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集成電路CMOS試題庫(kù)集成電路CMOS試題庫(kù)16/16集成電路CMOS試題庫(kù).一、選擇題1.GordonMoore在1965年預(yù)知:每個(gè)芯片上晶體管的數(shù)目將每個(gè)月翻一番。(B)2.MOS管的小信號(hào)輸出電阻是由MOS管的效應(yīng)產(chǎn)生的。(C)A.體B.襯偏C.溝長(zhǎng)調(diào)制D.亞閾值導(dǎo)通3.在CMOS模擬集成電路設(shè)計(jì)中,我們一般讓MOS管工作在區(qū)。(D)A.亞閾值區(qū)B.深三極管區(qū)C.三極管區(qū)D.飽和區(qū)4.MOS管一旦出現(xiàn)現(xiàn)象,此時(shí)的MOS管將進(jìn)入飽和區(qū)。(A)A.夾斷B.反型C.導(dǎo)電D.耗盡5.表征了MOS器件的矯捷度。(C)A.roB.gmbC.gmD.uncox6.Cascode放大器中兩個(gè)相同的NMOS管擁有不相同的。(B)A.roB.gmbC.gmD.uncox7.基本差分對(duì)電路中對(duì)共模增益影響最顯然的因素是。(C)A.尾電流源的小信號(hào)輸出阻抗為有限值B.負(fù)載不般配C.輸入MOS不般配D.電路制造中的誤差8.以下電路不能夠能使用半邊電路法計(jì)算差模增益。(C)A.二極管負(fù)載差分放大器B.電流源負(fù)載差分放大器C.有源電流鏡差分放大器D.Cascode負(fù)載Casocde差分放大器9.鏡像電流源一般要求相同的。(D)A.制造工藝B.器件寬長(zhǎng)比C.器件寬度WD.器件長(zhǎng)度L10.NMOS管的導(dǎo)電溝道中依靠導(dǎo)電。()...A.電子B.空穴C.正電荷D.負(fù)電荷11.以下結(jié)構(gòu)中密勒效應(yīng)最大的是。(A)A.共源級(jí)放大器B.源級(jí)隨從器C.共柵級(jí)放大器D.共源共柵級(jí)放大器12.在NMOS中,若Vsb0會(huì)使閾值電。(A)A.增大B.不變C.減小D.可大可小模擬集成電路設(shè)計(jì)中可使用大信號(hào)解析方法的是。(C)A.增益B.輸出電阻C.輸出擺幅D.輸入電阻模擬集成電路設(shè)計(jì)中可使用小信號(hào)解析方法的是。(A)A.增益B.電壓凈空C.輸出擺幅D.輸入偏置以下列圖中,其中電壓放大器的增益為-A,假設(shè)該放大器為理想放大器。請(qǐng)計(jì)算該電路的等效輸入電阻為。()第15題RB.RC.R(1A)D.R(11A)A.11A1A16.不能夠直接工作的共源極放大器是共源極放大器。(C)A.電阻負(fù)載B.二極管連接負(fù)載C.電流源負(fù)載D.二極管和電流源并聯(lián)負(fù)載17.模擬集成電路設(shè)計(jì)中的最后一步是。(B)A.電路設(shè)計(jì)B.領(lǐng)土設(shè)計(jì)C.規(guī)格定義D.電路結(jié)構(gòu)選擇...18.在此刻的集成電路制造工藝中,工藝制造的IC在功耗方面擁有最大的優(yōu)勢(shì)。(B)19.PMOS管的導(dǎo)電溝道中依靠導(dǎo)電。(B)B.電子B.空穴C.正電荷D.負(fù)電荷20.電阻負(fù)載共源級(jí)放大器中,以下措施不能夠提高放大器小信號(hào)增益的是。(D)A.增大器件寬長(zhǎng)比B.增大負(fù)載電阻C.降低輸入信號(hào)直流電平D.增大器件的溝道長(zhǎng)度L以下不是基本差分對(duì)電路中尾電流的作用的是。(D)A.為放大器管供應(yīng)固定偏置B.為放大管供應(yīng)電流通路C.減小放大器的共模增益D.提高放大器的增益22.共源共柵放大器結(jié)構(gòu)的一個(gè)重要特色就是輸出阻抗。(D)A.低B.一般C.高D.很高M(jìn)OS管的漏源電流受柵源過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓控制,我們定義來(lái)表示電壓變換電流的能力。(A)A.跨導(dǎo)B.受控電流源C.跨阻D.小信號(hào)增益24.MOS管漏電流的變化量除以柵源電壓的變化量是。