周六上午-洪閣實驗一

1、實驗 1A/D 接口14 電子信息工程洪閣實驗：思考題：1. 逐次近型的A/D轉(zhuǎn)換器原理是什么？答：逐次 近型的 A/D 轉(zhuǎn)換器主要由逐次 近寄存器 SAR、D/A 轉(zhuǎn)換器、比較器以及時序和控制邏輯等部組成。它的實質(zhì)是逐次把設(shè)定的 SAR 寄存器中的數(shù)字量經(jīng) D/A 轉(zhuǎn)換后得到電壓 Vc 與待轉(zhuǎn)換模擬電壓 V 進(jìn)行比較。比較時，先從 SAR 的最次確定各位的數(shù)碼應(yīng)是“1”還 是“0”。開始，逐2 A/D轉(zhuǎn)換的重要指標(biāo)包括哪些？答：A/D 轉(zhuǎn)換的重要指標(biāo)包括：分辨率：分辨率反映 A/D 轉(zhuǎn)換器對輸入微小變化響應(yīng)的能力，通常用數(shù)字輸出最低位(LSB)所對應(yīng)的模擬輸入的電平值表示。精度：精度有絕對精

2、度(Absolute Accuracy)和相對精度(Relative Accuracy)兩種表示方法。絕對誤差:在一個轉(zhuǎn)換器中，對應(yīng)于一個數(shù)字量的實際模擬輸入電壓和理想的模擬輸入電壓之差并非 是一個常數(shù)。把它們之間的差的最大值，定義為“絕對誤差”。通常以數(shù)字量的最小有 效位(LSB)的分?jǐn)?shù)值來表示絕對誤差，例如:1LSB 等。絕對誤差包括量化誤差和其它所有誤差。相對誤差: 是指整個轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)，任一數(shù)字量所對應(yīng)的模擬輸入量的實際值與理論值之差，用模擬電壓滿量程的百分比表示。轉(zhuǎn)換時間:轉(zhuǎn)換時間是指完成一次 A/D 轉(zhuǎn)換所需的時間，即由發(fā)出啟動轉(zhuǎn)換命令信號到轉(zhuǎn)換結(jié)束信號 開始有效的時間間隔。電源靈敏

3、度:電源靈敏度是指 A/D 轉(zhuǎn)換差。的供電電源的電壓發(fā)生變化時，產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換誤量程：量程是指所能轉(zhuǎn)換的模擬輸入電壓范圍，分單極性、雙極性兩種類型。輸出邏輯電平：多數(shù)A/D轉(zhuǎn)換器的輸出邏輯電平與TTL電平兼容。工作溫度范圍：由于溫度會對比較器、運(yùn)算放大器、電阻網(wǎng)絡(luò)等產(chǎn)生影響，故只在一定的溫度范圍內(nèi)才能保證額定精度指標(biāo)。3 ARM的A/D功能的相關(guān)寄存器有哪幾個，對應(yīng)的地址是什么？答： 類型地址名稱1）ADCCON0 x58000000采樣控制寄存器2）ADCDAT00 x5800000C轉(zhuǎn)換結(jié)果數(shù)據(jù)寄存器4 如何啟動ARM開始轉(zhuǎn)換A/D，有幾種方式？轉(zhuǎn)換開始時ARM是如何知道轉(zhuǎn)換哪路通道的？如何判斷轉(zhuǎn)換結(jié)束？答：兩種方式。方式一：啟動。1.定義與 A/D 轉(zhuǎn)換相關(guān)的寄存器2.定義與 A/D 轉(zhuǎn)換相關(guān)的寄存器初始化3.RADCCON=0X1方式二：硬件啟動。1.復(fù)位 A/D 轉(zhuǎn)換器2.外接用觸發(fā) ADC