計算全距控制界限 先求出全距的控制圖,如此可知“非隨機性變異能否存在,假使超出那么代表有“非隨機性變異,假設不穩(wěn)定那么不須檢查平均值能否在監(jiān)控亦即能否超出控制界限。此時應著手于制程穩(wěn)定度的改善任務。全距的中心線全距的控制上限為全距的控制下限為.2022/7/13全距能否都在控制界限內(nèi):.2022/7/13Step7.查系數(shù)A2 ,計算平均值控制界限平均值的中心線平均值的控制上限為平均值的控制下限為.平均值能否都在控制界限內(nèi):2022/7/13.Step8.繪制控制界限及中心線,平均值控制圖在上,全距控制圖在下平均值控

30、制圖,CL劃實線,UCL及LCL是虛線全距控制圖,CL劃實線,UCL及LCL是虛線在控制線末端記入CL、UCL、LCL符號及其數(shù)值,較明晰易懂.Step9.控制圖點繪 首先找出最大和最小的平均值,在找出最大和最小的全距,以便確定坐標的范圍及最小刻度,如此才可將一切資料全部點繪在圖表中。.最大平均值=0.63最小平均值=0.54總平均=0.58UCLx=0.652LCLx=0.507最大全距=0.19最小全距=0.07平均全距=0.13UCLR=0.275LCLR=0UCL=0.652CL=0.58LCL=0.507UCL=0.275CL=0.132022/7/13.Step10.計算制程準確度

31、Ca值Step11.計算制程精細度Cp值.Step12.計算制程才干Cpk值Step13檢討制程才干改善措施控制界限延續(xù)運用. workshop2-1平均值與全距控制圖.記錄蝕刻后的線寬,其數(shù)據(jù)如下,請繪平均值-全距控制圖spec=0.2500.01) .在制程中如何運用控制圖假使全距及平均值都在控制界限以內(nèi),那么可確定沒有“非隨機性誤差存在??偲骄的芊穹夏康闹?,也是另一個重點。假設全距及平均值皆落在控制界限內(nèi),此一情形代表此一制程目前已在控制中,但并非表示往后量產(chǎn)不需留意,由于即使再穩(wěn)定制程中也會有突發(fā)之情勢發(fā)生。而且能否能在不添加太多本錢下,將制程做的更穩(wěn)定是工程師的企圖,因此控制圖即

32、可在未來制程的問題未發(fā)生時,立刻給與必要的信息。普通常作為判別的根據(jù)有:平均值延續(xù)7點分在總平均值兩側且具有同一趨向。平均值延續(xù)3點中,有2點在2倍和3倍之間,即A區(qū)。平均值延續(xù)5點中,有4點在1倍和2倍之間,即B區(qū)。平均值延續(xù)8點皆在同一側,即A,B,C區(qū)。2022/7/13.異常景象圖ABC2312022/7/13.延續(xù)出現(xiàn)上側8點或上升7點設備缺點單一制程條件改動新資料或不均勻資料批量測系統(tǒng)改動,新人或新設備延續(xù)出現(xiàn)下側8點或下降7點-同上平均值延續(xù)3點中,有2點在2倍和3倍之間,即A區(qū)制程或抽樣包含不同變異來源,如進料混批計算或描點錯誤平均值延續(xù)5點中,有4點在1倍和2倍之間,即B區(qū)。

33、每組數(shù)據(jù)系統(tǒng)性的包含不同制程平均,如多線多機各取一個樣本計算或描點錯誤數(shù)據(jù)修正.Rbar的大小決議Xbar控制界限的寬度,太寬的控制界限不易偵測制程中心的變異;太窄的控制界限對制程中心的變異太敏感。因此,搜集數(shù)據(jù)實應合理的分組,使得同時間取樣的組內(nèi)變異只需共同緣由存在。合理的分組,就是同一組數(shù)據(jù)盡量是同一時間、同一作業(yè)條件消費的產(chǎn)品。.平均值與規(guī)范差控制圖nA3B4B3100.9751.7160.284110.9271.6790.321120.8861.6490.354130.8501.6180.382140.8171.5940.406150.7891.5720.428160.7631.552

34、0.448170.7391.5340.466180.7181.5180.482控制界限系數(shù)表適用制程,與平均值與全距控制圖一樣,n10.先確立制程穩(wěn)定且制程才干足夠Step1.搜集欲管理工程之數(shù)據(jù)-取200個以上。10個為一組。Step2.計算各組間樣本的平均值及規(guī)范差建立步驟.Step3.從各組的平均值與規(guī)范差計算中心線Step4.計算規(guī)范差控制圖的控制線.Step5.計算平均值控制圖的控制線Step6.繪制控制界限及中心線,平均值控制圖在上,規(guī)范差控制圖在下平均值控制圖,CL劃實線,UCL及LCL是虛線規(guī)范差控制圖,CL劃實線,UCL及LCL是虛線在控制線末端記入CL、UCL、LCL符號及

