硅膠產(chǎn)品檢驗標(biāo)準(zhǔn)

硅膠產(chǎn)品檢驗標(biāo)準(zhǔn)硅膠產(chǎn)品檢驗標(biāo)準(zhǔn)硅膠產(chǎn)品檢驗標(biāo)準(zhǔn)V:1.0精細(xì)整理，僅供參考硅膠產(chǎn)品檢驗標(biāo)準(zhǔn)日期：20xx年X月硅膠產(chǎn)品檢驗標(biāo)準(zhǔn)一.一般標(biāo)準(zhǔn)1.工作溫度:-15℃—+2.貯存溫度:-30℃—+3.貯存時間:A.產(chǎn)品在無擠壓情況下平放:可長期保貯

B.產(chǎn)品在擠壓情況下存放:1個月4.工作相對濕度:45℅—95℅5.工作氣壓:86-106Kpa6.接觸率:5MA在12VDC/秒/2*107次7.接觸反彈:<12毫秒8.絕緣電阻:>1012歐姆/500VDC9.擊穿電壓:>25KV/mm二.外觀1.

顏色(1).標(biāo)準(zhǔn):硫化裝配后硅膠不外露,無較大差異(2).檢測方法:在明亮的自然光或40W日光燈下,將標(biāo)準(zhǔn)樣品或色卡與待校樣品放

在一起,經(jīng)視力以上,無色盲的專業(yè)人員在肉眼與樣品間距為30cm的情

況下目檢5秒鐘.2.

偏心(1)標(biāo)準(zhǔn):H厚–H薄

彈性壁厚度≤0.1MM時,模具檢測時X=20℅;

≤X

彈性壁厚度≤0.2MM時,模具檢測時X=15℅

H厚+H薄

彈性壁厚度≤0.3MM時,模具檢測時X=8%

(2)檢測方法:用厚度儀測試。3.

溢料(1)

標(biāo)準(zhǔn):從鍵面向下

單色料高≥露出外殼高度+1.0MM,裝外殼后看不見為宜.(2)

檢測方法:用游標(biāo)卡尺測量4.

毛邊(1)標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品邊緣:≤0.5MM

定位孔:

≤0.1MM5.

破裂(1)

標(biāo)準(zhǔn):無影響裝配與使用性能之處:≤1.0MM(2)

檢測方法:用游標(biāo)卡尺測量6.

色點凹凸點(1)標(biāo)準(zhǔn):客戶裝配后硅膠外露部分:無明顯可見

檢測方法:在明亮的自然光或40瓦日光燈照射下,將樣品放于距肉眼30CM左右處經(jīng)

視力以上人員目測5秒鐘

7.以上字符偏移(1)

標(biāo)準(zhǔn):中心值±0.15MM(2)

檢測方法:用工具顯微鏡測量

三.物理性能1.尺寸

L<10:L±0.05MM

10≤L<20:L±0.08MM

20≤L<30:L±0.10MM

30≤L<50:L±0.15MM

50≤L<100:L±℅LMM

100≤L

:L±℅LMM（2）

檢測方法:用投影儀測量

2.彈力(1)標(biāo)準(zhǔn):A.峰值P1

標(biāo)準(zhǔn)值:

50±(5-10)g

70±(10-15)g

90±(15-20)g

100±(15-20)g

120±(20-25)g

150±(20-25)g

170±(25-30)g

200-300g±35gb.最小回彈P3

P1≤50G時:P3≥20G

50G<P1≤120G時:P3≥25G

120G<P1≤180G時:P3≥30G

180G<P1≤250G時:P3≥40G

250G<P1

時:P3≥50Gc.感覺:20℅-80℅d.離散性

P1中心值≤150g時,同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤15℅

不同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤20℅

P1中心值≥150g時,同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤20℅

不同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤25℅

(2)測試方法:用AIKOHMODEL1305彈力測量儀測出彈力隨沖程的變化曲線圖讀取其峰值P1,接觸彈力P2,最小回彈P3.計算其:

感覺=(P1-P2)/P1*100℅

離散性=((P1最大峰值)-P1(最小峰值))/P1(最大峰值)*100℅

3.接觸電阻(1)標(biāo)準(zhǔn):a.黑粒導(dǎo)電:≤100歐姆b.移印導(dǎo)電:≤250歐姆c.絲印導(dǎo)電:≤500歐姆(2)測試方法:用壓力為250g壓力使產(chǎn)品鍵之導(dǎo)電基壓在間隔為0.5MM的單縫半月形鍍金板上.待萬用表顯示值基本穩(wěn)定后,讀取其顯示值.

5.壽命a.彈性壁壽命(1)標(biāo)準(zhǔn):≥50萬次(2)測試方法:在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下,設(shè)置打擊平臺的打擊接觸行程為產(chǎn)品沖程+[經(jīng)10萬次打擊后,彈性壁不得開裂破損,可回彈且提失≤30%,當(dāng)客戶無要求時均按50萬次進行測試.b.印刷導(dǎo)電壽命(1)標(biāo)準(zhǔn):≥2,000,00次(2)測試方法:在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下,設(shè)置打擊平臺的打擊接觸行程為產(chǎn)品沖程+[經(jīng)20萬次打擊后,導(dǎo)電物質(zhì)不得從導(dǎo)電基上脫落且其接觸電阻在規(guī)格內(nèi).

c.印刷字體壽命(1)標(biāo)準(zhǔn):≥100圈(2)測試方法:將字符單鍵安裝于PK-3-4字體壽命儀上,使鍵高出-1.0MM,在加上500G的壓力轉(zhuǎn)動摩擦,字體不斷開,當(dāng)客戶無明確要求時可采用目視厚度方法進行壽命控制.

壽命

⑴標(biāo)準(zhǔn):≥RCA50圈

⑵測試方法:將測試KEY安裝于RCA摩擦儀上露了高度-1mm,壓力為175g情況下字體出現(xiàn)損傷時壽命即為PU壽命.客戶無要求時,PU壽命按此標(biāo)準(zhǔn).

四.化學(xué)性能(只限錄音電話機的硅膠按鍵)1.加熱失重率(1)

標(biāo)準(zhǔn):a.≤％(經(jīng)200℃

b.≤％(經(jīng)200℃(2)

測試方法:將產(chǎn)品放于干燥箱內(nèi)30分鐘,然后取出,用分析天平稱取測試前產(chǎn)品的片重,W1將產(chǎn)品放入溫度為200+/-5℃2.抽提失重率(1)標(biāo)準(zhǔn):≤％(3)

測試方法:選取一些有代表性的鍵,剪取約0.5g樣品,再將其剪成-0.01g的小粒,用分析天平稱其準(zhǔn)確總重為W1,將樣品放抽提器內(nèi)并加入異炳醇(IPA)進行提2小時,然后取出樣品再放入溫度為1003.低分子含量(1)

標(biāo)準(zhǔn):D3-D10≤300PPM

測試