TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段

1、降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率6-Sigma BB Project實(shí)施單位：TCL通訊設(shè)備（惠州）有限公司實(shí)施時(shí)間：2006年2月7月1整理課件公司名稱TCL通訊設(shè)備（惠州）有限公司項(xiàng)目編號項(xiàng)目名稱降低可靠性試驗(yàn)的不良批次率項(xiàng)目組組長屈清華項(xiàng)目類型 DMAIC BB DMADV GB牽頭部門質(zhì)量管理部涉及流程產(chǎn)品轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)程序不合格品品控制程序/糾正預(yù)防措施程序涉及產(chǎn)品已批量產(chǎn)品項(xiàng)目成員屈清華、徐建輝、歐書英、黃志強(qiáng)、廖海昌6項(xiàng)目立項(xiàng)注冊表區(qū) 分姓 名意 見倡 導(dǎo) 者肖曉平主 黑 帶孫志堅(jiān)財(cái)務(wù)確認(rèn)涂玉發(fā) 起 人劉景鋒黑 帶/綠 帶屈清華/徐建輝2. 基線與目標(biāo)1. 基本信息CTQ/y單位現(xiàn)水平

2、目標(biāo)水平先進(jìn)水平月不良批次率比率16.4 503.效果預(yù)算項(xiàng)目 投入項(xiàng)目效益減少后期不良損失65萬4.日程計(jì)劃D03月0103月22M03月2305月10A05月1506月15I/D06月1606月30C/V07月0107月105.現(xiàn)狀描述:04年中試轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)總共檢出43單不合格批次，05年檢出120單，06年前四個(gè)月就發(fā)生75次不合格。其中采取有效糾正措施的寥寥無幾，導(dǎo)致雖已在公司內(nèi)部發(fā)現(xiàn)問題，但由于問題處理流程職責(zé)不明確、導(dǎo)致問題沒有有效地改善管理，致使同一問題重復(fù)發(fā)生。6.項(xiàng)目范圍:包括中試產(chǎn)品轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)、不合格品控制、糾正預(yù)防措施以及客戶抱怨處理流程。7.效果及影響: 建立制

3、度性的管理措施，流程合理、職責(zé)明確、團(tuán)隊(duì)處理問題制度運(yùn)作，最終建立及時(shí)有效解決問題的機(jī)制。 AMICD2整理課件項(xiàng)目背景選擇項(xiàng)目的理由： 04年中試轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)總共檢出43單不合格批次，05年檢出120單，06年前四個(gè)月就發(fā)生75次不合格。其中采取有效糾正措施的寥寥無幾，導(dǎo)致雖已在公司內(nèi)部發(fā)現(xiàn)問題，但由于問題處理流程職責(zé)不明確、導(dǎo)致問題沒有有效地改善管理，致使同一問題重復(fù)發(fā)生。 AMICD每月不良批次數(shù)持續(xù)上升3整理課件項(xiàng)目背景2. FEA 計(jì)算：AMICD財(cái)務(wù)效果=減少不良批次的返工浪費(fèi)減少不良批次的返工浪費(fèi)年不良批次返工電話數(shù)量（每臺話機(jī)平均返工費(fèi)用+每臺話機(jī)生產(chǎn)效益費(fèi)用）06年1-4月

4、共返工40980臺，平均每月有10245臺，按此計(jì)算一年共有10425臺12月=122940臺返工費(fèi)用： 122940臺3.3375元/臺=410312.25占用生產(chǎn)效益費(fèi)用：122940臺2元/臺=245880元年直截收益：返工費(fèi)用410312.25+占用生產(chǎn)效益費(fèi)用245880=656192.25元4整理課件VOC/CTQ分析AMICD外部顧客批量性質(zhì)量問題突出不良率和返修率高用戶代理商VO外部顧客用戶代理商C外部顧客可靠性試驗(yàn)出現(xiàn)的問題未能及時(shí)有效解決，導(dǎo)致重復(fù)發(fā)生。不能按營銷出貨計(jì)劃按時(shí)出貨。用戶代理商VO內(nèi)部顧客制造部門營銷中心C月批次不良率CTQCTQ定 義月批次不良率指每月保證試

