數(shù)電實(shí)驗(yàn)講義

試驗(yàn)講義信息工程學(xué)院通信工程系李曉梅試驗(yàn)一SSI試驗(yàn)性質(zhì)：設(shè)計(jì)性一、試驗(yàn)?zāi)康陌盐諗?shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)儀的使用方法。學(xué)會(huì)門電路規(guī)律功能的測(cè)試。把握SSI組合規(guī)律電路的分析及設(shè)計(jì)應(yīng)用。二、試驗(yàn)原理自己總結(jié)幾種小規(guī)模規(guī)律門電路的規(guī)律關(guān)系和表達(dá)式。三、試驗(yàn)儀器數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)儀、74HC00、74HC32、74HC86、數(shù)字萬(wàn)用表四、預(yù)習(xí)報(bào)告要求復(fù)習(xí)CMOS與非門00，或門3，異或門8〕的規(guī)律功能及真值表生疏各集成芯片的管腳圖把握SSI五、試驗(yàn)內(nèi)容規(guī)律門功能測(cè)試輸入A0011B0輸入A0011B0101與非門F1輸或非門F2出異或門F3F3/V規(guī)律門功能轉(zhuǎn)換用兩輸入與非門實(shí)現(xiàn)或非門功能，畫出規(guī)律電路圖，測(cè)試并將結(jié)果填入表中輸輸入A0011B0101輸 出Y用兩輸入與非門設(shè)計(jì)三人無(wú)棄權(quán)表決電路，當(dāng)多數(shù)同意時(shí)，輸出F=1，否則F=0。要求列出真值表，寫出最簡(jiǎn)規(guī)律表達(dá)式，畫出規(guī)律電路圖。六、試驗(yàn)報(bào)告要求依據(jù)上述試驗(yàn)內(nèi)容要求，寫出設(shè)計(jì)過(guò)程，寫出試驗(yàn)結(jié)果?？偨Y(jié)試驗(yàn)中消滅的特別現(xiàn)象，并作出分析和爭(zhēng)論。試驗(yàn)思考題：設(shè)計(jì)輸血推斷電路，要求列出真值表，寫出最簡(jiǎn)規(guī)律表達(dá)式，畫出規(guī)律電路圖。試驗(yàn)二MSI試驗(yàn)性質(zhì)：設(shè)計(jì)性一、試驗(yàn)?zāi)康臋z測(cè)及生疏幾種無(wú)記憶規(guī)律電路元件。學(xué)習(xí)MSI二、試驗(yàn)原理自己總結(jié)幾種中規(guī)模規(guī)律門電路的規(guī)律功能。三、試驗(yàn)儀器數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)儀、74HC138、74HC151、74HC153、74HC85四、預(yù)習(xí)報(bào)告要求生疏各常用組合規(guī)律電路的管腳圖和規(guī)律功能表畫出試驗(yàn)規(guī)律電路圖五、試驗(yàn)內(nèi)容設(shè)計(jì)一個(gè)多數(shù)表決電路，當(dāng)多數(shù)同意時(shí)，輸出F=1，否則F=0。設(shè)計(jì)要求：74HC13874HC15174HC153用數(shù)字比較器74HC85構(gòu)成一個(gè)四舍五入電路，當(dāng)輸入二進(jìn)制數(shù)的等值十進(jìn)制數(shù)大于等于5時(shí)輸出F=1，否則輸出F=0。六、試驗(yàn)報(bào)告要求依據(jù)上述試驗(yàn)內(nèi)容要求，寫出設(shè)計(jì)的全過(guò)程，畫出電路規(guī)律圖，記錄試驗(yàn)驗(yàn)證的結(jié)果。總結(jié)試驗(yàn)中消滅的特別現(xiàn)象，并作出分析和爭(zhēng)論。試驗(yàn)思考題：將上述多數(shù)表決電路用用數(shù)據(jù)選擇器74HC15374HC151真值表，寫出最簡(jiǎn)規(guī)律表達(dá)式，畫出規(guī)律電路圖。用譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器實(shí)現(xiàn)規(guī)律函數(shù)有何區(qū)分？試驗(yàn)三觸發(fā)器及其應(yīng)用試驗(yàn)性質(zhì)：設(shè)計(jì)性一、試驗(yàn)?zāi)康臏y(cè)試并把握RS、D、JK等觸發(fā)器的規(guī)律功能。把握用觸發(fā)器設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔時(shí)序電路的方法。