超聲波檢測通用工藝規(guī)程

1、超聲波檢測通用工藝規(guī)程主題內(nèi)容及適用范圍11本規(guī)程規(guī)定了超聲波檢測的人員、設(shè)備、器材、檢測技術(shù)、質(zhì)量分級和檢測記錄報(bào)告的基本要求。12本規(guī)程適用于鋼制壓力管道元件鋼板、鍛件和焊接接頭的超聲波檢測。2引用標(biāo)準(zhǔn) 壓力管道元件安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 GB1502011 壓力管道元件 JB/T4730.32005 承壓設(shè)備無損檢測第三部分：超聲檢測 JB/T79131995 超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗(yàn)方法 JB/T92142010 無損檢測 A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法 JB/T100611999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀的通用技術(shù)條件 JB/T100621999 超聲探傷用探頭性

2、能測試方法 JB/T84282006 無損檢測 超聲檢測用試塊3一般要求3.1超聲檢測人員 超聲檢測人員應(yīng)按照特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得超聲檢測資格。取得級資格的人員只能從事初探工作，取得級資格的人員方能復(fù)探和出超聲檢測報(bào)告，編制超聲波檢測工藝。3.2檢測設(shè)備3.2.1超聲檢測設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。3.2.2探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.2.1探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級每檔不大于2dB，精度為任意相鄰12

3、dB誤差在1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%，其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。3.2.2.2探頭3.2.2.2.1晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長原則上不大于25mm。3.2.2.2.2單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯雙峰。3.2.2.3超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能3.2.2.3.1在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。3.2.2.3.2儀器與探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于10%。3.2.2.3.3儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對于頻率為5 MH

4、z的探頭，寬度不大于10mm；對于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。3.2.2.3.4直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于6dB。3.2.2.3.5儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9241和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測試。3.3超聲檢測一般方法3.3.1檢測準(zhǔn)備3.3.1.1檢測時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的要求和原則進(jìn)行。3.3.1.2檢測面的確定，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。3.3.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不

5、得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?掃查覆蓋率 為確保檢測時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。3.3.3探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。3.3.4掃查靈敏度 掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。3.3.5耦合劑 應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。3.3.6靈敏度補(bǔ)償 a）耦合補(bǔ)償。在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。 b）衰減補(bǔ)償。在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 c）曲面補(bǔ)償。對探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率

6、半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。3.4系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核3.4.1一般要求 校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。3.4.2儀器校準(zhǔn)每隔3個(gè)月至少對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定，測定方法按JB/T10061的規(guī)定進(jìn)行。3.4.3新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。測定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。3.4.4檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定3.4.4.1使用儀器一斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)

7、核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.4.2使用儀器一直探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.5檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 遇有下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核a）校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；b）檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；c）連續(xù)工作4h以上時(shí)；d）工作結(jié)束時(shí)。3.4.6檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 a）每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程自行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。 b）每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對距離一

8、波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。3.4.7 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器進(jìn)行線性檢測時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。3.5 試塊3.5.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊3.5.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本規(guī)程規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊，本規(guī)程采用標(biāo)準(zhǔn)試塊有：鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CB, CB；鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CS, CS, CS；焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-A, CSK-A。4. 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測和質(zhì)量分級4.

9、1 范圍本條適用于板厚為6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測和質(zhì)量分級。奧氏體板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本條執(zhí)行。4.2 探頭選用探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。表1 壓力管道元件用板材超聲檢測探頭選用板厚mm采用探頭公稱頻率MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm22040單晶直探頭51420mm40250單晶直探頭2.52025mm4.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm鋼板時(shí)，采用CB標(biāo)準(zhǔn)試塊。用單直探頭檢測厚度大于20 60mm的鋼板時(shí)，采用CB標(biāo)準(zhǔn)試塊。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。4.4 基準(zhǔn)靈敏度4

10、.4.1 板厚不大于20mm時(shí)采用的CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。4.4.2 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CB試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。4.4.3 板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部件的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與4.4.2的要求相一致。4.5 檢測方法4.5.1 檢測面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測。當(dāng)檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)圖樣要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測。4.5.2 耦合方式耦合方式采用直接接觸法。4.5.3 掃查方式探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于10

11、0mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi)應(yīng)作100%掃查。4.6 缺陷的測定與記錄4.6.1 在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F150%；當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳˙1波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1100%，而F1/B150%；底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即B150%。4.6.2 缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法：檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測，以確定缺陷的范圍。用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，探頭

