標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 17473.2-1998 是一項(xiàng)中國國家標(biāo)準(zhǔn)，專注于厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域中使用的貴金屬漿料的測試方法，特別是關(guān)于細(xì)度測定的部分。該標(biāo)準(zhǔn)為確保貴金屬漿料的質(zhì)量控制和性能評(píng)估提供了一套統(tǒng)一的測試流程和要求，對(duì)促進(jìn)電子元件制造的標(biāo)準(zhǔn)化和可靠性具有重要意義。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于以金、銀、鉑等貴金屬為主要成分，用于厚膜微電子技術(shù)的漿料。這些漿料常用于制造電子電路、電阻、電容等元器件，其細(xì)度（即顆粒大小分布）直接影響到最終產(chǎn)品的性能和可靠性。

測試原理與方法

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過特定的儀器和程序來測定貴金屬漿料中固體顆粒的大小分布，常用的分析手段包括但不限于激光粒度分析法、篩分法或顯微鏡觀測法。具體方法的選擇需依據(jù)漿料特性和實(shí)驗(yàn)室條件來定。

  • 激光粒度分析法：利用顆粒對(duì)激光光束的散射特性來推算顆粒大小，適用于較寬粒徑范圍的快速測量。
  • 篩分法：通過多級(jí)標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng)過濾漿料，根據(jù)各篩網(wǎng)上留存物料的重量來確定不同粒徑段的分布。
  • 顯微鏡觀測法：直接觀測漿料干燥后的固體顆粒，通過圖像分析軟件測量顆粒尺寸，適合對(duì)大顆粒進(jìn)行精確測量。

測試步驟與要求

  1. 樣品制備：確保樣品具有代表性，按照標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行適當(dāng)稀釋或預(yù)處理，以適應(yīng)所選測試方法的要求。
  2. 儀器校準(zhǔn)：測試前必須對(duì)所用設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
  3. 測試執(zhí)行：嚴(yán)格按照選定的測試方法進(jìn)行操作，記錄所有必要的測試參數(shù)和環(huán)境條件。
  4. 數(shù)據(jù)處理：收集的數(shù)據(jù)應(yīng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，計(jì)算出平均粒徑、粒度分布范圍等關(guān)鍵指標(biāo)。
  5. 報(bào)告：測試結(jié)果需詳細(xì)記錄并編制成報(bào)告，包括測試條件、所用方法、數(shù)據(jù)處理過程及最終結(jié)論。

注意事項(xiàng)

  • 在整個(gè)測試過程中，需嚴(yán)格控制實(shí)驗(yàn)環(huán)境，避免外界因素如溫度、濕度對(duì)測試結(jié)果的影響。
  • 對(duì)于不同批次或類型的貴金屬漿料，可能需要調(diào)整測試參數(shù)以達(dá)到最佳測量效果。
  • 結(jié)果解釋時(shí)要考慮漿料的應(yīng)用背景，因?yàn)椴煌膽?yīng)用對(duì)細(xì)度的要求可能有所不同。

該標(biāo)準(zhǔn)為厚膜微電子行業(yè)提供了統(tǒng)一的細(xì)度測定規(guī)范，有助于提高產(chǎn)品的一致性和可靠性，同時(shí)促進(jìn)技術(shù)交流和貿(mào)易活動(dòng)。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17473.2-2008
  • 1998-08-19 頒布
  • 1999-03-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細(xì)度測定_第1頁
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GB/T 17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細(xì)度測定-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS.77.040.01H21中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)CB/T17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細(xì)度測定Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationoffineness1998-08-19發(fā)布1999-03-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17473.2-1998前貴金屬漿料是厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域的一種重要材料，漿料細(xì)度是漿料的主要參數(shù)之一.目前我國尚未制定出漿料細(xì)度測試方法標(biāo)準(zhǔn)，也沒有檢索到該測試方法的國際標(biāo)準(zhǔn)或國外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)主要參照GB1724一79《涂料細(xì)度測定方法》GB6753.1-86《涂料研磨細(xì)度測定》，結(jié)合我國的實(shí)際應(yīng)用情況而制定的。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由昆明貴金屬研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：朱曉云、王昆福。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細(xì)度測定GB/T17473.2-1998Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationoffineness范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬漿料細(xì)度的刮板試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬漿料細(xì)度測定。非貴金屬漿料的細(xì)度測定亦可參照使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有的標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T8170-1987數(shù)值修約規(guī)則3方法原理漿料置于細(xì)度計(jì)上,用刮板從上至下刮動(dòng)，根據(jù)槽中縱向條紋出現(xiàn)的位暨,目測確定顆粒的大小。儀器與工具4.1刮板細(xì)度計(jì)：范圍為0～25m,精度為1rm,檢定周期為半年。4.2調(diào)漿刀：鑲有木柄的厚度為1mm不銹鋼材質(zhì)刀。4.3刮板。5試樣5.1將送檢試樣充分?jǐn)嚢杈住?.22試樣不少于5份，每份28-6測試步驥6.11測試環(huán)境溫度為15～35℃，相對(duì)濕度為45%～75%，大氣壓力為86～106kPa。6.22用相應(yīng)的化學(xué)純級(jí)清洗劑洗凈刮板細(xì)度計(jì)6.3將試樣均勻地放貿(mào)于細(xì)度計(jì)溝槽最深處。6.4用雙手持刮板于細(xì)度計(jì)溝槽最深處，使刮板與細(xì)度計(jì)表面垂直，并以均勾的速度從溝槽最深處將試樣刮過細(xì)度計(jì)表面，使試樣充滿溝槽，平板上不留有多余的試樣。整個(gè)操作過程在3。內(nèi)完成。6.5在3。內(nèi)橫握刮過的細(xì)度計(jì)并使其傾斜，使視線與

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