SPC基礎教材ppt課件

1、 SPC專題講座.SPC的定義SPC(Statistical Process Control 統(tǒng)計制程控制) 是由制程調(diào)查來改進制程才干,不斷降低產(chǎn)品品質(zhì)的變異性,而達到提升產(chǎn)品品質(zhì)的一種方法,其主要工具為控制圖. .SPC的歷史1910年由費雪爵士(Sir Ronald Fisher)所發(fā)展出來的統(tǒng)計理論.1924年由休華特博士( Dr.W.A.Shewhart)研討產(chǎn)品品質(zhì)次數(shù)分配時發(fā)明了控制圖.1940年SPC正式引進制造業(yè).控制圖的意義控制圖是一種以實際產(chǎn)品品質(zhì)特性與根據(jù)過去經(jīng)驗所判明制程才干的控制界限比較,而以時間經(jīng)過用圖形表示者.數(shù) 據(jù) 的 種 類數(shù)據(jù)可分為三種: 1.現(xiàn)有數(shù)據(jù) 是

2、工廠的制程因不同機器,原料,操作員,生產(chǎn)線,時間等所記錄 下來的數(shù)據(jù). 此種數(shù)據(jù)稱為現(xiàn)有數(shù)據(jù). 2.即時數(shù)據(jù) 在制程中,為維持其穩(wěn)定,防止異常緣由之再發(fā)生,依控制圖作 為制程控制,隨時自制程中抽取樣品以點繪控制圖,此種隨時隨 地而搜集之數(shù)據(jù)稱即時數(shù)據(jù). 3.新搜集數(shù)據(jù) 為了種目的,在實驗室或制造現(xiàn)場設計實驗而得的數(shù)據(jù)稱為新 搜集數(shù)據(jù). 數(shù)據(jù)的性質(zhì)可分為兩類:1.計量性的 (Variable data) 例如: 溫度, 長度, 厚度等.2.計數(shù)性的 (Attribute data) 例如: 一個人, 一張床, 一條魚等.數(shù) 據(jù) 的 種 類.控制圖的種類(性質(zhì)分類)一.計量值控制圖(Control

3、 Charts For Variables): a.平均值與全距控制圖( X-R Chart ) b.中位值與全距控制圖( X-R Chart ) c.個別值與移動全距控制圖( X-Rm Chart ) d.平均值與標準差控制圖( X- Chart ).2.計數(shù)值控制圖(Control Charts For Attributes) a.不良率控制圖 ( P Chart ) b.不良數(shù)控制圖 ( Pn Chart or d Chart ) c.缺點數(shù)控制圖 ( C Chart ) d.單位缺點數(shù)控制圖 ( U Chart )控制圖的種類(性質(zhì)分類).控制圖的種類(用途分類)1.控制用控制圖 先有

4、控制界限,后有數(shù)據(jù).2.解析用控制圖 先有數(shù)據(jù),后才有控制界限.一.平均值與全距控制圖(X-R Chart).X-R控制圖的定義在計量值控制圖中,X-R控制圖系最常用的一種,所謂平均值與全距控制圖,系平均值控制圖(X Chart)與全距控制圖(R Chart)二者合並運用.平均值控制系控制平均值的變化,即分配的集中趨勢變化;全距控制圖則控制變異的程度,即分配的離散趨勢的狀況.控制圖的意義控制圖是一種品質(zhì)的圖解記錄.在圖上有中心線(規(guī)格值)及二條控制界限.中心線是一種規(guī)格值,二條控制界限是容許產(chǎn)品的品質(zhì)特性在其間變動的范圍.在制造過程中用抽查的方式,將樣本的統(tǒng)計量,點繪於圖上,用以判斷品質(zhì)的變異

5、能否顯著.規(guī)格上限控制上限規(guī)格值控制下限規(guī)格下限(中心值).控制圖界限的計算.X-R Chart繪制步驟 建立解析用控制圖1.選定控制項目2.搜集數(shù)據(jù)100個以上,並予適當分組后記入數(shù)據(jù)記錄表. 樣本大小(n)=25 (解析用) 組數(shù)(k)=20253.計算各組平均值( X ) X= 4.計算各組全距( R ) R=Xmax-Xmin (各組最大值-最小值)X1+X2+X3+XKn.5.計算總平均值 ( X ) X= 6.計算全距之平均值( R ) R= 7.計算控制界限及繪出 X控制圖 中心線 CLx = X 上 限 UCLx = X+A2R 下 限 LCLx = X-A2Rx1+x2+x3