12、的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。確定4.6.1 c）中缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）

13、使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準(zhǔn)。4.7 缺陷的評定方法4.7.1 缺陷指示長度的評定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。若單個(gè)缺陷的指示長度小于40mm時(shí)，可不作記錄。4.7.2單個(gè)缺陷指示面積的評定規(guī)則一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表2。表

14、2 鋼板質(zhì)量分級等級單個(gè)缺陷指示長度mm單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一1m1m檢測面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)cm28025391005051512010010251501001025超過級者注：級鋼板主要用于與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的制造安裝。4.7.3 缺陷面積百分比的評定規(guī)則在任一1m1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m1m，可按比例折算。4.8鋼板質(zhì)量等級4.8.1鋼板質(zhì)量分級見表2。4.8.2在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長度大于或等于50mm時(shí)，應(yīng)評為V級。4.8.3在檢測過

15、程中，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評為V級。5承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測和質(zhì)量分級5.1范圍 本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)外徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。5.2探頭 雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2MHz5MHz，探頭晶片一般為1425。5.3試塊5.3.1單晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊，工件檢測距離大于等于45時(shí)，采用CSI試塊。5.3.2雙晶直探頭試塊 工件檢測距離小于45時(shí)，應(yīng)采用CS試塊。5.3.3檢測

16、面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失。5.4檢測時(shí)機(jī) 檢測原則上安排在熱處理后，孔、臺等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測面的表面粗糙度Ra6.3m。5.5檢測方法5.5.1一般原則 鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測。5.5.2縱波檢測 a）原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測，盡可能的檢測到鍛件的全體積。主要檢測方向如圖1所示。其他形狀的鍛件也可參照執(zhí)行； b）鍛件厚度超過400時(shí)，應(yīng)從相對兩端面進(jìn)行100%的掃查。5.5.3橫波檢測 鋼鍛件橫波檢測應(yīng)按JB47302005附錄C（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。56靈敏度的確定561單晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定 當(dāng)

17、被檢測部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)長度，且探測面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。562雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定 使用CS試塊，依次測試一組不同檢測距離的3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離一波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。563掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的2平底孔當(dāng)量直徑。57缺陷當(dāng)量的確定571被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，采用AGV曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對于三倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單晶直探頭或雙晶直探頭的距離一波

18、幅曲線來確定缺陷當(dāng)量。也可用其它等效方法來確定。572計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m，應(yīng)考慮修正。58缺陷記錄581記錄當(dāng)量直徑超過4時(shí)的單個(gè)缺陷的波幅和位置。582密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于等于4當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于3當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以5050的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。583底波降低量應(yīng)按表3的要求記錄。表3由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級 dB等級底波降低量BG/BF88141420202626注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。59質(zhì)量分級591單個(gè)缺陷

19、的質(zhì)量分級見表4。592缺陷引起的底波降低量的質(zhì)量分級見表3。 表4單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級 mm等級缺陷當(dāng)量直徑44+（0dB8dB）4+（8dB12dB）4+（12dB16dB）4+16dB593缺陷密集區(qū)質(zhì)量分級見表5。表5密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級等級密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比，%005510102020594表3、表4和表5的等級應(yīng)作為獨(dú)立的等級分別使用。595當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級為級。6鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級。61適用范圍 本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭的超聲檢測和質(zhì)量分級。 本條適用于母材厚度為8mm400mm全熔化焊對接焊接接頭的超

20、聲檢測。母材厚度為6mm8mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測應(yīng)按照J(rèn)B/T4730.32005附錄G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。 本條不適用于鑄鋼對接焊接接頭、外徑小于159mm的鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^、內(nèi)徑小于或等于200mm的管座角焊縫的超聲檢測，也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向?qū)雍附咏宇^超聲檢測。62超聲檢測技術(shù)等級621超聲檢測技術(shù)等級選擇超聲檢測技術(shù)等級分為A、B、C三個(gè)檢測級別。超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。622不同檢測技術(shù)等級的要求6221 A級僅適用于母材厚度8mm46mm的對接焊接接頭，采用一種K值探頭采用直波法和一次反射波法

21、在對接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測。6222 B級檢測 a）母材厚度8mm46mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。 b）母材厚度大于46mm120mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測。 c）應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成1020作兩個(gè)方向的斜平行掃查，見圖2。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見圖3。6223 C級檢測：采用C級檢測

