標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 12085.9-1989 是一項(xiàng)中國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 太陽輻射》。該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了對(duì)光學(xué)和光學(xué)儀器進(jìn)行太陽輻射環(huán)境試驗(yàn)的方法和要求,旨在評(píng)估這些設(shè)備在模擬太陽光照射條件下的性能與耐受性,確保其在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性。以下是標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的幾個(gè)關(guān)鍵點(diǎn):
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適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種光學(xué)和光學(xué)儀器,包括但不限于相機(jī)鏡頭、望遠(yuǎn)鏡、太陽能電池板及其它需要評(píng)估太陽輻射影響的光學(xué)元件和系統(tǒng)。
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試驗(yàn)?zāi)康?/strong>:通過模擬自然界的太陽輻射條件,測(cè)試和評(píng)估光學(xué)儀器的光學(xué)性能、材料老化、熱效應(yīng)以及可能產(chǎn)生的其他物理或化學(xué)變化,以驗(yàn)證其在長期暴露于太陽光下的適應(yīng)性和可靠性。
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試驗(yàn)條件:標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了太陽輻射強(qiáng)度、光譜分布、試驗(yàn)溫度、濕度以及試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間等參數(shù)的設(shè)定方法。試驗(yàn)通常在專用的環(huán)境試驗(yàn)箱中進(jìn)行,箱內(nèi)裝備有能模擬太陽光譜特性的光源。
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試驗(yàn)方法:包括直接輻射試驗(yàn)和散射輻射試驗(yàn)兩種主要類型,分別模擬直射陽光和天空散射光的環(huán)境。試驗(yàn)過程中需監(jiān)控并記錄樣品的溫度變化、光學(xué)性能參數(shù)(如透光率、反射率)以及其他相關(guān)性能指標(biāo)的變化情況。
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評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn):根據(jù)試驗(yàn)前后的性能對(duì)比,評(píng)估光學(xué)儀器的性能衰減程度是否在可接受范圍內(nèi)。標(biāo)準(zhǔn)雖未直接提供具體的性能閾值,但要求依據(jù)產(chǎn)品設(shè)計(jì)要求和預(yù)期使用環(huán)境來確定評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。
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試驗(yàn)報(bào)告:試驗(yàn)完成后,應(yīng)編制詳細(xì)的試驗(yàn)報(bào)告,記錄試驗(yàn)條件、方法、過程、觀察到的現(xiàn)象以及最終的評(píng)估結(jié)論。報(bào)告有助于產(chǎn)品設(shè)計(jì)改進(jìn)和質(zhì)量控制。
此標(biāo)準(zhǔn)為光學(xué)和光學(xué)儀器的制造商、檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供了統(tǒng)一的測(cè)試方法和評(píng)判依據(jù),有助于保證產(chǎn)品質(zhì)量與國際接軌,提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競爭力和用戶滿意度。
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- 1989-12-29 頒布
- 1990-08-01 實(shí)施


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GB/T 12085.9-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法太陽輻射-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.9—89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法太陽輻射Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Solarradiation1989-12-29發(fā)布1990-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法GB12085.9-89太陽輻射Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Solarradiation主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記、本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。2試驗(yàn)?zāi)康难芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到太陽輻射影響的變化程度。用標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法:術(shù)語、試驗(yàn)范醫(yī)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2424.14!太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則武驗(yàn)條件4.1輻射源應(yīng)安裝在能在試樣表面上或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的平面內(nèi)產(chǎn)生輻照度的熱試驗(yàn)箱(室)內(nèi),輻射源的光譜能量分布按表1,表1中的數(shù)據(jù)不包括從箱壁上反射出的紅外線輻射。表1光譜地圍禁外紅外波長寬度,nm280~320>320~380>380~520>520~640>640~780>780~3000福照度,W/m25±2200±20186±2063±15174±20492±1004.2試驗(yàn)期間產(chǎn)生的臭氧必須從試驗(yàn)箱(室)中排除。在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)規(guī)定試樣安裝的方法和位置、安裝、、支架的要求,4.3,測(cè)量暴露區(qū)域內(nèi)輻射和溫度的測(cè)試點(diǎn)的位置。5條件試驗(yàn)條件試驗(yàn)方法20:;太陽輻射條件試驗(yàn)方法20太陽輻射的
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