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1、俄歇電子能譜儀(AES )分析方法介紹俄歇電子能譜儀(AES) 俄歇電子能譜儀(Auger Electron Spectroscopy, AES),作為一種最廣泛使用的表面分 析方法而顯露頭角,通過檢測(cè)俄歇電子信號(hào)進(jìn)行分析樣品表面,是一種極表面(0-3nm) 分析設(shè)備。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是:在靠近表面5-20埃范圍內(nèi)化學(xué)分析的靈敏度高,很高 的空間分辨率,最小可達(dá)到6nm;能探測(cè)周期表上He以后的所有元素及元素分布;通 過成分變化測(cè)量超薄膜厚。它可以用于許多領(lǐng)域,如半導(dǎo)體技術(shù)、冶金、催化、礦物加 工和晶體生長(zhǎng)等方面。俄歇電子能譜儀(AES)工作原理原子內(nèi)某一內(nèi)層電子被激發(fā)電離從而形成空位,一個(gè)較高
2、能級(jí)的電子躍遷到該空位上,再接著另一個(gè)電子被激發(fā)發(fā)射,形成無輻射躍遷過程,這一過程被稱為Auger效應(yīng), 被發(fā)射的電子稱為Auger電子。俄歇電子能譜儀通過分析Auger電子的能量和數(shù)量,信號(hào)轉(zhuǎn)化為元素種類和元素含 量。俄船電于/自由電俄歇電子能譜儀(AES )可獲取的參數(shù)(1)定性分析:定性除H和He以外的所有元素及化合態(tài)。(2)元素分布:元素表面分布和深度分布,能獲極小區(qū)域(表面最小6nm,深度最小 0.5nm)的元素分布圖。(3)半定量分析:定量除H和He以外的所有元素,濃度極限為10-3。(4)超薄膜厚:通過成分變化能測(cè)量最薄0.5nm薄膜的膜厚。案例分析案例背景:樣品為客戶端送檢LED碎片,客戶端反映LED碎片上Pad表面存在污染物, 要求分析污染物的類型。失效樣品確認(rèn):將LED碎片放在金相顯微鏡下觀察,尋找被污染的Pad,通過觀察,發(fā) 現(xiàn)Pad表面較多小黑點(diǎn),黑點(diǎn)直徑3m左右,考慮分析區(qū)域大小后選擇分析區(qū)域最小 AES進(jìn)行分析,能準(zhǔn)確分析污染物位置。俄歇電子能譜儀(AES)分析:對(duì)被污染的Pad表面進(jìn)行分析,結(jié)果如下圖,位置1 為污染位置,位置2為未污染位置。結(jié)論:通過未污染位置和污染位置對(duì)比分析可知,發(fā)現(xiàn)污染位置主要為含K(20.6%) 和S(13.6%)類物質(zhì),在未污染位置S含量為3.7%未發(fā)現(xiàn)K元素,推斷污染位置存在 K離子污染,并與S共同作
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