二、試驗(yàn)原理自己總結(jié)觸發(fā)器的種類和每種觸發(fā)器的規(guī)律功能、特性方程。三、試驗(yàn)儀器數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)儀、74HC00、74HC74、74HC112四、預(yù)習(xí)報(bào)告要求生疏D74HC74JK74HC112D4JK8五、試驗(yàn)內(nèi)容D74HC74D4Q0、Q1、Q2驗(yàn)證JK觸發(fā)器74HC112JK8Q0、Q1、Q2、Q3六、試驗(yàn)報(bào)告要求寫出設(shè)計(jì)過(guò)程，繪出規(guī)律電路圖，記錄試驗(yàn)驗(yàn)證結(jié)果?？偨Y(jié)試驗(yàn)中消滅的特別現(xiàn)象，并作出分析和爭(zhēng)論。試驗(yàn)思考題：設(shè)計(jì)電路，完成D、JK觸發(fā)器的相互轉(zhuǎn)換。要求繪出兩個(gè)轉(zhuǎn)換電路，并寫出轉(zhuǎn)換關(guān)系。試驗(yàn)四集成計(jì)數(shù)器及其應(yīng)用試驗(yàn)性質(zhì)：設(shè)計(jì)性一、試驗(yàn)?zāi)康纳杓捎?jì)數(shù)器的規(guī)律功能及各掌握端的作用。學(xué)會(huì)使用集成計(jì)數(shù)器芯片，把握用集成計(jì)數(shù)器構(gòu)成任意進(jìn)制計(jì)數(shù)器的方法。二、試驗(yàn)原理總結(jié)計(jì)數(shù)器的種類和每種計(jì)數(shù)器的工作原理?？偨Y(jié)使用中規(guī)模集成計(jì)數(shù)器來(lái)構(gòu)成任意進(jìn)制計(jì)數(shù)器的方法。三、試驗(yàn)儀器數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)儀、74HC20、74HC160、74HC161四、預(yù)習(xí)報(bào)告要求74HC16074HC16174HC160674HC1611274HC16012五、試驗(yàn)內(nèi)容74HC1606性。74HC1611274HC16012確性。六、試驗(yàn)報(bào)告要求寫出設(shè)計(jì)過(guò)程，繪出規(guī)律電路圖，記錄試驗(yàn)驗(yàn)證結(jié)果?？偨Y(jié)試驗(yàn)中消滅的特別現(xiàn)象，并作出分析和爭(zhēng)論。試驗(yàn)思考題：M=0時(shí)工作在五進(jìn)制，M=1時(shí)工作在十五進(jìn)制。要求寫出設(shè)計(jì)過(guò)程，繪出規(guī)律電路圖。試驗(yàn)五MSI555試驗(yàn)性質(zhì)：設(shè)計(jì)性一、試驗(yàn)?zāi)康陌盐找莆淮娣牌鞯墓ぷ髟砑捌鋺?yīng)用。555把握數(shù)字系統(tǒng)的綜合設(shè)計(jì)力量。二、試驗(yàn)原理總結(jié)移位存放器的種類和四位雙向通用移位存放器74HC194的應(yīng)用。555三、試驗(yàn)儀器數(shù)字電子技術(shù)試驗(yàn)儀、74HC194、74HC160、NE555、LED數(shù)碼管、電阻及電容假設(shè)干四、預(yù)習(xí)報(bào)告要求74HC194NE55574HC194設(shè)計(jì)一個(gè)數(shù)字顯示系統(tǒng)，依據(jù)要求設(shè)計(jì)電路并繪出。五、試驗(yàn)內(nèi)容用74HC194并用試驗(yàn)驗(yàn)證其正確性。1110→1111→0111→0011↑ ↓1100←1000←0000←0001設(shè)計(jì)一個(gè)數(shù)字顯示系統(tǒng)，要求如下：555T=1s試驗(yàn)室供給元件R1=100KΩ，R2=51KΩ，C=4.7μF，請(qǐng)計(jì)算實(shí)際的方波周期7416012用兩個(gè)七段數(shù)碼管顯示計(jì)數(shù)器的輸出。六、試驗(yàn)報(bào)告要求寫出設(shè)計(jì)過(guò)程，繪出規(guī)律電路圖，記錄試驗(yàn)驗(yàn)證結(jié)果。總結(jié)試驗(yàn)中消滅的特別現(xiàn)象，并作出分析和爭(zhēng)論。試驗(yàn)思考題：用74194構(gòu)成環(huán)形計(jì)數(shù)器，假設(shè)初始狀態(tài)也為1110，繪出管腳連接圖并列出有效狀態(tài)轉(zhuǎn)換表。試驗(yàn)常用芯片引腳介紹兩輸入與非門74HC00 兩輸入異或門74HC86 兩輸入或門74HC32雙四輸入與非門7