標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12628-2008 硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范》相比于其前版《GB/T 12628-1990 硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用技術(shù)條件》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新與調(diào)整:

  1. 技術(shù)指標(biāo)的更新:鑒于硬盤(pán)技術(shù)的快速發(fā)展,2008版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)硬盤(pán)的性能指標(biāo)進(jìn)行了大幅度修訂,包括存儲(chǔ)容量、數(shù)據(jù)傳輸速率、平均無(wú)故障時(shí)間等關(guān)鍵參數(shù),以適應(yīng)市場(chǎng)和技術(shù)進(jìn)步的需求。

  2. 兼容性與接口規(guī)范:隨著SATA、USB等新型接口的普及,新標(biāo)準(zhǔn)加入了對(duì)這些現(xiàn)代接口規(guī)范的支持說(shuō)明,同時(shí)可能去除了對(duì)舊有接口(如IDE)的部分要求,確保了硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器與當(dāng)代計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的良好兼容性。

  3. 可靠性與測(cè)試方法:2008版標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)化了對(duì)硬盤(pán)可靠性的要求,引入或更新了多項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目和方法,旨在提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和使用壽命。這包括環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試、震動(dòng)和沖擊耐受度測(cè)試等方面的標(biāo)準(zhǔn)細(xì)化。

  4. 電磁兼容性(EMC)與安全要求:隨著電子設(shè)備對(duì)電磁兼容性要求的提升,新版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的電磁干擾發(fā)射限值和抗擾度能力提出了更嚴(yán)格的規(guī)定,確保產(chǎn)品在不同應(yīng)用環(huán)境中的穩(wěn)定運(yùn)行,并符合國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)。

  5. 環(huán)保與能耗要求:考慮到環(huán)境保護(hù)和能效的重要性,2008版標(biāo)準(zhǔn)可能首次或進(jìn)一步強(qiáng)調(diào)了硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器在設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中需遵循的環(huán)保材料使用、能耗控制及廢棄物處理原則,體現(xiàn)了對(duì)可持續(xù)發(fā)展的關(guān)注。

  6. 術(shù)語(yǔ)定義與分類:為了更準(zhǔn)確地反映行業(yè)現(xiàn)狀,新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)一些專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了重新定義或增補(bǔ),并可能對(duì)硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的類型和應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行了更細(xì)致的分類。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-07-18 頒布
  • 2008-12-01 實(shí)施
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GB/T 12628-2008硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范_第1頁(yè)
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GB/T 12628-2008硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

犐犆犛35.220.20

犔63

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜12628—2008

代替GB/T12628—1990

硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范

犌犲狀犲狉犪犾狊狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀犳狅狉犺犪狉犱犱犻狊犽犱狉犻狏犲

20080718發(fā)布20081201實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅/犜12628—2008

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術(shù)語(yǔ)和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

5試驗(yàn)方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

6檢驗(yàn)規(guī)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11

7標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!12

附錄A(規(guī)范性附錄)檢查程序編制原則及技術(shù)要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!13

附錄B(規(guī)范性附錄)故障判據(jù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!14

書(shū)

犌犅/犜12628—2008

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T12628—1990《硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用技術(shù)條件》。

本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T12628—1990的主要區(qū)別如下:

———GB/T12628—1990只涵蓋3.5in硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器,本標(biāo)準(zhǔn)增加2.5in硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器;

———增加了硬磁盤(pán)片、數(shù)據(jù)傳輸率、準(zhǔn)備時(shí)間、接口、啟停測(cè)試等關(guān)鍵術(shù)語(yǔ);

———?jiǎng)h除了原標(biāo)準(zhǔn)中的溫式(氏)磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器、頭盤(pán)組件、記錄方式、記錄密度、磁通翻轉(zhuǎn)密度、磁道

密度、柱面、格式化容量、主軸電機(jī)啟動(dòng)時(shí)間、主軸電機(jī)停止時(shí)間、最大尋道時(shí)間、平均旋轉(zhuǎn)等待

時(shí)間、缺陷磁道、惡劣碼等術(shù)語(yǔ);

———增加了結(jié)構(gòu)示意圖、外形及安裝示意圖、增加了平均尋道時(shí)間、數(shù)據(jù)傳輸率、準(zhǔn)備時(shí)間等主要性

能指標(biāo);

———更新了GB/T12628—1990安全要求和電磁兼容要求及測(cè)試方法;

———增加了2.5in和3.5in硬盤(pán)的環(huán)境適應(yīng)性要求以及測(cè)試方法,更新抗振動(dòng)以及抗沖擊性能

要求;

———增加了啟停測(cè)試要求及測(cè)試方法;

———更新了電源適應(yīng)能力的要求及測(cè)試方法;

———更新了GB/T12628—1990中檢驗(yàn)規(guī)則中的交收檢驗(yàn)內(nèi)容;

———更新了GB/T12628—1990包裝標(biāo)志中的內(nèi)容;

———?jiǎng)h除了GB/T12628—1990附錄C。

本標(biāo)準(zhǔn)中的附錄A和附錄B是規(guī)范性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC28)提出并歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:深圳易拓科技有限公司、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、華中科技大學(xué)、中國(guó)長(zhǎng)城計(jì)

算機(jī)深圳股份有限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:許銘癸、鄭洪仁、鄧德新、馮丹、劉景寧、儲(chǔ)成武、錢(qián)舒、王華、葉少文、童廣勝。

本標(biāo)準(zhǔn)由標(biāo)準(zhǔn)起草單位負(fù)責(zé)解釋。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T12628—1990。

犌犅/犜12628—2008

硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器(以下簡(jiǎn)稱產(chǎn)品)的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯

存等。

本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于2.5in和3.5in硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器,是制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的依據(jù),其他規(guī)格的可參照

使用。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T191—2008包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志(ISO780:1997,MOD)

GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則(GB/T2421—1999,eqvIEC600681:1998)

GB/T2422電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)(GB/T2422—1995,eqvIEC6006852:1990)

GB/T2423.1—2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(idt

IEC6006821:1990)

GB/T2423.2—2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(idt

IEC6006822:1974)

GB/T2423.3—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)

(IEC60068278:2001,IDT)

GB/T2423.5—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊(idt

IEC60068227:1987)

GB/T2423.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方

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