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EMC電子學(xué)系統(tǒng)BESIIIEMC電子學(xué)系統(tǒng)由前放、主放、Q插件、測試控制器、扇出插件等部分構(gòu)成。前放的設(shè)計采用了假設(shè)干低噪聲技術(shù)和抗干擾措施，對探測器輸出的微弱信號進展放大，保證了后端電荷丈量精度;電荷丈量采用分三個量程數(shù)字化的方法實現(xiàn)15bit動態(tài)范圍；采用FPGA來完成數(shù)據(jù)的緩存、預(yù)處置，提高的系統(tǒng)的集成度、添加了數(shù)據(jù)處置的并行度靈敏性 經(jīng)過了三次束流測試和384通道小系統(tǒng)的長時間測試證明， EMC電子學(xué)系統(tǒng)曾經(jīng)到達或超越預(yù)定的設(shè)計目的.BES EMC電子學(xué)系統(tǒng)的主要功能是丈量電荷量，從而確定粒子在CsI晶體中的能量損失，同時給出粗略的粒子擊中晶體的時間信息。另外一個重要義務(wù)是向觸發(fā)判選系統(tǒng)提供晶體的能量信息作為事例挑選的根據(jù)之一。EMC電子學(xué)系統(tǒng)設(shè)計框圖.安裝EMC電子學(xué)系統(tǒng)前放.EMC電子學(xué)系統(tǒng)主放和電荷丈量插件.EMC電子學(xué)384通道測試系統(tǒng).EMC與在線系統(tǒng)結(jié)合測試.安裝在晶體上的前放和電纜.

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