5、驗(yàn)中檢出不合格的批次數(shù)占每月總試驗(yàn)批次數(shù)的百分比。缺陷定義：要求月批次不良率55整理課件高級流程圖（SIPOC）分析AMICDSIPOC模型圖公司批量生產(chǎn)產(chǎn)品產(chǎn)品范圍生產(chǎn)轉(zhuǎn)拉20臺產(chǎn)品試驗(yàn)實(shí)施選擇試驗(yàn)項(xiàng)目質(zhì)量管理部OQC試驗(yàn)報(bào)告生產(chǎn)部質(zhì)量管理部IQC質(zhì)量管理部OQCSUPPLIERSINPUTPROCESSCUSTOMERSOUTPUT合格出貨試驗(yàn)結(jié)果通報(bào)工程技術(shù)部糾正預(yù)防措施表工程技術(shù)部中試工程師審核分析6整理課件批次不良率波動(dòng)太大，且持續(xù)上升AMICD數(shù)據(jù)收集 收集從2004年以來至2006年4月的每月保證試驗(yàn)總單數(shù)，并統(tǒng)計(jì)每月的具體試驗(yàn)不良信息，計(jì)算每月試驗(yàn)批次不良率。每月試驗(yàn)批次數(shù)每月

6、不合格批次數(shù)每月試驗(yàn)批次不良率7整理課件AMICD針對05年和06年的試驗(yàn)不良進(jìn)行故障分類，找出關(guān)鍵的少數(shù) 針對上頁05年和06年的試驗(yàn)不良故障分類數(shù)據(jù)進(jìn)行柏拉圖分析，找出關(guān)鍵的少數(shù)導(dǎo)致可靠性試驗(yàn)缺陷率居高不下的焦點(diǎn)問題，重點(diǎn)進(jìn)行分析改善。排列前7位的故障類型占整個(gè)可靠性試驗(yàn)不良的73，集中解決這些問題就可杜絕大部分可靠性問題的損失同一故障重復(fù)發(fā)生率非常高8整理課件AMICD測量階段總結(jié) 焦點(diǎn)問題陳述焦點(diǎn)問題試驗(yàn)不良次數(shù)潛在失效影響模式產(chǎn)品類型市場投訴分析及現(xiàn)階段控制A斑馬紙脫落30機(jī)械應(yīng)力或氣候環(huán)境應(yīng)力時(shí)電話機(jī)模組斑馬紙可能部分脫落，導(dǎo)致話機(jī)顯示不良。HCD/HW電話機(jī)有05年4月-9月集中

7、人力分析解決。見附頁C主板漏電56天氣潮濕時(shí)話機(jī)主板漏電，導(dǎo)致話機(jī)漏電流變大（甚至自動(dòng)摘機(jī)），交換機(jī)判斷為話機(jī)摘機(jī)，導(dǎo)致電話打不進(jìn)來。HCD/HA電話機(jī)有今年3月初已召集團(tuán)隊(duì)成員分析解決，現(xiàn)正跟蹤改進(jìn)結(jié)果。B模組漏電13天氣潮濕時(shí)，模組上的海綿吸潮，導(dǎo)致絕緣阻抗降低，引起32.768KHz晶體停振，導(dǎo)致電話機(jī)無顯示、無撥號。HCD系列電話機(jī)有今年3月下旬已召集團(tuán)隊(duì)成員分析解決，現(xiàn)正跟蹤改進(jìn)結(jié)果。FTH382中周偏移13高溫或濕熱環(huán)境中無繩電話座機(jī)RF部分的鑒頻中周TH382頻率發(fā)生漂移，導(dǎo)致無繩手機(jī)發(fā)話變小甚至無繩手機(jī)無連接。HW系列電話機(jī)有團(tuán)隊(duì)分析解決中E咪頭松脫16跌落或振動(dòng)時(shí)免提咪頭可能

8、松脫導(dǎo)致話機(jī)免提嘯叫?；蛟诟邷卮鎯Νh(huán)境中黃臘融化堵住咪頭孔，導(dǎo)致免提無發(fā)話。HCD/HW電話機(jī)有團(tuán)隊(duì)分析解決中DLCD鏡片裂15話機(jī)受到跌落和擠壓時(shí)可能導(dǎo)致LCD顯示鏡片破裂，導(dǎo)致話機(jī)無顯示。HCD/HW電話機(jī)有設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)問題此次項(xiàng)目解決困難，暫不考慮鈴聲類22話機(jī)不響鈴、鈴聲失真、鈴聲無大小調(diào)節(jié)、鈴聲小HA/HCD/HW電話有因主要為元器件故障，類別較分散難以集中解決，不考慮。9整理課件AMICDF(TH382中周頻率偏移)的潛在原因(魚骨圖) 原材料組件產(chǎn)品參數(shù)/結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)生產(chǎn)過程工藝環(huán)境因素溫度漂移率涂膠工藝物料混用高溫55老化試驗(yàn)篩選銅殼材質(zhì)機(jī)械振動(dòng)品質(zhì)因數(shù)Q值磁心導(dǎo)磁率濕熱環(huán)境磁心力矩諧