6、+xkkR1+R2+R3+RKk. R控制圖 中心線 CLR =R 上 線 UCLR=D4R 下 線 LCLR=D3R A2, D4, D3由系數(shù)表查得8.點圖 將數(shù)據(jù)點繪控制圖上,相鄰兩點用直線連接.9.控制界限檢討10.記入其它留意事項.控制圖的判讀制程能否在控制狀態(tài)可用以下原則判斷:1.控制圖上的點都出現(xiàn)在控制界限內(nèi)側(cè),並沒有特別排法 時,原則上認為制程是正常.這種狀態(tài)謂之控制狀態(tài).2.控制圖上有點超出控制界限外時,就判斷制程有了異常 變化,這種狀態(tài)謂之非控制狀態(tài).3.控制圖上的點雖未超出控制界限,但點的出現(xiàn)有以下法 時,就判斷有異常緣由發(fā)生. (a)點在中心線的單側(cè)連續(xù)出現(xiàn)8點以上時

7、(b)出現(xiàn)的點連續(xù)11點中有10點,14點中有12點,17點中 14點,20點中16點出現(xiàn)在中心線的單側(cè)時. (c)7點連續(xù)上升或下降的傾向時 (d)出現(xiàn)的點,連續(xù)3點中有2點,7點中有3點,10點中有4點 出現(xiàn)在控制界限近旁(2線外)時.(e)出現(xiàn)的點,有周期性變動時(14點以上).(f) 3點中有2點在A區(qū)或A區(qū)以外者(g) 5點中有4點在B區(qū)或B區(qū)以外者.(h) 有8點在中心線之兩側(cè),但C區(qū)並無點子者(i) 連續(xù)14點交互著一升一降者.(j) 連續(xù)15點在中心線上下兩側(cè)之C區(qū)者(k) 有1點在A區(qū)以外者. 呵斥制程異常的要素一.屬於管理不善: 1.未推行標準化; 2. 人員訓練不夠; 3

8、.機械未作保養(yǎng)任務; 4. 工具/夾具不適當或運用不當; 5. 不良資料混入制程; 6.原設計有錯誤或藍圖上之問題等; 7. 測試儀器未加校正與維護.二. 屬於技術(shù)缺乏: 1. 機槿精度缺乏; 2. 任務環(huán)境不當(如需求空氣調(diào)節(jié)而無此項設備等); 3. 設計上之矛盾; 4. 測試儀器缺乏或測試方法不當; 5. 缺乏技術(shù)人; 6. 綜合制程才干缺乏-資料/機械/加工方法與人綜合結(jié)果 無法達到品質(zhì)要求者. .三.屬於其他要素: 1. 任務人員之忽略; 2. 未按操作 標準作業(yè); 3. 操作標準不完備; 4. 不隨機抽樣法; 5. 計算之錯誤; 6. 機械之自然磨損; 7. 操作條件之忽然侵入; 8

9、. 異質(zhì)資料之忽然侵入; 9. 日夜班精神上之因擾等. . CPK 了解與計算一.參數(shù)介紹:1. Ca: Capability of accuracy 制程準確庋,為各制程之 規(guī)格中心值設定之目的. Ca=(實績中心值-規(guī)格中心值)/(公差裕度/2)% 即:Ca=(X-)/(T/2)%2. Cp: Capability of precision制程精細度,為工程規(guī)格上下限之設定目的. Cp=公差裕度/(6*實績?nèi)后w之標準差) 即:Cp=T/6*. 3. T:TOLERANCE 規(guī)格公差 又稱公差裕度 T=規(guī)格上限-規(guī)格下限 = USL-LSL 4.: 標準差 = (X-Xi)2/(n-1),(

10、其中Xbar-R CHART =R/d2 R為樣本全距R之平均值,d2為一系數(shù),依樣本大小而定) 5. :規(guī)格中心值 6. UCL: UPPER CONTROL LIMIT 控制上限 7. CL: CENTER LINE 中心線 8. LCL: LOWER CONTROL LIMIT 控制下限 9. A,B,C區(qū)定義: 距中心線距離為1,2,3 的區(qū)域分別為C,B,A 區(qū) .二. CPK 計算 CPK: 制程才干參數(shù),為總合Ca和Cp二值之指數(shù) CPK=CP(1-|Ca|) 或CPK=MIN(USL-X)/(3*),(X-LSL)/(3*).DMD制程SPC控制狀況工站名稱 SPC控制內(nèi)容 控制圖類型 抽檢頻率 規(guī)格 負責單位 錫膏印刷 錫膏厚度 Xbar-R Chart 連續(xù)2pcs/2小時 0.15+/-0.02(mm) 品管三臺高速機 貼片精度 X-Rm Chart 1次/班 0+/-0.1(mm) 品管泛用機 貼片精度 X-R