標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 14115-1993 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法的基本原理》作為一項(xiàng)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),為半導(dǎo)體集成電路中的采樣/保持放大器(S/H Amplifier)提供了測(cè)試方法的指導(dǎo)原則。然而,您提供的對(duì)比文獻(xiàn)或標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)不完整,這使得直接對(duì)比具體變更內(nèi)容變得不可能。不過(guò),基于此類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)更新的一般趨勢(shì)和行業(yè)實(shí)踐,可以推測(cè)一些可能的變更方向,盡管這些并非針對(duì)某個(gè)特定對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)的直接解讀。
通常,技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)隨時(shí)間更新會(huì)涉及以下幾個(gè)方面:
-
技術(shù)進(jìn)步的反映:新版本的標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)納入新技術(shù)、新材料或新測(cè)試方法的發(fā)展成果,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和適用性。對(duì)于采樣/保持放大器而言,這可能包括對(duì)更高采樣率、更寬頻帶、更低噪聲或更小失真等性能指標(biāo)的測(cè)試要求。
-
測(cè)試精度與效率提升:隨著測(cè)量設(shè)備和分析技術(shù)的進(jìn)步,新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)提出更加精確的測(cè)試參數(shù)定義,以及更高效的測(cè)試流程,以減少測(cè)試時(shí)間和成本,同時(shí)提高測(cè)試結(jié)果的可重復(fù)性和可靠性。
-
標(biāo)準(zhǔn)化術(shù)語(yǔ)和定義的統(tǒng)一:為了國(guó)際兼容性和行業(yè)內(nèi)的交流便利,標(biāo)準(zhǔn)更新時(shí)往往會(huì)調(diào)整或新增術(shù)語(yǔ)定義,使之與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)內(nèi)最新共識(shí)保持一致。
-
環(huán)境和可靠性要求的增強(qiáng):考慮到電子設(shè)備在不同應(yīng)用環(huán)境下的表現(xiàn),新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)加強(qiáng)對(duì)工作溫度范圍、濕度、電磁兼容性(EMC)等方面的測(cè)試要求,以確保器件在惡劣條件下的穩(wěn)定性和可靠性。
-
安全與合規(guī)性要求:遵循全球各地不斷演進(jìn)的安全法規(guī)和環(huán)保要求,標(biāo)準(zhǔn)更新時(shí)可能會(huì)增加關(guān)于產(chǎn)品安全測(cè)試、材料限制(如RoHS指令)等方面的內(nèi)容。
由于沒(méi)有具體的對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)提供,以上僅為一般性推測(cè),實(shí)際的變更內(nèi)容需要依據(jù)完整的標(biāo)準(zhǔn)文檔進(jìn)行詳細(xì)比對(duì)才能確定。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
查看全部
- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 1993-01-21 頒布
- 1993-08-01 實(shí)施


下載本文檔
GB/T 14115-1993半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法的基本原理-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
UDC621.382:621.375L56中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T14115—93半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofSample/Holdamplifiersforsemiconductorintegratedcircuits1993-01-21發(fā)布1993-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)發(fā)布
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器GB/T14115-93測(cè)試方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofSample/Holdamplifiersforsemiconductorintegratedcireuits主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)器件)電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器的電參數(shù)測(cè)試。引用標(biāo)準(zhǔn)GB3439半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理GB3442半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測(cè)試方法的基本原理3總的要求3.1若無(wú)特殊說(shuō)明,測(cè)試期間,環(huán)境或參考點(diǎn)溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定:3.2測(cè)試期間,施于被測(cè)器件的電參量應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。3.3測(cè)試期間,應(yīng)避免外界干擾對(duì)測(cè)試精度的影響,測(cè)試設(shè)備引起的測(cè)試誤差應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定3.4被測(cè)器件與測(cè)試系統(tǒng)連接或斷開(kāi)時(shí),不應(yīng)超過(guò)器件的使用極限條件。3.5若有要求時(shí),應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的順序接通電源。3.6測(cè)試期間,被測(cè)器件應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定連接外圍電路和補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)。3.7如需外接保持電容C。時(shí),保持電容器應(yīng)符合測(cè)試要求。在測(cè)試電路安排上應(yīng)盡量減小外電路對(duì)保持電容的饋通與泄漏。3.8若電參數(shù)值是由幾步測(cè)試的結(jié)果經(jīng)計(jì)算確定時(shí),這些測(cè)試的時(shí)間間隔應(yīng)盡可能短.4參數(shù)測(cè)試4.1線性誤差E4.1.1目的測(cè)試器件在采樣狀態(tài)時(shí)實(shí)際轉(zhuǎn)移特性曲線與最佳擬合直線間的最大相對(duì)偏差。4.1.2測(cè)試原
溫馨提示
- 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
- 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。?,因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
- 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè),非文檔質(zhì)量問(wèn)題。
最新文檔
- 工程監(jiān)理考試試題及答案
- 好男人考試題及答案
- 行政學(xué)試題及答案
- 自考日語(yǔ)試題及答案
- 周末夜市活動(dòng)方案
- 啤酒店促銷(xiāo)活動(dòng)方案
- 團(tuán)支部例會(huì)活動(dòng)方案
- 團(tuán)縣委工作開(kāi)展活動(dòng)方案
- 國(guó)際幼兒園團(tuán)建活動(dòng)方案
- 商會(huì)年后走訪活動(dòng)方案
- 技術(shù)標(biāo)編制培訓(xùn)
- 2025廣西壯族自治區(qū)博物館講解員招聘3人高頻重點(diǎn)提升(共500題)附帶答案詳解
- TSG 51-2023 起重機(jī)械安全技術(shù)規(guī)程 含2024年第1號(hào)修改單
- 配電室巡檢培訓(xùn)
- 項(xiàng)目部組織安排
- 妊娠期非產(chǎn)科手術(shù)麻醉管理
- 武警防暴隊(duì)形課件
- DB21T 3163-2019 遼寧省綠色建筑施工圖設(shè)計(jì)評(píng)價(jià)規(guī)程
- 臨時(shí)停車(chē)場(chǎng)設(shè)施建設(shè)方案
- 小學(xué)家校共育合作實(shí)施方案
- 警用執(zhí)法記錄儀培訓(xùn)
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論