標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 12636-1990 微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線測試方法》作為一項國家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了使用帶狀線結(jié)構(gòu)測量微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)的具體操作流程和要求。然而,您提供的對比信息不完整,沒有明確指出要與哪個具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進行比較。因此,直接對比其與某個特定標(biāo)準(zhǔn)的變更點無法實現(xiàn)。但可以一般性地說明此類標(biāo)準(zhǔn)更新時可能包含的變動方向:
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測量技術(shù)的更新:新版本的標(biāo)準(zhǔn)可能會引入更先進的測量技術(shù)和設(shè)備要求,以提高測試精度和效率,如采用更精密的網(wǎng)絡(luò)分析儀或改進的校準(zhǔn)方法。
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參數(shù)定義和計算方法的修訂:隨著理論研究的深入,對復(fù)介電常數(shù)的物理理解可能會有所發(fā)展,導(dǎo)致參數(shù)定義更加準(zhǔn)確或計算模型的優(yōu)化,以更好地反映實際材料特性。
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樣品制備和處理流程的調(diào)整:為了確保測試結(jié)果的可重復(fù)性和可靠性,新標(biāo)準(zhǔn)可能會對樣品的尺寸、邊緣處理、表面光潔度等方面提出更嚴(yán)格的要求,或者引入新的樣品制備技術(shù)。
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測試環(huán)境和條件的規(guī)范:考慮到環(huán)境因素(如溫度、濕度)對測試結(jié)果的影響,新標(biāo)準(zhǔn)可能會細(xì)化測試環(huán)境的控制要求,確保測試條件的一致性。
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數(shù)據(jù)處理和誤差分析的改進:更新的標(biāo)準(zhǔn)可能會引入更先進的數(shù)據(jù)分析方法和統(tǒng)計處理手段,以及更詳細(xì)的誤差來源分析和修正策略,幫助用戶更準(zhǔn)確地評估測試結(jié)果的不確定性。
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適用范圍的擴展或限定:根據(jù)技術(shù)進步和應(yīng)用需求的變化,新標(biāo)準(zhǔn)可能會擴大測試頻率范圍、增加不同類型介質(zhì)基片的適用性,或是對特定材料或應(yīng)用場合做出更具體的限定。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 1990-12-28 頒布
- 1991-10-01 實施
文檔簡介
UDC621.315.2621.37L04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12636一90微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線測試方法Striplinetestmethodforcomplexpermittivityofmicrowavedielectricsubstrates1990-12-28發(fā)布1991-10-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線剝試方法GB/T12636-90中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵郵政編碼:100045電話:63787337、637874471991年7月第一版2004年12月電子版制作書號:155066·1-8162版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話:(010)68533533
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線GB/T1.2636—90試方法Striplinetestmethodforcomplexpermittivitgofmicrowavedielectricsubstrates主題內(nèi)容與適用范圍1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)的帶狀線測試方法。1.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于測試各種基片(如塑料、復(fù)合材料、陶瓷、硅酸鹽和其他單品體材料等)在微波頻率下的復(fù)介電常數(shù),試頻率范圍:1=1~20GHz測試介電常數(shù)范圍:-2~25測試損耗角正切范圍:tand.=5×10-1~1×10-2引用標(biāo)準(zhǔn)GB8170數(shù)值修約規(guī)則3測試原理以被測介質(zhì)基片與良導(dǎo)金屬片和薄帶可構(gòu)成典型的帶狀傳輸線。一段兩端開路的帶狀傳輸線具有譜振電路的特性,如圖1和圖2所示,它的諧振頻率子。與基片材料的介電常數(shù)。相關(guān),其固有品質(zhì)因數(shù)Q.與基片材料的介質(zhì)損耗角正切tand,相聯(lián)系。因此,應(yīng)用帶狀線諧振器法測試介質(zhì)基片的復(fù)介電常數(shù)可歸結(jié)為對帶狀線諧振器諧振頻率和固有品質(zhì)因數(shù)的測量。圖1所示的帶狀線諧振電路的中間寬的金屬導(dǎo)帶為諧振段,兩邊窄的金屬導(dǎo)帶為500的傳輸線。圖2所示的帶狀線譜振電路是由一對被測介質(zhì)基片,在其正中放置一根厚度為不大于0.018mm的良導(dǎo)金屬帶、在兩介質(zhì)基片外側(cè)各置一接地板而組成。4樣品尺寸及要求4.1若被測樣品為柔性介質(zhì)基片、介電常數(shù)。在2~3的范圍內(nèi)時,可采用如圖1所示的帶狀線諧振電路進行測試,其測試頻率在9.5GHz附近,基片總厚度為3.0~3.2mm,諧振段長度如表1所示,
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