(C)A.電導(dǎo)B.電阻C.跨導(dǎo)D.跨阻25.隨著微電子工藝水平提高,特色尺寸不斷減小,這時(shí)電路的工作電壓會(huì)(D)A.不斷提高B.不變C.可大可小D.不斷降低26.工作在飽和區(qū)的MOS管,能夠被看作是一個(gè)。(B)A.恒壓源B.電壓控制電流源...C.恒流源D.電流控制電壓源27.模擬集成電路設(shè)計(jì)中的第一步是。(C)A.電路設(shè)計(jì)B.領(lǐng)土設(shè)計(jì)C.規(guī)格定義D.電路結(jié)構(gòu)選擇28.NMOS管中,若是VB變得更負(fù),則耗盡層。(C)A.不變B.變得更窄C.變得更寬D.幾乎不變29.模擬集成電路設(shè)計(jì)中的最后一步是。(B)A.電路設(shè)計(jì)B.領(lǐng)土設(shè)計(jì)C.規(guī)格定義D.電路結(jié)構(gòu)選擇不能夠直接工作的共源極放大器是(C)共源極放大器。A.電阻負(fù)載B.二極管連接負(fù)載C.電流源負(fù)載D.二極管和電流源并聯(lián)負(fù)載31.采用二極管連接的CMOS,因漏極和柵極電勢(shì)相同,這時(shí)晶體管總是工作在。()A.線性區(qū)B.飽和區(qū)C.截止區(qū)D.亞閾值區(qū)32.關(guān)于MOS管,當(dāng)W/L保持不變時(shí),MOS管的跨導(dǎo)隨過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓的變化是。()A.單調(diào)增加B.單調(diào)減小C.張口向上的拋物線D.張口向下的拋物線33.關(guān)于MOS器件,器件若是進(jìn)入三極管區(qū)(線性區(qū)),跨導(dǎo)將。()A.增加B.減少C.不變D.可能增加也可能減小采用PMOS二極管連接方式做負(fù)載的NMOS共源放大器,下面說(shuō)法正確的是。()A.PMOS和NMOS都存在體效應(yīng),電壓放大系數(shù)與NMOS和PMOS的寬長(zhǎng)比有關(guān)。...B.PMOS和NMOS都存在體效應(yīng),電壓放大系數(shù)與NMOS和PMOS的寬長(zhǎng)比沒(méi)關(guān)。C.PMOS和NMOS不存在體效應(yīng),電壓放大系數(shù)與NMOS和PMOS的寬長(zhǎng)比無(wú)關(guān)。D.PMOS和NMOS不存在體效應(yīng),電壓放大系數(shù)與NMOS和PMOS的寬長(zhǎng)比有關(guān)。35.在W/L保持不變的情況下,跨導(dǎo)隨過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓和漏電流變化的關(guān)系是()A.跨導(dǎo)隨過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓增大而增大,跨導(dǎo)隨漏電流增大而增大??鐚?dǎo)隨過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓增大而增大,跨導(dǎo)隨漏電流增大而減小??鐚?dǎo)隨過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓增大而減小,跨導(dǎo)隨漏電流增大而增大??鐚?dǎo)隨過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓增大而減小,跨導(dǎo)隨漏電流增大而減小。36.和共源極放大器對(duì)照較,共源共柵放大器的密勒效應(yīng)要。()A.小得多B.相當(dāng)C.大得多D.不確定37.MOSFETs的閾值電壓擁有溫度特色。()A.零B.負(fù)C.正D.可正可負(fù)。38.在差分電路中,可采用恒流源代替”長(zhǎng)尾”電阻.這時(shí)要求代替”長(zhǎng)尾”的恒流源的輸出電阻。()A.越高越好B.越低越好C.沒(méi)有要求D.可高可低39.MOS器件中,保持VDS不變,隨著VGS的增加,MOS器件。()A.從飽和區(qū)——>線性區(qū)——>截止區(qū)B.