9、振頻率范圍骨架材質(zhì)內(nèi)附調(diào)諧電容線圈繞線材質(zhì)灰塵因素生產(chǎn)調(diào)試高溫環(huán)境低溫環(huán)境TH382中周頻率偏移化學(xué)腐蝕磁帽材質(zhì)膠水性能是否全檢測試磁帽與磁芯相對位移電容材質(zhì)等級封裝工藝我司生產(chǎn)調(diào)試工藝封蠟工藝封紅膠工藝是否調(diào)試最佳焊接影響線路參數(shù)匹配可能的影響因子后續(xù)驗(yàn)證方案規(guī)格要求溫度漂移率從我司現(xiàn)用的中周庫存抽樣，進(jìn)行環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)并測試其溫度漂移率是否超標(biāo)。0.5內(nèi)附調(diào)諧電容針對市場客戶端維修退回的不良中周進(jìn)行結(jié)構(gòu)分拆，測試其內(nèi)附電容。330 5磁帽與磁芯相對位移針對市場客戶端維修退回的不良中周進(jìn)行結(jié)構(gòu)分拆驗(yàn)證確認(rèn)。455KHz0.5封紅膠工藝通過封紅膠工藝前后的中周頻率比對確認(rèn)是否會影響。455KH

10、z0.510整理課件AMICD鑒頻中周TH382規(guī)格要求和結(jié)構(gòu)圖展示TH382規(guī)格要求： 中心頻率（13） 455KHz； 可調(diào)頻率（13） 455KHz3（min）； 內(nèi)附電容（13） 330pf5； 品質(zhì)因數(shù)（13） Min50（455KHz）； 溫度漂移范圍0.5電容帶螺紋磁帽骨架磁芯繞線電感銅殼螺紋TH382中周內(nèi)部電路連接LC振蕩回路依靠磁帽進(jìn)入磁芯線圈的深度來調(diào)節(jié)電感量依此達(dá)到調(diào)節(jié)振蕩頻率的目的11整理課件AMICD鑒頻中周TH382庫存抽樣分析溫度漂移率中山高雅中周TH382在TCL庫存抽樣30pcs進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測試標(biāo)注紅色的數(shù)據(jù)超出規(guī)格限要求（溫度漂移范圍0.5）12整理課件AMI

11、CD高雅中周頻率變化率的t檢驗(yàn)分析 2006-6-19 9:25:50Two-Sample T-Test and CI: 高雅中周頻偏變化率, 試驗(yàn)環(huán)境 Two-sample T for 高雅中周頻偏變化率試驗(yàn)環(huán)境 N Mean StDev SE Mean低溫 29 -0.0114 0.0887 0.016高溫 30 0.668 0.859 0.16Difference = mu (低溫) - mu (高溫)Estimate for difference: -0.67967795% CI for difference: (-1.002232, -0.357121)T-Test of diffe

12、rence = 0 (vs not =): T-Value = -4.31 P-Value = 0.000 DF = 29P值為高溫、低溫條件下中周頻率變化率指標(biāo)差別顯著。鑒頻中周TH382庫存抽樣分析溫度漂移率13整理課件AMICD高雅中周頻率高低溫試驗(yàn)變化率的流程能力分析1、低溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 1.822、高溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 0.02，能力不足，有一半以上指標(biāo)超標(biāo)，急需改善。TH382中周溫度漂移率： 通過上述分析驗(yàn)證高溫環(huán)境導(dǎo)致TH382中周頻率嚴(yán)重漂移超過0.5，供應(yīng)商的原材料和工藝變異大。鑒頻中周TH382庫存抽樣分析溫度漂移率14整理課件AMICD鑒頻中