22、時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測，檢測方法見6.4.4。 a）母材厚度846時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差不小于10，其中一個(gè)折射角應(yīng)為45， b）母材厚度大于46120時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10。對于單側(cè)坡口角度小于5的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平行缺陷有效的檢測方法。 c）應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時(shí)，將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見圖3。63試塊631采用的標(biāo)準(zhǔn)試

23、塊為CSKA、CSKA。632檢測曲面工件時(shí)，如檢測曲率半徑RW2/4時(shí)，（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測時(shí)為探頭長度），應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊，反射孔的位置可參照標(biāo)準(zhǔn)試塊確定。試塊寬度b一般應(yīng)滿足： b2S/Do（1） 式中：b試塊寬度，； 超聲波波長，； S聲程，； Do聲源有效直徑，。64檢測準(zhǔn)備641檢測面 a）檢測區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5，最大為10，見圖4。 b）探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)。檢測表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，其表面粗糙度Ra應(yīng)小于等于6.3m，一般應(yīng)進(jìn)行打磨

24、。1）采用一次反射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)大于或等于1.25P： P=2TK（1）或 P=2Ttan（2） 式中：P跨距，； T母材厚度，； K探頭K值； 探頭折射角（）。2）采用直射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于0.75P。 c）去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材齊平。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有較大的降起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈ィ⒆鲌A滑過渡以免影響檢測結(jié)果的評定。642探頭K值 斜探頭的K值（角度）選取可參照表6的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。表6推薦采用的斜探頭K值板厚T，K值6253.02.0（7260）25462.51.5（6856）461202.01.0（60

25、45）1204002.01.0（6045）643檢測頻率 檢測頻率一般為2MHz5MHz。644母材的檢測 對于C級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗(yàn)收檢測。母材檢測的要點(diǎn)如下： a）檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2MHz5MHz的直探頭，晶片直徑1025。b）檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。c）凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。65距離波幅曲線的繪制651距離波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)

26、繪制而成，該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)，如圖5所示，如果距離一波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%。652距離一波幅曲線的靈敏度選擇 a）壁厚為660的焊接接頭，其距離一波幅曲線靈敏度按表7的規(guī)定。表7 距離一波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚， 評定線定量線判廢線CSKA8151546461201612dB169dB166dB166dB163dB1616+2dB16+5dB16+10dBb）檢測橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。c）檢測面曲率半徑RW2/4時(shí)

27、，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在與檢測面曲率相同的對比試塊上進(jìn)行。d）掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度。66檢測方法661平板對接焊接接頭的超聲檢測 a）為檢測縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查，見圖6。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)時(shí)，還應(yīng)作1015的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。不同檢測等級對縱向缺陷的檢測要求見6.2。b）不同檢測等級對橫向缺陷的檢測要求見6.2。 c）為觀察缺陷動(dòng)狀波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見圖7。662曲面工件（工件直徑小于或等

28、于500）對接接頭的超聲檢測。 a）檢測面為曲面時(shí)，可盡量按平板對接焊接接頭的檢測方法進(jìn)行檢測。對于受幾何形狀限制，無法檢測的部位應(yīng)予以記錄。 b）縱縫檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。1）根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭。2）探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測定。3）應(yīng)注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，必要時(shí)進(jìn)行修正。 c）環(huán)縫檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測面曲率半徑的0.91.5倍。663管座角焊縫的檢測 a）一般原則 在選

29、擇檢測面和探頭時(shí)，應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。 b）檢測方式 根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，管座角焊縫的檢測有如下五種檢測方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測。檢測方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，并考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。 在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖8位置1。在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖9位置1。在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖8位置4。在接管外壁采用斜探頭檢測，見圖9位置2。在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖8位置3和圖9位置3。在容器外壁采用斜探頭檢測，見圖8位置2。管座角焊縫以直探頭檢測為主，必要時(shí)應(yīng)增加斜探頭檢測的內(nèi)容。探頭頻率、尺寸應(yīng)按5.2和6.4的規(guī)定進(jìn)行，管座角焊縫斜探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表7的規(guī)定，直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表8的規(guī)定。距離一波幅曲線的制作詳見6.5.1表8管座角焊縫直探頭距離一波幅曲線的靈敏度評定線定量線判廢線2平底孔3平底孔6平底孔67缺陷定量檢測671靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。672對所有反射波幅達(dá)到或超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。673缺陷位置測定 缺陷位置測定以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn)。674缺陷最大反射波幅的測定