標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12274-1990 石英晶體振蕩器總規(guī)范》是中國關(guān)于石英晶體振蕩器制定的一項國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在統(tǒng)一和規(guī)范石英晶體振蕩器的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運輸和貯存要求，確保其性能穩(wěn)定可靠，適用于各類電子設(shè)備中的頻率控制與選擇用途。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)內(nèi)容可概述如下：

  1. 范圍：明確了本標(biāo)準(zhǔn)適用的石英晶體振蕩器類型，包括串聯(lián)型、并聯(lián)型及其它特定用途的石英晶體振蕩器，規(guī)定了它們的基本參數(shù)、性能指標(biāo)及測試條件。

  2. 引用標(biāo)準(zhǔn)：列出了實施本標(biāo)準(zhǔn)時需要參考的其他相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，以確保各項技術(shù)要求的一致性和協(xié)調(diào)性。

  3. 術(shù)語和定義：對石英晶體振蕩器相關(guān)的專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了界定，如頻率穩(wěn)定性、負(fù)載電容、溫度特性等，為后續(xù)條款的理解提供基礎(chǔ)。

  4. 分類與型號命名：根據(jù)振蕩器的工作頻率范圍、封裝形式、輸出類型等因素進(jìn)行分類，并規(guī)定了型號命名規(guī)則，便于用戶識別和選用。

  5. 技術(shù)要求：

    • 電氣性能：規(guī)定了振蕩頻率范圍、頻率穩(wěn)定度（在不同溫度、電壓、負(fù)載變化下的頻率變化允許范圍）、啟動時間、頻率調(diào)整范圍等關(guān)鍵電氣性能指標(biāo)。
    • 機(jī)械與環(huán)境性能：包括振動、沖擊、溫度循環(huán)、濕度等環(huán)境條件下產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性要求，以及封裝材料的耐溫、耐濕性等。

  6. 試驗方法：詳細(xì)說明了如何進(jìn)行各項性能測試，如使用標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備、測試環(huán)境條件、測試步驟等，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

  7. 檢驗規(guī)則：規(guī)定了產(chǎn)品檢驗的類別（如出廠檢驗、型式檢驗）、抽樣方案、合格判定準(zhǔn)則等，確保每批產(chǎn)品的質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)要求。

  8. 標(biāo)志、包裝、運輸和貯存：要求產(chǎn)品上應(yīng)有清晰的標(biāo)識信息，包括型號、生產(chǎn)日期、制造商等；同時，對包裝材料、方式、運輸條件及貯存環(huán)境提出了具體要求，以防損壞和性能衰退。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替
  • 1990-02-09 頒布
  • 1990-10-01 實施
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GB/T 12274-1990石英晶體振蕩器總規(guī)范-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.373.5：549.51L21中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB12274一90石英晶作體振蕩器總觀QuartzcrystalcontrolledoscillatorsGenericspecificationfor（可供認(rèn)證用)1990-02-09發(fā)布1990-10-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)英振蕩器石品GB12274-90QuartzcrystalcontrolledoscillatorsGenericspecificationfor（可供認(rèn)證用）本標(biāo)準(zhǔn)參照IEC679-1(SJ/Z9155.1)《石英晶體振蕩器：第一部分：綜合資料、試驗條件和試驗方法》制定，并補(bǔ)充了質(zhì)量評定程序及標(biāo)志、包裝、定存和運輸?shù)葍?nèi)容。1范圍本規(guī)范適用于作為獨立部件出售的各種石英品體振蕩器(簡稱振蕩器）本規(guī)范與產(chǎn)品空白詳細(xì)規(guī)范和詳細(xì)規(guī)范共同使用,當(dāng)詳細(xì)規(guī)范與總規(guī)范有差別時以詳細(xì)規(guī)范為準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)范應(yīng)滿足IEC679-1有關(guān)條款對詳細(xì)規(guī)范的要求引用標(biāo)準(zhǔn)第一部分IEC27-1電工技術(shù)用文字符號總則IEC50國際電工技術(shù)詞匯IEC679-1石英晶體振蕩器第一部分綜合資料、試驗條件及測試方法IECQ/QC001001IEC電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ)基本章程IECQ/QC0010021EC電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ）程序規(guī)貝GB191包裝儲運圖示標(biāo)志GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程激驗A:低溫試驗方法GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗Ea:沖擊試驗方法GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗Eb：碰撞試驗方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試試驗Fe:振動(正弦)試驗方法GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ga:恒加速度試驗方法GB2423.16電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗J長霉試驗方法GB2423.17電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka:鹽霧試驗方法GB2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗M:低氣壓試驗方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗N:溫度變化試驗方法GB242

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