13、周TH382數(shù)據(jù)門分析選取市場退回的的25pcs樣品進(jìn)行實(shí)際頻率測試標(biāo)注紅色的數(shù)據(jù)超出規(guī)格限要求（溫度漂移范圍0.5）15整理課件AMICD鑒頻中周TH382內(nèi)附電容分析內(nèi)附調(diào)諧電容 不良電容有13個(gè)，其余12個(gè)電容容量合格。 1、分析不良品中周發(fā)現(xiàn)中周內(nèi)附電容有兩種不同品牌（TDK、高雅品牌），其中TDK的電容有13pcs, 高雅的電容有12pcs。 2、不良品的電容測量，發(fā)現(xiàn)TDK電容容量均變小，只有270-310pf（規(guī)格要求為313.5346.5pf （330pf5 ），高雅電容均在合格范圍內(nèi)。 （經(jīng)立即聯(lián)系供應(yīng)商追朔供貨記錄及生產(chǎn)記錄，供應(yīng)商確認(rèn)回復(fù)，TDK電容使用的原因：批量生產(chǎn)時(shí)

14、高雅電容不夠時(shí)經(jīng)常用TDK電容替用）。 經(jīng)過上述分析排查可以確定TDK電容不良造成TH382中周頻率偏移，其電介質(zhì)材料為二類X7R(2X1)，電容容量誤差達(dá)到K檔10%。 針對市場退回不良樣品進(jìn)行其結(jié)構(gòu)內(nèi)附微型管狀陶瓷電容器容量測試，結(jié)果如下：規(guī)格要求： 330pf5 編號12345678910111213容量315302305332281318321270275334319298341編號141516171819202122232425容量28529631927832233530829632629228632616整理課件AMICD鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析磁帽與磁芯相對位移 其電感量和電容

15、均符合規(guī)格要求，此時(shí)通過逆向思維，對頻率偏移的中周進(jìn)行磁帽調(diào)節(jié)，發(fā)現(xiàn)均可調(diào)回初始調(diào)制頻率。因此得出：TH382中周磁帽與磁芯發(fā)生了相對位移，導(dǎo)致LC振蕩回路的電感量發(fā)生 了變化，因此諧振頻率偏移初始調(diào)制值。對其余12個(gè)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析：帶螺紋磁帽其內(nèi)部電路是一個(gè)LC振蕩回路用調(diào)筆調(diào)節(jié)磁帽，依靠磁帽螺紋與銅殼螺紋旋轉(zhuǎn)，覆蓋磁芯線圈的深度來調(diào)節(jié)電感量依此達(dá)到調(diào)節(jié)振蕩頻率的目的。17整理課件AMICD鑒頻中周TH382我司生產(chǎn)過程頻率偏移分析封紅膠工藝 公司無繩機(jī)芯調(diào)試線反饋已調(diào)試好的無繩座機(jī)放置一兩天周轉(zhuǎn)到裝配線生產(chǎn)時(shí)反饋出現(xiàn)手機(jī)發(fā)話變小和無對碼故障。 五樓機(jī)芯測試調(diào)試線，調(diào)節(jié)TH382以使座機(jī)射頻接

16、收失真度最?。ㄐ∮?），且輸出音頻信號幅度最大。然后用紅膠點(diǎn)膠到TH382中固定已調(diào)試好的最佳頻率位置（即固定磁帽位置）。而行業(yè)標(biāo)桿公司步步高、PHILIPS采用封蠟工藝。 經(jīng)對比試驗(yàn)：試用50臺點(diǎn)高溫蠟的TH382中周，經(jīng)試驗(yàn)前后數(shù)據(jù)比對一致。 原因分析：紅膠的特點(diǎn)是完全固化的時(shí)間較長約24小時(shí)，固化前后體積的收縮變化牽引銅殼上的磁帽與基板上磁芯的相對位移而引起振蕩頻率變化。 TH382點(diǎn)紅膠固定磁帽PHILIPS和步步高均采用封蠟工藝-18整理課件AMICDE（免提咪頭套松脫）原因分析咪頭套松脫的測試分析跌落試驗(yàn)中共有12臺話機(jī)松脫19整理課件20整理課件AMICD分析階段總結(jié)根本原因列表

