標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.13-1989 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專注于光學(xué)和光學(xué)儀器在特定環(huán)境條件下的試驗(yàn)方法。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了對(duì)光學(xué)儀器進(jìn)行沖擊、碰撞或自由跌落試驗(yàn)以及高溫、低溫試驗(yàn)的具體要求和程序,以評(píng)估這些設(shè)備在惡劣環(huán)境下仍能保持其性能穩(wěn)定性的能力。下面是標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的概述:

1. 適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類光學(xué)儀器,包括但不限于相機(jī)、望遠(yuǎn)鏡、顯微鏡、激光設(shè)備等,在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和使用過(guò)程中需要驗(yàn)證其對(duì)外部物理沖擊、碰撞及自由跌落的抵抗能力,以及在極端溫度條件下的工作穩(wěn)定性和可靠性。

2. 試驗(yàn)條件與方法

2.1 沖擊、碰撞與自由跌落試驗(yàn)

  • 目的:模擬儀器在運(yùn)輸、操作或使用中可能遇到的意外沖擊或跌落情況,檢驗(yàn)其結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和耐久性。
  • 試驗(yàn)設(shè)備:需使用專業(yè)的沖擊試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)臺(tái)等,確保試驗(yàn)過(guò)程可控且可重復(fù)。
  • 試驗(yàn)程序:包括確定合適的沖擊能量、跌落高度及角度,以及選擇合適的碰撞介質(zhì)(如硬木、橡膠等),根據(jù)儀器的預(yù)期使用環(huán)境和條件設(shè)定試驗(yàn)參數(shù)。
  • 評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn):檢查儀器在試驗(yàn)后的功能完整性、光學(xué)性能變化及外觀損壞情況。

2.2 高溫、低溫試驗(yàn)

  • 目的:評(píng)估光學(xué)儀器在極端溫度條件下的適應(yīng)性和功能穩(wěn)定性。
  • 試驗(yàn)條件:定義了具體的高溫和低溫測(cè)試范圍,通常涵蓋儀器可能遭遇的最極端環(huán)境溫度。
  • 試驗(yàn)步驟:將儀器置于預(yù)設(shè)溫度的恒溫箱中,保持一段時(shí)間后,檢查其功能狀態(tài)和性能指標(biāo)。
  • 恢復(fù)試驗(yàn):在極端溫度暴露后,還需進(jìn)行恢復(fù)試驗(yàn),觀察儀器是否能在正常工作溫度下恢復(fù)到初始性能水平。

3. 試驗(yàn)報(bào)告

標(biāo)準(zhǔn)要求詳細(xì)的試驗(yàn)記錄和報(bào)告,包括試驗(yàn)條件、方法、觀察結(jié)果及結(jié)論。這有助于制造商評(píng)估產(chǎn)品性能,改進(jìn)設(shè)計(jì),并為用戶提供關(guān)于設(shè)備可靠性的信息。

4. 標(biāo)準(zhǔn)遵循

執(zhí)行此標(biāo)準(zhǔn)的目的是確保光學(xué)儀器在實(shí)際應(yīng)用中能夠承受一定的外界物理沖擊和廣泛的溫度變化,保障其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行和用戶的安全。各制造商和檢測(cè)機(jī)構(gòu)應(yīng)依據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn),以驗(yàn)證產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性和可靠性。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12085.13-2010
  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.13-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫_第1頁(yè)
GB/T 12085.13-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫_第2頁(yè)
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UDC681.7.08N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.13-89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫Opticsandopticalinstruments--Environmentaltestmethods-Shock.bumporfreefall.dryheat.cold1989-12-29發(fā)布1990-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫低溫GB12085:13-89Opticsandopticalinstruments-Enyironmentaltestmethods-Shock.bumporfreefall,dryheat,cold1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了綜合沖擊、碰撞或自由跌落與高溫或低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。2試驗(yàn)?zāi)康难芯吭嚇咏?jīng)綜合沖擊、碰撞或自由跌落與高溫或低溫試驗(yàn)后在光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)性能方面所受影響的變化程度。3引用標(biāo)準(zhǔn)GB12085.2光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法、低溫、高溫、濕熱GB12085.3光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法機(jī)械作用力GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ea;沖擊試驗(yàn)方法GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Eb:碰撞試驗(yàn)方法GB2423.10,電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程F:振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)方法GB2423.15,電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ga;恒加速度試驗(yàn)方法試驗(yàn)條件試樣在綜合機(jī)械作用力條件下的試驗(yàn)要比前述的任-一種環(huán)境條件試驗(yàn)更嚴(yán)酷,試樣的夾具應(yīng)隔熱,若試樣裝在緩沖器上,則應(yīng)考慮緩沖器元件恒溫的時(shí)間。5條件試驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)采用的目由落體加速度9為9.81m/s"。試樣各部分溫度達(dá)到試驗(yàn)箱(室)溫度±3℃以內(nèi)才開(kāi)始進(jìn)行試驗(yàn)5.1條件試驗(yàn)方法64:綜合沖擊與高溫條件試驗(yàn)方法64綜合沖擊與高溫

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