從飽和區(qū)——>截止區(qū)——>線性區(qū)C.從截止區(qū)——>飽和區(qū)——>線性區(qū)D.從截止區(qū)——>線性區(qū)——>飽和區(qū)40.關(guān)于共源共柵放大電路,若是考慮器件的襯底偏置效應(yīng),則電壓增益會(huì)...()A.增大B.不變C.減小D.可能增大也可能減小41.在此刻的集成電路制造工藝中,工藝制造的IC在功耗方面擁有最大的優(yōu)勢(shì)。()保證溝道寬度不變的情況下,采用電流源負(fù)載的共源級(jí)為了提高電壓增益,可以。()減小放大管的溝道長(zhǎng)度,減小負(fù)載管的溝道長(zhǎng)度;減小放大管的溝道長(zhǎng)度,增加負(fù)載管的溝道長(zhǎng)度;增加放大管的溝道長(zhǎng)度,減小負(fù)載管的溝道長(zhǎng)度;增加放大管的溝道長(zhǎng)度,增加負(fù)載管的溝道長(zhǎng)度。隨著微電子工藝水平提高,特色尺寸不斷減小,這時(shí)電路的工作電壓會(huì)。()A.不斷提高B.不變C.可大可小D.不斷降低44.NMOS管中,若是VB電壓變得更負(fù),則耗盡層。()A.不變B.變得更窄C.變得更寬D.幾乎不變?cè)贑MOS差分輸入級(jí)中,下面的做法哪個(gè)對(duì)減小輸入失調(diào)電壓有利()A.減小有源負(fù)載管的寬長(zhǎng)比B.提高靜態(tài)工作電流.C.減小差分對(duì)管的溝道長(zhǎng)度和寬度D.提高器件的開(kāi)啟(閾值)電壓...二、簡(jiǎn)答題1.CMOS模擬集成電路中,PMOS管的襯底應(yīng)該如何連接?為什么?(5分)解:在CMOS工藝中,由于PMOS管做在N型的“局部襯底”也就是N阱里面,因此PMOS管的局部襯底接局部高電位。什么是N阱?(5分)解:CMOS工藝中,PMOS管與NMOS管必定做在同一襯底上,若襯底為P型,PMOS管要做在一個(gè)N型的“局部襯底”上這,塊與襯底混淆種類相反的N型“局部襯底”叫做N阱。3.講解什么叫溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng)?(5分)解:MOS晶體管存在速度飽和效應(yīng)。器件工作時(shí),當(dāng)漏源電壓增大時(shí),實(shí)質(zhì)的反型層溝道長(zhǎng)度逐漸減小,即溝道長(zhǎng)度是漏源電壓的函數(shù),這一效應(yīng)稱為“溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng)”4.何謂MOS管的跨導(dǎo)?寫(xiě)出NMOS管在不相同工作地域中的跨導(dǎo)表達(dá)式。(10分)解:漏電流的變化量除以柵源電壓的變化量稱之為跨導(dǎo)。放大區(qū):飽和區(qū):截止區(qū):電流為0無(wú)跨導(dǎo)5.IC設(shè)計(jì)常用軟件有哪些?(10分)解:Cadence、MentorGraphics和Synopsys6.CMOS模擬集成電路中,NMOS管的襯底應(yīng)該如何連接?為什么?(5分)解:NMOS襯底接最低電位;目的是為了讓襯底PN結(jié)反偏,限制載流子只在溝道里流動(dòng)。...7.簡(jiǎn)單說(shuō)明模擬集成電路芯片一般的設(shè)計(jì)流程。(5分)8.何謂MOS管的跨導(dǎo)?寫(xiě)出PMOS管在不相同工作地域中的跨導(dǎo)表達(dá)式。(10分)解:漏電流的變化量除以柵源電壓的變化量稱之為跨導(dǎo)。放大區(qū):gm=μp飽和區(qū);截止區(qū):電流為0無(wú)跨導(dǎo)9.以NMOS為例,忽略高階效應(yīng),寫(xiě)出器件工作的三個(gè)狀態(tài)的條件,并寫(xiě)出三個(gè)狀態(tài)下的I-V特色方程,推導(dǎo)不相同工作狀態(tài)下的跨導(dǎo)表達(dá)式。(10分)解:其各段工作情況為:當(dāng)V-VTH<0時(shí),管子關(guān)斷,處于稍微導(dǎo)通區(qū),或GS者處于亞閾值區(qū);當(dāng)VGS-VTH>0時(shí),管子導(dǎo)通,此時(shí),若VDS<VGS-VTH時(shí),管子處于線性放大區(qū),也許三角區(qū),也許線性區(qū);若V>V-VTH時(shí),管子處于飽和DSGS區(qū),漏電流基本保持不變。