17、焦點(diǎn)問題根本原因列表F中周TH382頻率偏移1鑒頻中周TH382內(nèi)附電容TDK電容不良2鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析磁帽與磁芯相對位移3我司生產(chǎn)調(diào)試固定工藝點(diǎn)紅膠4供應(yīng)商過程質(zhì)量控制溫度漂移率E咪頭套松脫1咪頭套材質(zhì)與封蠟工藝不配21整理課件AMICD1、鑒頻中周TH382內(nèi)附電容TDK電容不良高雅電容X7R J檔5%全部更換為針對中周TH382頻率偏移根本原因的解決方案2、鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析磁帽與磁芯相對位移基板與銅殼之間加涂膠水加固3、我司生產(chǎn)調(diào)試固定工藝點(diǎn)紅膠供應(yīng)商改進(jìn)采用封高溫蠟工藝固定改進(jìn)工藝4、供應(yīng)商過程質(zhì)量控制溫度漂移率供應(yīng)商出廠55度12小時(shí)100老化篩選工序增加檢驗(yàn)措施

18、22整理課件AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對改進(jìn)后的TH382進(jìn)行試驗(yàn)，結(jié)果全部合格。23整理課件AMICD 針對改進(jìn)后TH382中周頻率高、低溫試驗(yàn)變化率的流程能力分析：1、低溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 2.80，改進(jìn)前為1.82，改進(jìn)效果明顯。2、高溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 1.27，與改進(jìn)前的0相比較有很大的改善。試運(yùn)行及效果驗(yàn)證24整理課件AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證改進(jìn)前后TH382中周高溫環(huán)境頻率變化率（）比較：改進(jìn)后全不符合規(guī)格要求0.525整理課件AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對改進(jìn)后的TH382中周進(jìn)行裝機(jī)老化實(shí)驗(yàn)7天，要求話機(jī)發(fā)話SLR變化不大于8dB。結(jié)果全部合格。2

19、6整理課件AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對改進(jìn)后的TH382中周進(jìn)行裝機(jī)老化試驗(yàn)，流程能力分析1、改進(jìn)后的TH382進(jìn)行裝機(jī)老化流程能力分析Cpk 1.3727整理課件23AAMMIICCDDE（免提咪頭套松脫）根本原因的解決方案咪頭套材質(zhì)改變材質(zhì)原用橡膠材質(zhì)咪頭套EVA材質(zhì)咪頭套 將橡膠咪頭套改用EVA材質(zhì)的咪套，在原來的基礎(chǔ)上將咪套尺寸加大0.5mm，因EVA材質(zhì)密度不大，收縮性好，在尺寸大的情況下也能很容易的裝入，并且黃臘在液態(tài)狀態(tài)下很容易被EVA材質(zhì)的咪套吸附，在黃臘固化后相對咪套與咪槽卡得緊一些，同時(shí)可降低材料成本。28整理課件AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證E（免提咪頭套松脫） 針對改進(jìn)后

20、的EVA材質(zhì)咪頭套在有問題的具體6款機(jī)型HCD89、HCD13B、HCD55、HCD37、HCD17B、HCD62上進(jìn)行跌落驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)，每款話機(jī)5臺，共測試30臺，由原來有12臺不合格，改進(jìn)后全部合格。第一批試用2000個(gè)已到，下周在此六款話機(jī)批量試用（依生產(chǎn)計(jì)劃）29整理課件AMICD改進(jìn)方案的實(shí)施計(jì)劃及風(fēng)險(xiǎn)分析焦點(diǎn)問題根本原因改進(jìn)方案實(shí)施控制方案現(xiàn)有產(chǎn)品處理風(fēng)險(xiǎn)分析負(fù)責(zé)人時(shí)間中周TH382頻率偏移鑒頻中周TH382內(nèi)附電容TDK電容不良更換為高雅電容X7R J檔5%電容器絲印瓷粉顏色區(qū)別IQC來料檢查確認(rèn)公司HW成品存貨問題話機(jī)6K已全部返工更換改進(jìn)后的TH382中周處理。庫存問題中周已全部退回供應(yīng)商禁發(fā)TCL處理。改進(jìn)中周外觀標(biāo)記由TH382改為L7。試驗(yàn)驗(yàn)證合格。但最終仍需待市場驗(yàn)證。中試黃志強(qiáng)PE經(jīng)理廖海昌IQC劉雪峰6月30日鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析磁帽與磁芯相對位移基板與銅殼之間加涂膠水加固來料抽樣檢查確認(rèn)供應(yīng)商過程質(zhì)量控制溫度漂移率供應(yīng)商出廠55度12小時(shí)100老化篩選工序供應(yīng)商提