標準解讀

GB/T 17473.1-1998 是一項中國國家標準，專注于厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域中使用的貴金屬漿料的測試方法，特別是針對其中固體含量的測定。該標準為確保電子產(chǎn)品制造中所使用貴金屬漿料的質(zhì)量控制提供了一套統(tǒng)一的檢測流程和要求，以下是其主要內(nèi)容的概述：

標準適用范圍

本標準規(guī)定了測定厚膜微電子技術(shù)應(yīng)用中貴金屬漿料（如金、銀、鉑等貴金屬構(gòu)成的混合物，常用于電路印刷、電子元件封裝等領(lǐng)域）固體部分質(zhì)量百分比的方法。它適用于評估這些漿料中固體物質(zhì)含量的比例，是評價材料性能和指導(dǎo)生產(chǎn)工藝的重要依據(jù)。

測試原理

固體含量的測定基于重量法，即通過蒸發(fā)或燃燒的方式去除漿料中的液體載體（如有機溶劑），留下固體殘留物，然后通過稱重比較前后質(zhì)量差異來計算固體含量。

測定步驟簡述

  1. 樣品準備：準確稱取一定量的漿料樣品，確保樣品具有代表性。
  2. 干燥/蒸發(fā)：將樣品置于適宜條件下（如烘箱中），在控制的溫度和時間下干燥，以蒸發(fā)掉所有揮發(fā)性成分。
  3. 進一步處理（如有必要）：對于某些難以完全干燥的樣品，可能需要采取進一步的處理步驟，如在惰性氣體保護下加熱至更高溫度，以確保所有揮發(fā)性組分被徹底去除。
  4. 冷卻與稱重：處理完成后，讓殘留物冷卻至室溫，并在規(guī)定的條件下重新稱重。
  5. 計算：根據(jù)樣品干燥前后的質(zhì)量差計算出固體含量百分比。

儀器與設(shè)備要求

標準中詳細列出了進行測試所需的各種儀器和設(shè)備的具體要求，包括但不限于天平、烘箱或其它干燥設(shè)備，確保測量的精確性和可重復(fù)性。

精密度與準確度

標準還提供了重復(fù)性和再現(xiàn)性的要求及試驗方法，用以評估不同實驗室間測試結(jié)果的一致性，確保測試數(shù)據(jù)的可靠性和比較性。

報告內(nèi)容

最后，標準對測試報告的格式和應(yīng)包含的信息給出了指導(dǎo)，例如樣品信息、測試條件、測試結(jié)果及其不確定度等，以便于使用者理解和利用測試數(shù)據(jù)。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 17473.1-2008
  • 1998-08-19 頒布
  • 1999-03-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 17473.1-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法固體含量測定_第1頁
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文檔簡介

ICS77.040.01115中華人民共和國國家標準GB/T17473.1-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法固體含量測定TestmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronicsIDeterminationofsolidsscontent1998-08-19發(fā)布1999-03-01實施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17473.1-1998前漿料中固體含量是漿料品質(zhì)的一項重要指標，漿料固體含量的變化直接影響到厚膜微電子電路的厚和電性能的變化。目前我國尚未制定出該測試方法標準。經(jīng)對IEC、ASTM.DIN.BS國外標準的檢索，也未檢索到該方法的相應(yīng)標準。本標準的制定參照了GB2793—1995《膠粘劑不揮發(fā)物含量的測定》、美國材料與實驗協(xié)會標準ASTMF66一1984《微電子生產(chǎn)用光刻膠測試方法》ASTMD2369-1995《涂料揮發(fā)物含量測試方法》ASTMD4713—1992《熱固性和液體印刷油墨系統(tǒng)的非揮發(fā)物含量測試方法》并結(jié)合我國實際應(yīng)用情況而制定的。本標準由中國有色金屬工業(yè)總公司提出本標準由中國有色金屬工業(yè)總公司標準計量研究所歸口。本標準由昆明貴金屬研究所負責(zé)起草本標準主要起草人：張曉民。

中華人民共和國國家標準厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料固體含量測定測試方法GB/T17473.1-1998Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationofsolidscontent1范圍本標準規(guī)定了貴金屬漿料中固體含量的測試方法。本標準適用于各種貴金屬漿料中固體含量的測定。非貴金屬漿料中固體含量的測定亦可參照使用2引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應(yīng)探討使用下列標準最新版本的可能性。GB/T2421—1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB/T8170—1987數(shù)值修約規(guī)則方法原理根據(jù)貴金屬漿料在一定溫度下灼燒前后的質(zhì)量差測定其固體含量4儀器與設(shè)備分析天平：感量為0.0001g。4.2箱式電阻爐;溫度范圍為室溫～1000℃，控溫精度為士20℃。5試樣5.1將送檢試樣充分攪拌均勺、6測試步驥6.1試驗環(huán)境試驗環(huán)境按GB/T2421規(guī)定進行。6.2稱樣在已校準的天平上，稱取兩份1g的試樣,準確到0.001g,于已恒重的柑揭中6.3灼燒6.3.1高溫?zé)蓾{料：將柑場置于箱式電阻爐中，微開爐門，升溫至150℃，保溫30min,維續(xù)升溫至400C,再保溫30min,關(guān)上爐門，繼續(xù)升溫至850C，保溫30min,然后冷卻到室溫，取出，置于干燥器中6.3.2中溫?zé)傻臐{料：將塔揭置于箱式電

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