35、其數(shù)值,較明晰易懂.Step7.控制圖點繪 首先找出最大和最小的平均值,在找出最大和最小的規(guī)范差,以便確定坐標的范圍及最小刻度,如此才可將一切資料全部點繪在圖表中。Step8.控制界限的檢討同平均值全距控制. workshop2-21.平均值與規(guī)范差控制圖.個別值與挪動全距控制圖X-Rm_Chart適用制程消費耗用時間很長方能完成測試屬極均勻之產(chǎn)品,規(guī)范差趨近于0破壞性實驗或量測不易非常貴重之物品產(chǎn)量不大批量很小,不方便運用樣本數(shù)n1之情形爭取時效.挪動全距Moving Range是運用相鄰兩個察看值的差別量來估計制程的變異。挪動全距的定義: MR=Xi-Xi1.計數(shù)值控制圖計數(shù)控制圖適用于資

36、料大半只能斷定為良或不良,且數(shù)據(jù)不為延續(xù)量之管理用圖表。常用計數(shù)控制圖有:P圖:用來控制制程中百分不良率nP圖:用來控制不良數(shù)C圖:用來控制每一件產(chǎn)品上的缺陷數(shù)U圖:用來控制單位產(chǎn)品上的缺陷數(shù)計數(shù)控制圖主要用途:用于管理不能計量的控制點。可以將制品分成兩大類者,一為“良品另一為“不良品者。2022/7/13.不良率控制圖P_Chart適用制程:產(chǎn)品依規(guī)格分為合格/不合格、可以/不可以、經(jīng)過/不經(jīng)過n=樣本數(shù),d=不良數(shù),P=不良率,K=組數(shù).制造P百分不良率控制圖的本卷須知:P圖大多采用百分率,亦即在一百件產(chǎn)品中,不良品所占比率,因此我們常稱其為百分不良率P圖。普通檢查工程會有很多,所以能夠1

37、件產(chǎn)品同時具有2個以上的不合格工程,此時我們僅能以1件產(chǎn)品來計算。從分析圖中試著去了解不同變量下呵斥不良數(shù)量改動的情況。不良率控制圖P_Chart2022/7/13.建立P控制圖步驟確定制程穩(wěn)定繪圖與解析階段Step1搜集數(shù)據(jù)-欲管理之工程至少取20組以上數(shù)據(jù)Step2數(shù)據(jù)分組-不良率控制圖其樣本數(shù)一致或不一致與其計算公式有關,故樣本數(shù)最好一致,如不一致其與 的相差在50以內(nèi)。另外組內(nèi)樣本的大小亦有影響,樣本太大不經(jīng)濟,樣本太小那么無法抽出不良品而無法掌握制程動向,故每組樣本數(shù)中最好能出現(xiàn)4個以上不良品為佳,例如P=2,n4/P200以上 防止在一長時段如一天察看一個大樣本,而應該改為24小時

38、察看小樣本。.Step3按消費順序或測定順序陳列組數(shù),記入控制圖的數(shù)據(jù)欄Step4計算各每組之不良率P P不良品數(shù)/每組檢查數(shù)d/nStep5計算平均不良率 及平均樣本數(shù) 留意: ,由于樣本數(shù)n不一定相等.Step6計算控制界限中心線CL=控制上下限 UCL/LCL 之公式視n而定Step7繪制控制界限及中心線Step8點繪-點各數(shù)值,并以直線銜接Step9控制界限檢討. workshop3計算不良率控制圖中心線及控制上下限.消費零件R486,每小時抽檢240件,將檢查之數(shù)據(jù)列于下表,適用不良率控制圖加以控制,試計算其控制界限? .不良數(shù)控制圖nP_Chart適用制程根本上與P控制圖一樣,但每

39、組樣本n必需一樣計算較P控制圖簡單,適用于班組長或作業(yè)者自行繪控制圖的場所.制造nP不良數(shù)控制圖的本卷須知:有時我們會直接采用“不良個數(shù)進展管理動作,此時要采用nP圖nP圖的樣本大小必需相等.nP不良數(shù)控制圖的制造:Step 1 取樣:同P圖決議樣本規(guī)模要件如下規(guī)模至少50件或規(guī)模要大到每次取樣個數(shù)中,至少含有4個以上不良品發(fā)生。防止在一長時段如一天察看一個大樣本,而應該改為24小時察看小樣本。.Step 2 將根本資料填入nP圖中:同P圖Step 3 搜集樣本及記錄資料:同P圖Step 4 計算制程中平均不良數(shù)nP:將不良數(shù)加總再除以檢驗次數(shù)knP=134/20=6.7Step 5 決議坐標范圍及點繪資料:預留適當空間以免圖形過小不易察看或過大超出界限.Step 6 計算不良數(shù)的控制界限:不良數(shù)的上下控制界限公式如下:在計算控制下限有時會有負值產(chǎn)生,此時以0替代Step 7 判讀nP圖:nP圖判讀方式如P圖,其流程

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