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文檔簡介
LIGALIGA技術LIGA技術WhatisLIGAThesketchofDeepLithographyAccuracyofthestructuretransferduetoFresneldiffractionandphotoelectronsasfunctionofFresnelMeasurementofthelateral0.055/100Determinationoflightsource
15-20
1-2襯底(聚合物):10m-100 <1Intermediate
CopyIntermediate對Intermediatemasks
厚度:1-2平面性
厚度:10-20ComparisonofmembranematerialsforX-rayComparisionofabsorbermaterialsforX-rayLIGA技術制作高質(zhì)量和復PatterningAccuracyinSampleStructureinPMMA.CrackIMM80μmPMMAStructurePMMAStructureHeightSHADOWoverstructureSHADOW
MASKMASK((3mm100μmwide0PMMAStructureWidth(centered)3mm100μmwideJostGoettertetal.,Proc.OfTheInternationalMEMSWorkshop2001,StackedExposures-
Structureaccuracyoverstructureheight
WIGGLERWIGGLERStackStackHeight
LAYER SHADOWSHADOWLAYERPMMAPMMAPMMAPMMAPMMAPMMACC
LAYERCLAYERC Width2000AnnualReportofCAMD,StackedExposures-LayerLayerLayerLayer
cLayercStackStackheight
cLayercLayerLayerLayer0
cccc3k4k5k6k7k
LayerLayer9k2000AnnualReportofCAMD,ColumnswithextremeaspectDiameter:7m,Height:570m,Aspectratio:W.Ehrfeldetal.,Microsystemtechnologies,5,105-SelectionofMaterialscurrentlyusedforelectroformingofmicrostructureTestandTestandMouldNi,Ni-Ni-W,Co-X-rayNi-SiO2,Ni-Al2O3,Diamond,Ni-ActuatorNi-SensorNi-SacrificialCu,FunctionalAg,Au,Cu,Cr,ElectricalAu,SlideCu-Ni-Ag,Sm-SEMpicturesofmicrostructureSEMpicturesofmicrostructurePartsofaplanetaryMaterial:Ni- Material:Ni-W.Ehrfeldetal.,Microsystemtechnologies,5,105-Examplesforhotembossingofopticaly-splittersMouldinsertforanarraymultimodesplitters(Ni)
W.Ehrfeldetal.,Microsystemtechnologies,5,105-MicromixerfabricatedbyhotMaterial:W.Ehrfeldetal.,Microsystemtechnologies,5,105-Three-dimensional Intersectionofthreeholes,Material:positivetone
Material:-CeramicsgeneratedbypyrolysisofW.Ehrfeldetal.,Microsystemtechnologies,5,105-FlowchannelsofstaticmicromixersformicroreactiontechnologyMaterial:Ni Material:Ag W.Ehrfeldetal.,Microsystemtechnologies,5,105-活動部件制(對準(釋放活動部件
微流量230 200 10傾斜和Single Mask Resist SubstrateDevelopedresist傾斜和旋 SensorsandActuatorsA111(2004)復雜圖形結(jié)構(gòu)(三維圖形TheRadiationSpectraofWigglerbeforeandafterfilters100umBe200umBe100umBe200umBe1000umPowerPower1E- WavelengthExposuretimeanddoseDoseDoseExposure 3 1 Resist實驗站主主要技術參0.20.730×80工作模 Theexposuredoseisolinesindifferentlithographydepths 9875 105
50 0-0.25
0精度:<0.05m/1000
500 0-
-0.2-0.15-0.1-
0.050.10.150.2
0-0.25-0.2-0.15-0.1-0.0500.050.10.150.2Variation VariationTheeffectofphotoneletronsproducedbySisubstrate 1mmC CA:線寬10m,高度 B:線寬20m,高度 C:線寬40m,高度 EDEE:線寬10m的十字糟,高度 深度同步輻射光
(m寬(m523GeometryofatiltilluminatedX-ray3D光子晶體微結(jié)構(gòu)加工方3D光子晶體微結(jié)C:線寬為40m的Ni微結(jié)構(gòu);D:線寬為20mNi微結(jié)構(gòu)誤差誤差<5不同線寬微結(jié)構(gòu)電鑄時傳質(zhì)的定性模微結(jié)構(gòu)電鑄時傳質(zhì)ImprovedplatingImprovedplatingRegularplating
Improvedplating
SPIE脫模過程造成的模 品典型缺陷,(a)邊緣拉起,(b)邊緣拔MEMS的尺寸效應及摩擦特32321212H1212K0.75'1111'
1/2K1/2r3/ E2泊松比表面能33000.41.7FH1.5Kr假設接觸半徑在0.1到0.01m之間,在隨后的脫模0.45110<30MPa),因此該粘著結(jié)點被剪切產(chǎn)生滑YuhuaGuo,etal.MicrosystemTechnology,13,411-
Ni-Si3N4-Pull-(PMMA-K,針直徑:20)Frictionforcevs.appliedloadfortipsslidingonthePMMA(Mw:350K)YuhuaGuo,etal.J.Micromech.Microeng.17,9-鎳模具中的粘著力及其摩擦的脫模模 Max:13~28.7(c) YuhuaGuo,etal.J.Micromech.Microeng.17,9-
Max: (b)Max:4.6~10.5(c)
Max:YuhuaGuo,etal.J.Micromech.Microeng.17,9- 1 脫模分離的關鍵瞬間,極大應力很可能造成邊緣的2 YuhuaGuo,etal.J.Micromech.Microeng.17,9-降低界面能的材表面材表面(R.W.Jaszewskietal.(Karlsruhe,中被禁用局限性:前者PTFE易于脫落中被禁用復合材料模
Ni-MoS2(CF2-
ThefrictionCoefficientandtheVolumeofWearofNiandNi-MoS2fiincurrentVolumeof(10-302428221TheSEMimaginganddistributionpatternsofC,FandNiTheEnergyDispersiveX-ray051530Ni和NI-PTFE模具的脫模性 MicrosystemTechnologies11(2005)261-
NiNi熱收縮應力的來1工藝溫
楊氏模模壓溫模壓壓脫模溫脫模速3位置的相互束2熱膨脹系PMMA:1=7x10-5K-1,1=1*(T1-Nickel:2=1x10-5K-1,2=2*(T1-y1收縮方向yOxOx
2 熱收縮thermal=f(o,,孤立結(jié)構(gòu)的熱應力計算(bydd=800dd=800
熱應力對脫模的影1 對微結(jié)構(gòu)圖 而言,增加了缺陷形成的幾率,如切根現(xiàn)2 對整個模壓的聚合物片材而d=80
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