(word)高電壓及答案第4章

1、(word完整版)高電壓答案第4章(word完整版)高電壓答案第4章PAGE PAGE7PAGE 7(word完整版)高電壓答案第4章第四章參考絕緣試驗(yàn)的目的是什么分為哪兩大類各自的特點(diǎn)和應(yīng)用范圍是什么答：絕緣試驗(yàn)的目的是考驗(yàn)絕緣耐壓情況，判斷絕緣的狀況。主要分為耐壓試驗(yàn)和檢查性試驗(yàn)。分為耐壓試驗(yàn)和檢查性試驗(yàn)?zāi)蛪涸囼?yàn)：模仿設(shè)備絕緣在運(yùn)行中可能受到的各種電壓（包括電壓波形、幅值、持續(xù)時(shí)間等），對(duì)絕緣施加與之等價(jià)或更為嚴(yán)峻的電壓，從而考驗(yàn)絕緣耐受這類電壓的能力。主要包含交流耐壓試驗(yàn)，直流耐壓試驗(yàn)，雷電沖擊耐壓試驗(yàn)及操作沖擊耐壓試驗(yàn)。這類試驗(yàn)顯然是最有效和最可信的，但耐壓試驗(yàn)只能在絕緣缺陷已發(fā)展到較

2、嚴(yán)重的程度時(shí)，才能以擊穿破壞的形式揭示出來(lái)且不能明顯地揭示絕緣缺陷的性質(zhì)和根源。這類試驗(yàn)有可能導(dǎo)致絕緣的破壞，故也稱為破壞性試驗(yàn)。檢查性試驗(yàn)：非破壞性試驗(yàn)，用以在較低電壓下或用其它不會(huì)損傷絕緣的方法測(cè)量絕緣的各種情況，從而判斷絕緣內(nèi)部的缺陷。主要包括絕緣電阻試驗(yàn)，介質(zhì)損耗角正切試驗(yàn)，局部放電試驗(yàn)和絕緣油的氣相色譜分析等。說(shuō)明絕緣電阻、泄漏電流、表面泄漏的含義。實(shí)際測(cè)量絕緣泄漏電流時(shí)，當(dāng)被試品分別為一端直接接地和不直接接地時(shí)，如何屏蔽表面泄漏的影響？請(qǐng)給出接線圖，并說(shuō)明各元件的名稱和作用。泄漏電流：在電介質(zhì)上施加直流電壓，經(jīng)過(guò)一定時(shí)間后，極化過(guò)程結(jié)束，流過(guò)介質(zhì)的電流趨于一定值，稱為泄漏電流。表面

3、泄漏電流：流經(jīng)固體介質(zhì)的外表面的穩(wěn)定電流稱為表面泄漏電流。被試品分別為一端直接接地和不直接接地，及如何屏蔽表面泄露的影響參見(jiàn)課本P141.圖5-2-1和圖5-2-2。測(cè)量絕緣材料的泄漏電流時(shí)，為什么要用直流高壓而不是交流高壓？答：在交流高壓作用下，流經(jīng)絕緣材料的電流除了泄漏電流外還包含容性電流。什么是吸收現(xiàn)象出現(xiàn)吸收現(xiàn)象的原因和條件如何根據(jù)吸收現(xiàn)象判斷電氣絕緣的狀況答：吸收現(xiàn)象：極性電介質(zhì)在恒定電場(chǎng)中存在極化現(xiàn)象，反映在電介質(zhì)的絕緣電阻值（泄漏電流）需要經(jīng)過(guò)較長(zhǎng)的時(shí)間才能達(dá)到穩(wěn)定值。產(chǎn)生吸收現(xiàn)象的根本原因是介質(zhì)的空間電荷極化；條件是絕緣狀況良好。根據(jù)吸收現(xiàn)象可以判斷電絕緣受潮、或存在某些穿透性

4、的導(dǎo)電通道等缺陷，因?yàn)榇藭r(shí)，代表電介質(zhì)吸收特性的串聯(lián)支路中電阻值顯著減小，對(duì)應(yīng)的時(shí)間常數(shù)也大為減小，絕緣電阻、泄漏電流值很快達(dá)到穩(wěn)定值。因此，通常用時(shí)間60s和15s時(shí)所測(cè)得的絕緣電阻值之比（稱為吸收比）與規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)、歷史數(shù)據(jù)和同類設(shè)備數(shù)據(jù)相比較，來(lái)判斷設(shè)備的電氣絕緣狀況，答：直流電介質(zhì)的損耗以電導(dǎo)性損耗為主，交流電介質(zhì)的損耗包括電導(dǎo)性損耗和極化損耗兩部分。交流設(shè)備的介質(zhì)損耗與溫度、所施加電壓的頻率和場(chǎng)強(qiáng)有著密切的關(guān)系。答：一般來(lái)說(shuō)，新的、良好絕緣，在其額定電壓范圍內(nèi)，絕緣的tg是幾乎不變的，當(dāng)電壓上升或下降時(shí)測(cè)得的tg是接近一致的，不會(huì)出現(xiàn)回環(huán)。絕緣中存在氣泡、分層、脫殼等情況時(shí)，當(dāng)所加試驗(yàn)電

5、壓足以使絕緣中的氣隙電離或產(chǎn)生局部放電等情況時(shí)，tg的值將隨試驗(yàn)電壓的升高而迅速增大；且當(dāng)試驗(yàn)電壓下降時(shí)，tg-u曲線會(huì)出現(xiàn)回環(huán)。因此，測(cè)定介質(zhì)損耗時(shí)所用的電壓，原則上最好接近于被試品的正常工作電壓。測(cè)量介質(zhì)損耗能發(fā)現(xiàn)下列缺陷：受潮穿透性導(dǎo)電通道絕緣內(nèi)含氣泡的電離，絕緣分層、脫殼絕緣老化劣化，繞組上附積油泥絕緣油臟污、劣化等如果（?。┧釉囼?yàn)電壓足以使絕緣中的氣隙電離或產(chǎn)生局部放電等情況時(shí)，tg的值將隨試驗(yàn)電壓的升高而迅速增大；通過(guò)測(cè)tg U 的關(guān)系曲線判斷。 ， ， 答：什么是測(cè)量tan的正接線和反接線？請(qǐng)給出接線圖，這兩種接線各自適用于何種場(chǎng)合測(cè)量tan時(shí)應(yīng)注意什么？答：測(cè)量tg的正接法（西林電橋）：要求被試品兩端均不接地。 正接法 反接法測(cè)量tg的反接法（反接法的西林電橋）：在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)：通常測(cè)試材料及小設(shè)備，被試品是對(duì)地絕緣的；現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)中：有許多一端接地的試品，如敷設(shè)在地下的電纜及擺在地面的重大電氣設(shè)備，要改成對(duì)地絕緣是不可能的，只能改變電橋回路的接地點(diǎn)。這樣就產(chǎn)生了一種反接法的西林電橋 測(cè)量介損時(shí)的注意事項(xiàng)：（1）盡可能地分部測(cè)試。例：三繞組變壓器測(cè)量（2）與溫度的關(guān)系：不同溫度下的測(cè)量結(jié)果不能準(zhǔn)確換算。為進(jìn)行比較，要求在相同溫度條件下測(cè)試。（3）與電壓的關(guān)