線性區(qū):飽和區(qū):10.簡(jiǎn)單描述N阱CMOS工藝的主要流程步驟,畫(huà)出N阱CMOS工藝下的CMOS器件剖面表示圖。(10分)解:主要工藝流程步驟為:晶圓準(zhǔn)備;雜質(zhì)注入擴(kuò)散;氧化;光刻;腐化;淀積;...CMOS器件剖面表示圖為:11.解析差分電路中器件不般配對(duì)差分對(duì)性能所造成的影響。(5分)給出以下列圖電路中的Vout表達(dá)式。(R1=R2)(5分)13.寫(xiě)出NMOS管構(gòu)成的基本電流鏡在忽略溝道長(zhǎng)度調(diào)制情況下的輸出電流Iout和參照電流的關(guān)系式IREF。(5分)VddM3M4IREFIoutM1M2解:NMOS管構(gòu)成的基本電流鏡Iout/Iref=(w/l)2/(w/l)1圖(a)是什么結(jié)構(gòu)?圖(b)忽略了溝道調(diào)制效應(yīng)和體效應(yīng)。若是體效應(yīng)不能夠忽略,請(qǐng)畫(huà)出Vin和Vout的關(guān)系曲線,并出講解。(10分)...15.畫(huà)出以下列圖的小信號(hào)等效電路,推導(dǎo)Rin的表達(dá)式。(10分)什么是體效應(yīng)?體效應(yīng)會(huì)對(duì)電路產(chǎn)生什么影響?(5分)解:理想情況下是假設(shè)晶體管的襯底和源是短接的,實(shí)質(zhì)上兩者其實(shí)不用然電位相同,當(dāng)VB變得更負(fù)時(shí),VTH增加,這種效應(yīng)叫做體效應(yīng)。體效應(yīng)會(huì)改變晶體管的閾值電壓。...帶有源極負(fù)反響的共源極放大電路有關(guān)于基本共源極電路有什么優(yōu)點(diǎn)?(10分)解:由帶有源極負(fù)反響的共源極放大電路的等效跨導(dǎo)表達(dá)式得,若RS>>1/gm,則Gm≈1/RS,所以漏電流是輸入電壓的線性函數(shù)。所以相對(duì)于基本共源極電路,帶有源極負(fù)反響的共源極放大電路擁有更好的線性。三、計(jì)算題1.MOS管的跨導(dǎo)關(guān)于由MOS管構(gòu)成的電路性能有重要的影響,試解析以下三種情況,跨導(dǎo)隨著某一個(gè)參數(shù)變化,而其他參數(shù)保持恒準(zhǔn)時(shí)的特色,畫(huà)出相應(yīng)曲線1)W/L不變時(shí),gm與(VGS-VTH)的變化曲線;2)W/L不變時(shí),gm與ID的變化曲線;(3)ID不變時(shí),gm與(VGS-VTH)的變化曲線。(共15分)2.關(guān)于以下列圖所示的兩個(gè)電路,分別求解并畫(huà)出IX和晶體管跨導(dǎo)關(guān)于VX的函數(shù)曲線草圖,VX從0變化到1.5V。(20分)圖(a)圖(b)解:下列圖是哪一種種類的放大器?有哪些優(yōu)點(diǎn)?寫(xiě)出其增益表達(dá)式。其中(15分)1題4.畫(huà)出帶隙基準(zhǔn)的構(gòu)成原理框圖,說(shuō)明帶隙的含義,并設(shè)計(jì)一個(gè)帶隙基準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)電路。(20分)解:帶隙基準(zhǔn)的構(gòu)成原理圖以以下列圖所示:它是利用VBE的負(fù)溫度系數(shù)和Vt的正溫度系數(shù)相結(jié)合,從而實(shí)現(xiàn)0溫度系數(shù)的...電壓參照。依照以上原理圖,能夠獲取,由于在室溫下,可是,我們能夠令,選擇使得,也就是即可獲取零溫度系數(shù),則此時(shí),恰巧等于硅的帶隙能量,所以稱為帶隙基準(zhǔn)。實(shí)現(xiàn)電路以下列圖。5、試解析所示電路,在低頻地域中,要求(1)求出其小信號(hào)增益;(2)求出其輸入阻抗;(3)求出其輸出阻抗。(15分)6、以下列圖電路的功能是什么?假設(shè)V

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