GB/T 11684-2003核儀器電磁環(huán)境條件與試驗(yàn)方法

ICS19.040:27.120.99A21,F80中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T11684-2003代替GB/T11684—1989核儀器電磁環(huán)境條件與試驗(yàn)方法Electromagneticenvyironmentconditionsandtestingproceduresfornuclearinstrumentation2003-04-14發(fā)布2003-12-01實(shí)施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T11684一2003三次前言1圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4核儀器電磁環(huán)境條件與騷擾度分類5核核儀器電磁環(huán)境試驗(yàn)方法·附錄A（資料性附錄）輻射振蕩騷擾·附錄B（資料性附錄）確定核儀器抗電磁騷擾的要求與試驗(yàn)方法示例……15附錄C（規(guī)范性附錄)核反應(yīng)堆儀器抗擾度試驗(yàn)項(xiàng)目及其要求與試驗(yàn)方法16附錄D（規(guī)范性附錄）輻射防護(hù)儀器抗擾度試驗(yàn)項(xiàng)目及其要求與試驗(yàn)方法參考文獻(xiàn)23

GB/T11684-2003本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)GB/T11684—1989《堆用核儀器電磁干擾特性與檢驗(yàn)方法》(以下簡稱原標(biāo)準(zhǔn))的修訂.以適用于所有核儀器。根據(jù)核儀器工作的電磁環(huán)境與電磁兼容性可僅考慮抗擾度等特點(diǎn)·按照GB/T17624、GB/T18039與GB/T17626等電磁兼容性系列標(biāo)準(zhǔn)(等同采用IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)）.選取有關(guān)內(nèi)容而編寫成本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比.為了全面完整地適應(yīng)核儀器的抗電磁干擾特性要求與試驗(yàn)方法，首先根據(jù)（B/Z18039.1—2000《電磁兼容環(huán)境電磁環(huán)境的分類》（idtIEC61000-2-5)增加了核儀器的電磁環(huán)境分類·從電磁現(xiàn)象三種基本類別即低頻現(xiàn)象、高頻現(xiàn)象與靜電放電中.選定了對(duì)核儀器能產(chǎn)生電磁干擾的重要電磁騷擾源是：輻射型高(射)頻電場、輻射型低頻磁場、靜電放電、傳導(dǎo)型低頻電源電壓與頻率的波動(dòng)以及電源電壓暫降與短時(shí)中斷、傳導(dǎo)型高頻單向與振蕩的瞬變以及感應(yīng)連續(xù)波電壓與電流。提出了各騷擾源表征電磁騷擾等級(jí)(騷擾度)量值。推薦了核儀器電磁環(huán)境類別的特征以及各類別的上述各騷擾源的騷擾度(等級(jí))。最后.根據(jù)GB/T17626《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)》idtIEC61000-4)的系列標(biāo)準(zhǔn)提出了對(duì)上述各騷抗源的具體試驗(yàn)方法。為各類核儀器確定其電磁環(huán)境與抗電磁干擾項(xiàng)目以及具體的試驗(yàn)方法提供了標(biāo)準(zhǔn)操作程序。關(guān)于核反應(yīng)堆儀器的抗電磁干擾要求與試驗(yàn)方法，原標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)單臺(tái)儀器的射頻注入（包括透光阻抗)檢驗(yàn)、磁場輻射敏感度檢驗(yàn)、靜電放電敏感度檢驗(yàn)、電源鍋合干擾檢驗(yàn)的要求和試驗(yàn)方法分別被本標(biāo)準(zhǔn)的表1和表2與5.2.1和5.2.2、表3與5.2.3、表4與5.2.4、表6和表7與5.2.6、5.2.7和5.2.8取代。對(duì)安裝后整個(gè)儀器系統(tǒng)通過地幫合干擾和抗低頻干擾的直流接地注入、電源鵝合的要求與試驗(yàn)方法分別被本標(biāo)準(zhǔn)的表1和表2與5.2.1和5.2.2、表6與5.2.6和5.2.7取代。此外對(duì)單臺(tái)儀器與安裝后整個(gè)儀器系統(tǒng)還增加了電纜充電脈沖檢驗(yàn)的要求與試驗(yàn)方法（見附錄C的表C.1和C.1)和傳導(dǎo)干擾檢驗(yàn)的要求與試驗(yàn)方法（見附錄C的表C.1與C.2、C.3、C.4和C.5)。本標(biāo)準(zhǔn)還列出了近些年輻射防護(hù)儀器IEC標(biāo)準(zhǔn)的抗擾度試驗(yàn)水平與試驗(yàn)方法(見附錄D的表D.1)。·核儀器電磁環(huán)境條件"是指核儀器在使用中可能遇到的由騷擾度表征各種電磁現(xiàn)象特征量的極端條件。而“核儀器電磁環(huán)境試驗(yàn)”是將核儀器置于人工模擬電磁環(huán)境中.對(duì)它們?cè)趯?shí)際使用中可能遇到的相應(yīng)電磁環(huán)境條件下的性能做出評(píng)價(jià)。核儀器產(chǎn)品在規(guī)定的核儀器電磁環(huán)境條件下的性能要求.由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)給出。不能進(jìn)行整機(jī)試驗(yàn)的設(shè)備，可分別進(jìn)行分體試驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)將與GB/T8993—1998《核儀器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法》(氣候與機(jī)械環(huán)境)配合組成系列化的核儀器基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B是資料性附錄·附錄C、附錄D是規(guī)范性附錄：本標(biāo)準(zhǔn)由全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國人民解放軍防化研究院第二研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：毛用澤、盧建東、鄒士亞、張松壽、羅平安。

GB/T11684-2003核儀器電磁環(huán)境條件與試驗(yàn)方法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了核儀器抗電磁干擾的電磁環(huán)境條件分類、要求和試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于實(shí)驗(yàn)室通用核儀器、同位素與輻射應(yīng)用核儀器、放射性探礦與選礦核儀器、醫(yī)用核儀器、核反應(yīng)堆儀器和輻射防護(hù)儀器。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而.鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T4365電磁兼容術(shù)語(GB/T4365一1995.idtIEC60050-161:1990)GB/T17626.2電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.2—1998.idtIEC61000-4-2:1995）GB/T17626.3電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.3-1998.idtIEC61000-4-3:1995)GB/T17626.4電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.4一1998.idtIEC61000-4-4:1995)GB/T17626.5電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)浪涌（沖擊)抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.5—1999，idtIEC61000-4-5：1995)GB/T17626.6電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)耐射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（GB/T17626.6-1998.idtIEC61000-4-6：1996)GB/T17626.8電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.8—1998.idtIEC61000-4-8:1993）GB/T17626.11電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.11-1999.idtIEC61000-4-11:1994)GB/T17626.12電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗(yàn)（GB/T17626.12—1998.idtIEC61000-4-12:1995)3術(shù)語和定義GB/T4365確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)31電磁環(huán)境electromagneticenvironment存在于給定場所所有電磁